專利名稱：聚四氟乙烯襯墊的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及聚四氟こ烯(PTFE)，更具體地涉及PTFE的熱處理。
背景技術(shù)：
因為聚四氟こ烯(PTFE)具有許多有益的性質(zhì)，所以PTFE廣泛用于エ業(yè)和生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用。例如，PTFE通常被認為是化學(xué)惰性的。由于PTFE的這個和其它性質(zhì)，半導(dǎo)體加工エ業(yè)的ー些公司將PTFE制成用來襯著瓶子的“襯墊’，然后瓶子用來儲存化學(xué)品。用以下方式形成襯墊。首先，改性的PTFE粉末被制成坯料，坯料是被填充并壓緊的圓柱體。烘焙坯料直到顆粒融合并粘結(jié)在一起。通過稱為切削的方法使坯料形成為膜，切削是刨去材料的一薄層。切削方法與削蘋果皮類似。切削方法的最終結(jié)果是PTFE材料的ー個或多個薄片。每個薄片通常稱為膜。通過“熔接’浄化的PTFE膜的部分以制備具有稱為配件的槽的四面ニ維的袋子來形成襯墊。槽也熔接到襯墊上。然后襯墊用來襯在聚こ烯第二層包裝上，該第二層包裝堤供襯墊的結(jié)構(gòu)支持，最終產(chǎn)品為PTFE襯墊的瓶子?；瘜W(xué)品儲存在PTFE襯墊的瓶子中，并通過配件從瓶子中取出或放入。儲存在這些瓶子中的化學(xué)品通常是超純的，并且化學(xué)惰性的PTFE襯墊通常不與儲存的化學(xué)品產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)。但是，已經(jīng)確定PTFE襯墊可能引起與PTFE襯墊接觸的儲存液體中觀察到的顆粒增加。例如，純水可被泵入具有PTFE襯墊的瓶子中，瓶子被翻轉(zhuǎn)多次，純水被泵出瓶子。泵出瓶子的水通過微粒計數(shù)器，計數(shù)器計算某一尺寸范圍內(nèi)的顆粒。對于常規(guī)PTFE襯墊的瓶子，顆粒數(shù)可廣泛地變化，這通過顆粒數(shù)的標準偏差來判斷。當(dāng)PTFE襯墊由不同批量的PTFE膜制成時，批量的變化性可能是顆粒數(shù)高標準偏差的部分原因。而且，特別是當(dāng)認為PTFE襯墊不產(chǎn)生顆粒計數(shù)是有益的情況下,顆粒數(shù)傾向于相對高。由此，處理PTFE襯墊的常規(guī)技術(shù)基本上不能防止相對高的顆粒數(shù)和那些顆粒數(shù)的高標準偏差。因此，需要改進PTFE膜和襯墊及由PTFE膜制成的其它產(chǎn)品。發(fā)明概沭在本發(fā)明中，聚四氟こ烯(PTFE)材料，通常是PTFE膜，被熱處理以減少PTFE膜的微粒脫落。在一個實施方案中，將ー個或多個PTFE膜加熱至高于約150°C，加熱時間大于約20小時，然后冷卻PTFE膜。PTFE膜可被加熱至高于200°C至低于250°C的溫度，最優(yōu)選地加熱至約228°C。PTFE膜可在高溫下保持大于約50小時，或最優(yōu)選地在高溫下保持約100 小吋。PTFE膜可為可熱處理的PTFE氟聚合物，并可具有大量受熱影響的區(qū)域。受熱影響的區(qū)域可在熱處理之前或之后形成。通過加熱PTFE膜至接近PTFE膜熔融溫度的溫度來形成受熱影響的區(qū)域，通常通過將兩個或多個PTFE膜熔接在一起來形成受熱影響的區(qū)域，融接通常在壓カ下進行少于上述熱處理時間的一段時間。在另ー實施方案中，“最優(yōu)的”溫度和“最優(yōu)的”時間段可根據(jù)哪種熱處理的聚四氟乙烯(PTFE)氟聚合物應(yīng)該被熱處理來確定?？蛇x擇許多溫度、時間段和含可熱處理PTFE氟聚合物膜的批量。可熱處理的膜被分為多個組，這些組也具有與之相關(guān)的溫度和時間段。每組可熱處理的PTFE氟聚合物膜在相關(guān)的溫度下經(jīng)受相關(guān)的時間段。確定可熱處理PTFE氟聚合物膜的顆粒數(shù)，并對顆粒數(shù)進行回歸分析，以確定最優(yōu)的溫度和最優(yōu)的時間段。可熱處理的PTFE氟聚合物膜可在所述熱處理之前或之后被熔接。通過參考以下詳細描述和附圖，將得到對本發(fā)明更完全的理解，以及本發(fā)明進一步的特點和優(yōu)點。
