本發(fā)明屬于靜電防護(hù)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種顯示母板及其靜電釋放方法、基臺(tái)。

背景技術(shù)：

在液晶顯示母板的制備過(guò)程中需要進(jìn)行摩擦取向，即用摩擦輥對(duì)液晶顯示母板的配向材料層進(jìn)行摩擦，使其產(chǎn)生特定的取向。

在摩擦取向過(guò)程中，摩擦輥與液晶顯示母板間會(huì)產(chǎn)生劇烈摩擦，故液晶顯示母板中會(huì)積累大量靜電；而當(dāng)靜電積累到一定程度時(shí)會(huì)發(fā)生放電，這可能導(dǎo)致其中的絕緣層、薄膜晶體管等損壞，引起不同線路間的短路、薄膜晶體管失效等，造成顯示不良。為避免放電，可在摩擦取向時(shí)用x射線進(jìn)行照射，使空氣電離以中和液晶顯示母板中的靜電；或者，也可控制摩擦輥的濕度，以減少靜電的產(chǎn)生。

但是，現(xiàn)有方法對(duì)靜電的消除作用有限，液晶顯示母板仍然容易因?yàn)殪o電放電(esd)而產(chǎn)生不良。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明至少部分解決現(xiàn)有的液晶顯示基板在摩擦取向等工藝中容易因?yàn)殪o電放電而產(chǎn)生不良的問(wèn)題，提供一種可避免靜電放電的顯示母板及其靜電釋放方法、基臺(tái)。

解決本發(fā)明技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種顯示母板，包括至少一個(gè)顯示基板，所述顯示母板還包括用于在測(cè)試時(shí)引入測(cè)試電壓的測(cè)試線，所述測(cè)試線與顯示基板中的信號(hào)線相連；所述顯示母板還包括：

放電端子，其通過(guò)開(kāi)關(guān)單元與測(cè)試線電連接，并用于與接地的探針相連；其中，當(dāng)測(cè)試線與放電端子間電壓差的絕對(duì)值大于或等于預(yù)設(shè)值時(shí)開(kāi)關(guān)單元導(dǎo)通，否則開(kāi)關(guān)單元關(guān)斷，且所述預(yù)設(shè)值大于測(cè)試電壓的絕對(duì)值的最大值。

優(yōu)選的是，所述開(kāi)關(guān)單元包括類型相同的第一晶體管和第二晶體管，其中，所述第一晶體管的柵極和第一極連接測(cè)試線，第二極連接放電端子；所述第二晶體管的柵極和第一極連接放電端子，第二極連接測(cè)試線；所述第一晶體管和第二晶體管的開(kāi)啟電壓的絕對(duì)值均等于所述預(yù)設(shè)值。

優(yōu)選的是，所述放電端子有多個(gè)，并通過(guò)環(huán)形的連接線電連接在一起；所述測(cè)試線有多條，各測(cè)試線分別通過(guò)開(kāi)關(guān)單元與所述連接線的不同位置連接。

優(yōu)選的是，所述顯示母板包括中部和位于中部外圍的邊緣部，所述放電端子設(shè)于邊緣部中。

優(yōu)選的是，所述顯示母板還包括所述顯示基板之外的周邊區(qū)，所述測(cè)試線設(shè)于周邊區(qū)中；所述放電端子設(shè)于周邊區(qū)中；所述開(kāi)關(guān)單元設(shè)于周邊區(qū)中。

優(yōu)選的是，所述顯示母板為液晶顯示母板，至少在其顯示基板中設(shè)有配向材料層。

解決本發(fā)明技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種基臺(tái)，其包括：

用于承載上述顯示母板的承載臺(tái)；

接地的探針，其用于與所述顯示母板的放電端子連接。

優(yōu)選的是，所述承載臺(tái)設(shè)有凹陷，所述凹陷中設(shè)有升降單元，所述探針連接在升降單元上，能在升降單元的驅(qū)動(dòng)下在位于凹陷內(nèi)和伸出凹陷外的位置間運(yùn)動(dòng)。

進(jìn)一步優(yōu)選的是，所述基臺(tái)為摩擦取向基臺(tái)，其承載臺(tái)用于上述液晶顯示母板；所述摩擦取向基臺(tái)還包括：探測(cè)單元，用于探測(cè)摩擦輥相對(duì)于承載臺(tái)的位置；控制單元，用于在所述摩擦輥靠近探針時(shí)控制升降單元將探針運(yùn)動(dòng)至凹陷內(nèi)，并在所述摩擦輥遠(yuǎn)離探針時(shí)控制升降單元將探針運(yùn)動(dòng)伸出凹陷外。

