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加熱烹調(diào)器的制造方法_2

文檔序號(hào):9793763閱讀:來(lái)源:國(guó)知局
(例如彈簧)、消除推壓部的作用力將連接端子221朝退出方向吸引的吸引部(例如螺線管)。
[0077]被通斷部23朝進(jìn)入方向推壓的連接端子221通過(guò)插入天線室13的貫通孔131而進(jìn)入天線室13的內(nèi)部,并與旋轉(zhuǎn)天線14接觸。
[0078]被通斷部23朝退出方向推壓的連接端子221通過(guò)從天線室13的貫通孔131脫出而從天線室13的內(nèi)部退出。
[0079]此外,通斷部23并不局限于本實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)。例如通斷部23可以是使用馬達(dá)與將馬達(dá)輸出的旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)變換為連接端子221的往復(fù)直線運(yùn)動(dòng)的連桿或者凸輪等構(gòu)成的結(jié)構(gòu)。
[0080]靜電電容檢測(cè)部21具有檢測(cè)電路211以及高頻電壓發(fā)生電路212。靜電電容檢測(cè)部21與內(nèi)箱112電連接。靜電電容檢測(cè)部21與旋轉(zhuǎn)天線14經(jīng)由導(dǎo)體22電連接。
[0081]在靜電電容檢測(cè)部21與內(nèi)箱112以及旋轉(zhuǎn)天線14電連接的情況下,如果高頻電壓發(fā)生電路212產(chǎn)生高頻電壓,則在內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14之間施加高頻電壓。
[0082]檢測(cè)電路211對(duì)高頻電壓發(fā)生電路212的動(dòng)作進(jìn)行控制。另外,檢測(cè)電路211向控制部20輸出表示與在高頻電壓施加于內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14之間的情況下的內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14之間的靜電電容對(duì)應(yīng)的物理量的檢測(cè)信號(hào)。在本實(shí)施方式中,內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14之間的靜電電容的變化被作為內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14之間的阻抗的變化檢測(cè)。
[0083]控制部20使用CPU、ROM以及RAM等構(gòu)成。在控制部20中,作為靜電電容的初始值,預(yù)先賦予在加熱室12中未收容食品F的情況下的靜電電容的檢測(cè)值??刂撇?0基于輸入的檢測(cè)信號(hào)所表示的靜電電容的檢測(cè)值與初始值之差,求出食品F的靜電電容的檢測(cè)值。在控制部20中,預(yù)先賦予表示食品F的靜電電容的檢測(cè)值與食品F的狀態(tài)(例如食品F的溫度)的關(guān)系的檢查表。
[0084]控制部20基于輸入的檢測(cè)信號(hào)求出食品F的狀態(tài)。也就是,狀態(tài)檢測(cè)部2基于內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14之間的靜電電容間接地檢測(cè)食品F的狀態(tài)。
[0085]此外,在加熱烹調(diào)器I具備檢測(cè)表示食品F的狀態(tài)的除了靜電電容以外的物理量的傳感器(例如紅外線傳感器)的情況下,控制部20可以選擇性地使用從該傳感器輸入的檢測(cè)信號(hào)、從檢測(cè)電路211輸入的檢測(cè)信號(hào)的一方或者兩方,求出食品F的狀態(tài)。
