本公開涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種對比度測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

隨著液晶顯示技術(shù)的發(fā)展，液晶顯示屏應(yīng)用越來越廣泛。液晶顯示屏在開發(fā)、測試、光學部件進行二元化導(dǎo)入節(jié)點等過程中，為保證產(chǎn)品良率，需要對液晶顯示屏的多種光學參數(shù)進行測試，例如亮度、對比度、色域以及色彩分布等等。其中，對比度值是液晶顯示屏的一項較為重要的光學特性，對比度對視覺效果的影響非常關(guān)鍵，一般來說，對比度越大，圖像越清晰醒目，色彩也越鮮明艷麗，而對比度越小，圖像越模糊，故對比度的檢測至關(guān)重要。目前較常采用的檢測方式是人工檢測方式，工作人員通過采集液晶顯示屏黑白畫面下的亮度值，進行人工計算得到對比度值，然后將計算出的對比度值與設(shè)定值進行比較，進而判斷該對比度值是否滿足要求。一般地，采用人工測試對比度的檢測方式，測試過程繁瑣，并且測試效率低，容易出現(xiàn)測試錯誤，測量精度較低。

因此，現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案還存在有待改進之處。

需要說明的是，在上述背景技術(shù)部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構(gòu)成對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本公開的目的在于提供一種對比度測試系統(tǒng)，進而至少在一定程度上克服由于相關(guān)技術(shù)的限制和缺陷而導(dǎo)致的一個或者多個問題。

本公開的其他特性和優(yōu)點將通過下面的詳細描述變得清晰，或者部分地通過本公開的實踐而習得。

根據(jù)本公開的一個方面，提供一種對比度測試系統(tǒng)，包括點燈系統(tǒng)以及測試系統(tǒng)，其中，

所述點燈系統(tǒng)采用待測試顯示屏的bist模式進行自動點燈和黑白畫面的切換，并通過所述測試系統(tǒng)間隔預(yù)設(shè)時間分別獲取所述待測試顯示屏的黑畫面亮度值和白畫面亮度值；

所述對比度測試系統(tǒng)根據(jù)所述黑畫面亮度值和所述白畫面亮度值計算獲得所述待測試顯示屏的對比度值。

在本公開的一種示例性實施例中，所述點燈系統(tǒng)包括第一探針、第二探針和第三探針，所述第一探測、所述第二探針和所述第三探測能夠分別插入所述待測試顯示屏的電路板上預(yù)留的按照預(yù)設(shè)方式排布的三個測試點中，對所述待測試顯示屏進行供電。

在本公開的一種示例性實施例中，所述第一探針為電源電壓輸入探針，所述第二探針為接地探針，所述第三探針為bist模式電壓輸入探針。

在本公開的一種示例性實施例中，所述第一探針、所述第二探針和所述第三探針為能夠收縮的彈性探針。

在本公開的一種示例性實施例中，所述電路板的三個測試點并列放置，且所述三個測試點之間保持預(yù)設(shè)間隔。

在本公開的一種示例性實施例中，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：傳輸系統(tǒng)，所述傳輸系統(tǒng)用于將所述待測試顯示屏傳輸?shù)剿鰧Ρ榷葴y試系統(tǒng)上并將所述待測試顯示屏的中心位置與所述測試系統(tǒng)的光學探頭進行自動對位。

在本公開的一種示例性實施例中，所述傳輸系統(tǒng)包括傳送帶。

在本公開的一種示例性實施例中，當所述待測試顯示屏為液晶顯示屏時，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：光源，所述光源設(shè)置于所述光學探頭的正下方；其中，

所述傳送帶中間設(shè)置有圓孔；

當所述液晶顯示屏放置于所述傳送帶上時，將所述液晶顯示屏的中心位置與所述圓孔進行對位，然后將所述液晶顯示屏通過所述傳送帶傳送至預(yù)設(shè)高度的所述光學探頭的正下方。

在本公開的一種示例性實施例中，所述對比度測試系統(tǒng)還包括：電路板固定裝置，用于所述點燈系統(tǒng)進行點燈時對所述待測試顯示屏進行固定。

在本公開的一種示例性實施例中，還包括：控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)用于將所述對比度值打印并貼附于所述待測試顯示屏上。