附圖簡沭圖I是描述熱處理PTFE膜的示例性方法的流程圖。圖2是退火測試樣品和對照物的點圖，其就顆粒數(shù)來說明熱處理對PTFE襯墊的影響；圖3是對照襯墊和退火襯墊一次和五次翻轉(zhuǎn)的蒸餾水測試的點圖；圖4是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于多個在選擇溫度保持約20小時的襯墊，顆粒數(shù)如何隨熱處理溫度而變化；圖5是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于圖4的襯墊，顆粒數(shù)的標準偏差如何隨熱處理溫度而變化；圖6是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于多個在選擇溫度保持約95小時的襯墊，顆粒數(shù)如何隨熱處理溫度而變化；圖7是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于圖6的襯墊，顆粒數(shù)的標準偏差如何隨熱處理溫度而變化；圖8是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于多個在選擇溫度保持170小時的襯墊，顆粒數(shù)如何隨熱處理溫度而變化；圖9是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于圖8的襯墊，顆粒數(shù)的標準偏差如何隨熱處理溫度而變化；和

圖10是由熱處理PTFE襯墊產(chǎn)生的顆粒數(shù)的點圖。優(yōu)選實施方案詳述如上所述，處理聚四氟こ烯(PTFE)材料如PTFE襯墊的常規(guī)技術(shù)導(dǎo)致相對高的顆粒數(shù)和/或那些顆粒數(shù)的高標準偏差。也就是說，這種PTFE材料可被稱為具有高的顆粒計數(shù)性。本發(fā)明的實施方案可用于降低PTFE材料的顆粒計數(shù)性。實際上，本發(fā)明描述的實施方案可使顆粒計數(shù)性及其標準偏差降低大于約10倍。應(yīng)該指出，顆粒計數(shù)體系也可計數(shù)“微泡”或其它異物如“顆?！保鼈儗?dǎo)致產(chǎn)生材料的顆粒數(shù)或顆粒計數(shù)性。本發(fā)明使用的術(shù)語“顆粒”意圖包括可被常規(guī)的顆粒計數(shù)體系分析為“顆?！钡娜魏挝镔|(zhì)。現(xiàn)在參考圖I，表示方法100，用于熱處理PTFE膜以減少微粒脫落。當(dāng)PTFE膜將被放置與液體物質(zhì)接觸時，可使用方法100。只要希望降低顆粒數(shù)時，就可使用方法100。這也可包括PTFE膜將與非液體如實物接觸時的情況。在步驟105中，融接PTFE膜。此步驟是任選的。但是通常，大部分由PTFE制成的襯墊被熔接。PTFE膜的熔接是通常在一定壓カ下熔融并連接分離的PTFE膜部分的方法。如以下更詳細的描述，約在具體PTFE膜的熔點進行熔接。因此，在一個實施方案中，熔接可包括使PTFE膜暴露于約370°C 約430°C下約5 約15秒。可應(yīng)用約60psi 約IOOpsi的壓力。此外，PTFE膜在如下所述的進ー步處理之前，可在常壓下冷卻約5 約15秒。通常，PTFE膜為可熱處理的PTFE氟聚合物，但是，可使用任何PTFE。上述熔接產(chǎn)生一個或多個受熱影響的區(qū)域，該區(qū)域不被處理可能易于引起顆粒脫落。但是，如本發(fā)明進 一步所述，受熱影響的區(qū)域和PTFE膜通?？杀惶幚硪詼p少這類事情的發(fā)生。