[0086]控制部20還是加熱烹調(diào)器I的控制中樞。控制部20對(duì)天線驅(qū)動(dòng)部15、電波發(fā)生部
16、靜電電容檢測(cè)部21以及通斷部23各自的動(dòng)作進(jìn)行控制。另外,向控制部20輸入表示操作部17被操作的操作信號(hào)。
[0087]圖4為表示由加熱烹調(diào)器I執(zhí)行的加熱烹調(diào)處理的順序的流程圖。
[0088]使用者在打開加熱烹調(diào)器I的門并將食品F放置于隔壁114后,將門關(guān)閉。接下來(lái),使用者操作操作部17。在此,示出使用者操作操作部17的自動(dòng)烹調(diào)按鈕后操作開始按鈕的情況的例子。
[0089]如圖4所示,控制部20通過(guò)對(duì)通斷部23的動(dòng)作進(jìn)行控制,將旋轉(zhuǎn)天線14與靜電電容檢測(cè)部21電連接(SI I)。此時(shí),連接端子221進(jìn)入天線室13的內(nèi)部。
[0090]接下來(lái),控制部20通過(guò)對(duì)靜電電容檢測(cè)部21的動(dòng)作進(jìn)行控制,使靜電電容檢測(cè)部21檢測(cè)靜電電容(S12)。在由控制部20控制的靜電電容檢測(cè)部21中,檢測(cè)電路211控制高頻電壓發(fā)生電路212的動(dòng)作從而產(chǎn)生高頻電壓。接下來(lái),檢測(cè)電路211將檢測(cè)信號(hào)向控制部20輸出。在檢測(cè)信號(hào)的輸出后,檢測(cè)電路211使高頻電壓發(fā)生電路212所進(jìn)行的高頻電壓的產(chǎn)生結(jié)束。
[0091]控制部20基于輸入的檢測(cè)信號(hào)所表示的靜電電容的檢測(cè)值,進(jìn)行求取食品F的狀態(tài)的狀態(tài)運(yùn)算處理(S13)。
[0092]接下來(lái),控制部20基于S13的狀態(tài)運(yùn)算處理的結(jié)果,判定是否結(jié)束加熱烹調(diào)(S14)。S14中的控制部20例如在S13的狀態(tài)運(yùn)算處理的結(jié)果表示食品F的溫度為規(guī)定溫度以上的情況下,判定為結(jié)束加熱烹調(diào)。另一方面,在S13的狀態(tài)運(yùn)算處理的結(jié)果表示食品F的溫度低于規(guī)定溫度的情況下,控制部20判定為繼續(xù)加熱烹調(diào)。
[0093]在判定為繼續(xù)加熱烹調(diào)的情況下(S14中NO),控制部20對(duì)通斷部23的動(dòng)作進(jìn)行控制,由此切斷旋轉(zhuǎn)天線14與靜電電容檢測(cè)部21的電連接(S15)。此時(shí),連接端子221從天線室13的內(nèi)部退出。
[0094]另外,控制部20基于S13的狀態(tài)運(yùn)算處理的結(jié)果,決定由微波進(jìn)行的食品F的加熱處理的加熱處理時(shí)間(S16)。
[0095]接下來(lái),控制部20在將經(jīng)過(guò)時(shí)間的計(jì)時(shí)結(jié)果復(fù)位為“O”后,開始對(duì)經(jīng)過(guò)時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)(S17)。經(jīng)過(guò)時(shí)間的計(jì)時(shí)可以使用未圖示的計(jì)時(shí)器進(jìn)行,也可以通過(guò)由控制部20對(duì)所使用的時(shí)鐘進(jìn)行計(jì)數(shù)來(lái)進(jìn)行。
[0096]進(jìn)而,控制部20控制電波發(fā)生部16的動(dòng)作,使其開始產(chǎn)生微波(S18),并控制天線驅(qū)動(dòng)部15的動(dòng)作,使其開始使旋轉(zhuǎn)天線14旋轉(zhuǎn)(S19)。
