專利名稱：微通道板噪聲因子測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于微光技術(shù)領(lǐng)域，特別是一種微通道板(MCP)噪聲因子測試方法。
背景技術(shù)：
目前，國內(nèi)對像增強(qiáng)器的噪聲主要是通過像增強(qiáng)器的信噪比指標(biāo)來評價的，這是一個總體評價指標(biāo)，但對像增強(qiáng)器中光陰極、MCP和熒光屏等各個部分對噪聲的影響，既沒有完善的理論，也沒有確定的評價方法，MCP噪聲因子測試方法及測試技術(shù)研究在國內(nèi)也是空白，國內(nèi)主要是用增益、輸入暗電流、疵點(diǎn)和亮度均勻性等參數(shù)來評價MCP，而對MCP的噪聲特性沒有評價體系和技術(shù)手段。在國際上，噪聲因子是通用的評價MCP噪聲的主要參數(shù)，國外的美國、俄羅斯等西方國家均用噪聲因子評價MCP的噪聲特性，在相關(guān)文獻(xiàn)中多次提及，美國ITT的pinnacle 管的重要改進(jìn)之一就是MCP的噪聲因子指標(biāo)的改善，但是對噪聲因子的具體測試方法和測試條件均沒有提及。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種微通道板噪聲因子測試方法，利用該方法可以測試 MCP的噪聲因子。實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為一種微通道板噪聲因子測試方法，包括以下步驟步驟1、將MCP、熒光屏和電子槍封閉在一個高真空室內(nèi)，其中MCP位于熒光屏和電子槍之間，之后對真空室抽真空；步驟2、電子槍產(chǎn)生電子束均勻入射MCP ；步驟3、在電子槍和MCP輸入端、MCP輸入端和輸出端、MCP輸出端和熒光屏間加工作電壓；步驟4、檢測MCP的輸入電流，該輸入電流包括有電子束入射的信號值和無電子束入射的暗電流信號值，之后利用公式
權(quán)利要求
1.一種微通道板噪聲因子測試方法，其特征在于，包括以下步驟步驟1、將MCP、熒光屏和電子槍封閉在一個高真空室內(nèi)，其中MCP位于熒光屏和電子槍之間，之后對真空室抽真空；步驟2、電子槍產(chǎn)生電子束均勻入射MCP ；步驟3、在電子槍和MCP的輸入端、MCP輸入端和輸出端、MCP輸出端和熒光屏間加工作電壓；步驟4、檢測MCP的輸入電流，該輸入電流包括有電子束入射的信號值和無電子束入射的暗電流信號值，之后利用公式
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微通道板噪聲因子測試方法，其特征在于，步驟1中高真空室內(nèi)的真空度為優(yōu)于5.0X10_4Pa。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微通道板噪聲因子測試方法，其特征在于，步驟2中所述電子束電流密度為ι χ 10"nA/cm2 3 X 10_1QA/cm2。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微通道板噪聲因子測試方法，其特征在于，步驟3中所加的工作電壓為在電子槍和MCP的輸入端的電壓為200 1000V，MCP的輸入端接地；MCP輸入端和輸出端之間的電壓為700 1200V、MCP輸出端和熒光屏間加工作電壓比MCP輸入端和輸出端之間的電壓高200V，范圍為900 1400V。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種微通道板(MCP)噪聲因子測試方法，它包括噪聲因子的測試條件和具體測試方法。本發(fā)明將MCP、熒光屏和電子槍封閉在一高真空室內(nèi)；均勻面電子束入射MCP，在MCP兩端施加高壓使其正常工作；檢測MCP的輸入電流、輸出電流特性；通過MCP的輸入電流的測試和數(shù)據(jù)處理，可以計算出MCP的輸入信噪比；同時測試出MCP的輸出電流數(shù)據(jù)，通過數(shù)據(jù)處理可以計算MCP的輸出信噪比，最終計算出噪聲因子參數(shù)。該測試方法可以科學(xué)地評價MCP的噪聲特性，為高性能微光器件的研制，提供理論指導(dǎo)和技術(shù)支撐。在MCP和微光像增強(qiáng)器的研制和生產(chǎn)中可以廣泛應(yīng)用。
文檔編號H01J43/24GK102175933SQ20111003197
公開日2011年9月7日 申請日期2011年1月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月28日
發(fā)明者劉磊, 富容國, 常本康, 張俊舉, 朱亞明, 詹啟海, 邱亞峰, 錢蕓生, 高頻 申請人:南京理工大學(xué)