本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示面板以及顯示面板的測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

顯示裝置在研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試和出廠前的調(diào)試環(huán)節(jié)中，需要通過點(diǎn)屏測(cè)試的方式來測(cè)試顯示裝置是否可以正常使用。實(shí)施點(diǎn)屏測(cè)試操作會(huì)出現(xiàn)幾種結(jié)果：結(jié)果一，屏幕成功點(diǎn)亮，顯示裝置顯示正常；結(jié)果二，屏幕不能點(diǎn)亮，顯示裝置出現(xiàn)故障。

通常點(diǎn)屏測(cè)試需要使用獨(dú)有的電路以及相關(guān)的走線才能進(jìn)行，但是顯示裝置在點(diǎn)屏測(cè)試之后，點(diǎn)屏測(cè)試過程中使用的電路以及相關(guān)的走線便不會(huì)再使用。

由于點(diǎn)屏測(cè)試需要使用獨(dú)有的電路以及相關(guān)的走線，這些都在顯示裝置中的非顯示區(qū)域內(nèi)，占據(jù)較大的空間，導(dǎo)致顯示裝置的邊框較寬。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種顯示面板以及顯示面板的測(cè)試方法，通過復(fù)用多路選擇器中的電路來進(jìn)行顯示面板的測(cè)試，使得顯示裝置的邊框變窄。

一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種顯示面板，包括顯示區(qū)和非顯示區(qū)，所述顯示區(qū)包括多個(gè)像素單元，所述非顯示區(qū)包括多路選擇電路和信號(hào)輸入電路；其中，

所述多路選擇電路包括多個(gè)第一開關(guān)單元和多條數(shù)據(jù)線，每個(gè)所述第一開關(guān)單元對(duì)應(yīng)一條所述數(shù)據(jù)線，每條所述數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)一列所述像素單元；

所述信號(hào)輸入電路包括信號(hào)輸入線和多條短路線，所述信號(hào)輸入線用于向多條所述短路線輸入測(cè)試信號(hào)，所述短路線用于將多條所述數(shù)據(jù)線短接。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，在正常顯示階段，所述多路選擇電路用于向每個(gè)所述像素單元傳輸數(shù)據(jù)信號(hào)；

在測(cè)試階段，所述多路選擇電路用于向每個(gè)像素單元傳輸測(cè)試信號(hào)。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述多路選擇電路與外部信號(hào)源連接。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述信號(hào)輸入電路還包括控制開關(guān)，所述控制開關(guān)位于所述外部信號(hào)源與所述信號(hào)輸入電路之間。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述非顯示區(qū)還包括切割區(qū)，所述切割區(qū)用于在測(cè)試結(jié)束后將所述信號(hào)輸入電路與所述顯示面板分離。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述信號(hào)輸入電路還包括多個(gè)第二開關(guān)單元，每個(gè)所述第二開關(guān)單元對(duì)應(yīng)于一個(gè)所述第一開關(guān)單元，所述第二開關(guān)單元用于在測(cè)試結(jié)束后將所述信號(hào)輸入電路與所述多路選擇電路斷開。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述第一開關(guān)單元和/或所述第二開關(guān)單元為薄膜晶體管。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述顯示區(qū)的邊緣呈圓形、橢圓形或者多邊形。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述信號(hào)輸入電路和/或所述多路選擇電路位于所述顯示面板的臺(tái)階區(qū)。

本發(fā)明實(shí)施例還提供一種顯示面板的測(cè)試方法，應(yīng)用于前述任意一種顯示面板，包括：

將測(cè)試信號(hào)通過多路選擇電路中的一個(gè)或多個(gè)第一開關(guān)單元向像素單元輸入；

若接收到所述測(cè)試信號(hào)的所述像素單元全部點(diǎn)亮，則確定所述測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的所述像素單元顯示正常。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述方法還包括：

若接收到所述測(cè)試信號(hào)的所述像素單元部分點(diǎn)亮或者沒有點(diǎn)亮，確定所述測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的所述像素單元出現(xiàn)故障。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述方法還包括：

