專利名稱：部件分類裝置及使用上述裝置的電子部件特性檢查分類裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種能夠吸附并運(yùn)送小且很薄的、質(zhì)量小的部件等， 不會(huì)損傷部件地將其切實(shí)地容納到容納箱中的部件分類裝置和使用上 述裝置的電子部件特性檢查分類裝置。
背景技術(shù)：
以往，關(guān)于運(yùn)送部件的裝置、運(yùn)送部件并使其容納到容納箱中的 分類裝置等，提出了多種方案。專利文獻(xiàn)1公開的"物品的移動(dòng)排出
裝置"對電子部件進(jìn)行運(yùn)送，僅利用重力進(jìn)行排出。專利文獻(xiàn)2公開 的"小型部件供給運(yùn)送裝置"利用負(fù)壓對部件進(jìn)行吸附運(yùn)送并進(jìn)行分 類。專利文獻(xiàn)3公開的"石英振子的頻率分類裝置及真空吸附裝置" 的發(fā)明為了吸附運(yùn)送小且很薄的、質(zhì)量小的部件，使其容納到容納箱 中，提供一種使用所謂P&P裝置在排出時(shí)進(jìn)行抽真空和排送空氣的切 換的裝置。
專利文獻(xiàn)l:日本專利第3998296號(hào)公報(bào) 專利文獻(xiàn)2:日本專利第3532124號(hào)公報(bào) 專利文獻(xiàn)3:日本特開2001-165978號(hào)公報(bào)
在上述專利文獻(xiàn)3中，在吸附部件的吸嘴帶有靜電時(shí)，部件由于 靜電而吸附在吸嘴上，僅靠斷開吸附無法使其脫離，因此在斷開吸附 的同時(shí)排出空氣。部件由于該排出的空氣很猛地飛入容納箱內(nèi)，與容 納箱的壁面或已容納在容納箱內(nèi)的部件碰撞，因此存在給部件帶來損 傷的問題點(diǎn)。

發(fā)明內(nèi)容
5本發(fā)明的第一目的在于解決上述問題點(diǎn)，提供一種吸附運(yùn)送小且 很薄的、質(zhì)量小的部件，在損傷部件地切實(shí)地將其容納到容納箱中的 部件分類裝置。
本發(fā)明的第二目的在于提供一種使用上述部件分類裝置的電子部 件特性檢查分類裝置。
為了解決上述問題點(diǎn)，本發(fā)明的技術(shù)方案1所述的一種部件分類 裝置的特征在于，包括多個(gè)容納箱；臨時(shí)接收單元，由網(wǎng)眼板和吸 排出部構(gòu)成，且配置在上述各容納箱上的臨時(shí)接收位置上；吸嘴，在 運(yùn)出位置吸附部件，運(yùn)送到部件與上述臨時(shí)接收單元的網(wǎng)眼板的一面 相對的位置并躲避；以及壓力控制單元，對上述吸嘴和吸排出部的壓 力進(jìn)行控制，由臨時(shí)接收單元接收部件并使其下落到容納箱中。
本發(fā)明的技術(shù)方案2所述的部件分類裝置的特征在于，在技術(shù)方 案1所述的部件分類裝置中，上述吸嘴的基部和上述臨時(shí)接收單元被 支撐在共同的移動(dòng)支架上，被設(shè)置成能夠從上述運(yùn)出位置移動(dòng)到臨時(shí) 接收位置，上述吸嘴在上述臨時(shí)接收位置向靠近上述網(wǎng)眼板的位置及 向脫離上述網(wǎng)眼板的位置移動(dòng)。
本發(fā)明的技術(shù)方案3所述的部件分類裝置的特征在于，在技術(shù)方 案1所述的部件分類裝置中，通過選擇在上述吸排出部上連接負(fù)壓和 正壓，構(gòu)成為能夠從臨時(shí)接收位置脫離。
本發(fā)明的技術(shù)方案4所述的一種電子部件特性檢査分類裝置，對 電子部件的特性進(jìn)行檢査而進(jìn)行分類，其特征在于，包括供給臺(tái)部， 將從供給料斗供給的電子部件搭載在供給臺(tái)上并旋轉(zhuǎn)；相機(jī)部，用于 拍攝散布在上述供給臺(tái)上的上述電子部件，進(jìn)行圖像處理；供給P&P 部，根據(jù)上述電子部件的圖像處理后的信息，從上述供給臺(tái)的上述電 子部件的運(yùn)出位置逐個(gè)吸附上述電子部件并運(yùn)送配置到配送位置；測量部，在上述配送位置，在測量臺(tái)部的測量臺(tái)上接收電子部件，對其 特性進(jìn)行測量，產(chǎn)生分類信號(hào)；以及部件分類部，由以下部件構(gòu)成-一個(gè)以上的容納箱；臨時(shí)接收單元，由網(wǎng)眼板和吸排出部構(gòu)成，且配 置在上述各容納箱上的臨時(shí)接收位置上；吸嘴，從上述測量部的運(yùn)出 位置吸附電子部件，并運(yùn)送到電子部件與根據(jù)上述分類信號(hào)選擇的容 納箱的上述臨時(shí)接收單元的網(wǎng)眼板的一面相對的位置并躲避；以及壓 力控制單元，對上述吸嘴和吸排出部的壓力進(jìn)行控制，由臨時(shí)接收單 元接收電子部件并使其下落到容納箱中。
本發(fā)明的技術(shù)方案5所述的電子部件特性檢查分類裝置的特征在 于，在技術(shù)方案4所述的電子部件特性檢查分類裝置中，上述供給臺(tái) 部的供給臺(tái)具有圓環(huán)狀淺槽，施加驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)的主旋轉(zhuǎn)方向和反方向 的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)，解除上述淺槽內(nèi)的電子部件的重疊。
