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基板承載裝置的制作方法

文檔序號:4346410閱讀:236來源:國知局
專利名稱:基板承載裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種承載裝置,特別是一種基板承載裝置。
背景技術(shù)
大尺寸基板的應用已成為平面顯示器領(lǐng)域的主流,而基板質(zhì)量的優(yōu)劣將影響后續(xù) 產(chǎn)品的表現(xiàn),因此針對基板的光學檢測也顯得格外重要。目前的檢測技術(shù)大多使用自動光學檢測(Automated Optical Inspection,AOI), 其中一種方式為利用背光源提供光線,影像檢測裝置設(shè)置于基板或面板的上方,進行影像 信息的檢測,并搭配計算機運算設(shè)備就基板或面板是否有刮傷、破裂等缺陷,進行分析及判 斷。而在移動、檢測大尺寸基板時,須在適當位置設(shè)置支撐裝置以支撐基板,從而防止基板 因重力而彎曲。然而,具有一定體積的支撐裝置會遮蔽背光源的光線,導致影像檢測裝置無 法檢測基板與支撐裝置二者重迭的范圍是否存有瑕疵;而現(xiàn)有技術(shù)中,可設(shè)置基板移動裝 置,用以使基板移動一段距離,令原先被支撐裝置遮蔽的范圍能被影像檢測裝置所檢測,但 移動基板后,基板必須花費時間予以重新定位才能夠進行檢測,這增加了操作上的不便與 風險,檢測的準確性以及效率都因此降低。

實用新型內(nèi)容為了解決上述問題,本實用新型目的之一是提供一種基板承載裝置,基板承載裝 置是指承載介于背光源與影像檢測裝置之間的一基板的一種裝置,基板承載裝置包括基 板框架與至少一個可移動長形支撐件?;蹇蚣墉h(huán)繞設(shè)置于基板四周的非檢測區(qū),其中固 定裝置設(shè)置于基板框架上。可移動長形支撐件設(shè)置于基板框架內(nèi),且可移動長形支撐件的 兩端對應設(shè)置于基板框架的相對兩側(cè)。其中,可移動長形支撐件其面對基板的范圍設(shè)置有滾珠、滾輪或氣孔。其中,基板框架為一框形結(jié)構(gòu)。其中,基板框架設(shè)置軌道,可移動長形支撐件的兩端設(shè)置于軌道上。其中,基板框架上設(shè)置有滾珠、磁浮、滾珠螺桿、鏈條、皮帶或線性馬達。其中,基板包括一玻璃基板與一液晶面板,基板由基板框架及可移動長形支撐件 承載。其中,固定裝置可為氣孔、吸盤或夾具。本實用新型的有益效果為基板承載裝置的可移動長形支撐件可以移動,使得原 本被可移動長形支撐件遮蔽背光源的光線的檢測區(qū)得以被影像檢測裝置所檢測,達到全部 檢測區(qū)皆可被檢測的效果。另外,在檢測過程中,基板、背光源及影像檢測裝置皆不需移動, 因此基板不必予以重新定位即可檢測全部檢測區(qū),從而可提升檢測的效率及準確性。以下通過具體實施例配合附圖詳加說明,當更容易了解本實用新型的目的、技術(shù) 內(nèi)容、特點及其所達成的功效。
圖1為本實用新型的基板承載裝置的一實施例設(shè)置于背光源與影像檢測裝置之 間并用以承載基板的示意圖。圖2為本實用新型的基板承載裝置的一實施例的俯視圖。圖3為本實用新型的基板承載裝置的一實施例的俯視圖。圖4為本實用新型的基板承載裝置的另一實施例的示意圖。主要組件符號說明基板1。非檢測區(qū)10。檢測區(qū)11。背光源2。影像檢測裝置3。基板框架40。固定裝置41。軌道42??梢苿娱L形支撐件50?;宄休d裝置100、200。
具體實施方式
本實用新型詳細說明如下,所述優(yōu)選實施例僅做一說明而不是用以限定本實用新型。請參考圖1、圖2與圖3,本實用新型的一實施例的基板承載裝置100,用于承載介 于背光源2與影像檢測裝置3之間的基板1,如圖1所示,其中基板1可為玻璃基板或液晶 面板,且基板1包括在基板1內(nèi)側(cè)的檢測區(qū)11與在基板1外側(cè)四周的非檢測區(qū)10,基板承 載裝置100包括基板框架40與至少一個可移動長形支撐件50,其中基板框架40環(huán)繞設(shè)置 于基板1四周的非檢測區(qū)10以承載基板1,基板框架40可為一框形結(jié)構(gòu)設(shè)置于基板1周 圍。多個固定裝置41設(shè)置于基板框架40上,在一實施例中,固定裝置41可為氣孔,其中檢 測時可在固定裝置41處抽氣以吸附并固定基板框架40上的基板1。固定裝置41還可為吸 盤或夾具,用以固定基板1。可移動長形支撐件50設(shè)置于基板框架40內(nèi)的適當位置處,以 承載基板1,并可相對于基板1平行移動,且可移動長形支撐件50的兩端對應設(shè)置于基板框 架40的相對兩側(cè)。舉例來說,如圖2所示,當可移動長形支撐件50設(shè)置于基板框架40的相 對兩側(cè)的位置時,檢測區(qū)11中除了背光源2的光線為可移動長形支撐件50所遮蔽的范圍 外,其余區(qū)域皆可被影像檢測裝置3所檢測;接著,當可移動長形支撐件50移動一段距離, 該移動距離至少大于可移動長形支撐件50的寬度,如圖3所示,在檢測區(qū)11中,原本被可 移動長形支撐件50遮蔽背光源2的光線的區(qū)域,藉由可移動長形支撐件50的移動而得以 被影像檢測裝置3所檢測,從而令檢測區(qū)11的全部范圍皆可被檢測。此外,在檢測過程中, 基板1、背光源2及影像檢測裝置3皆不需移動,因此不必重新定位即可檢測檢測區(qū)11的全 部范圍,從而提升檢測的效率及準確性。在一實施例中,本實用新型的基板承載裝置100包 括一個可移動長形支撐件50,但不以此為限,根據(jù)基板1的尺寸大小,可設(shè)置多個可移動長