本公開某些實施例中的對比度測試系統(tǒng)，通過采用待測試顯示屏的bist模式進行自動點燈和黑白畫面的切換的點燈系統(tǒng)，一方面，不需要操作點燈機，也不需要操作人員進行連線，不用插接連接器，減少了人工接觸待測試顯示屏引起二次不良的風險；另一方面，自動化點燈并切換畫面，不需要人工操作。

應(yīng)當理解的是，以上的一般描述和后文的細節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開。

附圖說明

此處的附圖被并入說明書中并構(gòu)成本說明書的一部分，示出了符合本公開的實施例，并與說明書一起用于解釋本公開的原理。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本公開的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1示出本公開示例性實施例中一種對比度測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2示出本公開示例性實施例中一種點燈系統(tǒng)以及電路板測試點設(shè)置的示意圖。

圖3示出本公開示例性實施例中另一種對比度測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖4示出本公開示例性實施例中一種對比度測試方法的流程示意圖。

具體實施方式

現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實施方式。然而，示例實施方式能夠以多種形式實施，且不應(yīng)被理解為限于在此闡述的范例；所描述的特征、結(jié)構(gòu)或特性可以以任何合適的方式結(jié)合在一個或更多實施方式中。在下面的描述中，提供許多具體細節(jié)從而給出對本公開的實施方式的充分理解。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員將意識到，可以實踐本公開的技術(shù)方案而省略所述特定細節(jié)中的一個或更多，或者可以采用其它的方法、組元、裝置、步驟等。

需要指出的是，在附圖中，為了圖示的清晰可能會夸大層和區(qū)域的尺寸。而且可以理解，當元件或?qū)颖环Q為在另一元件或?qū)印吧稀睍r，它可以直接在其他元件上，或者可以存在中間的層。另外，可以理解，當元件或?qū)颖环Q為在另一元件或?qū)印跋隆睍r，它可以直接在其他元件下，或者可以存在一個以上的中間的層或元件。另外，還可以理解，當層或元件被稱為在兩層或兩個元件“之間”時，它可以為兩層或兩個元件之間唯一的層，或還可以存在一個以上的中間層或元件。通篇相似的參考標記指示相似的元件。

圖1示出本公開示例性實施例中一種對比度測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖1所示，該對比度測試系統(tǒng)10可以包括點燈系統(tǒng)11以及測試系統(tǒng)12。

其中，所述點燈系統(tǒng)11采用待測試顯示屏20的bist模式進行自動點燈和黑白畫面的切換，并通過所述測試系統(tǒng)12間隔預(yù)設(shè)時間分別獲取所述待測試顯示屏20的黑畫面亮度值和白畫面亮度值；所述對比度測試系統(tǒng)10根據(jù)所述黑畫面亮度值和所述白畫面亮度值計算獲得所述待測試顯示屏20的對比度值。

對比度(contrast，以下簡稱為cr)是待測試顯示屏20上同一點最亮(例如l255亮度值)時與最暗(例如l0亮度值)時的亮度的比值。其中，高的對比度意味著較高的亮度和呈現(xiàn)顏色的艷麗程度。因此，在顯示領(lǐng)域，cr是目前關(guān)注的一個關(guān)鍵因素，其值可以用以下公式計算得到：

在示例性實施例中，測試系統(tǒng)12可選用亮度計或圖像傳感器或色彩分析儀等。但不僅限于此，以上例舉的測試系統(tǒng)僅是對本發(fā)明實施例進行的舉例說明而不是限制。

在示例性實施例中，所述點燈系統(tǒng)11可以包括第一探針、第二探針和第三探針，所述第一探測、所述第二探針和所述第三探測能夠分別插入所述待測試顯示屏20的電路板上預(yù)留的按照預(yù)設(shè)方式排布的三個測試點中，對所述待測試顯示屏20進行供電。

在示例性實施例中，對比度測試系統(tǒng)10還可以包括電源系統(tǒng)和控制系統(tǒng)。其中電源系統(tǒng)的電源電壓輸出端電連接點燈系統(tǒng)11的相應(yīng)探針以提供相應(yīng)的電源供應(yīng)，控制系統(tǒng)電連接所述電源系統(tǒng)，在所述控制系統(tǒng)的控制下，點燈系統(tǒng)11的探針扎入待測試顯示屏的電路板(printedcircuitboard，pcb，例如可以為柔性電路板(flexibleprintedcircuit，fpc))上預(yù)留的測試點中或者斷開與測試點的電連接。例如，當控制系統(tǒng)發(fā)出測試指令時，點燈系統(tǒng)11的探針扎入電路板上的相應(yīng)測試點中，對待測試顯示屏20進行供電，該待測試顯示屏20顯示預(yù)設(shè)畫面(例如黑畫面或者白畫面)；當控制系統(tǒng)發(fā)出測試完成指令時，點燈系統(tǒng)11的探針與測試點的電連接斷開，不再對待測試顯示屏20進行供電，待測試顯示屏20關(guān)閉。