將外部信號(hào)源通過信號(hào)輸入電路與所述多路選擇電路連接，所述外部信號(hào)源用于輸出所述測(cè)試信號(hào)。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，在所述外部信號(hào)源與所述信號(hào)輸入電路之間設(shè)置有控制開關(guān)，所述方法還包括：

將控制開關(guān)設(shè)置為導(dǎo)通狀態(tài)，使得所述外部信號(hào)源與所述信號(hào)輸入電路導(dǎo)通。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述方法還包括：

在測(cè)試結(jié)束后斷開所述控制開關(guān)。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述非顯示區(qū)還包括切割區(qū)，所述方法還包括：

在測(cè)試結(jié)束后將所述信號(hào)輸入電路與所述顯示面板分離。

如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述信號(hào)輸入電路還包括多個(gè)第二開關(guān)單元，每個(gè)所述第二開關(guān)單元對(duì)應(yīng)于一個(gè)所述第一開關(guān)單元，所述方法還包括：

在測(cè)試結(jié)束后斷開每個(gè)所述第二開關(guān)單元。

本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板以及顯示面板的測(cè)試方法，通過在非顯示區(qū)內(nèi)設(shè)置多路選擇電路和信號(hào)輸入電路，其中，多路選擇電路包括多個(gè)第一開關(guān)單元和多條數(shù)據(jù)線，并且每個(gè)第一開關(guān)單元對(duì)應(yīng)一條數(shù)據(jù)線，每條數(shù)據(jù)線對(duì)應(yīng)一列像素單元，而信號(hào)輸入電路中包括信號(hào)輸入線和多條短路線，短路線用于將多條數(shù)據(jù)線短接，在本發(fā)明提供的技術(shù)方案中，多路選擇電路為多路選擇器中的原有電路，且可以復(fù)用為像素單元進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試的過程為通過信號(hào)輸入線向多條短路線輸入測(cè)試信號(hào)，以用于對(duì)像素單元進(jìn)行測(cè)試，若接收到測(cè)試信號(hào)的像素單元全部點(diǎn)亮，則確定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的像素單元顯示正常，因此，通過復(fù)用多路選擇器中的原有電路，無需增加點(diǎn)屏測(cè)試需要使用獨(dú)有的電路以及相關(guān)的走線，減小了占用非顯示區(qū)的空間，進(jìn)而使得顯示裝置的邊框變窄，改善了由于點(diǎn)屏測(cè)試需要使用獨(dú)有的電路以及相關(guān)的走線，占據(jù)較大的空間，導(dǎo)致顯示裝置的邊框較寬的問題。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的俯視圖；

圖2為圖1中區(qū)域a的第一放大示意圖；

圖3為圖1中區(qū)域a的第二放大示意圖；

圖4為圖1中區(qū)域b的放大示意圖；

圖5為圖1中區(qū)域a的第三放大示意圖；

圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第一流程示意圖；

圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第二流程示意圖；

圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第三流程示意圖；

圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第四流程示意圖；

圖10為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第五流程示意圖；

圖11為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第六流程示意圖；

圖12為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第七流程示意圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

在本發(fā)明實(shí)施例中使用的術(shù)語是僅僅出于描述特定實(shí)施例的目的，而非旨在限制本發(fā)明。在本發(fā)明實(shí)施例和所附權(quán)利要求書中所使用的單數(shù)形式的“一種”、“所述”和“該”也旨在包括多數(shù)形式，除非上下文清楚地表示其他含義。

