雙站底部測試分光的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種雙站底部測試分光機，包括：振動盤、抓料機構(gòu)、第一定位機構(gòu)、第一底部測試機構(gòu)、第二定位機構(gòu)、第二底部測試機構(gòu)、分度盤機構(gòu)、吹料機構(gòu)；振動盤將物料輸送至平軌定位處，然后抓料機構(gòu)將物料通過其吸嘴抓取后，放入分度盤機構(gòu)的入料口；分度盤機構(gòu)轉(zhuǎn)動從而將物料運送至第一定位機構(gòu)處，第一定位機構(gòu)將物料定位后，由第一底部測試機構(gòu)對物料進行第一站測試，然后由分度盤機構(gòu)將物料運送至第二定位機構(gòu)處，由第二底部測試機構(gòu)對物料進行第二站測試，最后，由分度盤機構(gòu)將物料運動至吹料機構(gòu)處，吹料機構(gòu)將物料吹入下料軟管中。由于采用了上述結(jié)構(gòu)，本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、成本低、可進行兩站測試的特點。
【專利說明】雙站底部測試分光機

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及機械領(lǐng)域，特別涉及一種雙站底部測試分光機。

【背景技術(shù)】
[0002]分光機是通過對LED發(fā)出光的波長(顏色)、光強、電流電壓大小進行分類篩選的機器，其工作原理是由圓形振動盤與平行振動軌道負責送料，通過吸咀將LED送至轉(zhuǎn)盤，經(jīng)由測試站量測光電特性之后，系統(tǒng)會根據(jù)量測儀器的測試結(jié)果，(主要包括波長(顏色)、光強、電流電壓大小進行分類)通過分料機構(gòu)將LED送至所屬落料盒。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明提供了一種結(jié)構(gòu)簡單、成本低、可進行兩站測試的雙站底部測試分光機。
[0004]為解決上述問題，作為本發(fā)明的一個方面，提供了一種雙站底部測試分光機，包括:振動盤、抓料機構(gòu)、第一定位機構(gòu)、第一底部測試機構(gòu)、第二定位機構(gòu)、第二底部測試機構(gòu)、分度盤機構(gòu)、吹料機構(gòu)；振動盤將物料輸送至平軌定位處，然后抓料機構(gòu)將物料通過其吸嘴抓取后，放入分度盤機構(gòu)的入料口 ；分度盤機構(gòu)轉(zhuǎn)動從而將物料運送至第一定位機構(gòu)處，第一定位機構(gòu)將物料定位后，由第一底部測試機構(gòu)對物料進行第一站測試，然后由分度盤機構(gòu)將物料運送至第二定位機構(gòu)處，由第二底部測試機構(gòu)對物料進行第二站測試，最后，由分度盤機構(gòu)將物料運動至吹料機構(gòu)處，吹料機構(gòu)將物料吹入下料軟管中。
[0005]由于采用了上述結(jié)構(gòu)，本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、成本低、可進行兩站測試的特點。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]圖1示意性地示出了本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0007]圖中附圖標記:1、振動盤；2、抓料機構(gòu)；3、第一定位機構(gòu)；4、第一底部測試機構(gòu)；
5、第二定位機構(gòu)；6、第二底部測試機構(gòu)；7、分度盤機構(gòu)；8、吹料機構(gòu)。

【具體實施方式】
[0008]以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的實施例進行詳細說明，但是本發(fā)明可以由權(quán)利要求限定和覆蓋的多種不同方式實施。
[0009]請參考圖1，本發(fā)明提供了一種雙站底部測試分光機，包括:振動盤1、抓料機構(gòu)2、第一定位機構(gòu)3、第一底部測試機構(gòu)4、第二定位機構(gòu)5、第二底部測試機構(gòu)6、分度盤機構(gòu)7、吹料機構(gòu)8 ;振動盤I將物料輸送至平軌定位處，然后抓料機構(gòu)2將物料通過其吸嘴抓取后，放入分度盤機構(gòu)7的入料口 ；分度盤機構(gòu)7轉(zhuǎn)動從而將物料運送至第一定位機構(gòu)3處，第一定位機構(gòu)3將物料定位后，由第一底部測試機構(gòu)4對物料進行第一站測試，然后由分度盤機構(gòu)7將物料運送至第二定位機構(gòu)5處，由第二底部測試機構(gòu)6對物料進行第二站測試，最后，由分度盤機構(gòu)7將物料運動至吹料機構(gòu)8處，吹料機構(gòu)8將物料吹入下料軟管中。
[0010]特別地，本發(fā)明中的振動盤1、抓料機構(gòu)2、第一定位機構(gòu)3、第一底部測試機構(gòu)4、第二定位機構(gòu)5、第二底部測試機構(gòu)6、分度盤機構(gòu)7、吹料機構(gòu)8等，均可采用現(xiàn)有技術(shù)中本領(lǐng)域已知的相應(yīng)結(jié)構(gòu)實現(xiàn)，在此不再贅述。
[0011]由于采用了上述結(jié)構(gòu)，本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、成本低、可進行兩站測試的特點。
[0012]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種雙站底部測試分光機，其特征在于，包括:振動盤(I)、抓料機構(gòu)(2)、第一定位機構(gòu)(3)、第一底部測試機構(gòu)(4)、第二定位機構(gòu)(5)、第二底部測試機構(gòu)(6)、分度盤機構(gòu)(7)、吹料機構(gòu)⑶等； 所述振動盤(I)將物料輸送至平軌定位處，然后所述抓料機構(gòu)(2)將所述物料通過其吸嘴抓取后，放入所述分度盤機構(gòu)(7)的入料口 ；所述分度盤機構(gòu)(7)轉(zhuǎn)動從而將所述物料運送至所述第一定位機構(gòu)(3)處，所述第一定位機構(gòu)(3)將所述物料定位后，由所述第一底部測試機構(gòu)(4)對所述物料進行第一站測試，然后由所述分度盤機構(gòu)(7)將所述物料運送至所述第二定位機構(gòu)(5)處，由所述第二底部測試機構(gòu)(6)對所述物料進行第二站測試，最后，由所述分度盤機構(gòu)(X)將所述物料運動至所述吹料機構(gòu)(8)處，所述吹料機構(gòu)(8)將所述物料吹入下料軟管中。
【文檔編號】B07C5/36GK104438136SQ201410843653
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年12月30日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月30日
【發(fā)明者】趙玉濤 申請人:深圳市炫碩光電科技有限公司