圖2示出本公開示例性實施例中一種點燈系統(tǒng)以及電路板測試點設(shè)置的示意圖。

在圖2所示的實施例中，所述第一探針為電源電壓輸入探針(vcc)，所述第二探針為接地探針(gnd)，所述第三探針為bist模式電壓輸入探針(bist)。其中，vcc一般可以為3.3v，bist一般可以為3.3v、2.5v、1.8v等，但本公開不限定于此。

電源電壓輸入探針(vcc)、接地探針(gnd)、bist模式電壓輸入探針(bist)分別連接到所述電源系統(tǒng)的電壓電壓輸出端、接地端和bist模式電壓輸出端，且該電源系統(tǒng)電連接至控制系統(tǒng)，在控制系統(tǒng)的控制下，例如控制系統(tǒng)發(fā)出測試指令時，將該三個探針分別扎入待測試顯示屏的電路板的預(yù)留的用于cr測試的三個測試點中進行點燈，從而為該待測試顯示屏供電，開始顯示黑白畫面。

在示例性實施例中，該待測試顯示屏20的pcb上的tcon芯片中可以預(yù)存好顯示畫面(例如黑白畫面)，不需外接信號發(fā)生器即可在給顯示屏供電后顯示黑白畫面。但本公開并不限定于此，也可以通過

傳統(tǒng)的點燈系統(tǒng)是點燈機，通過轉(zhuǎn)線連接到待測試顯示屏進行點燈并切換畫面。而本發(fā)明實施例采用簡單的三個探針進行點燈，具體例如可以分別為vcc、gnd、bist。在fog(filmonglass)狀態(tài)下，目前的顯示屏設(shè)計都有bist模式，在bist模式下可以自動切換l255，l0，r255，g255，b255共五個畫面，一般可以設(shè)置每個畫面停留2s。在本發(fā)明實施例中bist模式下的各個畫面的停留時間和選擇顯示的畫面以及所選擇的畫面切換的順序可以根據(jù)需求預(yù)先進行設(shè)定，例如，為了進行對比度測試，設(shè)置在bist模式下按照預(yù)設(shè)時間間隔輪流顯示黑畫面(例如l255)和白畫面(例如l0)。因此，通過bist模式測試l0亮度值和l255亮度值可以滿足本發(fā)明實施例中測試cr的要求。

在示例性實施例中，所述第一探針、所述第二探針和所述第三探針為能夠收縮的彈性探針。本發(fā)明實施例采用三個可以伸縮的探針進行點燈，即探針設(shè)置成可伸縮的彈性探針，一方面，可以保證為待測試顯示屏20進行供電時探針扎針后與測試點之間連接的穩(wěn)定性；另一方面，還可以防止探針扎針時對待測試顯示屏20的pcb的壓力過大導(dǎo)致pcb損壞。

繼續(xù)參考圖2的實施例，所述電路板的三個測試點并列放置，且所述三個測試點之間保持預(yù)設(shè)間隔。例如，在pcb上將三個測試點并列放置，并彼此相鄰的兩個測試點之間保持間隔為1mm，這樣就可以進行點燈。之所以三個測試點之間需要保持所述預(yù)設(shè)間隔，是因為如果三個測試點之間的間距太大，會占據(jù)pcb上較大空間；而如果三個測試點之間的間隔太小，彼此之間可能產(chǎn)生干擾。但本公開并不限定于此，三個測試點也可以不并列設(shè)置，且三個測試點相互之間的間隔也不一定為1mm，其可以根據(jù)具體的應(yīng)用場景例如pcb上芯片的結(jié)構(gòu)布局、pcb的面積等選擇合適的間隔，且各相鄰的兩個測試點之間可以是等間隔設(shè)置，也可以是非等間隔設(shè)置。