實(shí)施例

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的俯視圖，圖2為圖1中區(qū)域a的第一放大示意圖，如圖1所示，本發(fā)明實(shí)施例中的顯示面板可以包括顯示區(qū)aa和非顯示區(qū)bb，顯示區(qū)aa包括多個(gè)像素單元11，多個(gè)像素單元11以行或者以列為單位排列，非顯示區(qū)bb包括多路選擇電路21和信號(hào)輸入電路22。如圖2所示，多路選擇電路21包括多個(gè)第一開關(guān)單元211和多條數(shù)據(jù)線212，并且，每個(gè)第一開關(guān)單元211對(duì)應(yīng)一條數(shù)據(jù)線212，每條數(shù)據(jù)線212對(duì)應(yīng)一列像素單元11?？梢岳斫獾氖?，在本發(fā)明實(shí)施例中，每個(gè)第一開關(guān)單元211在導(dǎo)通后，用于測(cè)試與該第一開關(guān)單元211對(duì)應(yīng)的一列像素單元11是否可以點(diǎn)亮。信號(hào)輸入電路22包括信號(hào)輸入線221和多條短路線222，信號(hào)輸入線221用于向多條短路線222輸入測(cè)試信號(hào)，短路線222用于將多條數(shù)據(jù)線212短接。在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，第一開關(guān)單元211可以是一個(gè)薄膜晶體管，包括信號(hào)輸入端、控制端和信號(hào)輸出端，信號(hào)輸出端與對(duì)應(yīng)的一列像素單元連接，信號(hào)輸入端與數(shù)據(jù)線212連接，控制端與對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)線連接，顯示面板中包括多少列像素單元11就對(duì)應(yīng)有多少個(gè)第一開關(guān)單元211，因此，多條短路線222將多條數(shù)據(jù)線212短接可以理解為，每條短接線222的一端連接對(duì)應(yīng)的一條數(shù)據(jù)線212，多條短接線的另一端均連接同一條信號(hào)輸入線221。

在本發(fā)明實(shí)施例中，多路選擇電路21可以是顯示面板中多路選擇器(demux)中的電路，第一開關(guān)單元211可以是多路選擇器中的開關(guān)。因此，在正常顯示階段，多路選擇電路21用于向每個(gè)像素單元11傳輸數(shù)據(jù)信號(hào)，其原理在于，多路選擇電路21中每個(gè)第一開關(guān)單元211控制一列或者幾列像素單元11，根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)來選擇性的向第一開關(guān)單元211輸送不同的信號(hào)，進(jìn)而使得與輸入信號(hào)對(duì)應(yīng)的像素單元11根據(jù)相應(yīng)的信號(hào)進(jìn)行工作；在測(cè)試階段，多路選擇電路21用于向每個(gè)像素單元11傳輸測(cè)試信號(hào)，其原理在于，當(dāng)需要對(duì)某一列像素單元11進(jìn)行測(cè)試時(shí)，向與某一列像素單元11對(duì)應(yīng)的第一開關(guān)單元211的信號(hào)輸入端輸入測(cè)試信號(hào)，然后向該第一開關(guān)單元211的控制端對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)線輸入導(dǎo)通信號(hào)，使得第一開關(guān)單元211導(dǎo)通，使得信號(hào)輸入端輸入的測(cè)試信號(hào)從信號(hào)輸出端輸入至像素單元11中。

由于點(diǎn)屏測(cè)試需要傳輸信號(hào)，因此，在本發(fā)明實(shí)施例中，多路選擇電路21與外部信號(hào)源23連接，如圖2所示，在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，多路選擇電路21中的信號(hào)輸入線221與外部信號(hào)源23連接。

可以理解的是，在本發(fā)明實(shí)施例中，通過復(fù)用多路選擇器中的電路作為點(diǎn)屏測(cè)試的電路，來實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示面板的測(cè)試，無需制造專門用于點(diǎn)屏測(cè)試過程中使用的電路，不但節(jié)省了制作的工序和成本，還實(shí)現(xiàn)了減少邊框?qū)挾鹊男Ч?/p>

