本發(fā)明涉及固體發(fā)光材料領(lǐng)域,尤其是涉及一種可用作自校正熒光溫度探針的玻璃陶瓷復(fù)合材料及其制備方法。
背景技術(shù):
目前,主要的溫度測量方法主要分為接觸式測溫法和非接觸式測溫法。接觸式測溫利用熱交換來實現(xiàn)熱平衡件,這種測量方式需要與待測物體進行直接接觸,因此會受到很大的限制。而非接觸式測溫則可以在一些特殊環(huán)境中替代傳統(tǒng)接觸式測溫技術(shù)。
近年來,研發(fā)人員提出一種新穎的非接觸式測溫技術(shù)---熒光溫度探測技術(shù)。該技術(shù)采用發(fā)光材料作為溫度探針,通過測量材料的熒光性質(zhì)隨溫度的變化來進行溫度探測,因此,這種熒光溫度探測技術(shù)的關(guān)鍵點就是作為溫度探針的熒光材料。一般這種材料必須具有兩個以上的熒光發(fā)射峰,且不同發(fā)射峰的強度對溫度有不同的反應(yīng)。另外,不同發(fā)射峰之間還要有一定的波長間隔,以便甄別信號。以Er3+離子的2H11/2和4S3/2熱耦合能級對為例,二者的發(fā)射峰分別位于535nm和550nm左右,間距約為15nm;但是由于兩個發(fā)射峰太過接近,甚至可能產(chǎn)生交疊,因而不利于兩個熒光信號的識別,無法滿足高精度測量的需要。
在本發(fā)明中,提出了一種新型熒光溫度探針材料---雙發(fā)光中心玻璃陶瓷復(fù)合材料。這種材料同時具有Eu2+和Eu3+發(fā)射中心,其中Eu2+離子位于玻璃基體中,發(fā)射藍光,Eu3+進入YF3晶相中,發(fā)射紅光,以Eu2+作為溫度探測信號,Eu3+作為參考信號,通過兩者熒光強度比隨溫度的變化可實現(xiàn)精確測溫。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的一個目的是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,提出一種Eu2+和Eu3+離子共摻雜的含氟化釔納米晶相的透明玻璃陶瓷復(fù)合材料,可望用于自校正熒光溫度傳感器件,實現(xiàn)精確溫度測量。
本發(fā)明的玻璃陶瓷的玻璃組分與摩爾百分含量(mol%)如下:
SiO2:40mol﹪;GeO2:5mol﹪;Al2O3:25mol﹪;Ga2O3:5mol﹪;NaF:x mol﹪;YF3:y mol﹪;EuF3:z mol﹪;其中x+y+z=25且7≤x≤18,6.9≤y≤17.9,z=0.1~4。
本發(fā)明的另一個目的是提供上述玻璃陶瓷的制備方法,該方法是采用熔體急冷法和后續(xù)晶化熱處理來制備,具體過程如下:
將粉體原料SiO2、GeO2、Al2O3、Ga2O3、NaF、YF3和EuF3化合物研磨均勻后按照摩爾比40∶5∶25∶5:x:y:z置于坩堝中,在電阻爐中加熱到1400~1600℃后保溫0.5~6小時,然后將玻璃熔液快速倒入500℃預(yù)熱的銅模中成型;退火后的玻璃繼續(xù)在600~750℃加熱保溫1~10小時使之發(fā)生晶化,得到Eu2+和Eu3+雙發(fā)光中心摻雜的透明玻璃陶瓷復(fù)合材料。
采用以上玻璃陶瓷組分和制備工藝,成功獲得了在氧化物玻璃基體中含均勻分布的YF3納米晶相玻璃陶瓷,同時實現(xiàn)Eu2+和Eu3+雙發(fā)射中心共存,其中Eu2+分布在玻璃基體中,Eu3+進入YF3晶相中。在紫外光(如365nm)激發(fā)條件下,可同時探測到源自Eu2+藍光和Eu3+紅光的雙模發(fā)射。隨著溫度升高,Eu2+離子藍光發(fā)射強度急劇下降而Eu3+離子紅光發(fā)射強度只發(fā)生微弱變化,以二者熒光強度比作為測溫參數(shù),溫度靈敏度最高可達到2﹪K-1。
本發(fā)明的玻璃陶瓷復(fù)合材料制備工藝簡單、成本低廉、易制成異型件(如光纖、微球等),可實現(xiàn)精確溫度測量,有望開發(fā)成為一種新型的自校正熒光溫度探針材料。
附圖說明
圖1是實例1中玻璃陶瓷樣品X射線衍射圖;
圖2是實例1中玻璃陶瓷透射電鏡照片;
圖3是實例1中玻璃陶瓷Eu摻雜離子的X射線光電子譜;
圖4是實例1中玻璃陶瓷樣品溫度相關(guān)發(fā)射譜圖;
圖5是實例1中Eu2+/Eu3+熒光強度比隨溫度變化圖。
具體實施方式
下面結(jié)合具體實施例對本發(fā)明作進一步分析。