通過加熱PTFE膜至接近或等于膜中分子組分熔點的溫度下，產(chǎn)生受熱影響的區(qū) 域。通常，通過加熱PTFE膜至PTFE膜的熔點約15°C范圍內(nèi)產(chǎn)生受熱影響的區(qū)域。膜的各部分傾向于在不同的溫度熔融。例如，膜的結(jié)晶部分可在高于PTFE膜相關(guān)熔融溫度的溫度下熔融，然而膜的無定形部分可在低于PTFE膜相關(guān)熔融溫度的溫度下熔融。由此，即使實際上從未達到PTFE膜的相關(guān)熔融溫度，也會產(chǎn)生受熱影響的區(qū)域。此外，為了將兩片PTFE膜完全熔接在一起，至少應(yīng)該達到PTFE膜的熔點，且稍微高于熔點的溫度是有益的。受熱影響的區(qū)域受本發(fā)明方法有益地影響，沒有受熱影響區(qū)域的PTFE膜也是如此。通常，步驟105包括多個熔接步驟，從而形成完整的PTFE襯墊。如上所述，PTFE襯墊通常是具有被稱為配件的槽的四面ニ維袋子。槽也被熔接到襯墊上。由此，步驟105通常包括多個熔接步驟。繼續(xù)參考圖1，并且如上所述，在步驟110中，通過將膜在預(yù)定的溫度下放置預(yù)定的時間段，可熱處理ー個或多個PTFE膜。以這種方式，可使上述顆粒脫落和顆粒數(shù)最小。有許多有益的不同溫度和時間段，但是某些溫度和時間段表現(xiàn)得特別有益。確定最優(yōu)溫度和時間段的具體技術(shù)參考圖2 10的描述。高于材料玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(對于大多數(shù)PTFE膜為約130°C)的溫度將開始產(chǎn)生較低的微粒脫落，如以下更詳細的表示。當(dāng)應(yīng)用超過150°C的溫度吋，熱處理過程變得特別有效。如以下更詳細表示，甚至更高的溫度是有益的，直到達到最優(yōu)溫度，但是相比于最優(yōu)溫度，溫度太高可能導(dǎo)致顆粒脫落増加。但是，如果需要的話，可使用高于最優(yōu)溫度的溫度。因為顆粒脫落仍可隨較高的溫度而減少。通常，步驟110中預(yù)定的溫度高于約150°C，更優(yōu)選高于約200°C，最優(yōu)選為約228°C。也可使用更高的溫度。優(yōu)選的是，溫度低于約260°C。應(yīng)該指出，可使用如2300C ±20°C的溫度范圍。此外，可以不連續(xù)或周期性方式處理膜。也就是說，PTFE材料可加熱至預(yù)定溫度并冷卻至例如室溫，然后再加熱至初始的預(yù)定溫度。但是為了使總的處理時間最短，PTFE膜可在預(yù)定溫度下或交替的高溫下連續(xù)保持特定的時間段，因為再加熱和冷卻使得熱處理PTFE膜需要的總時間更長。關(guān)于預(yù)定的時間段，如以下更詳細的表示，推薦的時間段為大于約20小時，更優(yōu)選的時間段為大于50小吋，最優(yōu)選的時間段為約100小吋。雖然可使用更短或更長的時間段，但是如通過以下示出的技術(shù)確定，約100小時的時間段應(yīng)該在最短的時間段內(nèi)提供最小量的顆粒脫落及其標準偏差。應(yīng)該指出，如果需要的話，步驟100可在步驟120之后進行?，F(xiàn)已描述了 PTFE膜示例性熱處理技術(shù)的綜述，將描述對任何特定PTFE膜，或更可能地對ー組PTFE膜確定適當(dāng)溫度和時間段的技術(shù)?，F(xiàn)在參考圖2，表示退火的測試樣品與對照物的點圖。此圖就顆粒數(shù)來說明熱處理對PTFE襯墊的作用。