本發(fā)明實施方式提供的對比度測試系統(tǒng)采用三根探針，針對不同的待測試顯示屏產(chǎn)品都可以自動點燈和切換畫面，不用人工操作，解決了現(xiàn)有技術(shù)中點燈需要專門的線材和對應(yīng)的點燈機、手工進行插拔連接時用力導(dǎo)致fpc折損，以及人工接觸待測試顯示屏(panel)引起二次不良等帶來的技術(shù)問題。

下面以待測試顯示屏20為液晶顯示屏為例進行舉例說明，但本公開并不限定于此，例如還可以是oled等任意其他顯示屏。

圖3示出本公開示例性實施例中另一種對比度測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。

如圖3所示，該對比度測試系統(tǒng)包括點燈系統(tǒng)11和測試系統(tǒng)，其中點燈系統(tǒng)11包括三個探針111、112、113(可以分別為vcc、gnd、bist)，三個探針111、112、113分別能夠扎入待測試顯示屏21(這里假設(shè)為液晶顯示屏)的電路板22上預(yù)留的三個測試點221、222和223。其中，測試系統(tǒng)包括光學探頭121。

由于液晶本身不發(fā)光，因此，在圖3所示的實施例中，該對比度測試系統(tǒng)還可以包括光源14(例如背光)，在測試過程中，光源14為待測試顯示屏21提供充足的亮度與均勻的光源，使待測試顯示屏21能夠正常顯示影像。例如，當背光接收到控制系統(tǒng)輸出的測試指令，執(zhí)行該執(zhí)行指令照亮待測試顯示屏21。

在應(yīng)用該對比度測試系統(tǒng)對同一批次或不同批次的多張顯示屏進行測試時，可以使用同一背光，不用更換。由于待測試顯示屏的規(guī)格可能不同，其正常工作所需要的光源的亮度也可能不同，則相應(yīng)的背光所需要的電流大小不同，因此，還可以包括用于調(diào)節(jié)向所述背光的電源輸入端子輸出的電流大小的電流調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，操作人員可通過旋轉(zhuǎn)電流調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)或者控制系統(tǒng)根據(jù)待測試顯示屏的規(guī)格自動調(diào)節(jié)輸出的電流大小。

由于測試系統(tǒng)的光學探頭121與光源14的距離和角度會影響使用測試系統(tǒng)的光學探頭121測量待測試顯示屏21的對比度，因此，為了更加準確的測量，可使測試系統(tǒng)的光學探頭121與待測試顯示屏21的距離固定。同時，由于光源14與待測試顯示屏21的距離和角度均會影響待測試顯示屏21表里面的照度，從而影響使用測試系統(tǒng)的光學探頭121對待測試顯示屏21對比度的測量，因此，可使光源14與待測試顯示屏21的距離和角度均固定，避免光源14與待測試顯示屏21的距離和角度對測試結(jié)果的影響。

在圖3所示的實施例中，在測試時，使光學探頭121、待測試顯示屏21的中心位置以及光源14處于同一垂直線上，且光學探頭121與待測試顯示屏21之間的垂直距離固定，例如為2mm，同時光源14設(shè)置于光學探頭121的正下方。但本公開不限定于此，可以根據(jù)對比度測試要求，設(shè)置光學探頭121與待測試顯示屏21之間合適的垂直距離。其中，如果光學探頭121與待測試顯示屏21之間的垂直距離太遠可能有外部光線影響測試結(jié)果的準確性，而如果太近則可能會導(dǎo)致光學探頭121接觸待測試顯示屏21導(dǎo)致二次不良，因此，需要對測試系統(tǒng)的光學探頭的伸出長度有所控制。

在示例性實施例中，還可以在光學探頭121上加入壓力傳感器，當發(fā)生光學探頭121接觸到待測試顯示屏21等異常情況時，壓力傳感器檢測到壓力就停止光學探頭121繼續(xù)伸出。

在示例性實施例中，還可以在光學探頭121上加橡膠等有彈性的材料，這樣即使光學探頭121不小心接觸到待測試顯示屏121，也不會對待測試顯示屏121造成二次不良。

在示例性實施例中，所述對比度測試系統(tǒng)還可以包括：傳輸系統(tǒng)，所述傳輸系統(tǒng)用于將所述待測試顯示屏21傳輸?shù)剿鰧Ρ榷葴y試系統(tǒng)上并將所述待測試顯示屏21的中心位置與所述測試系統(tǒng)的光學探頭121進行自動對位。

