一種cob光組件測試分選機(jī)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種COB光組件測試分選機(jī)，包括機(jī)臺、控制系統(tǒng)裝置、測試機(jī)構(gòu)以及上料機(jī)構(gòu)，測試機(jī)構(gòu)設(shè)置在上料機(jī)構(gòu)上，且測試機(jī)構(gòu)和上料機(jī)構(gòu)與控制系統(tǒng)裝置電連接；上料機(jī)構(gòu)架包括X軸驅(qū)動裝置、Y軸驅(qū)動裝置和測試夾具，測試夾具裝置在X軸驅(qū)動裝置上，X軸驅(qū)動裝置卡扣在Y軸驅(qū)動裝置上，X軸驅(qū)動裝置可在Y軸驅(qū)動裝置上移動；測試機(jī)構(gòu)包括測試架、凸輪機(jī)構(gòu)、積分球和測試探針，測試架和積分球分別固定在機(jī)臺上，測試探針分別設(shè)置在X軸驅(qū)動裝置的滑塊和Y軸驅(qū)動裝置的滑塊上，凸輪機(jī)構(gòu)包括凸輪、探針圈和鏈條，凸輪通過驅(qū)動探針圈和鏈條，與測試探針連接。本實(shí)用新型解決人工檢測中存在的問題，提高生產(chǎn)效率和檢測的準(zhǔn)確性。
【專利說明】
一種COB光組件測試分選機(jī)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及生產(chǎn)設(shè)備領(lǐng)域，更具體地涉及一種COB光組件測試分選機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，⑶B光組件的測試機(jī)包括有:大功率集成(COB)手動單顆補(bǔ)粉分光機(jī)、雙工位集成(COB)排測補(bǔ)粉分光機(jī)，COB半自動分光機(jī)。
[0003]大功率集成(COB)手動單顆補(bǔ)粉分光機(jī)是一種功能較全的排測補(bǔ)粉分光機(jī)，它適用于單顆補(bǔ)粉分光，分光速度1PCS/5S?？筛鶕?jù)不同的COB光組件訂制夾具進(jìn)行檢測，適用不同外形集成C0B，基本兼容市面上可見外形。可測量正向電壓、正向電流、光通量、波長、色度坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)等等?？赏ㄟ^設(shè)置XY或色溫參數(shù)，形象顯示出具體補(bǔ)粉位置，智能提示補(bǔ)粉增減操作。通過軟件分光模式，支撐光電參數(shù)任意組合分選，自動生成BIN號，測試完成后，通過人工來分開，達(dá)到分類的目的。雙工位集成(COB)手動排測補(bǔ)粉分光機(jī)與大功率集成(COB)手動單顆補(bǔ)粉分光機(jī)的主要區(qū)別在于兩個工位操作，可以進(jìn)行多顆聯(lián)排測試(最多32顆)，提高檢測速度，現(xiàn)實(shí)雙人操作功能，節(jié)約成本。上述手動設(shè)備操作采用人工操作方式進(jìn)行，不能實(shí)現(xiàn)自動上料、自動檢測、自動下料和自動分類，造成了檢測速度慢，效率低，不同的人測試對其準(zhǔn)確性產(chǎn)生的影響大，人工成本高，很難適應(yīng)現(xiàn)階段生產(chǎn)需求。
[0004]COB半自動測試分光機(jī)，其測試的材料是已經(jīng)從聯(lián)排基座上剝離下來后的單個COBLED燈。其中一種實(shí)現(xiàn)方式是利用手工將COB LED放置到一個長方形的槽里面，測試的時候利用氣缸從槽的尾部向前推一個出去到測試位，測試完成后，繼續(xù)推一個新的到測試位，將已測試完成的COB LED繼續(xù)往前推，如此循環(huán)往復(fù)。下料方式是，當(dāng)測試過的材料到收料口的時候，移動所有的料箱，將對應(yīng)的料箱停止在收料口位置，測試下一顆COB LED的時候，同時將收料口的那一顆材料推到對應(yīng)收料箱。該種實(shí)現(xiàn)方式的缺陷在于，由于采用長方形的槽上料，導(dǎo)致他只能適應(yīng)方形材料，如果是圓形，在上料槽的推進(jìn)過程中，由于圓形材料會在上料槽里面滾動，會導(dǎo)致測試的時候，測試探針無法接觸到材料的電機(jī)。而且，每次必須手工在上料槽里面排好材料，這樣會極大的降低生產(chǎn)效率。另外由于下料機(jī)構(gòu)比較大，又比較笨重，在移動下料箱到收料口的時候，速度會比較慢，所以導(dǎo)致整機(jī)的測試速度很慢，只有1500個/小時左右。另外一種半自動實(shí)現(xiàn)方式是采用托盤上料，在托盤中根據(jù)要測試的COB外觀，開好多個對應(yīng)的形狀，利用人工將材料一個一個的擺放在托盤的對應(yīng)位置，再利用真空吸嘴將材料吸到測試位置，測試完成后，再次根據(jù)測試結(jié)果利用真空吸嘴吸到另外一個下料托盤中。這種做法的缺陷在于上料方式非常復(fù)雜，而且每一種材料都需要做不同的托盤，兼容性不好。