PTFE襯墊用光致抗蝕劑填充，翻轉(zhuǎn)5次，填充后在0. 2微米計數(shù)16小吋。X-軸單元為每毫升0. 2微米的顆粒(顆粒/ml)。圖2右邊的圖例說明包含每組被測試樣品的說明。一組樣品中的每個樣品是多個熔接到一起成為襯墊的可熱處理PTFE氟聚合物膜。在此實施例中，每組有三個PTFE襯墊。熔接這樣進行通過使用熔接機沿著一個相對薄的襯墊或一組襯墊，在預(yù)定溫度下將兩個PTFE膜壓在一起，保持預(yù)定的時間，其中預(yù)定溫度等于或大于PTFE膜的熔點。“10秒冷卻”是用于將被熔接的PTFE膜冷卻至預(yù)定冷卻溫度的時間段為10秒。類似地，“40秒冷卻”是用于將被熔接的PTFE膜冷卻至預(yù)定冷卻溫度的時間段為40秒。如圖例說明中所示，樣品如下(I) 10秒冷卻和接著四天180°C熱處理的PTFE襯墊的測試組；(2) 40秒冷卻和接著四天180°C熱處理的PTFE襯墊的測試組；(3) 10秒冷卻和接著四天120°C熱處理的PTFE襯墊的測試組；(4)40秒冷卻和接著四天120°C熱處理的PTFE襯墊的測試組；(5)用10秒冷卻產(chǎn)生的熔接PTFE襯墊的對照組；(6)用40秒冷卻產(chǎn)生的熔接PTFE襯墊的測試組；(7)四天180°C熱處理，接著10秒再熔接和40秒冷卻的PTFE襯墊的測試組；(8)四天180°C熱處理，接著40秒再熔接和10秒冷卻的PTFE襯墊的測試組；(9)四天120°C熱處理，接著10秒再熔接和40秒冷卻的PTFE襯墊的測試組；(10)四天120°C熱處理,接著40秒再熔接和10秒冷卻的PTFE襯墊的測試組。對圖2中每組PTFE襯墊繪制的點在圖中分布在它們各自的行上。例如，對稱為“10秒冷卻，180°C退火”的組繪制的點在最接近顆粒數(shù)軸的行上示出。類似地，對稱為“40秒冷卻，180°C退火”的組繪制的點在距顆粒數(shù)軸的第二行上示出。其中，圖2表明熔接后冷卻時間對顆粒數(shù)的影響最小，180°C退火產(chǎn)生對于選擇溫度具有最低顆粒數(shù)的PTFE襯墊。因為圖2中使用的搖動量(即，翻轉(zhuǎn)填充的PTFE襯墊5次)在質(zhì)量對照測試中不是典型的，并且因為通常使用蒸餾水進行顆粒計數(shù)，所以制備樣品以測量熱處理對PTFE襯墊的影響，其在DI水中翻轉(zhuǎn)I次和5次進行測試。熱處理在180°C進行5天。樣品PTFE襯墊被填充，I小時填充后在0. 2微米測試顆粒。結(jié)果如圖3所示，圖3是對照和退火襯墊的蒸餾水測試的點圖。其中，圖3表明退火的PTFE襯墊比相應(yīng)的對照PTFE襯墊產(chǎn)生更小的顆粒數(shù)。為了確定襯墊熱處理的最優(yōu)設(shè)置，從多個批量的襯墊中選擇PTFE襯墊是有益的。然后，從每個襯墊批量中選擇的PTFE襯墊被加熱不同的時間段和不同的溫度。由此，可確定“組”的選擇溫度和選擇時間段，其中每組具有多個選自某批量的PTFE襯墊。對PTFE襯墊翻轉(zhuǎn)選定次數(shù)后，確定襯墊組的顆粒數(shù)，并且對顆粒數(shù)進行回歸分析確定“最優(yōu)的”溫度和“最優(yōu)的”時間段。最優(yōu)值是理論值，可能與實際“最優(yōu)的”溫度和時間段稍微不同。這種“最優(yōu)化”技術(shù)的例子如下。由3個批量的襯墊制備PTFE襯墊樣品。每個襯墊批量在180°C、220°C或260°C下被加熱20、95或170小吋。PTFE襯墊樣品用光致抗蝕劑填充，翻轉(zhuǎn)5次，填充后在0. 2微米顆粒計數(shù)16小時。基于對被測試3個襯墊批量的最優(yōu)化技術(shù)結(jié)果，顯示出襯墊批量和熱處理溫度對顆粒量和由標準偏差表示的顆粒量變化性的貢獻最大。顯示出，襯墊批量、熱處理溫度、顆粒量及其標準偏差之間的關(guān)系是非線性的，具有多個二次相互作用。如果時間保持恒定在20小吋，襯墊批量和溫度(對于顆粒數(shù))的曲線看起來如圖4所示。