[0097]作為S18以及S19的處理的結(jié)果,從電波發(fā)生部16被導(dǎo)向天線室13的內(nèi)部的微波,被旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)天線14散射。其結(jié)果,微波向食品F均勻照射。因此,食品F被均勻加熱。
[0098]控制部20判定經(jīng)過(guò)時(shí)間是否達(dá)到在S16中決定的加熱處理時(shí)間以上(S20)。
[0099]在經(jīng)過(guò)時(shí)間未達(dá)到加熱處理時(shí)間的情況下(S20中NO),控制部20再次進(jìn)行S20的處理。其結(jié)果,直到經(jīng)過(guò)在S16中決定的加熱處理時(shí)間為止,食品F通過(guò)微波的作用被持續(xù)加熱。
[0100]在經(jīng)過(guò)時(shí)間達(dá)到加熱處理時(shí)間以上的情況下(S20中YES),控制部20結(jié)束對(duì)經(jīng)過(guò)時(shí)間的計(jì)時(shí)(S21)。
[0101]進(jìn)而,控制部20控制電波發(fā)生部16的動(dòng)作使微波的產(chǎn)生結(jié)束(S22),控制天線驅(qū)動(dòng)部15的動(dòng)作使旋轉(zhuǎn)天線14的旋轉(zhuǎn)停止(S23)。
[0102]作為S22以及S23的處理的結(jié)果,結(jié)束對(duì)食品F的微波照射。
[0103]接下來(lái),控制部20使處理返回Sll。隨后,再次間接地檢測(cè)食品F的狀態(tài),根據(jù)檢測(cè)結(jié)果判定是否結(jié)束加熱烹調(diào)。
[0104]在判定為結(jié)束加熱烹調(diào)的情況下(S14中YES),控制部20使用未圖示的聲音輸出部對(duì)使用者報(bào)告加熱烹調(diào)的結(jié)束(S24),然后結(jié)束加熱烹調(diào)處理。
[0105]被報(bào)告加熱烹調(diào)的結(jié)束的使用者打開加熱烹調(diào)器I的門,取出放置于隔壁114的食品F ο
[0106]這樣,當(dāng)進(jìn)行基于微波爐功能的加熱烹調(diào)的情況下,在電波發(fā)生部16產(chǎn)生微波期間,需要切斷靜電電容檢測(cè)部21與旋轉(zhuǎn)天線14的電連接。然而,在進(jìn)行基于烤箱功能或者烤架功能等的加熱烹調(diào)的情況下,即使靜電電容檢測(cè)部21與旋轉(zhuǎn)天線14一直電連接,也不會(huì)有太大的問(wèn)題。因此,在進(jìn)行基于烤箱功能或者烤架功能等的加熱烹調(diào)中,可以在任意時(shí)刻進(jìn)行靜電電容的檢測(cè),并進(jìn)行與檢測(cè)結(jié)果相應(yīng)的加熱烹調(diào)。
[0107]圖5為用于對(duì)加熱烹調(diào)器I的有效性進(jìn)行說(shuō)明的特性圖。
[0108]發(fā)明人為了驗(yàn)證在使用內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14作為兩個(gè)電極部的情況下是否仍然能夠檢測(cè)收容在加熱室12的食品F的靜電電容,進(jìn)行了下面的實(shí)驗(yàn)。
[0109]發(fā)明人在使高頻電壓發(fā)生電路212產(chǎn)生200kH的高頻電壓后,首先在加熱室12中未收容任何食品的情況下得到靜電電容檢測(cè)部21輸出的檢測(cè)信號(hào)。接下來(lái),將具有非導(dǎo)電性以及耐熱性的容器收容于加熱室12,在該容器中收容重量不同的水(具體地說(shuō)為10g的水以及200g的水),得到各個(gè)情況下的靜電電容檢測(cè)部21的檢測(cè)信號(hào)。另外,只將該容器收容于加熱室12(換言之,在該容器中收容Og的水的情況),得到該情況下的靜電電容檢測(cè)部21的檢測(cè)信號(hào)。