圖3為圖1中區(qū)域a的第二放大示意圖，如圖3所示，信號(hào)輸入電路22中還包括控制開關(guān)223，本實(shí)施例與圖2實(shí)施例的相同之處在此不再贅述?？刂崎_關(guān)223位于外部信號(hào)源23與信號(hào)輸入電路22之間，在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，控制開關(guān)223可以是一個(gè)薄膜晶體管，控制開關(guān)223的第一端連接外部信號(hào)源23，控制開關(guān)223的第二端連接信號(hào)輸入電路22中的信號(hào)輸入線221，控制開關(guān)223的第三端連接對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)線。添加了控制開關(guān)223之后，在測(cè)試過程中，首先導(dǎo)通控制開關(guān)223，然后再通過外部信號(hào)源23向信號(hào)輸入電路22中輸入測(cè)試信號(hào)，進(jìn)而通過測(cè)試信號(hào)導(dǎo)通對(duì)應(yīng)的第一開關(guān)單元211，確定與導(dǎo)通的第一開關(guān)單元211對(duì)應(yīng)的像素單元11是否可以被正常點(diǎn)亮。

可以理解的是，由于在測(cè)試階段，外部信號(hào)源會(huì)向信號(hào)輸入線輸入不同的信號(hào)，且不同的信號(hào)其對(duì)應(yīng)的電壓或者電流會(huì)根據(jù)不同的測(cè)試進(jìn)行設(shè)定。在測(cè)試過程中，顯示面板周圍也會(huì)存在有靜電，因此，在靜電的作用下會(huì)對(duì)與信號(hào)對(duì)應(yīng)的電壓或者電流產(chǎn)生波動(dòng)，進(jìn)而會(huì)出現(xiàn)影響測(cè)試的效果的問題。并且由于多路選擇器中的電路會(huì)產(chǎn)生一定的漏流，也會(huì)出現(xiàn)影響測(cè)試的效果的問題。因此，在本發(fā)明實(shí)施例中，為了進(jìn)一步的提高測(cè)試效果，在信號(hào)輸入電路中添加了控制開關(guān)，可以實(shí)現(xiàn)降低漏流對(duì)測(cè)試的影響，提高測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性的效果。

圖4為圖1中區(qū)域b的放大示意圖，如圖4所示，在本發(fā)明實(shí)施例中，非顯示區(qū)bb中還包括切割區(qū)24，切割區(qū)24用于在測(cè)試結(jié)束后將信號(hào)輸入電路與顯示面板分離。在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，信號(hào)輸入線221與多條短路線222均可以與切割區(qū)24連接，切割區(qū)24可以包括多條相互獨(dú)立數(shù)據(jù)線212，并且由于數(shù)據(jù)線212是使用金屬體制成，便于在測(cè)試完成后進(jìn)行切割。通過在切割區(qū)進(jìn)行切割，使得非顯示區(qū)bb的面積變小，進(jìn)而能夠?qū)崿F(xiàn)縮小邊框的效果。

圖5為圖1中區(qū)域a的第三放大示意圖，如圖5所示，在本發(fā)明實(shí)施例中，為了在測(cè)試完成后不進(jìn)行切割處理，，可以為每列像素單元對(duì)應(yīng)的第一開關(guān)單元211設(shè)置第二開關(guān)單元224，第二開關(guān)單元224用于在測(cè)試結(jié)束后將信號(hào)輸入電路22與多路選擇電路21斷開。在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，信號(hào)輸入電路22包括多個(gè)第二開關(guān)單元224，每個(gè)第二開關(guān)單元224對(duì)應(yīng)于一個(gè)第一開關(guān)單元211，在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，第二開關(guān)單元224可以是一個(gè)薄膜晶體管。

在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，顯示區(qū)aa的邊緣呈圓形、橢圓形或者多邊形。

在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，信號(hào)輸入電路22和/或多路選擇電路21位于顯示面板的臺(tái)階區(qū)。

本發(fā)明實(shí)施例還給出一種顯示面板的測(cè)試方法，請(qǐng)參考圖6，其為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第一流程示意圖，如圖所示，該方法包括以下步驟：