在示例性實施例中，所述傳輸系統(tǒng)可以包括驅(qū)動器、動力輸出裝置、至少一條傳送帶和/或機械手，所述傳送帶和/或機械手可設(shè)置一個或者多個。該傳輸系統(tǒng)的工作原理為：驅(qū)動器接收到控制系統(tǒng)輸出的傳輸指令或停止傳輸指令后輸出或停止輸出驅(qū)動信號；動力輸出裝置接收驅(qū)動器輸出的驅(qū)動信號，并依據(jù)該驅(qū)動信號向外輸出動力；傳送帶或機械手在動力輸出裝置輸出的動力作用下執(zhí)行動作。

繼續(xù)參考圖3，以所述傳輸系統(tǒng)包括傳送帶13為例進行說明，但本公開不限定于此。傳送帶13接收所述控制系統(tǒng)輸出的傳輸指令、停止傳輸指令或測試完成指令，并依據(jù)指令執(zhí)行傳輸、停止傳輸或?qū)⒋郎y試顯示屏21傳送出所述傳送帶13。

在示例性實施例中，傳送帶13的電機可以選擇用步進電機(圖中未示出)，可以用pwm(pulsewidthmodulation，脈沖寬度調(diào)制)波控制步進電機，可以精確控制轉(zhuǎn)動的角度，保證下述對位的精確性。其中，步進電機是將電脈沖信號轉(zhuǎn)變?yōu)榻俏灰苹蚓€位移的開環(huán)控制元步進電機件。在非超載的情況下，步進電機的轉(zhuǎn)速、停止的位置只取決于脈沖信號的頻率和脈沖數(shù)，而不受負載變化的影響，當步進電機接收到一個脈沖信號，它就驅(qū)動步進電機按設(shè)定的方向轉(zhuǎn)動一個固定的角度，稱為“步距角”，它的旋轉(zhuǎn)是以固定的角度一步一步運行的?？梢酝ㄟ^控制脈沖個數(shù)來控制角位移量，從而達到準確定位的目的；同時可以通過控制脈沖頻率來控制電機轉(zhuǎn)動的速度和加速度，從而達到調(diào)速的目的。可以預(yù)先通過設(shè)置好脈沖的個數(shù)，來設(shè)定步進電機旋轉(zhuǎn)的角度，進而控制傳送帶移動的距離；或者，也可以通過設(shè)置步進電機的旋轉(zhuǎn)角度，來控制傳送帶的移動距離。

在圖3所示的實施例中，傳送帶13的中間設(shè)置有一鏤空的圓孔131。當所述液晶顯示屏21放置于所述傳送帶13上時，要進行對位，確保鏤空圓孔131在液晶顯示屏21的中心位置，即首先將所述液晶顯示屏21的中心位置與所述傳送帶13上的圓孔131進行對位，然后將所述液晶顯示屏21通過所述傳送帶13傳送，圓孔131到達至預(yù)設(shè)高度(例如2mm)的所述光學探頭121的正下方時，傳送帶13停止傳送。此時，鏤空的圓孔131下方為背光14，光可以通過圓孔131到達液晶顯示屏21上。然后，點燈系統(tǒng)的探針進行對位找到電路板上相應(yīng)測試點位置，并壓合送電。

在示例性實施例中，將所述液晶顯示21屏的中心位置與所述圓孔131進行對位可以通過傳感器或限位裝置或者標記(mark)限位等任意的對位方式，實時監(jiān)測經(jīng)所述傳送帶13傳輸?shù)拇郎y試顯示屏21是否已到達所述圓孔131的位置，并向所述控制系統(tǒng)輸出監(jiān)測到位信號。

在示例性實施例中，將液晶顯示屏21的中心位置、傳送帶13的圓孔131、光學探頭121、光源14進行對位，可以采用任意的對位方式均可，例如mark對位，本公開對此不作限定，只要保證測試時光學探頭、panel的中心位置、傳送帶上的圓孔、背光對準即可。

在示例性實施例中，所述傳輸系統(tǒng)可以也可以傳送帶和機械手同時使用，即在將待測試顯示屏21的中心位置與圓孔131對位時，機械手在驅(qū)動器的作用下可用于將待測試顯示屏21放置在傳送帶13上，對位后，傳送帶13可以將待測試顯示屏21傳送至對比度測試系統(tǒng)下方；在測試完成時，待測試顯示屏21可通過機械手取出傳送帶，也可通過傳送帶進入下游物料臺或其他工作臺。這樣，可以進一步提高測試效率。