本發(fā)明的技術(shù)方案6所述的電子部件特性檢查分類裝置的特征在 于，在技術(shù)方案4所述的電子部件特性檢查分類裝置中，為了將上述 電子部件定位在接收由上述供給P&P部運(yùn)送的上述電子部件的上述測 量臺(tái)的固定的位置上，在上述測量臺(tái)部的測量臺(tái)上，設(shè)有具有一對定 位爪的定位機(jī)構(gòu)。
本發(fā)明的技術(shù)方案7所述的電子部件特性檢查分類裝置的特征在 于，在技術(shù)方案4所述的電子部件特性檢查分類裝置中，在上述測量 部上，將檢測器與上電極架子一體配置而構(gòu)成，上述檢測器為了將上 電極與上述測量臺(tái)上的被測量的上述電子部件的表面之間的間隙保持 恒定，對到上述測量臺(tái)表面的距離進(jìn)行測量。
本發(fā)明的技術(shù)方案8所述的電子部件特性檢查分類裝置的特征在 于，在技術(shù)方案4所述的電子部件特性檢查分類裝置中，為了將殘留 在上述測量臺(tái)上的檢查完畢的上述電子部件強(qiáng)制地排除而設(shè)有利用排 出斜面的排出爪，該排出爪在上述測量部的測量臺(tái)的運(yùn)出位置通常向上方躲避，在排出時(shí)向測量臺(tái)的運(yùn)出位置表面下降。
本發(fā)明的技術(shù)方案9所述的電子部件特性檢査分類裝置的特征在 于，在技術(shù)方案4所述的電子部件特性檢查分類裝置中，在通過上述 供給P&P部從上述供給臺(tái)向上述測量臺(tái)運(yùn)送電子部件的路徑的下方， 設(shè)置用于對上述電子部件進(jìn)行圖像處理的相機(jī)和照明，在上述電子部 件在上述路徑上移動(dòng)過程中進(jìn)行拍攝，根據(jù)上述圖像處理對上述電子 部件的外觀進(jìn)行檢査。
根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案1 3所述的部件分類裝置，能夠由吸嘴將 小且很薄的、質(zhì)量小的部件從上述部件的運(yùn)出位置向容納位置吸附運(yùn) 送并將其容納到上述容納位置上設(shè)置的容納箱中。即，根據(jù)上述裝置，
可以得到能夠不損傷部件地將其切實(shí)地容納到容納箱中的效果。進(jìn)一 步具體而言，根據(jù)技術(shù)方案1所述的結(jié)構(gòu)，由臨時(shí)接收單元接收部件 并使其下落到容納箱中，因此部件不會(huì)因空氣而加速，而是靜靜的下 落并分類。根據(jù)技術(shù)方案2所述的結(jié)構(gòu)，能夠確保上述吸嘴與上述臨 時(shí)接收單元的位置關(guān)系準(zhǔn)確。根據(jù)技術(shù)方案3所述的結(jié)構(gòu)，能夠切實(shí) 地使部件從臨時(shí)接收部脫離。另外，請留意脫離的方向不是下方向。
根據(jù)具有組裝了上述部件分類裝置的分類部的技術(shù)方案4 9所 述的電子部件特性檢查分類裝置，可以提供能得到能夠不損傷部件地 將其切實(shí)地容納到容納箱中的效果的電子部件特性檢査分類裝置。進(jìn) 一步具體而言，根據(jù)技術(shù)方案4所述的結(jié)構(gòu)，能夠不損傷電子部件地 對石英振子片等電子部件連續(xù)地進(jìn)行檢查分類。根據(jù)技術(shù)方案5所述 的結(jié)構(gòu)，能夠解除上述供給臺(tái)部的供給臺(tái)上的電子部件的重疊。根據(jù) 技術(shù)方案6所述的結(jié)構(gòu)，能夠?qū)⑸鲜鲭娮硬考ㄎ辉谏鲜鰷y量臺(tái)的固 定的位置上。根據(jù)技術(shù)方案7所述的結(jié)構(gòu)，能夠準(zhǔn)確地確保電極間距 離。根據(jù)技術(shù)方案8所述的結(jié)構(gòu)，能夠切實(shí)地排除殘留的檢査完畢的 部件。根據(jù)技術(shù)方案9所述的結(jié)構(gòu)，能夠檢査測量前的電子部件的外 觀。


圖1是本發(fā)明的組裝有分類部的電子部件特性檢査分類裝置的實(shí) 施例的正視圖。
圖2是本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置的實(shí)施例，是表示電 子部件散布在供給臺(tái)的槽中的狀況的俯視圖。
圖3是表示本發(fā)明的電子部件特性檢査分類裝置的實(shí)施例的供給
臺(tái)上設(shè)置的相機(jī)和照明的正視圖。
圖4是本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置的實(shí)施例的供給P&P 部的正視圖。
圖5是本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置的實(shí)施例的測量臺(tái)部 的俯視圖。
圖6是圖5所示的測量臺(tái)部的側(cè)視圖。
圖7是表示圖5所示的測量臺(tái)旋轉(zhuǎn)到確定的三個(gè)位置的狀態(tài)的俯 視圖。