[0005]上述手動測試機(jī)、半自動測試機(jī)上料的方式本質(zhì)上都是通過人工擺放好，才能進(jìn)行測試，速度慢，效率低，而且不同種類的COB光組件需要更換不同的夾具，造成成本過高。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]為了解決上述問題，本實(shí)用新型的目的在于:提供一種具有可調(diào)節(jié)夾具的COB光組件測試分選機(jī)，代替人工檢測COB光組件性能參數(shù)，解決人工檢測中存在的種種問題，提高生產(chǎn)效率和檢測的準(zhǔn)確性，以解決上述問題。
[0007]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:一種COB光組件測試分選機(jī)，包括機(jī)臺、控制系統(tǒng)裝置、測試機(jī)構(gòu)以及設(shè)置在機(jī)臺上的上料機(jī)構(gòu)，所述測試機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述上料機(jī)構(gòu)上，所述控制系統(tǒng)裝置設(shè)置在所述機(jī)臺內(nèi)部，且所述測試機(jī)構(gòu)和所述上料機(jī)構(gòu)與所述控制系統(tǒng)裝置電連接;所述上料機(jī)構(gòu)架包括X軸驅(qū)動裝置、Y軸驅(qū)動裝置和可調(diào)節(jié)位置的測試夾具，所述測試夾具裝置在所述X軸驅(qū)動裝置上，所述X軸驅(qū)動裝置卡扣在所述Y軸驅(qū)動裝置上，所述X軸驅(qū)動裝置可在所述Y軸驅(qū)動裝置上移動;所述測試機(jī)構(gòu)包括測試架、凸輪機(jī)構(gòu)、積分球和測試探針，所述測試架和所述積分球分別固定在所述機(jī)臺上，所述測試探針分別設(shè)置在所述X軸驅(qū)動裝置的滑塊和所述Y軸驅(qū)動裝置的滑塊上，所述凸輪機(jī)構(gòu)包括凸輪、探針圈和鏈條，所述凸輪通過驅(qū)動所述探針圈和所述鏈條，與所述測試探針連接。
[0008]本實(shí)用新型的有益效果在于:通過可調(diào)節(jié)位置的測試夾具和可在X軸驅(qū)動裝置移動的測試探針，可隨意設(shè)定測試位置，降低一些人為因素的影響，檢測精度高，降低勞動強(qiáng)度，降低人工成本，不需更換夾具，節(jié)約資源，使操作簡單化。
[0009]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述探針圈設(shè)置在所述測試夾具上，且所述測試夾具包括調(diào)節(jié)滑槽和調(diào)節(jié)螺母。
[0010]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述機(jī)臺還設(shè)有輔助滑軌，所述X軸驅(qū)動裝置卡扣在其中，可沿所述輔助滑軌的軌道移動。
[0011]作為本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述控制系統(tǒng)裝置包括運(yùn)動控制系統(tǒng)、影像系統(tǒng)、恒流恒壓源系統(tǒng)、光譜分析系統(tǒng)和數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，所述運(yùn)動控制系統(tǒng)、所述影像系統(tǒng)、所述恒流恒壓源系統(tǒng)、所述光譜分析系統(tǒng)和所述數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)相互電連接。
【附圖說明】
[0012]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0013]圖2為本實(shí)用新型的凸輪機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]為了使本實(shí)用新型的目的，技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清晰明了，對其進(jìn)一步詳細(xì)說明，參照圖1至圖2。
[0015]—種COB光組件測試分選機(jī)，包括機(jī)臺1、控制系統(tǒng)裝置、測試機(jī)構(gòu)2以及分別設(shè)置在機(jī)臺I上的上料機(jī)構(gòu)3，測試機(jī)構(gòu)2設(shè)置在上料機(jī)構(gòu)3上，控制系統(tǒng)裝置設(shè)置在機(jī)臺I內(nèi)部，且測試機(jī)構(gòu)2和上料機(jī)構(gòu)3與控制系統(tǒng)裝置電連接;上料機(jī)構(gòu)3架包括X軸驅(qū)動裝置31、Y軸驅(qū)動裝置32和可調(diào)節(jié)位置的測試夾具33，測試夾具33裝置在X軸驅(qū)動裝置31上，X軸驅(qū)動裝置31卡扣在Y軸驅(qū)動裝置32上，X軸驅(qū)動裝置31可在Y軸驅(qū)動裝置32上移動；測試機(jī)構(gòu)2包括測試架21、凸輪機(jī)構(gòu)24、積分球22和測試探針23，測試架21和積分球22分別固定在機(jī)臺I上，測試探針23設(shè)置在X軸驅(qū)動裝置31的滑塊上，凸輪機(jī)構(gòu)24包括凸輪241、探針圈242和鏈條，凸輪241通過驅(qū)動探針圈242和鏈條，與測試探針23連接。