在圖3所示的實施例中，是采用光學探頭121以及光源14在豎直方向上固定而移動待測試顯示屏21的方式來實現(xiàn)對比度測試時的對位，但本公開不限定于此，例如還可以采用待測試顯示屏21固定而移動光學探頭121和/或光源14的方式來實現(xiàn)對比度測試時的對位。

在示例性實施例中，將所述液晶顯示屏21通過所述傳送帶13傳送至預(yù)設(shè)高度的所述光學探頭121的正下方，所述控制系統(tǒng)輸出測試指令后所述待測試顯示屏21的電路板按照預(yù)設(shè)程序輸出驅(qū)動信號，并將該驅(qū)動信號輸入至所述待測試顯示屏21中進行點燈檢測。

產(chǎn)線作業(yè)的正常流程是：fogbonding-點膠-fog點燈測試，點燈后液晶顯示屏21放在傳送帶13上往后續(xù)工序傳送。本發(fā)明實施例的對比度測試系統(tǒng)放置在點膠工位后，點膠后的液晶顯示屏21傳送到cr測試系統(tǒng)上。

其中fog(filmonglass)，即電路板搭載在玻璃面板上的組合，表示貼完偏光片以及綁定芯片和電路板后的產(chǎn)品形態(tài)；與fog對應(yīng)的另一種狀態(tài)是模組mdl(module)狀態(tài)，即表示貼完偏光片、綁定芯片和柔性電路板以及貼完背光模組后的產(chǎn)品形態(tài)。

本發(fā)明實施例采用自動化的方式對fog狀態(tài)的顯示屏進行crsorting，可以監(jiān)控cr狀態(tài)并攔截不良品，防止不良品流入后端浪費資材。

需要說明的是，上述的實施例中是以待測試顯示屏為液晶顯示屏為例進行舉例說明的，但實際上，本公開的方案可以應(yīng)用于任意的顯示屏，例如oled，當待測試顯示屏為oled時，由于其不需要背光，此時該對比度測試系統(tǒng)的傳送帶上可以不預(yù)先設(shè)置圓孔131，且該傳送帶下面可以不放置光源14。

在示例性實施例中，所述對比度測試系統(tǒng)還可以包括：電路板固定裝置(圖中未示出)，用于所述點燈系統(tǒng)11進行點燈時對所述待測試顯示屏21進行固定。例如，為了保證探針(111、112、113)扎針送電時的穩(wěn)定性，本發(fā)明實施例還可以在pcb22下方設(shè)置真空吸嘴，這樣可以對pcb22進行固定，防止在扎針送電過程中pcb22發(fā)生移動，影響點燈。但本公開不限于用真空吸嘴的固定方式，例如還可以采用夾緊裝置夾緊該pcb22，但是夾緊裝置可能對pcb22用力造成折損，而真空吸嘴不會對待測試顯示屏造成損傷。

本發(fā)明實施例中，可以采用色彩分析儀(例如ca310)測試l0和l255畫面的亮度，并進行計算得到該待測試顯示屏21的cr測試結(jié)果。

在示例性實施例中，所述控制系統(tǒng)可以為單片機(51系列，arm芯片，msp430等)為核心的嵌入式系統(tǒng)進行控制，或者通過pc機編程對整個對比度測試系統(tǒng)進行控制、調(diào)控?？刂葡到y(tǒng)用于控制整個對比度測試系統(tǒng)有序的工作。下面的實施例中以所述控制系統(tǒng)為pc為例進行說明。

本發(fā)明實施例中可以采用ca310搭配pc進行控制計算。ca310用于對待測試顯示屏的黑畫面亮度值和白畫面亮度值進行測量，pc機可以通過例如usb接口連接ca310，讀取ca310每次測試的亮度值并進行計算得到cr值。

在示例性實施例中，所述控制系統(tǒng)還可以用于將所述對比度值打印成標簽15并貼附于所述待測試顯示屏21上。本發(fā)明實施例中，cr測試結(jié)果可以通過pc控制系統(tǒng)打印并粘貼在panel上，便于后續(xù)工位進行分級。