圖8是圖5所示的測量臺(tái)的e的位置上設(shè)置的測量部的俯視圖。 圖9是從圖8中的箭頭X-X方向觀察的測量部的正視圖。 圖10是圖9所示的測量部的側(cè)視圖。
圖11是本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置的實(shí)施例的測量臺(tái) 和分類部的俯視圖。
圖12是圖11所示的測量臺(tái)和分類部的正視圖。
圖13是用于說明本發(fā)明的分類裝置的實(shí)施例的容納步驟的正視圖。
圖14是從圖13所示的裝置的圖中的箭頭Y-Y方向觀察的容納箱 的剖視圖。
圖15是表示本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置的實(shí)施例的測 量臺(tái)部上設(shè)置的定位保持機(jī)構(gòu)的、表示其他定位保持機(jī)構(gòu)的實(shí)施例的 俯視圖。
圖16是從圖15中所示的箭頭Z1-Z1方向觀察的圖。 圖17是從圖15中所示的箭頭Z2-Z2方向觀察的圖。
9圖18是表示電子部件的排出機(jī)構(gòu)的俯視圖。
圖19是表示圖18的排出機(jī)構(gòu)的側(cè)視圖。
圖20是表示在本發(fā)明的電子部件特性檢査分類裝置中用于進(jìn)行 圖像處理的其他相機(jī)和照明的正視圖。
具體實(shí)施例方式
參照以下附圖等對本發(fā)明的部件分類裝置和使用該分類裝置的電 子部件特性檢査分類裝置的實(shí)施方式進(jìn)行說明。
圖1是本發(fā)明的組裝有分類部的電子部件特性檢查分類裝置的實(shí) 施例的正視圖，圖2是本發(fā)明的電子部件特性檢査分類裝置的實(shí)施例， 是表示電子部件散布在供給臺(tái)的槽中的狀況的俯視圖，圖3是表示本 發(fā)明的電子部件特性檢査分類裝置的實(shí)施例的供給臺(tái)上設(shè)置的相機(jī)和 照明的正視圖。
上述實(shí)施例是對電子部件的特性進(jìn)行檢查并分類的裝置，從供給 料斗102供給電子部件101 (參照圖2)?？尚D(zhuǎn)地設(shè)置的供給臺(tái)部1 搭載從供給料斗102供給的電子部件101并進(jìn)行旋轉(zhuǎn)。相機(jī)/照明部2 被配置在供給臺(tái)部1的供給臺(tái)103上方，拍攝搭載在供給臺(tái)103上的 電子部件101并進(jìn)行圖像處理。供給P&P部3根據(jù)電子部件101的圖 像處理后的信息，從供給臺(tái)103的電子部件101的取出位置將電子部 件101逐個(gè)吸附并運(yùn)送配置到預(yù)定的位置。另外，P&P是PICKUP AND PLACE的縮寫，在本領(lǐng)域技術(shù)人員常用該縮寫方式。測量部5在上述 預(yù)定的位置將電子部件接收到旋轉(zhuǎn)臺(tái)(測量臺(tái)部4)上，并測量其特性， 產(chǎn)生分類信號(hào)。
部件分類裝置(分類部6、圖1)由以下部件構(gòu)成 一個(gè)以上的容 納箱；臨時(shí)接收單元，由網(wǎng)眼板和吸排出部構(gòu)成，配置在上述各容納 箱上的臨時(shí)接收位置上；吸嘴601，從測量部5吸附電子部件101，并 運(yùn)送到部件與根據(jù)分類信號(hào)選擇的容納箱的上述臨時(shí)接收單元的網(wǎng)眼
10板的一面相對的位置并躲避(參照圖12);以及壓力控制單元，對吸
嘴601和吸排出部605 (參照圖12)的壓力進(jìn)行控制，由臨時(shí)接收單 元接收部件并使其下落到容納箱中。
(部件分類裝置的詳細(xì)說明)
以下參照圖n i4對上述部件分類裝置(分類部6、圖i)進(jìn)行
說明。圖ll是用于說明本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置的實(shí)施例
的測量臺(tái)與分類部的位置關(guān)系的俯視圖，圖12是圖11所示的測量臺(tái) 和分類部的正視圖。如圖ll所示，多個(gè)容納箱614被配置在基底(sub base) 617的上列上，根據(jù)分類信號(hào)選擇其中之一。圖13是用于將說 明本發(fā)明的部件分類裝置利用在本發(fā)明的電子部件特性檢查分類裝置 上時(shí)的電子部件容納步驟的正視圖。圖14是從圖13所示的裝置的圖 中箭頭Y-Y方向觀察的容納箱的剖視圖。圖11和圖13所示的吸嘴601 被固定在旋轉(zhuǎn)氣缸602的輸出軸上。吸嘴601在用圖13的虛線表示的 位置將電子部件吸附后，移動(dòng)到圖11的圖中下方的根據(jù)分類信號(hào)選擇 的容納箱614上，通過旋轉(zhuǎn)氣缸602的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)使電子部件與容納箱 614的右壁上配置的網(wǎng)眼板615的網(wǎng)眼部相對。
