數(shù)據(jù)的頭部信息在數(shù)據(jù)鏈表中查詢相應的預存信息，若解析信息與預存信息相符(例如格式和/或內(nèi)容相符)，說明解析信息準確有效，從而可以輸出預存信息供后續(xù)工藝使用。
[0107]第二光收發(fā)單元121可以是紅外光源發(fā)生元件，生成的紅外光源可以由LED光頭發(fā)出。并且第二光收發(fā)單元121只有在基板為有效時才會發(fā)出光線，若沒有判定基板為有效而強制第二光收發(fā)單元121發(fā)出光線，則第二光收發(fā)單元121可以發(fā)出警報，進一步還可以清除解析點陣圖像編碼數(shù)據(jù)的程序，從而提高防偽效果。
[0108]優(yōu)選地，信息提取模塊12還包括:
[0109]濾光單元126，設置于第二光收發(fā)單元與點陣圖像之間，用于濾除非標記在第二光收發(fā)單元121發(fā)出光線照射下產(chǎn)生的投影。
[0110]可以保證得到的點陣圖像與標記真實信息相對應，避免污漬或非標記點產(chǎn)生的投影對點陣圖像造成影響，進而保證準確地提取標記對應的信息。
[0111]優(yōu)選地，信息提取模塊還包括:
[0112]曝光單元127，用于對點陣圖像進行曝光，使每個標記對應的點陣圖像的灰階處于預設灰階范圍以內(nèi)，使非標記的點陣圖像的灰階處于預設灰階范圍以外，
[0113]其中，第二光收發(fā)單元121獲取處于預設灰階范圍以內(nèi)的點陣圖像。
[0114]例如可以通過調(diào)節(jié)曝光的時間和圖形的幀率來調(diào)整曝光后得到的灰階值，而非標記點或污漬在曝光后的點陣圖像灰階值則在預設灰階范圍之外，從而可以保證獲取到的點陣圖像的準確性，進而保證準確地提取標記對應的信息。
[0115]優(yōu)選地，提取單元125用于獲取點陣圖像編碼數(shù)據(jù)的頭部信息，查詢與頭部信息對應的預存信息，判斷預存信息與圖像編碼數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)信息是否相同，若相同，則提取預存信息并進行顯示，若不相同，則發(fā)出提示信息。
[0116]其中的預存信息可以存儲于數(shù)據(jù)鏈表中。而對提取的信息進行顯示可以采用以下方式:
[0117]若對應的預存信息的文件類型為文本文件，則通過顯示屏直接進行顯示；
[0118]若對應的預存信息的文件類型為圖片文件，則通過顯示屏直接進行顯示；
[0119]若對應的預存信息的文件類型為視頻文件，則其圖像部分通過顯示屏直接進行顯示，聲音部分通過功放喇叭進行輸出；
[0120]若對應的預存信息的文件類型為音頻文件，則通過功放喇叭進行輸出。
[0121]如圖3所示，本實施例中的第一光收發(fā)單元111和第二光收發(fā)單元121可以是一個元件，即紅外探測儀，紅外探測儀上設置有微掃描鏡，微掃描鏡在微掃描驅動單元的驅動下工作，可以精確地掃描標記的上表面，從而得到準確的標記嵌入深度以及標記上表面性狀。
[0122]多路高速數(shù)據(jù)采集元件可以獲取紅外探測儀對每個標記的掃描數(shù)據(jù)，并轉發(fā)至紅外信號預處理單元，紅外信號預處理單元中可以由濾光單元126和/或曝光單元127等構成，用于對接收到的紅外信號進行預處理，保證得到的點陣圖像與標記相對應。
[0123]紅外掃描圖像重構單元可以對預處理之后的圖像進行處理，得到點陣圖像，并進一步根據(jù)點陣圖像查詢相應的預存信息，最終由合成單元將與標記相符的預存信息進行合成處理，例如音頻和圖像合成，然后輸出。
[0124]優(yōu)選地，信息提取模塊12還用于解析被去除基板的備用標記得到備用信息，查詢備用標記對應的備用預存信息，判斷備用信息與備用預存信息是否相符，若相符，則提取備用預存信息進行顯示。
[0125]基板上除了設置有標記，還可以設置有備用標記。被去除的基板雖然在前序工藝中被標記為無效，或者標記對應的解析信息與預存信息不相符，這意味著被去除的基板不適用于與預定的基板對盒，但是被去除的基板仍可能適用于與其他基板對盒，因此可以通過解析備用標記，并判斷備用信息與備用預存信息是否相符，若相符，則說明被去除的基板可以根據(jù)備用預存信息與其他基板進行對盒。從而提高基板的利用率。
[0126]如圖4所示，根據(jù)本發(fā)明一個實施例的基板標記檢測方法，包括:
[0127]SI，檢測待檢測的基板中每個標記嵌入基板的深度，根據(jù)每個深度判斷基板是否有效；
[0128]S2，在基板為有效的情況下，解析標記得到解析信息，查詢標記對應的預存信息，判斷解析信息與預存信息是否相符，若相符，則提取預存信息進行顯示；