4形支撐件50于適當位置,以支撐基板1,避免基板1因重力而彎曲。在另一實施例中,可移動長形支撐件50上還可設(shè)置滾珠、滾輪或氣孔,用以傳送及支撐基板1。圖4為本實用新型另一實施例的基板承載裝置200的示意圖,如圖4所示,基板承 載裝置200的基板框架40還包括多個軌道42 (為方便說明,省略基板框架40上的多個固定 裝置),可移動長形支撐件50的兩端設(shè)置于軌道42上,用以使可移動長形支撐件50沿著軌 道42移動??梢苿娱L形支撐件50的兩端還包括多個滾珠(未圖示),用以使可移動長形支 撐件50通過滾珠在軌道42之間移動。在又一實施例中,軌道42上還可設(shè)置一皮帶(未圖 示),用以帶動可移動長形支撐件50沿著軌道42移動。可以理解的是,可移動長形支撐件 50的移動方式并不以設(shè)置滾珠或設(shè)置皮帶為限,還可通過磁浮、滾珠螺桿、鏈條或線性馬達 進行移動。綜合上述,本實用新型的基板承載裝置的可移動長形支撐件可移動,使得原本被 可移動長形支撐件遮蔽背光源的光線的檢測區(qū)得以被影像檢測裝置所檢測,達到全部檢測 區(qū)皆可被檢測的效果。另外,在檢測過程中,基板、背光源及影像檢測裝置皆不需移動,因此 基板不必予以重新定位即可檢測全部檢測區(qū),從而可提升檢測的效率及準確性。以上所述的實施例僅為說明本實用新型的技術(shù)思想及特點,其目的在于使本領(lǐng)域 技術(shù)人員能夠了解本實用新型的內(nèi)容并據(jù)以實施,而不能即以此限定本實用新型,凡是依 本實用新型所公開的精神所作的均等變化或修飾,仍應涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求所限 定的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求一種基板承載裝置,所述基板承載裝置是指承載介于背光源與影像檢測裝置之間的一基板的一種裝置,所述基板包括在所述基板內(nèi)側(cè)的一檢測區(qū)與在所述基板外側(cè)四周的一非檢測區(qū),其特征在于,所述基板承載裝置包括一基板框架,環(huán)繞設(shè)置于所述基板四周的所述非檢測區(qū)以承載所述基板,其中所述基板框架包括設(shè)置于所述基板框架上的固定裝置;以及至少一個可移動長形支撐件,設(shè)置于所述基板框架內(nèi)以承載所述基板,其中所述可移動長形支撐件的兩端對應設(shè)置于所述基板框架的相對兩側(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的基板承載裝置,其特征在于,所述可移動長形支撐件其面對所 述基板的范圍設(shè)置有滾珠、滾輪或氣孔。
3.如權(quán)利要求1所述的基板承載裝置,其特征在于,所述基板框架為一框形結(jié)構(gòu)。
4.如權(quán)利要求1所述的基板承載裝置,其特征在于,所述基板框架設(shè)置軌道,所述可移 動長形支撐件的兩端設(shè)置于所述軌道上。
5.如權(quán)利要求4所述的基板承載裝置,其特征在于,所述基板框架上設(shè)置有滾珠、磁 浮、滾珠螺桿、鏈條、皮帶或線性馬達。
6.如權(quán)利要求1所述的基板承載裝置,其特征在于,所述基板包括一玻璃基板與一液 晶面板,所述基板由所述基板框架及所述可移動長形支撐件承載。
7.如權(quán)利要求1所述的基板承載裝置,其特征在于,所述固定裝置為氣孔、吸盤或夾具。
專利摘要本實用新型為一種基板承載裝置,包括基板框架與至少一個可移動長形支撐件?;蹇蚣墉h(huán)繞設(shè)置于基板四周的非檢測區(qū),基板框架包括固定裝置、軌道與滾珠、磁浮、滾珠螺桿、鏈條、皮帶或線性馬達;可移動長形支撐件設(shè)置于基板框架內(nèi);可移動長形支撐件的兩端對應設(shè)置于基板框架的相對兩側(cè);可移動長形支撐件的兩端設(shè)置于軌道上。由于基板承載裝置的可移動長形支撐件可以移動,使得原本被可移動長形支撐件遮蔽背光源的光線的檢測區(qū)得以被影像檢測裝置所檢測,達到全部檢測區(qū)皆可被檢測的效果。另外,在檢測過程中,基板、背光源及影像檢測裝置皆不需移動,因此基板不必予以重新定位即可檢測全部檢測區(qū),從而可提升檢測的效率及準確性。
文檔編號B65D85/30GK201737331SQ20102018550
公開日2011年2月9日 申請日期2010年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2010年5月10日
發(fā)明者葉東益 申請人:晶彩科技股份有限公司
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