解決本發(fā)明技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是一種顯示母板的靜電釋放方法，其包括：

將上述顯示母板設(shè)于上述基臺(tái)的承載臺(tái)上，使所述基臺(tái)中的至少一個(gè)探針與顯示母板中的放電端子接觸；

當(dāng)所述顯示母板的信號(hào)線和測(cè)試線中積累靜電而導(dǎo)致測(cè)試線與放電端子間電壓差的絕對(duì)值大于或等于預(yù)設(shè)值時(shí)，所述開(kāi)關(guān)單元導(dǎo)通，所述信號(hào)線和測(cè)試線中積累的靜電通過(guò)開(kāi)關(guān)單元釋放至探針。

本發(fā)明的顯示母板在摩擦取向等工藝(也可為涂布、濺射等其它過(guò)程)中，放電端子可接地，故靜電僅在信號(hào)線、測(cè)試線中積累，而隨著靜電積累，信號(hào)線(測(cè)試線)與放電端子間的電壓差增大，當(dāng)該電壓差的絕對(duì)值達(dá)到以上預(yù)設(shè)值時(shí)開(kāi)關(guān)單元導(dǎo)通，信號(hào)線(測(cè)試線)中積累的靜電可通過(guò)放電端子釋放，由此保證積累的靜電不會(huì)過(guò)量，以徹底避免靜電放電及其引起的不良；而由于預(yù)設(shè)值高于測(cè)試電壓的絕對(duì)值的最大值，故在測(cè)試過(guò)程開(kāi)關(guān)單元不會(huì)導(dǎo)通，測(cè)試過(guò)程不受影響。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明的實(shí)施例的一種顯示母板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明的實(shí)施例的一種顯示母板中開(kāi)關(guān)單元的電路圖；

圖3為本發(fā)明的實(shí)施例的一種基臺(tái)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為圖3中沿aa’的局部剖面結(jié)構(gòu)示意圖；

其中，附圖標(biāo)記為：1、顯示母板；11、顯示基板；12、周邊區(qū)；2、測(cè)試線；3、信號(hào)線；4、開(kāi)關(guān)單元；51、放電端子；52、連接線；m1、第一晶體管；m2、第二晶體管；7、升降單元；8、探針；9、承載臺(tái)；91、凹陷。

具體實(shí)施方式

為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。

實(shí)施例1：

如圖1至圖4所示，本實(shí)施例提供一種顯示母板1，其包括至少一個(gè)顯示基板11，顯示母板11還包括用于在測(cè)試時(shí)引入測(cè)試電壓的測(cè)試線2，測(cè)試線2與顯示基板11中的信號(hào)線3相連；顯示母板1還包括：

放電端子51，其通過(guò)開(kāi)關(guān)單元4與測(cè)試線2電連接，并用于與接地的探針8相連；其中，當(dāng)測(cè)試線2與放電端子51間電壓差的絕對(duì)值大于或等于預(yù)設(shè)值時(shí)開(kāi)關(guān)單元4導(dǎo)通，否則開(kāi)關(guān)單元4關(guān)斷，且預(yù)設(shè)值大于測(cè)試電壓的絕對(duì)值的最大值。

如圖1所示，每個(gè)顯示母板1中包括一個(gè)或多個(gè)設(shè)有顯示結(jié)構(gòu)的顯示基板11，顯示母板1可被制成為多個(gè)顯示基板11產(chǎn)品(如陣列基板、彩膜基板等)，顯示基板11產(chǎn)品再組成顯示面板。

顯示母板1中還設(shè)有一條或多條測(cè)試線2，該測(cè)試線2與顯示基板11內(nèi)的信號(hào)線3(如柵極線、數(shù)據(jù)線、公共電極線等)相連，用于在不設(shè)置驅(qū)動(dòng)芯片的情況下向信號(hào)線3通入測(cè)試電壓，以檢測(cè)顯示母板1是否存在問(wèn)題。當(dāng)然，為引入測(cè)試電壓，測(cè)試線2還應(yīng)與測(cè)試端子相連，而測(cè)試端子用于連接測(cè)試信號(hào)輸入探針等。

當(dāng)然，在圖1中，只是示意性的畫(huà)出了部分測(cè)試線2和信號(hào)線3，而并非對(duì)測(cè)試線2、信號(hào)線3具體結(jié)構(gòu)的限定，例如，還可有橫向分布的信號(hào)線3以及縱向分布的測(cè)試線2等。