[0129]S3，在基板為無效或解析信息與預存信息不相符的情況下，去除基板。
[0130]如圖5所示，優(yōu)選地，檢測待檢測的基板中每個標記嵌入基板的深度，根據(jù)每個深度判斷基板是否有效(即步驟SI)包括:
[0131]S11，向基板的第一表面對應標記的位置發(fā)射檢測光線，獲取第一表面反射的第一光線，以及標記的上表面反射的第二光線；
[0132]S12，根據(jù)第一光線的第一傳播距離和第二光線的第二傳播距離計算標記嵌入基板的深度；
[0133]S13，判斷每個標記嵌入基板的深度之間是否滿足預設關系，若不滿足，則判定基板為無效。
[0134]如圖6所示，優(yōu)選地，檢測待檢測的基板中每個標記嵌入基板的深度，根據(jù)每個深度判斷基板是否有效(即步驟SI)包括:
[0135]S11’，向基板的第一表面對應標記的位置發(fā)射檢測光線，獲取第一表面反射的第一光線，以及標記的上表面反射的第二光線；
[0136]S12’，根據(jù)第一光線的第一傳播距離和第二光線的第二傳播距離計算所述標記嵌入基板的深度；
[0137]S13’，判斷每個深度是否處于預設深度范圍內(nèi)，若任一深度未處于預設深度范圍內(nèi)，則判定基板為無效，若每個深度都處于預設深度范圍內(nèi)，則判定基板為有效。
[0138]如圖7所示，優(yōu)選地，根據(jù)第一光線的第一傳播距離和第二光線的第二傳播距離計算標記嵌入基板的深度(即步驟S12)包括:
[0139]S121，根據(jù)第二光線的第二傳播距離判斷標記的上表面形狀；
[0140]S122，若判定標記的上表面為平面，則判定第二傳播距離中包含的多個子距離相等，計算單元根據(jù)第二傳播距離中任一子距離和第一傳播距離計算標記嵌入基板的深度；
[0141]S123，若判定標記的上表面為非平面，則判定第二傳播距離中包含的多個子距離不相等，計算單元據(jù)第二傳播距離中最大的子距離和第一傳播距離計算標記嵌入基板的深度。
[0142]如圖8所示，優(yōu)選地，提取每個標記對應的信息進行顯示(即步驟S2)包括:
[0143]S21，發(fā)出光線照射有效的基板，獲取每個標記投影形成的點陣圖像；
[0144]S22，對點陣圖像進行解析，得到解析信息，其中，解析信息為點陣圖像編碼數(shù)據(jù)；
[0145]S23，查詢標記對應的預存信息；
[0146]S24，判斷解析信息與預存信息是否相符；
[0147]S25，在解析信息與預存信息相符的情況下，提取預存進行顯示。
[0148]優(yōu)選地，獲取每個標記投影形成的點陣圖像(即步驟S21)包括:
[0149]濾除非標記在第二光收發(fā)單元發(fā)出光線照射下產(chǎn)生的投影。
[0150]優(yōu)選地，獲取每個標記投影形成的點陣圖像(即步驟S21)包括:
[0151]對點陣圖像進行曝光，使每個標記對應的點陣圖像的灰階處于預設灰階范圍以內(nèi)，使非標記的點陣圖像的灰階處于預設灰階范圍以外，獲取處于預設灰階范圍以內(nèi)的點陣圖像。
[0152]優(yōu)選地，根據(jù)點陣圖像編碼數(shù)據(jù)提取相應的信息進行顯示(即步驟S23)包括:
[0153]獲取點陣圖像編碼數(shù)據(jù)的頭部信息，查詢與頭部信息對應的預存信息，判斷預存信息與圖像編碼數(shù)據(jù)中的數(shù)據(jù)信息是否相同，若相同，則提取預存信息并進行顯示，若不相同，則發(fā)出提示信息。
[0154]優(yōu)選地，還包括:
[0155]解析被去除基板的備用標記得到備用信息，查詢備用標記對應的備用預存信息，判斷備用信息與備用預存信息是否相符，若相符，則提取備用預存信息進行顯示。
[0156]以上結合附圖詳細說明了本發(fā)明的技術方案，考慮到相關技術中，無法對嵌入基板中的標記進行準確地檢測。根據(jù)本發(fā)明的技術方案，通過對基板中的標記進行檢測，根據(jù)標記嵌入基板的深度進行判斷，可以方便且準確地對基板的有效性進行判定，從而避免后續(xù)工序中對無效基板的檢測，提高基板的整體檢測效率，并且可以僅輸出有效基板中標記的信息，減少對無用信息的處理。
[0157]在本發(fā)明中，術語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。術語“多個”指兩個或兩個以上，除非另有明確的限定。
[0158]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領域的技術人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【