在示例性實施例中，pc機可以記錄整個批次panel的cr情況，便于后期進行產(chǎn)品性能監(jiān)控和分析。

在示例性實施例中，該對比度測試系統(tǒng)還可以包括報警系統(tǒng)，當對比度測試過程中存在異常情況時，例如光學探頭接觸到panel時，進行報警。

cr的測試需要測試l255和l0畫面的亮度，影響該測試結(jié)果的主要有以下因素：(1)測試系統(tǒng)的光學探頭的對位情況，為了保持測試的準確性，可以將光學探頭垂直于待測試顯示屏；(2)測試環(huán)境的照度，要求環(huán)境照度低，不能影響l0的亮度測量；(3)背光的亮度，理論上背光亮度對cr沒有影響，但是實測結(jié)果發(fā)現(xiàn)有輕微的影響；(4)光學探頭到待測試顯示屏的距離。光學探頭不能和待測試顯示屏接觸，否則會導(dǎo)致屏變形，產(chǎn)生漏光，也不能過遠，否則外接的光線可能會影響測試結(jié)果的準確性。

現(xiàn)有的測試方法是在模組組裝好后，進行點燈，并手工用ca310等測試l0和l255畫面下的亮度值，并計算得到對比度值。用該方法存在測試麻煩，消耗時間長，并且在測試過程中容易引起二次不良，如psmura(支撐柱變形，顯示異常)，fpc折損等問題。同時，cr的測試和作業(yè)手法有相關(guān)性，光學探頭的對位情況(到待測試顯示屏panel的距離和傾角)對測試結(jié)果有一定影響。因此，目前針對cr的檢測只能通過抽檢，來衡量整個批次產(chǎn)品的cr特性。但是有些panel之間會有差異，例如rubbing方向(液晶顯示器制造技術(shù)中的摩擦工藝，是指用柔軟的布，以一定方向在配向膜的表面摩擦，從而使液晶依一定方向排列的溝槽)，pol(偏光片)貼附等情況等都會cr有影響，這樣的抽檢結(jié)果不準確，容易讓不良品流入客戶，或者發(fā)現(xiàn)有不良后，產(chǎn)線沒有進行cr分類(sorting)出貨的可操作性，影響產(chǎn)品量產(chǎn)和出貨。

本發(fā)明實施例通過探針，用bist模式快速點燈來進行cr測試，測試流程全自動處理，并且可以自動打印貼附測試結(jié)果，將cr值由信賴性結(jié)果變成可以全部監(jiān)控的產(chǎn)品特性，降低出貨風險，減少開發(fā)周期和難度(例如10.1wu(分辨率)因cr問題，2％左右的crlow不良，影響了產(chǎn)品開發(fā)難度和周期)，解決了現(xiàn)有技術(shù)產(chǎn)線對cr的測試只能手工進行，無法對cr進行100％監(jiān)控和無法對cr不良進行攔截的問題，進而提高了產(chǎn)品的量產(chǎn)和出貨。

本發(fā)明實施方式提供的對比度測試系統(tǒng)，一方面，采用三根探針，針對不同的產(chǎn)品都能夠?qū)崿F(xiàn)快速自動點燈和自動切換測試畫面，而現(xiàn)有技術(shù)中的點燈需要專門的線材和對應(yīng)的點燈機，手工進行插拔連接，再進行點燈并切換畫面。另一方面，本發(fā)明實施例中還可以實現(xiàn)通過控制系統(tǒng)自動對位測量亮度。再一方面，本發(fā)明實施例中還可以通過控制系統(tǒng)自動計算對比度值并記錄測試結(jié)果，而傳統(tǒng)的測試方法需要手工記錄測試亮度并計算結(jié)果，本發(fā)明實施例可以通過pc機讀取亮度測試結(jié)果，計算cr值并打印貼附在顯示屏上。每片顯示屏的測試結(jié)果可以記錄在對比度測試系統(tǒng)中，便于后續(xù)整體分析。此外，本發(fā)明實施例中的對比度測試系統(tǒng)是一種全自動測試系統(tǒng)，傳統(tǒng)的測試方法需要人員對應(yīng)，本公開實施例的對比度測試系統(tǒng)全自動進行，從panel的傳送、點燈、cr的測試計算、cr值的打印貼附以及測試結(jié)果的統(tǒng)計等等。下面參考下表一的一個實測結(jié)果進行對比說明。