在該部件分類裝置中，圖13的吸嘴601、網(wǎng)眼板615、吸排出部 605構(gòu)成任意容納箱614上的臨時(shí)接收位置上配置的臨時(shí)接收單元。網(wǎng) 眼板615在每個(gè)容納箱614中分別設(shè)置，吸嘴601和吸排出部605被 設(shè)置成可一體地移動(dòng)。分類對象的部件在被吸嘴601吸附的狀態(tài)下被 移動(dòng)到靠近作為容納箱614的里側(cè)的壁面的網(wǎng)眼板615的表面的位置。 優(yōu)選部件靠近到距離網(wǎng)眼板615的表面0.5mm左右的位置。網(wǎng)眼板615 的小徑孔為小于部件的大小的多個(gè)小徑孔，網(wǎng)眼板615的板厚優(yōu)選薄 到0.5mm左右。在位于與吸嘴601相對的直線上、并且靠近網(wǎng)眼板615 的背面的位置上，設(shè)有具有吸排出孔606的吸排出部605，上述吸排出 孔606同時(shí)具有吸附功能和排出功能。優(yōu)選吸排出孔606的開口靠近 到距離網(wǎng)眼板615的內(nèi)表面0.5mm左右的位置。吸排出部605在這里 與圖11所示的真空(吸入空氣607)及壓縮空氣(排出空氣608)的
11控制裝置連接。
在上述關(guān)系位置中，若斷開吸嘴601的吸附，則同時(shí)吸排出部605 的吸排出孔606的吸附功能接通，使部件從吸嘴601脫離，吸附到網(wǎng) 眼板615的表面。若吸嘴601從圖示位置(參照圖13)離開，則同時(shí) 吸排出部605的吸排出孔606的排出功能接通，使部件從網(wǎng)眼板615 的表面脫離，下落并容納到容納箱614內(nèi)。
此外，吸嘴601和吸排出部605被設(shè)置在同一支架609 (參照圖 11)上，從部件的運(yùn)出位置向容納位置一體移動(dòng)。根據(jù)該臨時(shí)接收方 式，即使吸附小且很薄的、質(zhì)量小的部件(例如石英振子片)的吸嘴 帶上靜電，也可以不損傷部件地將部件吸附運(yùn)送并切實(shí)地容納到容納箱。
(使用上述分類裝置的電子部件特性檢查分類裝置的詳細(xì)說明) 首先，對簡單說明的電子部件特性檢査分類裝置的結(jié)構(gòu)進(jìn)一步詳 細(xì)說明。在圖1中，供給料斗102向用于將電子部件供給到測量臺(tái)部4 的測量臺(tái)401 (參照圖4)上的供給臺(tái)部1的供給臺(tái)103 (參照圖2) 供給電子部件。供給臺(tái)部1具有用于對從供給料斗102供給而搭載在 供給臺(tái)103上的電子部件進(jìn)行圖像處理的相機(jī)/照明部2。供給P&P部 3根據(jù)搭載在供給臺(tái)部1上的電子部件的圖像處理后的信息，從供給測 量部1的電子部件的取出位置將電子部件逐個(gè)吸附并向測量臺(tái)部4的 預(yù)定位置運(yùn)送。電子部件通過供給P&P部3被運(yùn)送到測量部5的測量 臺(tái)部4，如后文所述，在測量臺(tái)部4的預(yù)定位置上具有用于對電子部件 的特性進(jìn)行檢査的下電極，并且具有與測量臺(tái)部4的下電極成對而用 于對電子部件的特性進(jìn)行檢查的上電極。上述分類裝置作為本發(fā)明的 裝置的分類部6而使用。分類部6如上所述具有用于容納電子部件 的多個(gè)容納箱；和用于根據(jù)在測量部5進(jìn)行特性檢查的結(jié)果將測量臺(tái) 上的檢查完畢的電子部件運(yùn)送容納到指定的容納箱中的結(jié)構(gòu)。(向供給臺(tái)部供給電子部件和獲取部件信息)
如圖2、圖3所示，振動(dòng)式的供給料斗102在供給臺(tái)103的a的位 置以將電子部件101散布在供給臺(tái)103的環(huán)狀的槽104上的方式進(jìn)行 供給。
去除供給臺(tái)上的電子部件的重疊
如上所述，通過供給料斗102散布在供給臺(tái)103的槽104上的電 子部件101會(huì)產(chǎn)生重疊。若這種重疊的產(chǎn)生通過后述相機(jī)201進(jìn)行圖 像處理，則判斷為異常的狀態(tài)，會(huì)回避向測量部運(yùn)送，會(huì)殘留重疊的 電子部件101，因此需要消除該重疊。因此，使通常驅(qū)動(dòng)該供給臺(tái)103 向逆時(shí)針方向(參照圖2及圖3)旋轉(zhuǎn)的脈沖電動(dòng)機(jī)105進(jìn)行小刻度的 左右旋轉(zhuǎn)，使供給臺(tái)103振動(dòng)。通過該振動(dòng)可以解除產(chǎn)生了重疊的電 子部件101的重疊。上述供給臺(tái)103的槽104為如下深度的淺槽切 實(shí)地接收電子部件101通過供給料斗102的供給，電子部件101不會(huì) 因?yàn)樯鲜稣駝?dòng)而從供給臺(tái)103振落(相當(dāng)于電子部件的厚度的2 3 倍)。通過上述槽和上述供給臺(tái)的振動(dòng)消除重疊。
獲取電子部件的位置姿勢等信息
在供給臺(tái)103上方設(shè)有相機(jī)201和照明202 (參照圖3)。相機(jī) 201被配置在供給臺(tái)103的b的位置(參照圖2)的正上方，拍攝電子 部件101進(jìn)行圖像處理。脈沖電動(dòng)機(jī)105 (參照圖3)驅(qū)動(dòng)供給臺(tái)103 向逆時(shí)針方向(參照圖2)旋轉(zhuǎn)。在供給臺(tái)103的c的位置(參照圖2)， 為了吸附運(yùn)送電子部件101，配置有作為供給P&P部3的一部分的吸 嘴301。
