本發(fā)明涉及半導(dǎo)體,具體而言涉及一種光刻膠層的制備方法。
背景技術(shù):
1、光刻技術(shù)是半導(dǎo)體制造領(lǐng)域中非常重要的一個環(huán)節(jié),隨著工藝節(jié)點越來越小,關(guān)鍵尺寸也相應(yīng)越來越小,光刻難度也在增加,從而相應(yīng)地增加了光刻膠線條在晶圓表面發(fā)生彎曲、折斷或與襯底失去粘連以及倒塌的風險,影響產(chǎn)品的質(zhì)量。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、在
技術(shù)實現(xiàn)要素:
部分中引入了一系列簡化形式的概念,這將在具體實施方式部分中進一步詳細說明。本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容部分并不意味著要試圖限定出所要求保護的技術(shù)方案的關(guān)鍵特征和必要技術(shù)特征,更不意味著試圖確定所要求保護的技術(shù)方案的保護范圍。
2、針對目前存在的問題,本發(fā)明實施例提供一種光刻膠層的制備方法,包括:
3、提供襯底;
4、在所述襯底上形成第一光刻膠層;
5、對所述第一光刻膠層進行處理,以形成含有接枝共聚物的第二光刻膠層。
6、示例性地,所述對所述第一光刻膠層進行處理,以形成含有接枝共聚物的第二光刻膠層,包括:
7、對所述第一光刻膠層進行等離子處理,以在所述第一光刻膠層中形成自由基;
8、在等離子處理后的所述第一光刻膠層上涂覆固化溶液,以使所述第一光刻膠層與所述固化溶液進行共聚合反應(yīng),形成含有接枝共聚物的第二光刻膠層。
9、示例性地,所述制備方法還包括:
10、重復(fù)依次執(zhí)行以下步驟:在所述襯底上形成第一光刻膠層;對所述第一光刻膠層進行處理,以形成含有接枝共聚物的第二光刻膠層,直到所述第二光刻膠層的厚度達到預(yù)定厚度。
11、示例性地,所述等離子處理采用以下處理方式中的至少一種:電暈放電等離子處理、輝光放電等離子處理、火花放電等離子處理、介質(zhì)阻擋放電等離子處理、滑動弧光放電等離子處理、微波等離子處理以及射頻等離子處理。
12、示例性地,所述等離子處理的電子溫度范圍為0k-104k。
13、示例性地,當所述等離子處理采用輝光放電等離子處理和/或采用射頻等離子處理時,所述輝光放電等離子處理的氣體溫度范圍為0k-500k,所述射頻等離子處理的氣體溫度范圍為0k-500k。
14、示例性地,當所述等離子處理采用電暈放電等離子處理和/或微波等離子處理時,所述電暈放電等離子處理的氣體溫度范圍為0k-300k,所述微波等離子處理的氣體溫度范圍為0k-800k。
15、示例性地,所述固化溶液包括溶劑和添加劑。
16、示例性地,所述溶劑包括-x、-oh、-cho、-no2、-so3h、-nh2、rco-中的至少一種官能團。
17、示例性地,所述制備方法還包括:
18、在所述第二光刻膠層上覆蓋掩模版;
19、通過所述掩模版對所述第二光刻膠層進行曝光;
20、對所述第二光刻膠層進行顯影,以形成圖案化的光刻膠層。
21、本發(fā)明提供的光刻膠層的制備方法,通過在形成第一光刻膠層后對第一光刻膠層進行處理,從而形成含有接枝共聚物的第二光刻膠層,由于第二光刻膠層中含有接枝共聚物,因此提高了第二光刻膠層的粘附性及光刻膠層界面強度,從而降低了第二光刻膠層倒塌的風險,提高了器件質(zhì)量的可靠性。
1.一種光刻膠層的制備方法,其特征在于,包括:
2.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述制備方法還包括:
3.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述等離子處理采用以下處理方式中的至少一種:電暈放電等離子處理、輝光放電等離子處理、火花放電等離子處理、介質(zhì)阻擋放電等離子處理、滑動弧光放電等離子處理、微波等離子處理以及射頻等離子處理。
4.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述等離子處理的電子溫度范圍為0k-104k。
5.如權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于,當所述等離子處理采用輝光放電等離子處理和/或采用射頻等離子處理時,所述輝光放電等離子處理的氣體溫度范圍為0k-500k,所述射頻等離子處理的氣體溫度范圍為0k-500k。
6.如權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于,當所述等離子處理采用電暈放電等離子處理和/或微波等離子處理時,所述電暈放電等離子處理的氣體溫度范圍為0k-300k,所述微波等離子處理的氣體溫度范圍為0k-800k。
7.如權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述固化溶液包括溶劑和添加劑。
8.如權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述溶劑包括-x、-oh、-cho、-no2、-so3h、-nh2、rco-中的至少一種官能團。