101、將測(cè)試信號(hào)通過多路選擇電路中的一個(gè)或多個(gè)第一開關(guān)單元向像素單元輸入。

本發(fā)明實(shí)施例中的顯示面板的測(cè)試方法，其可以利用demux中的電路的多路選擇電路，來實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示面板進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試的原理為當(dāng)向多路選擇電路中的一個(gè)或多個(gè)第一開關(guān)單元輸入測(cè)試信號(hào)后，與該一個(gè)或多個(gè)第一開關(guān)單元對(duì)應(yīng)的像素單元可以被點(diǎn)亮，則可以認(rèn)為該一個(gè)或多個(gè)第一開關(guān)單元對(duì)應(yīng)的像素單元可以正常顯示。

在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，第一開關(guān)單元可以是一個(gè)薄膜晶體管，包括信號(hào)輸入端、控制端和信號(hào)輸出端，信號(hào)輸出端與對(duì)應(yīng)的一列像素單元連接，信號(hào)輸入端與數(shù)據(jù)線連接，控制端與對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)線連接，顯示面板中包括多少列像素單元就對(duì)應(yīng)有多少個(gè)第一開關(guān)單元。因此，當(dāng)需要對(duì)某一列像素單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)，向與某一列像素單元對(duì)應(yīng)的第一開關(guān)單元的信號(hào)輸入端輸入測(cè)試信號(hào)，然后向該第一開關(guān)單元的控制端對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)線輸入導(dǎo)通信號(hào)，使得第一開關(guān)單元導(dǎo)通，使得信號(hào)輸入端輸入的測(cè)試信號(hào)從信號(hào)輸出端輸入至像素單元中。

102、若接收到測(cè)試信號(hào)的像素單元全部點(diǎn)亮，則確定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的像素單元顯示正常。

基于上述內(nèi)容，請(qǐng)參考圖7，其為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第二流程示意圖，如圖7所示，該方法在步驟101之后，還包括以下步驟：

103、若接收到測(cè)試信號(hào)的像素單元部分點(diǎn)亮或者沒有點(diǎn)亮，確定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的像素單元出現(xiàn)故障。

可以理解的是，在本發(fā)明實(shí)施例中，點(diǎn)屏測(cè)試用于測(cè)試顯示面板中的像素單元是否可以全部點(diǎn)亮，在像素單元全部點(diǎn)亮?xí)r，確定該顯示面板為良品，像素單元部分點(diǎn)亮或者沒有點(diǎn)亮，則該顯示面板為次品。

因此，若接收到測(cè)試信號(hào)的像素單元全部點(diǎn)亮，則確定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的像素單元顯示正常，進(jìn)而當(dāng)顯示面板中全部的像素單元在接收到測(cè)試信號(hào)后均能點(diǎn)亮，則確定顯示面板可以正常顯示，確定該顯示面板為良品。若接收到測(cè)試信號(hào)的像素單元部分點(diǎn)亮或者沒有點(diǎn)亮，確定測(cè)試信號(hào)對(duì)應(yīng)的像素單元出現(xiàn)故障，則確定顯示面板不可以正常顯示，該面試面板為次品。

基于上述內(nèi)容，請(qǐng)參考圖8，其為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第三流程示意圖，如圖8所示，該方法在步驟101之前，還包括以下步驟：

100、將外部信號(hào)源通過信號(hào)輸入電路與多路選擇電路連接，外部信號(hào)源用于輸出測(cè)試信號(hào)。

在本發(fā)明實(shí)施例中，信號(hào)輸入電路與多路選擇電路連接，因此，當(dāng)外部信號(hào)源與信號(hào)輸入電路連接后，可以將測(cè)試信號(hào)通過信號(hào)輸入電路傳遞至多路選擇電路，進(jìn)而將測(cè)試信號(hào)通過多路選擇電路中的一個(gè)或多個(gè)第一開關(guān)單元向像素單元輸入。

基于上述內(nèi)容，請(qǐng)參考圖9，其為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第四流程示意圖，圖9所示，該方法在步驟102之前，還包括以下步驟：