與現(xiàn)有技術(shù)不同，測(cè)試線2還要與放電端子51(pad)電連接，且二者之間設(shè)有開(kāi)關(guān)單元4，只有當(dāng)測(cè)試線2與放電端子51間電壓差的絕對(duì)值(因?yàn)殪o電種類不定，故該電壓差正負(fù)不定)大于或等于一個(gè)預(yù)設(shè)值時(shí)該開(kāi)關(guān)單元4可導(dǎo)通。同時(shí)，以上預(yù)設(shè)值(如250v)必須大于測(cè)試線2在測(cè)試時(shí)所可能加載的測(cè)試電壓的絕對(duì)值的最大值(如50v)。

優(yōu)選的，以上顯示母板1為液晶顯示母板，至少在其顯示基板11中設(shè)有配向材料層。

也就是說(shuō)，顯示母板1優(yōu)選為用于形成液晶顯示基板的液晶顯示母板，其顯示基板11中覆蓋有配向材料層，從而在后續(xù)的摩擦取向工藝中該配向材料層可形成特定的取向。

當(dāng)然，以上顯示母板1也可為有機(jī)發(fā)光二極管顯示母板等其它的類型。同時(shí)，顯示母板1的靜電釋放也不限于在摩擦取向工藝中，在涂布、濺射等其它過(guò)程中，或在存儲(chǔ)時(shí)產(chǎn)生的靜電也可按照本發(fā)明的方式釋放。

在本實(shí)施例的顯示母板1進(jìn)行摩擦取向等工藝(也可為涂布、濺射等其它過(guò)程)時(shí)，放電端子51通過(guò)探針8接地，故靜電僅在信號(hào)線3、測(cè)試線2中積累，而隨著靜電積累，信號(hào)線3(測(cè)試線2)與放電端子51間的電壓差增大，當(dāng)該電壓差的絕對(duì)值達(dá)到以上預(yù)設(shè)值時(shí)，開(kāi)關(guān)單元4導(dǎo)通，信號(hào)線3(測(cè)試線2)中積累的靜電可通過(guò)放電端子51釋放掉，由此，在顯示母板1的顯示基板11中積累的靜電不會(huì)過(guò)量，不會(huì)發(fā)生靜電放電而造成不良；而由于該預(yù)設(shè)值高于測(cè)試電壓的絕對(duì)值的最大值，故在測(cè)試過(guò)程中電壓差的絕對(duì)值不會(huì)達(dá)到以上預(yù)設(shè)值，開(kāi)關(guān)單元4不會(huì)導(dǎo)通，測(cè)試過(guò)程不受影響。

優(yōu)選的，開(kāi)關(guān)單元4包括類型相同的第一晶體管m1和第二晶體管m2，其中，第一晶體管m1的柵極和第一極連接測(cè)試線2，第二極連接放電端子51；第二晶體管m2的柵極和第一極連接放電端子51，第二極連接測(cè)試線2；第一晶體管m1和第二晶體管m2的開(kāi)啟電壓的絕對(duì)值均等于預(yù)設(shè)值。

一種優(yōu)選的開(kāi)關(guān)單元4的具體結(jié)構(gòu)可如圖2所示，由兩個(gè)晶體管組成，其中，通過(guò)調(diào)整兩個(gè)晶體管的有源區(qū)材料、溝道寬長(zhǎng)比(w/l)等，可使其開(kāi)啟電壓等于以上預(yù)設(shè)值。具體的，以晶體管均為n型為例，當(dāng)信號(hào)線3(測(cè)試線2)中積累正電時(shí)，第一晶體管m1的柵極電壓升高，第二極接地，故當(dāng)二者的電壓差達(dá)到以上預(yù)設(shè)值時(shí)第一晶體管m1導(dǎo)通將積累的正電荷釋放；而當(dāng)信號(hào)線3(測(cè)試線2)中積累負(fù)電時(shí)，第二晶體管m2的第二極電壓降低，柵極接地，相當(dāng)于柵極電壓升高，當(dāng)二者電壓差的絕對(duì)值達(dá)到以上預(yù)設(shè)值時(shí)第而晶體管m2導(dǎo)通將積累的負(fù)電荷釋放。由此可見(jiàn)，以上開(kāi)關(guān)單元4可通過(guò)簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)所需功能。

