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一種用于高溫高壓工況條件下的局部清掃反吹法蘭的制作方法

文檔序號(hào):9033293閱讀:638來源:國知局
一種用于高溫高壓工況條件下的局部清掃反吹法蘭的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種法蘭,特別涉及一種用于高溫高壓工況條件下的局部清掃反吹法蘭,適用于高溫高壓的局部清掃需求。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)工況氣體的成分,顆粒物濃度等進(jìn)行測(cè)量時(shí),有的測(cè)量儀表是直接安裝于測(cè)量煙道的,但是由于工況氣體高溫,高壓,含有水汽等,這樣的測(cè)量環(huán)境對(duì)于測(cè)量儀表的穩(wěn)定性會(huì)造成影響。例如使用動(dòng)態(tài)電荷檢測(cè)原理測(cè)量顆粒物濃度時(shí),測(cè)量儀的探針要求和大地絕緣,但是由于水汽,細(xì)小的顆粒物等存在,會(huì)影響探針的絕緣性能。因此需要對(duì)探針的尾部絕緣體進(jìn)行吹掃,以阻止水汽,細(xì)小顆粒物對(duì)其絕緣性能的影響。
[0003]傳統(tǒng)的清掃方式多采用對(duì)絕緣體直接吹掃,或者采用沒有縮口的反吹法蘭,但是現(xiàn)場(chǎng)使用過程中依然會(huì)有顆粒物或者水汽直接進(jìn)入絕緣體內(nèi),引起儀表測(cè)量不穩(wěn)定,現(xiàn)存的主要問題如下所述。
[0004]如圖1所示,提供的是現(xiàn)有的一種反吹法蘭結(jié)構(gòu),這種反吹法蘭1Pl具有一定的縮口,且縮口位置剛好環(huán)繞于絕緣體的周圍,因此可以對(duì)絕緣體的表面進(jìn)行直接的吹掃,但是,由于絕緣體和探針之間往往是采用密封圈連接的,長期的含水等復(fù)雜成分的高溫高壓工況氣體和密封圈接觸,會(huì)引起密封圈的老化,導(dǎo)致測(cè)量絕緣失敗,從而影響到測(cè)量結(jié)果。其次,這種結(jié)構(gòu)的反吹法蘭,由于氣體高速地流過絕緣體表面,將會(huì)引起氣流沿反吹氣體出口的法蘭面回流,冷熱氣體交匯后往往容易結(jié)垢,從而影響絕緣性能。此外,這種結(jié)構(gòu)的反吹法蘭對(duì)安裝精度要求很高,反吹氣體出口和絕緣體往往只有1-2_的空間,安裝時(shí)稍不留意,反吹法蘭將和絕緣體直接接觸,導(dǎo)致反吹失敗,而且結(jié)垢加劇,影響絕緣性能。
[0005]如圖2所示,提供的是現(xiàn)有的另一種反吹法蘭結(jié)構(gòu)。這種反吹法蘭10P2無縮口,反吹法蘭將絕緣體全部覆蓋,氣體直接吹入反吹法蘭的腔室,但是腔室內(nèi)氣場(chǎng)混亂,在現(xiàn)場(chǎng)使用中仍然會(huì)有顆粒物或者水汽進(jìn)入絕緣體,從而影響絕緣性能。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭可用于高溫高壓工況條件下的局部清掃。
[0007]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭可適用于高溫高壓的工況,用于對(duì)測(cè)量儀表的絕緣體部分進(jìn)行吹掃,以阻止水汽,細(xì)小顆粒物對(duì)測(cè)量儀表的絕緣性能造成影響。
[0008]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭在安裝時(shí)沒有嚴(yán)格的安裝精度要求,因此便于安裝,且其安裝不會(huì)對(duì)吹掃效果造成干擾。
[0009]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭可將測(cè)量儀表的絕緣體部分全部覆蓋,從而避免用于連接絕緣體和探針的密封圈老化。
[0010]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭可避免氣體回流。
[0011]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭可阻止被保護(hù)物體發(fā)生結(jié)垢現(xiàn)象。
[0012]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭的縮口位置被改變,從而具有更好的吹掃效果。
[0013]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭可在原有結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上稍作改進(jìn),從而在一定程度上可降低其制造成本。