如圖3所示，由相機(jī)201對相機(jī)201的拍攝范圍內(nèi)的電子部件101 進(jìn)行拍攝，進(jìn)行圖像處理，從而獲取每個(gè)電子部件101在供給臺(tái)103 上的位置、姿勢、重疊的信息。這樣，獲取從供給料斗102通過供給 臺(tái)103的旋轉(zhuǎn)依次運(yùn)送來的所有電子部件101的信息。上述信息被發(fā) 送到圖1所示的供給P&P部3的控制部7，如后文所述，電子部件101從供給臺(tái)103的c的位置(參照圖2)通過供給P&P部3的吸嘴301， 根據(jù)上述信息被吸附運(yùn)送，轉(zhuǎn)移放置到圖l所示的測量臺(tái)部4上。
(供給P&P部的動(dòng)作、向測量部轉(zhuǎn)移電子部件) 供給P&P部3對吸嘴301進(jìn)行操作，由此從供給臺(tái)103向測量臺(tái) 401供給電子部件。圖4表示上述位置關(guān)系。
對吸嘴301供給負(fù)壓
吸嘴301被設(shè)置在旋轉(zhuǎn)軸302的下端。供給P&P部3的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu) (支撐板A、 B、 C被一體設(shè)置)的支撐板A上設(shè)置的引導(dǎo)用的箱體 (case) 303被旋轉(zhuǎn)軸302可旋轉(zhuǎn)及升降地支撐。旋轉(zhuǎn)軸302為管狀， 在其上端設(shè)有旋轉(zhuǎn)連接器308，與旋轉(zhuǎn)連接器308接合的空氣導(dǎo)管309 與真空產(chǎn)生裝置(未圖示)連接，向吸嘴301供給負(fù)壓。
吸嘴301的旋轉(zhuǎn)控制
在旋轉(zhuǎn)軸302上，在支撐板A的上部的位置，固定有同步輪304B。 在支撐板A上還設(shè)有脈沖電動(dòng)機(jī)306，在脈沖電動(dòng)機(jī)306的輸出軸上 設(shè)有同步輪304A。脈沖電動(dòng)機(jī)306的旋轉(zhuǎn)經(jīng)由同步帶305被傳遞到同 步輪304B上。
吸嘴301的升降控制
在供給P&P部3的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)的支撐板C上設(shè)有直進(jìn)導(dǎo)軌310，引 導(dǎo)與上下用鉤(hook) 307 —體設(shè)置的托板311，引導(dǎo)與該托板311 — 體的上下用鉤307的上下方向的直進(jìn)。上下用鉤307與旋轉(zhuǎn)軸302連 接。在供給P&P部3的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)的支撐板B上設(shè)置的脈沖電動(dòng)機(jī)313 的輸出軸上固定有擺動(dòng)桿312。根據(jù)脈沖電動(dòng)機(jī)313的左右旋轉(zhuǎn)，擺動(dòng) 桿312進(jìn)行上下擺動(dòng)運(yùn)動(dòng)。該擺動(dòng)運(yùn)動(dòng)經(jīng)由托板311、上下用鉤307被 傳遞到旋轉(zhuǎn)軸302，其結(jié)果進(jìn)行吸嘴301的升降控制。
供給P&P部3的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)的水平移動(dòng)如上所述，圖4所示的脈沖電動(dòng)機(jī)306和313 —體設(shè)置在基礎(chǔ)結(jié) 構(gòu)的基板上，可由未圖示的驅(qū)動(dòng)源向圖1、 4中的左右驅(qū)動(dòng)。
P&P部3的綜合動(dòng)作
基于位于圖2所示的供給臺(tái)103的c的位置上的電子部件101的 信息的指令被輸入到上述結(jié)構(gòu)的供給P&P部3的各驅(qū)動(dòng)源的控制裝置， 吸嘴301移動(dòng)下降到待吸附的電子部件101上進(jìn)行吸附并上升，向測 量臺(tái)401的預(yù)定的位置進(jìn)行吸附運(yùn)送。進(jìn)而，從該供給臺(tái)103到測量 臺(tái)401的吸附移動(dòng)中，根據(jù)吸附的電子部件101的姿勢信息向預(yù)定的 姿勢旋轉(zhuǎn)，進(jìn)行補(bǔ)正。另外，在電子部件101重疊的情況下，該電子 部件101被遺漏而殘留在供給臺(tái)103上。
(測量部中的電子部件的測量)
圖5、 6及7表示測量臺(tái)部4。圖5是測量臺(tái)部4的俯視圖，圖6 是其側(cè)視圖。測量臺(tái)401與脈沖電動(dòng)機(jī)403的輸出軸連接，可旋轉(zhuǎn)。 此外，在測量臺(tái)401上埋設(shè)有絕緣材料405，在此設(shè)置有用于檢查電子 部件的電特性的帶吸附孔的下電極404。在下電極404位于圖中d所示 的位置的狀態(tài)下，電子部件101通過圖4所示的吸嘴301被吸附運(yùn)送， 并吸附保持在位于測量臺(tái)401的預(yù)定的位置上的下電極404的上方。
電子部件的定位保持機(jī)構(gòu)之一