優(yōu)選的，顯示母板1包括中部和位于中部外圍的邊緣部，放電端子51設(shè)于顯示母板1的邊緣部。

顯然，放電端子51要與探針8(pin)相連才能釋放靜電，而從位置上看，顯示母板1可分為中部和邊緣部，如圖3、圖4所示，放電端子51優(yōu)選設(shè)于顯示母板1的邊緣部分中，這樣放電端子51與顯示母板1的邊的距離較近，探針8可方便的從顯示母板1的側(cè)面外連接至放電端子51。

當(dāng)然，以上邊緣部的具體寬度可根據(jù)顯示母板1的尺寸決定，例如其可寬5厘米。

優(yōu)選的，放電端子51有多個(gè)，并通過(guò)環(huán)形的連接線52電連接在一起；測(cè)試線2有多條，各測(cè)試線2分別通過(guò)開(kāi)關(guān)單元4與連接線52的不同位置連接。

也就是說(shuō)，可將多個(gè)放電端子51通過(guò)一條環(huán)形的連接線52電連接在一起，而不同的測(cè)試線2連接至連接線52的不同位置處。這樣，每條測(cè)試線2中的靜電都可通過(guò)多個(gè)不同的放電端子51釋放，從而保證當(dāng)有部分放電端子51無(wú)法放電(如接觸不良或斷線)時(shí)靜電也能良好的釋放。

當(dāng)然，連接線52也可為多條，也可不是環(huán)形的，或者每條測(cè)試線2也可分別通過(guò)開(kāi)關(guān)單元4與一個(gè)單獨(dú)的放電端子51連接。

優(yōu)選的，顯示母板1還包括顯示基板11外的周邊區(qū)12，測(cè)試線2于周邊區(qū)12中；放電端子51設(shè)于周邊區(qū)12中；開(kāi)關(guān)單元4設(shè)于周邊區(qū)12中。

通常而言，顯示母板1中除各顯示基板11外，還設(shè)有周邊區(qū)12(或稱冗余區(qū))，這些周邊區(qū)12在后續(xù)工藝中會(huì)被切割除去。而以上測(cè)試線2、放電端子51、開(kāi)關(guān)單元4僅在顯示母板1的制備工藝中起作用，而在切割出的顯示基板11產(chǎn)品中實(shí)際無(wú)作用，因此優(yōu)選將它們?cè)O(shè)于周邊區(qū)12中，以保證其在后續(xù)工藝中會(huì)被切掉，而不會(huì)出現(xiàn)在顯示基板11產(chǎn)品中，避免對(duì)顯示造成影響。

當(dāng)然，在具有周邊區(qū)12時(shí)，從方便制備的角度考慮，周邊區(qū)12中也可設(shè)有配向材料層。

其中，以上的開(kāi)關(guān)單元4、放電端子51、連接線52等可與顯示母板1中原有的結(jié)構(gòu)同步形成，以簡(jiǎn)化其制備工藝。例如，開(kāi)關(guān)單元4中的晶體管可與顯示母板1的顯示基板11中的晶體管同步形成，而放電端子51、連接線52、開(kāi)關(guān)單元4中的引線等則可與測(cè)試線2等同步形成，在此不再詳細(xì)描述。

實(shí)施例2：

如圖1至圖4所示，本實(shí)施例提供一種基臺(tái)，其包括：

用于承載上述顯示母板1的承載臺(tái)9；

接地的探針8，其用于與顯示母板1的放電端子51連接。

本實(shí)施例的基臺(tái)用于承載以上顯示母板1，且包括探針8，當(dāng)顯示母板1放在承載臺(tái)9上時(shí)，探針8可與顯示母板1中的放電端子51連接，從而使放電端子51接地，以釋放顯示母板1中積累的靜電。

具體的，探針8的結(jié)構(gòu)應(yīng)能使其連接到放電端子51，例如，若如前所述放電端子51設(shè)于顯示母板1的邊緣部，而探針8設(shè)于承載臺(tái)9中，則探針8可如圖4所示具有彎曲的部分，從而可從側(cè)面連接到放電端子51。當(dāng)然，如果探針8設(shè)在位于顯示母板1上方的支架等之上，其也可為直線結(jié)構(gòu)。

優(yōu)選的是，承載臺(tái)9設(shè)有凹陷91，凹陷91中設(shè)有升降單元7，探針8連接在升降單元7上，能在升降單元7的驅(qū)動(dòng)下在位于凹陷91內(nèi)和伸出凹陷91外的位置間運(yùn)動(dòng)。