[0016]通過可調(diào)節(jié)位置的測試夾具33和可在X軸驅(qū)動裝置31移動的測試探針23，可隨意設(shè)定測試位置，降低一些人為因素的影響，檢測精度高，降低勞動強(qiáng)度，降低人工成本，不需更換夾具，節(jié)約資源，使操作簡單化。
[0017]探針圈242設(shè)置在測試夾具33上，且測試夾具33包括調(diào)節(jié)滑槽和調(diào)節(jié)螺母。
[0018]機(jī)臺I還設(shè)有輔助滑軌，X軸驅(qū)動裝置31卡扣在其中，可沿輔助滑軌的軌道移動。
[0019]控制系統(tǒng)裝置包括運(yùn)動控制系統(tǒng)、影像系統(tǒng)、恒流恒壓源系統(tǒng)、光譜分析系統(tǒng)和數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，運(yùn)動控制系統(tǒng)、影像系統(tǒng)、恒流恒壓源系統(tǒng)、光譜分析系統(tǒng)和數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)相互電連接。
[0020]根據(jù)上述說明書的揭示和教導(dǎo)，本實(shí)用新型所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員還可以對上述實(shí)施方式進(jìn)行適當(dāng)?shù)淖兏托薷?。因此，本?shí)用新型并不局限于上面揭示和描述的【具體實(shí)施方式】，對本實(shí)用新型的一些修改和變更也應(yīng)當(dāng)落入本實(shí)用新型的權(quán)利要求的保護(hù)范圍內(nèi)。此外，盡管本說明書中使用了一些特定的術(shù)語，但這些術(shù)語只是為了方便說明，并不對本實(shí)用新型構(gòu)成任何限制。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種COB光組件測試分選機(jī)，其特征在于，包括機(jī)臺、控制系統(tǒng)裝置、測試機(jī)構(gòu)以及設(shè)置在機(jī)臺上的上料機(jī)構(gòu)，所述測試機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述上料機(jī)構(gòu)上，所述控制系統(tǒng)裝置設(shè)置在所述機(jī)臺內(nèi)部，且所述測試機(jī)構(gòu)和所述上料機(jī)構(gòu)與所述控制系統(tǒng)裝置電連接;所述上料機(jī)構(gòu)架包括X軸驅(qū)動裝置、Y軸驅(qū)動裝置和可調(diào)節(jié)位置的測試夾具，所述測試夾具裝置在所述X軸驅(qū)動裝置上，所述X軸驅(qū)動裝置卡扣在所述Y軸驅(qū)動裝置上，所述X軸驅(qū)動裝置可在所述Y軸驅(qū)動裝置上移動;所述測試機(jī)構(gòu)包括測試架、凸輪機(jī)構(gòu)、積分球和測試探針，所述測試架和所述積分球分別固定在所述機(jī)臺上，所述測試探針分別設(shè)置在所述X軸驅(qū)動裝置的滑塊和所述Y軸驅(qū)動裝置的滑塊上，所述凸輪機(jī)構(gòu)包括凸輪、探針圈和鏈條，所述凸輪通過驅(qū)動所述探針圈和所述鏈條，與所述測試探針連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的COB光組件測試分選機(jī)，其特征在于，所述探針圈設(shè)置在所述測試夾具上，且所述測試夾具包括調(diào)節(jié)滑槽和調(diào)節(jié)螺母。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的COB光組件測試分選機(jī)，其特征在于，所述機(jī)臺還設(shè)有輔助滑軌，所述X軸驅(qū)動裝置卡扣在其中，可沿所述輔助滑軌的軌道移動。4.根據(jù)權(quán)利要求1的所述的COB光組件測試分選機(jī)，其特征在于，所述控制系統(tǒng)裝置包括運(yùn)動控制系統(tǒng)、影像系統(tǒng)、恒流恒壓源系統(tǒng)、光譜分析系統(tǒng)和數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，所述運(yùn)動控制系統(tǒng)、所述影像系統(tǒng)、所述恒流恒壓源系統(tǒng)、所述光譜分析系統(tǒng)和所述數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)相互電連接。
【文檔編號】G01M11/00GK205436349SQ201620215754
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年3月21日
【發(fā)明人】林開釗, 廖湘濤, 李冰
【申請人】東莞市中譜光電設(shè)備有限公司