在測量臺(tái)401上設(shè)有用于將電子部件定位在接收由供給P&P部3 運(yùn)送的電子部件的測量臺(tái)401的固定的位置上的定位機(jī)構(gòu)。電子部件 如圖4所示由吸嘴301吸附運(yùn)送，放置在位于測量臺(tái)401的預(yù)定的位 置上的下電極404的上方并被吸附保持時(shí)，產(chǎn)生微妙的位置偏移。因 此，在測量臺(tái)401上，具有用于將電子部件定位在下電極404的固定 的位置上的定位機(jī)構(gòu)。高精度地測量而對電子部件進(jìn)行檢查時(shí)，該定 位機(jī)構(gòu)是必不可缺的要素。
用于對放置在下電極404的上方并被吸附保持的電子部件進(jìn)行位
15置校正以使其到固定的位置上的定位爪1即406和定位爪2即411被 組裝到正交的位置上。上述定位爪由各自獨(dú)立的爪架407、搭載有爪架 407的直進(jìn)導(dǎo)軌408、用于驅(qū)動(dòng)直進(jìn)導(dǎo)軌408的氣缸410、及用于氣缸 410的驅(qū)動(dòng)恢復(fù)的拉伸彈簧409構(gòu)成，被固定在同一支架412上，被搭 載在測量臺(tái)401上。對產(chǎn)生上述位置偏移的情況進(jìn)行預(yù)測，將由供給 P&P部3將電子部件吸附保持在下電極404的上方的位置設(shè)為靠近定 位爪1及2的位置。通過使該兩個(gè)定位爪406和411動(dòng)作，放置并吸 附保持在下電極404的上方的電子部件始終被位置校正在固定的位置。 位置校正的動(dòng)作完成后，各定位爪返回原來的位置。
圖7是表示測量臺(tái)401旋轉(zhuǎn)到確定的三個(gè)位置的狀態(tài)的俯視圖。 圖中表示的d的位置為接收上述電子部件的位置，e的位置為設(shè)有搭載 有與用于檢査電子部件的電特性的下電極404成對的上電極的、圖1 所示的測量部5的位置，f的位置為用于取出到用于容納電特性的檢查 完畢的電子部件的圖1所示的分類部6中的運(yùn)出位置。圖7的(a)是 測量臺(tái)401的下電極404位于d的位置時(shí)的圖，在該狀態(tài)下接收電子 部件。圖7的(b)是測量臺(tái)401的下電極404位于e的位置時(shí)的圖， 在該狀態(tài)下檢査電子部件的電特性。圖7的(c)是測量臺(tái)401的下電 極404位于f的位置時(shí)的圖，取出到用于容納電特性的檢査完畢的電極 部件的圖1所示的分類部6。測量臺(tái)401通過圖6所示的脈沖電動(dòng)機(jī) 403從d向e、進(jìn)而從e向f進(jìn)行右旋轉(zhuǎn)，從f向d進(jìn)行左旋轉(zhuǎn)而返回， 接收下一個(gè)電子部件。重復(fù)進(jìn)行該循環(huán)。
圖8是在上述圖7的(b)中說明的設(shè)置在測量臺(tái)401的e的位置 的測量部5的俯視圖，圖9是從圖8的圖中的箭頭X-X方向觀察的測 量部5的正視圖，圖10是圖9的側(cè)視圖。上電極501被固定在架子503 上，架子503被搭載在直進(jìn)導(dǎo)軌506上，進(jìn)而直進(jìn)導(dǎo)軌506被搭載在 通過滾珠螺桿509上下移動(dòng)的滑動(dòng)臺(tái)508上。滾珠螺桿509經(jīng)由聯(lián)接 器510與脈沖電動(dòng)機(jī)511的輸出軸連接。通過上述機(jī)構(gòu)，上電極501 可以根據(jù)脈沖電動(dòng)機(jī)511的旋轉(zhuǎn)進(jìn)行上下移動(dòng)。使上電極501下降，
16上電極501與電子部件接觸之后也使其下降時(shí)，可以進(jìn)行從搭載在滑
動(dòng)臺(tái)508上的直進(jìn)導(dǎo)軌506脫離的動(dòng)作，因此不會(huì)損傷電子部件。
用于與電子部件的表面保持恒定的間隙的檢測器的配置 可以將上電極501與測量臺(tái)401上的被檢測的電子部件的表面的 間隙保持恒定而檢查電子部件的特性。通過在搭載有上電極501的架 子503上搭載可測量距離的檢測器502 (參照圖9)來實(shí)施。
電子部件的定位保持機(jī)構(gòu)之二
在測量臺(tái)401上設(shè)有用于將電子部件定位在接收由供給P&P部3 運(yùn)送的電子部件的測量臺(tái)401的固定的位置上的定位機(jī)構(gòu)的情況如上 所述，但是該結(jié)構(gòu)也可以由圖15、 16及17所示的結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)。圖15是 表示定位機(jī)構(gòu)的俯視圖，圖16是從圖15中所示的箭頭Z1-Z1方向觀 察的側(cè)視圖，圖17是從圖15中所示的箭頭Z2-Z2方向觀察的側(cè)視圖。