圖4是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于多個在選擇溫度保持20小時的襯墊，顆粒數(shù)如何隨熱處理溫度而變化。在圖4的實施例中，確定不同溫度和襯墊批量的實際數(shù)據(jù)，并放入程序中，該程序用這些數(shù)據(jù)來確定圖4。由此，圖4是基于實際數(shù)據(jù)計算的。關(guān)于圖4所示的溫度，溫度如下_1代表180°C ；0代表220°C ；1代表260°C。響應(yīng)值是顆粒數(shù)，単位為顆粒/ml。從3個不同的襯墊批量(圖中1、0和-1批量)中使用15個PTFE襯墊。由此，圖4在約236°C (0. 4X40+220°C )達到低點，雖然這個值隨著襯墊批量稍微變化。圖5是基于實際數(shù)據(jù)的計算圖，表明對于圖4中使用的襯墊，顆粒數(shù)的標準偏差如何隨熱處理溫度而變化。溫度、響應(yīng)值和襯墊批量與圖4中相同。與圖4相同，圖5是使用實際數(shù)據(jù)計算的，并且數(shù)據(jù)與圖4中使用的相同。圖5表明，根據(jù)襯墊批量顆粒數(shù)的標準偏差受熱處理影響，并且在約244°C (0.6X40+220°C )達到低點。圖6是計算圖，表明對于多個在選擇溫度保持95小時的襯墊，顆粒數(shù)如何隨熱處理溫度而變化。圖6是通過圖4中使用的相同技術(shù)產(chǎn)生的圖使用15個PTFE襯墊，即，從3個不同的批量中各選擇5個，確定不同溫度和襯墊批量的結(jié)果數(shù)據(jù)，并放入程序中，該程序用這些數(shù)據(jù)來確定圖6。圖6表明，顆粒數(shù)隨著溫度和襯墊批量而變化。圖7是計算圖，表明對于圖6中使用的襯墊，顆粒數(shù)的標準偏差如何隨熱處理溫度而變化。圖7表明顆粒數(shù)的標準偏差隨著溫度和襯墊批量而變化。圖8是通過用來確定圖4和6的方法計算的圖，但是基于多個在選擇溫度保持170小時的襯墊。應(yīng)該指出，顆粒數(shù)的負值是計算的，并不是觀察到的。圖9是通過用來確定圖 5和7的方法計算的圖，但是使用圖8的襯墊計算。圖8和9表明顆粒數(shù)及其標準偏差分別隨著溫度和襯墊批量而變化。由此，圖4 9表明，顆粒數(shù)及其標準偏差分別隨著溫度和襯墊批量而變化。為了確定最優(yōu)溫度和時間段，對確定的數(shù)據(jù)進行回歸分析。對確定圖4 9的數(shù)據(jù)進行回歸分析表明，為了使0. 2微米的顆粒量和標準偏差最小，溫度應(yīng)該為228°C，時間段應(yīng)為100小時。這些值用于證實實驗，其中3個批量的襯墊在228°C熱處理100小時。測試結(jié)果(光致抗蝕劑中翻轉(zhuǎn)5次，顆粒計數(shù)測試16小時)如圖10所示。圖10是由熱處理的PTFE襯墊產(chǎn)生的顆粒數(shù)的點圖。由圖10可看出，對于熱處理的PTFE襯墊，顆粒數(shù)及其標準偏差是小的。由此，本發(fā)明可使顆粒數(shù)從約250±100顆粒/ml降至約8±2顆粒/ml。注意到就顆粒數(shù)的標準偏差而言，襯墊批量的變化性也降低了。雖然仍有ー些變化性，因為第三襯墊批量具有顆粒數(shù)大于10的少量PTFE襯墊樣品，但是變化性已被顯著降低。應(yīng)該理解，本發(fā)明示出和描述的實施方案和變化僅僅是本發(fā)明原理的解釋，并且在不偏離本發(fā)明的范圍和主g的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可實施各種改進。此外，本發(fā)明做出的各種假定是為了簡單和清楚說明的目的，不應(yīng)該被解釋為本發(fā)明的限制。