實例1:將SiO2、GeO2、Al2O3、Ga2O3、NaF、YF3和EuF3粉體,按40SiO2:5GeO2:25Al2O3:5Ga2O3:15NaF:9YF3:1EuF3(摩爾比)的配比精確稱量后置于瑪瑙研缽中,研磨半小時以上使其均勻混合,而后置于坩堝中,于程控高溫箱式電阻爐中加熱到1500℃后保溫1小時,然后,將玻璃熔液快速倒入500℃預(yù)熱的銅模中成形;將獲得的前驅(qū)玻璃放入電阻爐中,在670℃保溫1小時,得到透明玻璃陶瓷。
X射線衍射圖表明在氧化物玻璃基體中析出正交結(jié)構(gòu)YF3晶相(圖1);透射電鏡觀察證實玻璃陶瓷中有大量尺寸為20nm左右的YF3顆粒均勻分布于基體中(圖2);X射線光電子譜分析表明Eu摻雜離子同時以Eu2+和Eu3+狀態(tài)存在(圖3);電子能譜與熒光光譜分析表明Eu2+位于玻璃基體中而Eu3+偏聚于YF3納米晶中。熒光光譜儀測量得到在365nm激發(fā)條件下的溫度相關(guān)光致發(fā)射譜(圖4),可探測到源自Eu2+的藍光發(fā)射和Eu3+的紅光發(fā)射。隨著溫度升高,Eu2+離子發(fā)射強度急劇下降而Eu3+離子發(fā)射強度只發(fā)生微弱變化,以二者熒光強度比作為測溫參數(shù)(圖5),可得到測溫靈敏度為2﹪K-1。
實例2:將SiO2、GeO2、Al2O3、Ga2O3、NaF、YF3和EuF3粉體,按40SiO2:5GeO2:25Al2O3:5Ga2O3:15NaF:9.9YF3:0.1EuF3(摩爾比)的配比精確稱量后置于瑪瑙研缽中,研磨半小時以上使其均勻混合,而后置于坩堝中,于程控高溫箱式電阻爐中加熱到1550℃后保溫0.5小時,然后,將玻璃熔液快速倒入500℃預(yù)熱的銅模中成形;將獲得的前驅(qū)玻璃放入電阻爐中,在670℃保溫2小時,得到Eu2+和Eu3+共摻雜的透明玻璃陶瓷。以Eu2+/Eu3+熒光強度比作為測溫參數(shù),可得到測溫靈敏度為1.4﹪K-1。
實例3:將SiO2、GeO2、Al2O3、Ga2O3、NaF、YF3和EuF3粉體,按40SiO2:5GeO2:25Al2O3:5Ga2O3:14NaF:7YF3:4EuF3(摩爾比)的配比精確稱量后置于瑪瑙研缽中,研磨半小時以上使其均勻混合,而后置于坩堝中,于程控高溫箱式電阻爐中加熱到1400℃后保溫6小時,然后,將玻璃熔液快速倒入500℃預(yù)熱的銅模中成形;將獲得的前驅(qū)玻璃放入電阻爐中,在600℃保溫2小時,得到Eu2+和Eu3+共摻雜的透明玻璃陶瓷。以Eu2+/Eu3+熒光強度比作為測溫參數(shù),可得到測溫靈敏度為1.0﹪K-1。
實例4:將SiO2、GeO2、Al2O3、Ga2O3、NaF、YF3和EuF3粉體,按40SiO2:5GeO2:25Al2O3:5Ga2O3:18NaF:6.9YF3:0.1EuF3(摩爾比)的配比精確稱量后置于瑪瑙研缽中,研磨半小時以上使其均勻混合,而后置于坩堝中,于程控高溫箱式電阻爐中加熱到1500℃后保溫2小時,然后,將玻璃熔液快速倒入500℃預(yù)熱的銅模中成形;將獲得的前驅(qū)玻璃放入電阻爐中,在750℃保溫2小時,得到Eu2+和Eu3+共摻雜的透明玻璃陶瓷。以Eu2+/Eu3+熒光強度比作為測溫參數(shù),可得到測溫靈敏度為1.2﹪K-1。
實例5:將SiO2、GeO2、Al2O3、Ga2O3、NaF、YF3和EuF3粉體,按40SiO2:5GeO2:25Al2O3:5Ga2O3:7NaF:17.9YF3:0.1EuF3(摩爾比)的配比精確稱量后置于瑪瑙研缽中,研磨半小時以上使其均勻混合,而后置于坩堝中,于程控高溫箱式電阻爐中加熱到1600℃后保溫1小時,然后,將玻璃熔液快速倒入500℃預(yù)熱的銅模中成形;將獲得的前驅(qū)玻璃放入電阻爐中,在600℃保溫10小時,得到Eu2+和Eu3+共摻雜的透明玻璃陶瓷。以Eu2+/Eu3+熒光強度比作為測溫參數(shù),可得到測溫靈敏度為1.7﹪K-1。
實例6:將SiO2、GeO2、Al2O3、Ga2O3、NaF、YF3和EuF3粉體,按40SiO2:5GeO2:25Al2O3:5Ga2O3:7NaF:17YF3:1EuF3(摩爾比)的配比精確稱量后置于瑪瑙研缽中,研磨半小時以上使其均勻混合,而后置于坩堝中,于程控高溫箱式電阻爐中加熱到1600℃后保溫1小時,然后,將玻璃熔液快速倒入500℃預(yù)熱的銅模中成形;將獲得的前驅(qū)玻璃放入電阻爐中,在600℃保溫6小時,得到Eu2+和Eu3+共摻雜的透明玻璃陶瓷。以Eu2+/Eu3+熒光強度比作為測溫參數(shù),可得到測溫靈敏度為1.9﹪K-1。
上述實施例并非是對于本發(fā)明的限制,本發(fā)明并非僅限于上述實施例,只要符合本發(fā)明要求,均屬于本發(fā)明的保護范圍。