[0014]本實(shí)用新型的另一目的在于提供一種反吹法蘭,其中所述反吹法蘭的結(jié)構(gòu)簡單,便于大規(guī)模的生產(chǎn)與制造。
[0015]為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供一種用于高溫高壓工況條件下的局部清掃反吹法蘭,所述反吹法蘭用于吹掃一被保護(hù)部件,其特征在于,所述反吹法蘭包括一法蘭本體,所述法蘭本體具有一氣體入口,一氣體出口,一第一吹掃通道以及一第二吹掃通道,其中所述氣體入口直接聯(lián)通于所述第一吹掃通道,所述第二吹掃通道的兩端分別聯(lián)通于所述第一吹掃通道和所述氣體出口,被保護(hù)部件被內(nèi)置于所述第一吹掃通道,反吹氣體由所述氣體入口進(jìn)入所述法蘭本體,反吹氣體得以先后通過所述第一吹掃通道和所述第二吹掃通道,并由所述氣體出口而出,反吹氣體通過流動(dòng)的方式將所述第一吹掃通道內(nèi)的雜質(zhì)物去除,以阻止雜質(zhì)物損壞所述被保護(hù)部件的性能。
[0016]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述第二吹掃通道的內(nèi)徑尺寸小于所述第一吹掃通道的內(nèi)徑尺寸。
[0017]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述法蘭本體還具有一緩沖通道,其中所述緩沖通道形成于所述第二吹掃通道和所述氣體出口之間,所述緩沖通道分別聯(lián)通于所述第二吹掃通道和所述氣體出口。
[0018]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述緩沖通道的內(nèi)徑尺寸略大于所述第二吹掃通道的內(nèi)徑尺寸。
[0019]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述第一吹掃通道,所述第二吹掃通道,所述緩沖通道形成于所述法蘭本體的同一軸線上。
[0020]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述法蘭本體包括一第一法蘭基體,一吹掃基體和一第二法蘭基體,其中所述吹掃基體由所述第一法蘭基體延伸至所述第二法蘭基體,所述第一法蘭基體和所述吹掃基體界定形成所述第一吹掃通道,所述第二法蘭基體和所述吹掃基體界定形成所述第二吹掃通道。
[0021]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述法蘭本體還包括一緩沖基體,所述緩沖基體延伸于所述第二法蘭基體,所述第二法蘭基體和所述緩沖基體界定形成一緩沖通道。
[0022]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述法蘭本體包括一第一法蘭基體,一吹掃基體和一第二法蘭基體,其中所述第一法蘭基體,所述吹掃基體和所述第二法蘭基體共同界定形成所述第一吹掃通道。
[0023]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述第二法蘭基體的通道內(nèi)緣具有一組螺紋,所述法蘭本體還包括一緩沖基體,所述緩沖基體具有所述第二吹掃通道和一緩沖通道,所述緩沖基體螺紋連接于所述第二法蘭基體。
[0024]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述第二吹掃通道的內(nèi)徑尺寸小于所述第一吹掃通道的內(nèi)徑尺寸,所述緩沖通道的內(nèi)徑尺寸略大于所述第二吹掃通道的內(nèi)徑尺寸。
[0025]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述第一法蘭基體具有一組連接孔。
[0026]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述第二法蘭基體具有一組連接孔。
[0027]根據(jù)本實(shí)用新型的一實(shí)施例,所述法蘭本體還包括一氣體管,其中所述氣體管突出地延伸于所述吹掃基體,所述氣體管具有一氣體通道,所述氣體通道聯(lián)通于所述第一吹掃通道,所述氣體管得以連接于一進(jìn)氣設(shè)備。
【附圖說明】
[0028]圖1是反吹法蘭現(xiàn)有的第一種結(jié)構(gòu)形式示意圖。
[0029]圖2是反吹法蘭現(xiàn)有的第二種結(jié)構(gòu)形式示意圖。
[0030]圖3A是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的反吹法蘭的正視圖。
[0031]圖3B是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的反吹法蘭的剖視圖。