[0110]然后,發(fā)明人基于得到的檢測(cè)信號(hào)運(yùn)算阻抗變化率。在圖5所示的特性圖中,橫軸表示收容于容器的水的重量(g),縱軸表示阻抗變化率(% )。
[0111]收容于容器的水的重量與食品F的重量相當(dāng)。
[0112]如圖5所示,阻抗變化率與食品F的重量的增加成比例地增加。
[0113]由此可見(jiàn),當(dāng)將內(nèi)箱112與旋轉(zhuǎn)天線14作為兩個(gè)電極部使用的情況下,也能夠檢測(cè)收容于加熱室12的食品F的靜電電容。
[0114]以上的加熱烹調(diào)器1,由旋轉(zhuǎn)天線14構(gòu)成狀態(tài)檢測(cè)部2所具有的兩個(gè)電極部中的一個(gè)電極部,并由框體11的內(nèi)箱112構(gòu)成另一個(gè)電極部。換言之,平臺(tái)型的加熱烹調(diào)器I利用一般具有的旋轉(zhuǎn)天線14與內(nèi)箱112作為狀態(tài)檢測(cè)部2具有的兩個(gè)電極部。因此,能夠抑制加熱烹調(diào)器I的部件數(shù)量無(wú)用地增加。
[0115]另外,狀態(tài)檢測(cè)部2具有的兩個(gè)電極部雙方都未配置于加熱室12。因此,加熱室12不會(huì)受狀態(tài)檢測(cè)部2具有的兩個(gè)電極部的影響而無(wú)用地變小。因此,無(wú)需擔(dān)心給相對(duì)于加熱室12的食品F的取放造成妨礙。
[0116]另外,在如專利文獻(xiàn)I所記載的那樣使用紅外線傳感器檢測(cè)食品F的狀態(tài)的情況下,紅外線傳感器被配置于內(nèi)部空間113。在加熱室12的壁部設(shè)置有貫通孔,經(jīng)由該貫通孔,由紅外線傳感器檢測(cè)食品F的表面溫度。
[0117]然而,設(shè)置于加熱室12的壁部的貫通孔會(huì)損害加熱室12的密閉性。
[0118]另一方面,在靜電電容檢測(cè)部21的情況下,無(wú)需在加熱室12的壁部設(shè)置貫通孔。因此,能夠提尚加熱室12的密、閉性。密、閉的加熱室12能夠抑制微波的漏出,而且能夠提尚隔熱性。
[0119]另外,與專利文獻(xiàn)2所記載的電極不同,旋轉(zhuǎn)天線14未被絕緣體覆蓋。然而,旋轉(zhuǎn)天線14收容于天線室13,天線室13與加熱室12由隔壁114劃分。因此,不會(huì)由于旋轉(zhuǎn)天線14未被絕緣體覆蓋而產(chǎn)生不利的情況(例如由于旋轉(zhuǎn)天線14與食品F直接接觸引起的食品衛(wèi)生上的問(wèn)題、旋轉(zhuǎn)天線14的污損以及短路的發(fā)生等)。
[0120]食品F被放置于劃分天線室13與加熱室12的隔壁114并由內(nèi)箱112包覆,旋轉(zhuǎn)天線14與隔壁114對(duì)置配置。因此,內(nèi)箱112以及旋轉(zhuǎn)天線14各自與食品F的分隔距離不會(huì)無(wú)用地變長(zhǎng)。因此,提高了靜電電容檢測(cè)部21的靜電電容的檢測(cè)精度。
[0121]狀態(tài)檢測(cè)部2在電波發(fā)生部16不產(chǎn)生微波的情況下、即未向食品F照射微波的情況下,利用靜電電容檢測(cè)部21進(jìn)行靜電電容的檢測(cè)。因此,狀態(tài)檢測(cè)部2在電波發(fā)生部16不產(chǎn)生微波的情況下,使導(dǎo)體22的連接端子221通過(guò)天線室13的底壁部的貫通孔131而進(jìn)入天線室13的內(nèi)部,并借助導(dǎo)體22將旋轉(zhuǎn)天線14與靜電電容檢測(cè)部21電連接。
[0122]假設(shè)想要在對(duì)食品F照射微波時(shí)檢測(cè)靜電電容,會(huì)由于微波的干擾致使靜電電容的檢測(cè)精度惡化。因此,加熱烹調(diào)失敗(具體地說(shuō)食品F變得半生不熟或燒焦而碳化)的可能性變高。