如圖3、4所示，承載臺(tái)9用于承載顯示母板1的一側(cè)設(shè)有多個(gè)凹陷91，這些凹陷91位于顯示母板1的外圍，而探針8設(shè)于凹陷91內(nèi)，且可在升降單元7的作用下升降。其中，升降單元7的具體形式是多樣的，例如其可為氣缸，而探針8則連接在氣缸的活塞桿上。這樣，如圖4所示，當(dāng)探針8伸出凹陷91時(shí)，其可從側(cè)方與放電端子51連接，而當(dāng)探針8縮進(jìn)凹陷91內(nèi)時(shí)，則其不伸出承載臺(tái)9的表面，不易被損傷等。

進(jìn)一步優(yōu)選的，基臺(tái)為摩擦取向基臺(tái)，其承載臺(tái)9用于承載上述的液晶顯示母板，則基臺(tái)還包括：探測(cè)單元(圖中未示出)，用于探測(cè)摩擦輥相對(duì)于承載臺(tái)9的位置；控制單元(圖中未示出)，用于在摩擦輥靠近探針8時(shí)控制升降單元7將探針8運(yùn)動(dòng)至凹陷91內(nèi)，并在摩擦輥遠(yuǎn)離探針8時(shí)控制升降單元7將探針8運(yùn)動(dòng)伸出凹陷91外。

也就是說(shuō)，基臺(tái)優(yōu)選為用于在摩擦取向過(guò)程中承載液晶顯示母板的摩擦取向基臺(tái)；而在摩擦取向過(guò)程中，摩擦輥會(huì)逐漸掃過(guò)液晶顯示母板的不同位置。為此，可設(shè)置探測(cè)單元以獲取摩擦輥的位置，并且在摩擦輥運(yùn)動(dòng)到某探針8附近時(shí)用控制單元控制該探針8縮進(jìn)凹陷91中，以免探針8或摩擦輥損傷，而當(dāng)摩擦輥遠(yuǎn)離探針8后，控制單元再控制探針8伸出凹陷91外與放電端子51連接，以盡量提高靜電釋放的效果。

其中，摩擦輥與承載臺(tái)9發(fā)生相對(duì)運(yùn)動(dòng)的方式也是多樣的，可以是摩擦輥在原地旋轉(zhuǎn)，而承載臺(tái)9在摩擦輥下方移動(dòng)；或者，也可以是承載臺(tái)9不動(dòng)，而摩擦輥在其上方邊旋轉(zhuǎn)邊移動(dòng)，在此不再詳細(xì)描述。

其中，也可通過(guò)設(shè)置摩擦輥的長(zhǎng)度、運(yùn)動(dòng)區(qū)域范圍等，使全部或部分探針8所在位置不會(huì)被摩擦輥掃過(guò)(如摩擦輥可從圖3中最左側(cè)一列探針8的右方開(kāi)始，這樣該列探針8的位置即不會(huì)被摩擦輥掃過(guò))，應(yīng)當(dāng)理解，這些不會(huì)被摩擦輥掃過(guò)的探針8不必設(shè)在凹陷中，也不必連接升降單元等。

本實(shí)施例的基臺(tái)中設(shè)有與上述顯示母板1中的放電端子51對(duì)應(yīng)的探針8，故可保證積累的靜電不會(huì)過(guò)量，以避免靜電放電及其引起的不良。

實(shí)施例3：

如圖1至圖4所示，本實(shí)施例提供一種靜電釋放方法，其包括：

將上述的顯示母板1設(shè)于上述的基臺(tái)的承載臺(tái)9上，使基臺(tái)中的至少一個(gè)探針8與顯示母板1中的放電端子51接觸；

當(dāng)顯示母板1的信號(hào)線3和測(cè)試線2中積累靜電而導(dǎo)致測(cè)試線2與放電端子51間電壓差的絕對(duì)值大于或等于預(yù)設(shè)值時(shí)，開(kāi)關(guān)單元4導(dǎo)通，信號(hào)線3和測(cè)試線2中積累的靜電通過(guò)開(kāi)關(guān)單元4釋放至探針。

本實(shí)施例的顯示母板的靜電釋放方法采用以上的顯示母板1和基臺(tái)進(jìn)行，故可保證積累的靜電不會(huì)過(guò)量，以避免靜電放電及其引起的不良。

當(dāng)然，優(yōu)選的，以上靜電釋放方法可用于液晶顯示母板的摩擦取向過(guò)程中，在此不再詳細(xì)描述。

可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說(shuō)明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。