專利名稱：低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正工具的制作方法
專利說明
一、技術領域本實用新型涉及低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正工具，特別涉及一種用于彩色顯像管制造中的低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正工具。
二背景技術：
顯像管屏與錐封接依靠了低熔點玻璃粉的高溫特性，在高溫下低熔點玻璃粉將顯像管的屏與錐永久的封接成一體，低熔點玻璃粉涂敷軌跡的形狀，將直接影響屏與錐的封接質量及彩管的安全性能，在日常工作中，低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正比較繁瑣，造成軌跡點的分布與錐體實際外形軌跡不一致，從而影響低熔點玻璃粉涂敷軌跡的外觀形狀，影響產品品位。
目前低熔點玻璃粉涂敷的軌跡校正狀況是周末作業(yè)時，清理低玻機地溝、設備衛(wèi)生后，再進行設備調整，更換低玻機上檢測板、校正輥子、滑動軸承，檢查調整連動裝置、各種氣缸調速閥門等，待各項工作完成后，然后進行低玻軌跡校正。因為各連動裝置已發(fā)生了位移，必須先對低玻軌跡的48點分布進行預調整，設定各個點的移動速度，特別是對四個角的弧度軌跡要進行弧度軌跡校正，再加少量載體對低玻下料口的位置進行調整，再次加入調好的低玻料進行低玻軌跡的正式調整，此時的調整將決定一周的低玻軌跡運行狀態(tài)，所以，機調員必須反復多次調整，方可保證一周的低玻軌跡一直處于一個良好的運行狀態(tài)。因為錐體封接軌跡呈弧狀，在進行48點的分布調整中，往往因人的操作不精確，調整后的低玻軌跡多數呈S形狀，軌跡點也不在錐封接面中央，嚴重影響低熔點玻璃在高溫封接后的低玻溢出外觀形狀。
三
發(fā)明內容
本實用新型的目的在于克服上述現有技術的弊端，提出一種使用于彩色顯像管制造中的低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正工具，可改善低熔點玻璃粉涂敷軌跡狀態(tài)，提高涂敷軌跡點的分布與錐體實際外形軌跡的一致性。
為實現上述目的，本實用新型采用的技術方案是本實用新型包括低玻機料罐，其特征在于低玻機料罐上部安裝有軌跡試校盤并用軌跡試校塊固定，軌跡試校絲桿通過螺紋固定在軌跡試校盤上，軌跡試校絲桿下部穿過低玻機料罐底部。
利用本實用新型的有益效果是由于低玻機料罐上部安裝有軌跡試校盤，軌跡試校絲桿通過螺紋固定在軌跡試校盤上，因此在低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正過程中可改善低熔點玻璃粉涂敷軌跡狀態(tài)，提高涂敷軌跡點的分布與錐體實際外形軌跡的一致性，改善屏與錐的封接質量，提高產品品位。
四

圖1是軌跡試校裝機組合示意圖，其中1是軌跡試校盤絲桿，2、3是軌跡試校固定塊，4是軌跡試校盤，5是低玻機料罐。
圖2是48點標準軌跡分布錐體外觀圖，其中6是48點標準軌跡分布錐體的封接面。
圖3是48點標準軌跡分布錐體封接面圖，其中7是小黃點。
五具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的技術方案做進一步描述如圖1所示，其連接關系是低玻機料罐5上部安裝有軌跡試校盤4并用軌跡試校塊2和3固定，軌跡試校絲桿1通過螺紋固定在軌跡試校盤4上，軌跡試校絲桿1下部穿過低玻機料罐5底部。
結合附圖，說明其操作原理用手動將標有48點軌跡的標準錐體(圖2所示)送入低玻涂敷機設備內，將主控制柜的控制旋鈕打到試校位置，用軌跡試校盤4開始試校軌跡，試校時軌跡試校盤絲桿1下部對正標準錐體上的48個小黃點7。另外，錐體角部軌跡校正時，7、8、9三個點，19、20、21三個點，29、30、31三個點和41、42、43三個點都要懸空在錐體外側，并要使用弧度插入法，設定完軌跡后，確認運行速度的設定值，啟動設備運行一次，觀察軌跡速度狀態(tài)，將軌跡數據存入主機內。在工作中通過以上設計及應用，有效地解決了機調員對低玻軌跡的調整問題，充分保證了日常軌跡的維護，通過長時間的運行，低玻軌跡不但消除了S型軌跡，而且也消除了低玻在接面上不居中的現象，實現低玻軌跡合格率100％。
權利要求1.一種低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正工具，包括低玻機料罐(5)，其特征在于，低玻機料罐(5)上部安裝有軌跡試校盤(4)并用軌跡試校塊(2)和(3)固定，軌跡試校絲桿(1)通過螺紋固定在軌跡試校盤(4)上，軌跡試校絲桿(1)下部穿過低玻機料罐(5)底部。
專利摘要本實用新型公開了一種用于彩色顯像管制造中的低熔點玻璃粉涂敷軌跡校正工具，其連接關系是低玻機料罐上部安裝有軌跡試校盤并用軌跡試校塊固定，軌跡試校絲桿通過螺紋固定在軌跡試校盤上，軌跡試校絲桿下部穿過低玻機料罐底部，用手動將標有48點軌跡的標準錐體送入低玻涂敷機內，將主控制柜的控制旋鈕打到試校位置，用軌跡試校盤開始試校軌跡，試校時軌跡試校盤絲桿下部對正標準錐體上的48個小黃點，錐體角部軌跡校正時，7、8、9三個點，19、20、21三個點，29、30、31三個點和41、42、43三個點要懸空在錐體外側，并要使用弧度插入法，可提高涂敷軌跡點的分布與錐體實際外形軌跡的一致性，改善屏與錐的封接質量。
文檔編號H01J9/42GK2669358SQ200320109770
公開日2005年1月5日 申請日期2003年11月14日 優(yōu)先權日2003年11月14日
發(fā)明者李俊宏 申請人:彩虹集團電子股份有限公司, 彩虹顯示器件股份有限公司