104、將控制開關(guān)設(shè)置為導(dǎo)通狀態(tài)，使得外部信號(hào)源與信號(hào)輸入電路導(dǎo)通。

在本發(fā)明實(shí)施例中，外部信號(hào)源與信號(hào)輸入電路之間設(shè)置有控制開關(guān)，該控制開關(guān)用于解決在測(cè)試過程中，顯示面板周圍也會(huì)存在有靜電，因此，在靜電的作用下會(huì)對(duì)與信號(hào)對(duì)應(yīng)的電壓或者電流產(chǎn)生波動(dòng)，進(jìn)而會(huì)出現(xiàn)影響測(cè)試的效果的問題。

在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，控制開關(guān)可以是一個(gè)薄膜晶體管，控制開關(guān)的第一端連接外部信號(hào)源，控制開關(guān)的第二端連接信號(hào)輸入電路中的信號(hào)輸入線，控制開關(guān)的第三端連接對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)線，因此在測(cè)試過程中，首先將控制開關(guān)設(shè)置為導(dǎo)通狀態(tài)，即向控制開關(guān)的第三端連接對(duì)應(yīng)的控制信號(hào)線輸入導(dǎo)通信號(hào)，控制開關(guān)導(dǎo)通，使得外部信號(hào)源可以與信號(hào)輸入電路導(dǎo)通。

基于上述內(nèi)容，請(qǐng)參考圖10，其為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第五流程示意圖，如圖10所示，該方法在步驟102或者步驟103之后，還包括以下步驟：

105、在測(cè)試結(jié)束后斷開控制開關(guān)。

可以理解的是，斷開控制開關(guān)，使得外部信號(hào)源與信號(hào)輸入電路斷開，即使外部信號(hào)源仍然在輸入測(cè)試信號(hào)，由于控制開關(guān)處于斷開狀態(tài)，無法向信號(hào)輸入電路輸入測(cè)試信號(hào)。

基于上述內(nèi)容，請(qǐng)參考圖11，其為本發(fā)明實(shí)施例所提供的顯示面板的測(cè)試方法的第六流程示意圖，如圖11所示，該方法在前述內(nèi)容基礎(chǔ)上，還包括以下步驟：

106、在測(cè)試結(jié)束后將信號(hào)輸入電路與顯示面板分離。

在本發(fā)明實(shí)施例中，信號(hào)輸入電路可以設(shè)置在切割區(qū)，便于在測(cè)試完成后進(jìn)行切割。通過在切割區(qū)進(jìn)行切割，使得非顯示區(qū)bb的面積變小，進(jìn)而能夠?qū)崿F(xiàn)縮小邊框的效果。

基于上述內(nèi)容，請(qǐng)參考圖12，其為本發(fā)明實(shí)施例提供的顯示面板的測(cè)試方法的第七流程示意圖，如圖12所示，該方法在前述內(nèi)容基礎(chǔ)上，還包括以下步驟：

107、在測(cè)試結(jié)束后斷開每個(gè)第二開關(guān)單元。

為了防止外部信號(hào)源的信號(hào)沒有及時(shí)切斷，仍然會(huì)有信號(hào)輸入至信號(hào)輸入線，可以為每列像素單元對(duì)應(yīng)的第一開關(guān)單元設(shè)置第二開關(guān)單元，第二開關(guān)單元用于在測(cè)試結(jié)束后將信號(hào)輸入電路與多路選擇電路斷開。在一個(gè)具體的實(shí)現(xiàn)過程中，信號(hào)輸入電路包括多個(gè)第二開關(guān)單元，每個(gè)第二開關(guān)單元對(duì)應(yīng)于一個(gè)第一開關(guān)單元。

因此，在測(cè)試結(jié)束后，斷開每個(gè)第二開關(guān)單元，可以進(jìn)一步防止外部信號(hào)源的信號(hào)沒有及時(shí)切斷。

最后應(yīng)說明的是：以上各實(shí)施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制；盡管參照前述各實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解：其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實(shí)施例技術(shù)方案的范圍。