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屏蔽罩框架的制作方法

文檔序號:11814875閱讀:1047來源:國知局
屏蔽罩框架的制作方法與工藝

本實用新型涉及電磁屏蔽技術領域,尤其涉及一種屏蔽罩框架。



背景技術:

現(xiàn)代電子產(chǎn)品日趨向于薄輕化,并對電子產(chǎn)品要求越來越高,尤其是對電子設備硬件及性能的穩(wěn)定性要求。目前諸多零器件采用的是表面焊接工藝(SMT)來進行安裝Shield Frame(屏蔽罩框架),該工藝對Shield Frame(屏蔽罩框架)平面度要求較高。

而目前,Shield Frame產(chǎn)品在制作中,因Shield Frame產(chǎn)品比較大,模具工藝是下料折彎結構,再經(jīng)過螺絲來調(diào)整平面度,其主要缺點在于,沖壓模具只考慮螺絲結構來調(diào)整平面度,但此種方案在調(diào)整時,需要對多個螺絲進行調(diào)整,且調(diào)模時間長,以及零件備件使用頻率高,從而增加模具維修成本費用及影響生產(chǎn)效率降低;此外,平面度受材料殘余應力的影響,尺寸穩(wěn)定性差。



技術實現(xiàn)要素:

本實用新型所要解決的技術問題是,提供一種平面度穩(wěn)定、維修成本低的屏蔽罩框架。

為了解決上述技術問題,本實用新型采用的技術方案為:提供一種屏蔽罩框架,包括本體,所述本體的表面設有若干印記點,所述印記點為凹陷或凸起,所述表面的拉伸及折彎邊緣開設有沖孔。

進一步地,若干所述印記點為陣列排布在本體的表面上。

進一步地,所述印記點的形狀為方形、圓形或橢圓形。

進一步地,所述印記點的大小為0.1-0.6毫米。

進一步地,所述印記點的間距為0.3-0.6毫米。

進一步地,所述印記點的深度為0.03-0.1毫米。

本實用新型的有益效果在于:本實用新型的屏蔽罩框架,在原材料料帶表面上增加印記點,使材料強度加強,同時,在產(chǎn)品拉伸及折彎邊緣增加沖孔結構,消除材料殘余應力,使產(chǎn)品平面度能更穩(wěn)定。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例的屏蔽罩框架的制作工藝的工藝流程框圖;

圖2為本實用新型實施例的屏蔽罩框架的原材料料帶的結構示意圖;

圖3為本實用新型實施例的屏蔽罩框架的沖壓沖孔后的正面結構示意圖;

圖4為本實用新型實施例的屏蔽罩框架的沖壓沖孔后的背面結構示意圖;

圖5為本實用新型實施例的屏蔽罩框架的正面結構示意圖;

圖6為本實用新型實施例的屏蔽罩框架的背面結構示意圖。

標號說明:

1、本體;11、表面;2、印記點;3、沖孔。

具體實施方式

為詳細說明本實用新型的技術內(nèi)容、構造特征、所實現(xiàn)目的及效果,以下結合實施方式并配合附圖詳予說明。

本實用新型最關鍵的構思在于:本實用新型的屏蔽罩框架,本體1的表面11設有若干印記點2,印記點2為凹陷或凸起,表面11的拉伸及折彎邊緣開設有沖孔3,具有該凹陷或凸起的屏蔽罩框架可有效保證平面度。

請參閱圖1,本實用新型屏蔽罩框架的制作工藝,包括如下步驟:

S1、在原材料料帶上打印記點,該印記點為間隔設置的凹陷或凸起,制得坯件;

S2、在坯件上需要拉伸及折彎的邊緣處開孔。

從上述描述可知,本實用新型的有益效果在于:本實用新型的制作工藝,在制作時不會增加模具加工難度,而且本實用新型相對于現(xiàn)有技術的方案,可有效降低成本,現(xiàn)有技術的模具中零件備件因使用頻率高,模具維修頻率高(預估1天/次),且良品率大約在80.2%,而本實用新型采用上述的工藝,可有效提高生產(chǎn)效率且良率大約可提升90%以上,而模具維修/保養(yǎng)時間可變更2-3天/次,相對之前修模費用大大降低。

進一步的,所述原材料包括SUS不銹鋼、洋白銅、鋁材、馬口鐵、預鍍Ni鋁材或預鍍鎳SUS。

由上述描述可知,原材料可以為SUS不銹鋼、洋白銅、鋁材、馬口鐵、預鍍Ni鋁材或預鍍鎳SUS,原材料的優(yōu)選的厚度范圍為0.1-0.35毫米。

進一步的,所述印記點2為陣列排布,所述印記點2的深度為0.03-0.1毫米。

如圖2至圖6所示的屏蔽罩框架,包括本體1,所述本體1的表面11設有若干印記點2,所述印記點2為凹陷或凸起,所述表面11的拉伸及折彎邊緣開設有沖孔3。

從上述描述可知,本實用新型的有益效果在于:本實用新型的屏蔽罩框架,在原材料料帶表面上增加印記點2,使材料強度加強,同時,在產(chǎn)品拉伸及折彎邊緣增加沖孔3結構,消除材料殘余應力,使產(chǎn)品平面度能更穩(wěn)定。

進一步的,若干所述印記點2為陣列排布在本體1的表面11上。

印記點2采用陣列排布,可均勻增強本體1的整體的強度,同時,陣列排布外形更加美觀。

進一步的,所述印記點2的形狀為方形、圓形或橢圓形。

進一步地,所述印記點2的大小為0.1-0.6毫米。

進一步地,所述印記點2的間距為0.3-0.6毫米。

進一步地,所述印記點2的深度為0.03-0.1毫米。

請參照圖2至圖6,本實用新型的實施例一為:本實施例屏蔽罩框架,包括本體1,該本體1的表面11設有若干印記點2,印記點2為凹陷或凸起并陣列排布在本體1的表面11,在表面11的拉伸及折彎邊緣還開設有沖孔3。

該凹陷或凸起的形狀為方形、圓形或橢圓形,或其形狀的組合。印記點2優(yōu)選的大小為0.3或0.4毫米,間距優(yōu)選為0.4或0.5毫米,深度為0.03-0.1毫米0.06或0.07毫米。

如圖1所示為該屏蔽罩框架的制作工藝流程框圖,包括如下步驟:

S1、在進入模具的原材料料帶上打印記點2,該印記點2為間隔設置的凹陷或凸起,制得坯件,該原材料包括SUS不銹鋼、洋白銅、鋁材、馬口鐵、預鍍Ni鋁材或預鍍鎳SUS,印記點2為陣列排布,印記點2的深度為0.03-0.1毫米;

S2、在坯件上需要拉伸及折彎的邊緣處開孔。

綜上所述,本實用新型提供的屏蔽罩框架及其制作工藝,使產(chǎn)品平面度能更穩(wěn)定,并且可有效降低模具的維修費用。

以上所述僅為本實用新型的實施例,并非因此限制本實用新型的專利范圍,凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等同變換,或直接或間接運用在相關的技術領域,均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。

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