與上述圖5的說明同樣地，對產(chǎn)生上述位置偏移的情況進(jìn)行預(yù)測， 將由供給P&P部3將電子部件吸附保持在下電極404的上方的位置設(shè) 為靠近定位爪1即406及定位爪2即411的位置。在測量臺(tái)401的d-f 線上搭載有保持411即定位爪2的機(jī)構(gòu)。該機(jī)構(gòu)與在上述定位保持機(jī) 構(gòu)之一中說明的機(jī)構(gòu)相同。在與定位爪2即411正交的位置，從測量 臺(tái)401的外側(cè)配置有保持定位爪1即406的機(jī)構(gòu)。定位爪1即406由 爪架407、搭載爪架407的直動(dòng)單元413構(gòu)成，在測量臺(tái)401的外側(cè)由 支架412固定。吸附保持在下電極404的上方的電子部件通過定位爪2 即411的前進(jìn)和使測量臺(tái)401左旋轉(zhuǎn)而將電子部件按壓到定位爪1即 406上的方法而被進(jìn)行位置校正在固定的位置上。在此，使測量臺(tái)401 左旋轉(zhuǎn)的角度是預(yù)先計(jì)算出的位置校正所需要的值。
用于強(qiáng)制性排除檢査完畢的電子部件的排出機(jī)構(gòu) 需要將測量臺(tái)上殘留的檢查完畢的電子部件強(qiáng)制地排除。圖18是 在上述定位機(jī)構(gòu)上配置有用于將測量臺(tái)上殘留的檢査完畢的電子部件強(qiáng)制地排除的排出機(jī)構(gòu)的俯視圖，圖19是圖18的排出機(jī)構(gòu)的側(cè)視圖。
在測量臺(tái)401位于圖18中的f的位置上的狀態(tài)下，檢查完畢的電子部 件由分類部6的吸嘴601 (參照圖11)吸附而被運(yùn)送到分類部6。此時(shí) 若產(chǎn)生吸附失敗，則電子部件殘留在測量臺(tái)401上。在下一個(gè)循環(huán)中 其他電子部件重疊放置在該殘留的電子部件上。為了避免該狀況，需 要將殘留的電子部件強(qiáng)制地排除。
排出機(jī)構(gòu)的排出爪701保持在爪架702上，爪架702被固定在空 氣驅(qū)動(dòng)的直動(dòng)單元703上，經(jīng)由支架704固定在未圖示的底板上。并 且，排出機(jī)構(gòu)被配置在如下位置上在圖中所示的e和f之間靠近f的 位置、且在測量臺(tái)上的電子部件旋轉(zhuǎn)的軌跡上，在不干擾位于測量臺(tái) 401上的定位機(jī)構(gòu)的位置。在檢査完畢的電子部件從圖中所示的e向f 旋轉(zhuǎn)時(shí)，排出爪701通過直動(dòng)單元703向上方躲避，當(dāng)電子部件到達(dá) 圖中所示的f的位置時(shí)，排出爪701通過直動(dòng)單元703下降到與測量臺(tái) 401的表面接觸的位置。另外，排出爪701具有通過未圖示的彈簧按壓 測量臺(tái)401的表面的結(jié)構(gòu)。排出爪701的前端如圖所示被傾斜地切斷。 在該狀態(tài)下測量臺(tái)401從圖中所示的f向d的位置旋轉(zhuǎn)時(shí)，若電子部件 由于上述理由殘留在測量臺(tái)401上，則電子部件與排出爪701的傾斜 的切斷面相碰，并且沿著該切斷面向測量臺(tái)401的外側(cè)排出。排出的 電子部件被容納到放置在測量臺(tái)401的外側(cè)的接收箱705中。
(其他獲取圖像處理數(shù)據(jù)的相機(jī)的配置) 在上述電子部件特性檢查分類裝置中，在通過供給P&P部3將電 子部件從供給臺(tái)103向測量臺(tái)401運(yùn)送的路徑的下方設(shè)置有對電子部 件進(jìn)行圖像處理的相機(jī)和照明。電子部件在上述路徑上移動(dòng)過程中， 可以通過圖像處理對電子部件的外觀不良進(jìn)行檢查。
圖20是表示在電子部件101通過供給P&P部3從供給臺(tái)部1向 測量臺(tái)部4運(yùn)送的路徑的下方設(shè)置有用于對電子部件進(jìn)行圖像處理的 相機(jī)801和照明802的變形例的正視圖。由供給P&P部3吸附的電子
18部件被相機(jī)801拍攝而進(jìn)行圖像處理，上述相機(jī)801被設(shè)置在向圖中 的測量臺(tái)部4的i的位置運(yùn)送的路徑的移動(dòng)過程中的j的位置。通過圖 像處理可以檢查出電子部件的外觀不良，從而進(jìn)行不良篩選。
(變形例)
對于以上詳細(xì)說明的實(shí)施例，可以在本發(fā)明的范圍內(nèi)實(shí)施各種變 形。作為電子部件的例子示例了石英振子，但是也可以用于其他電子 部件、例如陶瓷振子的粗加工板的分類。
權(quán)利要求
1. 一種部件分類裝置，其特征在于，包括多個(gè)容納箱；臨時(shí)接收單元，由網(wǎng)眼板和吸排出部構(gòu)成，且配置在上述各容納箱上的臨時(shí)接收位置上；吸嘴，在運(yùn)出位置吸附部件，運(yùn)送到部件與上述臨時(shí)接收單元的網(wǎng)眼板的一面相對的位置并躲避；以及壓力控制單元，對上述吸嘴和吸排出部的壓力進(jìn)行控制，由臨時(shí)接收單元接收部件并使其下落到容納箱中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的部件分類裝置，其特征在于， 上述吸嘴的基部和上述臨時(shí)接收單元被支撐在共同的移動(dòng)支架上，被設(shè)置成能夠從上述運(yùn)出位置移動(dòng)到臨時(shí)接收位置，上述吸嘴在 上述臨時(shí)接收位置向靠近上述網(wǎng)眼板的位置及向脫離上述網(wǎng)眼板的位 置移動(dòng)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的部件分類裝置，其特征在于， 通過選擇在上述吸排出部上連接負(fù)壓和正壓，構(gòu)成為能夠從臨時(shí)接收位置脫離。