[0032]圖4是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的反吹法蘭的應(yīng)用示意圖。
[0033]圖5是根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的反吹法蘭的變形剖視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0034]以下描述用于揭露本發(fā)明以使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明。以下描述中的優(yōu)選實(shí)施例只作為舉例,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以想到其他顯而易見的變型。在以下描述中界定的本發(fā)明的基本原理可以應(yīng)用于其他實(shí)施方案、變形方案、改進(jìn)方案、等同方案以及沒有背離本發(fā)明的精神和范圍的其他技術(shù)方案。
[0035]如圖3A至圖4所示,提供了根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例的一種高溫高壓工況條件下的局部清掃反吹法蘭,所示反吹法蘭適用于一測(cè)量儀,所述測(cè)量儀包括一探針測(cè)量部3,所述探針測(cè)量部3具有一絕緣體4,所述探針測(cè)量部3需保持絕緣性能才能獲得精確的測(cè)量數(shù)據(jù),當(dāng)所述測(cè)量儀用于測(cè)量高溫高壓的工況氣體時(shí),工況氣體中的水汽或者顆粒物等雜質(zhì)物進(jìn)入所述絕緣體4時(shí)會(huì)影響到其絕緣性能,所述反吹法蘭用于吹掃所述絕緣體4,以去除所述絕緣體4周圍的雜質(zhì),以使所述絕緣體4處于潔凈的氣體環(huán)境。
[0036]所述反吹法蘭包括一法蘭本體10,所述法蘭本體10具有一氣體入口 101,一氣體出口 102,一第一吹掃通道103以及一第二吹掃通道104,其中所述氣體入口 101直接聯(lián)通于所述第一吹掃通道103,所述第二吹掃通道104的兩端分別聯(lián)通于所述第一吹掃通道103和所述氣體出口 102,所述第二吹掃通道104的內(nèi)徑小于所述第一吹掃通道103的內(nèi)徑尺寸,所述被保護(hù)部件即所述絕緣體4被內(nèi)置于所述第一吹掃通道103,所述反吹法蘭通過一反吹氣體對(duì)所述絕緣體4進(jìn)行吹掃,所述反吹氣體由所述氣體入口 101進(jìn)入所述法蘭本體10,所述反吹氣體以一定速度先后通過所述第一吹掃通道103和所述第二吹掃通道104,并由所述氣體出口 102而出,所述反吹氣體通過流動(dòng)的方式將所述第一吹掃通道103內(nèi)的雜質(zhì)物去除,以阻止雜質(zhì)物破壞所述被保護(hù)部件。
[0037]所述法蘭本體10還具有一緩沖通道105,所述緩沖通道105形成于所述第二吹掃通道104和所述氣體出口 102之間,所述緩沖通道105分別聯(lián)通于所述第二吹掃通道104和所述氣體出口 102,其中所述緩沖通道105的內(nèi)徑尺寸略大于所述第二吹掃通道104的內(nèi)徑尺寸,當(dāng)反吹氣體由所述第二吹掃通道104進(jìn)入所述緩沖通道105時(shí),反吹氣體的流速被降低,由此避免氣體發(fā)生回流。
[0038]具體地,所述第一吹掃通道103的內(nèi)徑尺寸大于所述絕緣體4的外徑尺寸,當(dāng)所述絕緣體4被內(nèi)置于所述第一吹掃通道103時(shí),所述第一吹掃通道103得以預(yù)留有較大的間隙供所述反吹氣體通過,所述絕緣體4不會(huì)碰觸到所述第一吹掃通道103的通道內(nèi)壁,因此所述法蘭本體10在安裝時(shí)不要求嚴(yán)格的安裝精度,從而在使用過程中,便于安裝。
[0039]優(yōu)選地,所述第二吹掃通道104的內(nèi)徑尺寸略大于所述絕緣體4的外徑尺寸,所述第二吹掃通道104和所述絕緣體4之間留有一定的間隙供反吹氣體進(jìn)入所述第二吹掃通道104。換言之,所述絕緣體4不會(huì)遮擋住所述第二吹掃通道104??蛇x擇地,當(dāng)所述第一吹掃通道103的長度大于所述絕緣體4的長度時(shí),所述第二吹掃通道104的內(nèi)徑尺寸可小于或等于所述絕緣體4的外徑尺寸。
[0040]值得一提的是,所述絕緣體4完全地被置于所述第一吹掃通道103內(nèi),換言之,所述第一吹掃通道103將所述絕緣體4完全覆蓋住,所述第二吹掃通道104的內(nèi)徑尺寸小于所述第一吹掃通道103的內(nèi)徑尺寸,因此當(dāng)反吹氣體從所述第一吹掃通道103流入至所述第二吹掃通道104時(shí),反吹氣體流速被增大。所述第一吹掃通道103內(nèi)的雜質(zhì)物在反吹氣體的吹動(dòng)下被吹至所述第
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