權(quán)利要求
1.一種用來襯著儲存化學(xué)品的瓶子或第二層包裝的聚四氟乙烯襯墊，所述襯墊包括多個彼此熔接的聚四氟乙烯膜，并且包括熔接到所述襯墊上的槽，其中所述襯墊包括通過熔接形成的受熱影響的區(qū)域，對所述受熱影響的區(qū)域進行熱處理以減少微粒脫落，并且其中所述熱處理包括將所述四氟乙烯膜加熱至約130°c至約260°C的溫度，并將所述加熱保持約20小時至約100小時的時間。
2.權(quán)利要求I所述的四氟乙烯襯墊，其中所述聚四氟乙烯膜的顆粒計數(shù)性為O.2μπι直徑的顆粒低于10顆粒/ml。
3.權(quán)利要求I和2中任一項所述的聚四氟乙烯襯墊，其中所述襯墊包括四面二維的袋子。
4.權(quán)利要求I和2中任一項所述的聚四氟乙烯襯墊，其設(shè)置在提供所述襯墊的結(jié)構(gòu)支持的聚乙烯第二層包裝中。
5.權(quán)利要求3所述的聚四氟乙烯襯墊，其設(shè)置在提供所述襯墊的結(jié)構(gòu)支持的聚乙烯第二層包裝中。
6.一種用來襯著儲存化學(xué)品的瓶子或第二層包裝的聚四氟乙烯襯墊，所述襯墊包括多個彼此熔接的聚四氟乙烯膜，并且包括熔接到所述襯墊上的槽，其中對所述聚四氟乙烯膜加熱足夠的溫度和時間以將所述聚四氟乙烯膜的顆粒計數(shù)性降低到O. 2 μ m直徑的顆粒低于10顆粒/ml。
7.權(quán)利要求6所述的聚四氟乙烯襯墊，其中所述溫度為130°C至260°C，所述時間為20小時至100小時。
8.一種用來襯著儲存化學(xué)品的瓶子或第二層包裝的聚四氟乙烯襯墊，所述襯墊包括多 個彼此熔接的聚四氟乙烯膜，并且包括熔接到所述襯墊上的槽，其中通過加熱對所述聚四氟乙烯膜處理足夠的時間和溫度，以使所述聚四氟乙烯膜的顆粒計數(shù)性相對于未經(jīng)如此熱處理的聚四氟乙烯膜降低大于10倍。
9.權(quán)利要求8所述的聚四氟乙烯襯墊，其中所述溫度為130°C至260°C，所述時間為20小時至100小時。
10.權(quán)利要求6-9中任一項所述的聚四氟乙烯襯墊，其中所述襯墊包括四面二維的袋子。
11.權(quán)利要求10所述的聚四氟乙烯襯墊，其設(shè)置在提供所述襯墊的結(jié)構(gòu)支持的聚乙烯第二層包裝中。
12.權(quán)利要求6-9中任一項所述的聚四氟乙烯襯墊，其設(shè)置在提供所述襯墊的結(jié)構(gòu)支持的聚乙烯第二層包裝中。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種聚四氟乙烯襯墊，其用來襯著儲存化學(xué)品的瓶子或第二層包裝。一個或多個PTFE膜被加熱至高于約150℃，加熱時間大于20小時，然后冷卻PTFE膜。PTFE膜可被加熱至高于200℃至低于250℃的溫度，最優(yōu)選地加熱至約228℃的溫度。PTFE膜可保持在高溫下大于50小時，或最優(yōu)選地保持在高溫下約100小時。PTFE膜可為可熱處理的PTFE氟聚合物膜，可具有很多受熱影響的區(qū)域。受熱影響的區(qū)域可在熱處理之前或之后形成。通常通過將兩個或多個PTFE膜熔接在一起來形成受熱影響的區(qū)域，熔接通常在壓力下進行。“最優(yōu)的”溫度和“最優(yōu)的”時間段可根據(jù)應(yīng)當(dāng)被熱處理的聚四氟乙烯(PTFE)氟聚合物來確定。
文檔編號C08G2/00GK102659962SQ201210112290
公開日2012年9月12日 申請日期2004年6月23日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月26日
發(fā)明者米凱萊·J·阿爾伯格 申請人:高級技術(shù)材料公司