4. 一種電子部件特性檢查分類裝置，對電子部件的特性進(jìn)行檢查 而進(jìn)行分類，其特征在于，包括供給臺(tái)部，將從供給料斗供給的電子部件搭載在供給臺(tái)上并旋轉(zhuǎn)； 相機(jī)部，用于拍攝散布在上述供給臺(tái)上的上述電子部件，進(jìn)行圖 像處理；供給P&P部，根據(jù)上述電子部件的圖像處理后的信息，從上述供 給臺(tái)的上述電子部件的運(yùn)出位置逐個(gè)吸附上述電子部件并運(yùn)送配置到 配送位置；測量部，在上述配送位置，在測量臺(tái)部的測量臺(tái)上接收電子部件，對其特性進(jìn)行測量，產(chǎn)生分類信號(hào)；以及部件分類部，由以下部件構(gòu)成 一個(gè)以上的容納箱；臨時(shí)接收單 元，由網(wǎng)眼板和吸排出部構(gòu)成，且配置在上述各容納箱上的臨時(shí)接收 位置上；吸嘴，從上述測量部的運(yùn)出位置吸附電子部件，并運(yùn)送到電 子部件與根據(jù)上述分類信號(hào)選擇的容納箱的上述臨時(shí)接收單元的網(wǎng)眼 板的一面相對的位置并躲避；以及壓力控制單元，對上述吸嘴和吸排 出部的壓力進(jìn)行控制，由臨時(shí)接收單元接收電子部件并使其下落到容 納箱中。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子部件特性檢査分類裝置，其特征在于，上述供給臺(tái)部的供給臺(tái)具有圓環(huán)狀淺槽，施加驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)的主旋 轉(zhuǎn)方向和反方向的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)，解除上述淺槽內(nèi)的電子部件的重疊。
6. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子部件特性檢查分類裝置，其特征在于，為了將上述電子部件定位在接收由上述供給P&P部運(yùn)送的上述電 子部件的上述測量臺(tái)的固定的位置上，在上述測量臺(tái)部的測量臺(tái)上， 設(shè)有具有一對定位爪的定位機(jī)構(gòu)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子部件特性檢查分類裝置，其特征在于，在上述測量部上，將檢測器與上電極架子一體配置而構(gòu)成，上述 檢測器為了將上電極與上述測量臺(tái)上的被測量的上述電子部件的表面 之間的間隙保持恒定，對到上述測量臺(tái)表面的距離進(jìn)行測量。
8. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子部件特性檢査分類裝置，其特征在于，為了將殘留在上述測量臺(tái)上的檢查完畢的上述電子部件強(qiáng)制地排 除而設(shè)有利用排出斜面的排出爪，該排出爪在上述測量部的測量臺(tái)的運(yùn)出位置通常向上方躲避，在排出時(shí)向測量臺(tái)的運(yùn)出位置表面下降。
9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子部件特性檢査分類裝置，其特征在于，在通過上述供給P&P部從上述供給臺(tái)向上述測量臺(tái)運(yùn)送電子部件 的路徑的下方，設(shè)置用于對上述電子部件進(jìn)行圖像處理的相機(jī)和照明，在上述電子部件在上述路徑上移動(dòng)過程中進(jìn)行拍攝，根據(jù)上述圖 像處理對上述電子部件的外觀進(jìn)行檢查。
全文摘要
本發(fā)明提供一種吸附運(yùn)送小且很薄的、質(zhì)量小的部件等并可以不損傷部件地將其切實(shí)地容納到容納箱中的部件分類裝置和使用上述裝置的電子部件特性檢查分類裝置。本發(fā)明的部件分類裝置包括多個(gè)容納箱；臨時(shí)接收單元，由網(wǎng)眼板和吸排出部構(gòu)成，且配置在上述各容納箱的臨時(shí)接收位置上；吸嘴；以及壓力控制單元，對上述吸嘴和吸排出部的壓力進(jìn)行控制，由臨時(shí)接收單元接收部件并使其下落到容納箱中。電子部件特性檢查分類裝置包括供給臺(tái)部(1)、相機(jī)/照明部(2)、從電子部件的運(yùn)出位置將上述電子部件逐個(gè)吸附并運(yùn)送配置到配送位置的供給P&P部(3)、測量部(5)、以及部件分類部(6)。
文檔編號(hào)B07C5/36GK101486035SQ20081008233
公開日2009年7月22日 申請日期2008年2月29日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月18日
發(fā)明者小林靖昌, 澤伸生, 鈴木卓司 申請人:慧萌高新科技有限公司