[0123]而且,微波經(jīng)由與旋轉(zhuǎn)天線14電連接的導(dǎo)體22從天線室13向內(nèi)部空間113漏出,進(jìn)而向加熱烹調(diào)器I的外部漏出。其結(jié)果,在加熱烹調(diào)器I或者加熱烹調(diào)器I的周圍的電氣設(shè)備等中,擔(dān)心產(chǎn)生誤工作、故障或者起火等。
[0124]因此,狀態(tài)檢測(cè)部2在電波發(fā)生部16產(chǎn)生微波的情況下、即向食品F照射微波的情況下,不進(jìn)行利用靜電電容檢測(cè)部21的靜電電容的檢測(cè)。不僅如此,狀態(tài)檢測(cè)部2在電波發(fā)生部16不產(chǎn)生微波的情況下,使導(dǎo)體22的連接端子221經(jīng)由天線室13壁部的貫通孔131從天線室13的內(nèi)部退出。其結(jié)果,不會(huì)產(chǎn)生經(jīng)由導(dǎo)體22的微波的漏出。另外,貫通孔131的內(nèi)徑足夠短,因此不擔(dān)心產(chǎn)生經(jīng)由貫通孔131的微波的漏出。
[0125]另一方面,在導(dǎo)體22經(jīng)由天線室13壁部的貫通孔向貫通孔131的外部退出的情況下,經(jīng)由導(dǎo)體22的旋轉(zhuǎn)天線14與靜電電容檢測(cè)部21的電連接被切斷。此時(shí),無(wú)法利用靜電電容檢測(cè)部21檢測(cè)靜電電容。不過(guò),抑制了電波經(jīng)由將內(nèi)部電極與靜電電容檢測(cè)部21電連接的導(dǎo)體22向貫通孔131以及加熱室12的外部漏出。
[0126]內(nèi)箱112始終與靜電電容檢測(cè)部21電連接。盡管如此,但內(nèi)箱112接地,因此無(wú)需擔(dān);L.、微波經(jīng)由內(nèi)fk 112漏出。
[0127]也就是,可以根據(jù)電波發(fā)生部16是否產(chǎn)生微波以及是否需要由靜電電容檢測(cè)部21檢測(cè)靜電電容,來(lái)適當(dāng)?shù)厥剐D(zhuǎn)天線14與靜電電容檢測(cè)部21連接/切斷(即通斷)。
[0128]在使用加熱烹調(diào)器I的自動(dòng)烹調(diào)時(shí),使用者無(wú)需對(duì)加熱烹調(diào)器I設(shè)置加熱烹調(diào)時(shí)間或者食品F的重量等。這是由于加熱烹調(diào)器I在適當(dāng)?shù)臅r(shí)刻檢測(cè)食品F的狀態(tài)(具體地說(shuō)溫度),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果加熱食品F。因此,使用者的便利性較高。
[0129]此外,本實(shí)施方式的加熱烹調(diào)器I是像家庭用的微波爐那樣使用微波進(jìn)行加熱烹調(diào)的結(jié)構(gòu),不過(guò)并不局限于此。例如加熱烹調(diào)器I也可以是像商業(yè)用的食品解凍機(jī)那樣使用波長(zhǎng)比微波長(zhǎng)的高頻波進(jìn)行加熱烹調(diào)的結(jié)構(gòu)。
[0130]另外,狀態(tài)檢測(cè)部2待檢測(cè)的食品F的狀態(tài)并不局限于食品F的溫度,也可以是例如食品F的烤熟度或者干燥程度等。為了求出食品F的狀態(tài)而應(yīng)由狀態(tài)檢測(cè)部2檢測(cè)的物理量并不局限于靜電電容或者紅外線,還可以是重量或者濕度等。當(dāng)食品F為肉類的情況下,狀態(tài)檢測(cè)部2可以檢測(cè)食品F是否發(fā)生熱變性。此時(shí),可以基于食品F的靜電電容的變化判定食品F是否發(fā)送熱變性。
[0131]實(shí)施方式2.
[0132]本實(shí)施方式的加熱烹調(diào)器I為與實(shí)施方式I的加熱烹調(diào)器I大致相同的結(jié)構(gòu)。以下,對(duì)于
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