本發(fā)明實施方式提供了一種對比度測試系統(tǒng)，可以快速全自動進行顯示屏對比度的測試，該對比度測試系統(tǒng)包括了點燈系統(tǒng)、傳輸系統(tǒng)、測試系統(tǒng)、控制系統(tǒng)等。通過該對比度測試系統(tǒng)可以快速對fog狀態(tài)的顯示屏進行對比度測試、分類，防止不良品流入客戶端，并且在fog狀態(tài)就進行攔截不良產(chǎn)品，與模組狀態(tài)攔截相比可以降低成本，快速進行設(shè)備的自動檢測，還可以降低手動測試引起的各種二次不良(例如psmura)，提高良率。同時還解決了產(chǎn)線無法對顯示屏對比度進行100％測試并攔截不良的困難。

圖4示出本公開示例性實施例中一種對比度測試方法的流程示意圖。這里還是以待測試顯示屏為液晶顯示屏為例進行說明的，如果待測試顯示屏為oled，則可以做適應(yīng)性的調(diào)整和修改。

如圖4所示，該對比度測試方法可以包括以下步驟：

在步驟s100中，待測試顯示屏放入傳送帶后和所述傳送帶上的圓孔對位。

例如，將待測試顯示屏的中心位置與傳送帶的鏤空圓孔對準。

在步驟s110中，將所述待測試顯示屏傳送到測試系統(tǒng)的光學探頭下方。

例如，將待測試顯示屏的中心位置與傳送帶的鏤空圓孔對準后，傳送帶將該待測試顯示屏傳送到測試系統(tǒng)的光學探頭的正下方。此時通過對位調(diào)節(jié)，可以實現(xiàn)待測試顯示屏的中心位置、光學探頭、光源、圓孔四者的在豎直方向上的對準。

在步驟s120中，探針識別電路板上的測試點進行對位。

例如，點燈系統(tǒng)的探針識別電路板上的相應(yīng)測試點并進行對位。

在步驟s130中，探針電源打開供電。

例如，對位之后，控制系統(tǒng)發(fā)出測試指令，響應(yīng)于該測試指令，與探針電連接的電源系統(tǒng)打開，探針扎入電路板上的相應(yīng)測試點，對待測試顯示屏進行供電，開始測試。

在步驟s140中，光學探頭伸出。

其中，光學探頭伸出的距離不能接觸到待測試顯示屏，以避免對待測試顯示屏造成損傷，另一方面，光學探頭也不能距離待測試顯示屏太遠，避免外界光線對測試結(jié)果的準確性造成影響。

在步驟s150中，背光打開。

背光發(fā)出的光通過傳送帶上的圓孔照射待測試顯示屏，以供其正常顯示影像。其中，可以根據(jù)待測試顯示屏的規(guī)格調(diào)節(jié)背光的電流大小。

在步驟s160中，測試l255亮度值。

需要說明的是，雖然本發(fā)明實施例中，以先測試黑畫面亮度值為例進行說明，但實際上，也可以先測試白畫面亮度值，然后間隔預(yù)設(shè)時間后再測試黑畫面亮度值，本公開對此不作限定。

在步驟s170中，間隔5s后，測試l0亮度值。

需要說明的是，雖然本發(fā)明實施例中，目前ca310的測試時間為3s左右，將黑白畫面的亮度值的測試間隔時間設(shè)置為5s，但本公開對此不作限定。其中，測試l255和l0亮度的時間間隔可以由bist模式的設(shè)置和光學探頭的靈敏度決定。bist模式中畫面的切換順序和時間間隔可以自由設(shè)置。因此，實際黑白畫面的亮度值的測試的時間間隔可以根據(jù)實際情況進行調(diào)整。其中，在bist模式設(shè)置的時間間隔一定的情況下，光學探頭越靈敏，測試時間間隔可以設(shè)置的越短。

在示例性實施例中，所述方法還可以包括：在步驟s180中，根據(jù)步驟s160獲得的l255亮度值和步驟s170中的l0亮度值，計算獲得該待測試顯示屏的對比度，并將測試結(jié)果打印在該待測試顯示屏上。

在示例性實施例中，為了匹配產(chǎn)線的機器節(jié)拍，還可以一條主線裝置兩臺cr測試系統(tǒng)，并列運行。

在示例性實施例中，測試系統(tǒng)和標簽打印可以異步進行，即測試第n片顯示屏時，測試結(jié)果打印貼附第n-1片顯示屏，這樣可以減少整個的機器作業(yè)周期，提高產(chǎn)能。

本發(fā)明提供的優(yōu)選實施方式不能理解為對本發(fā)明保護范圍的限定。

此外，上述驅(qū)動方法法中各步驟的具體細節(jié)已經(jīng)在對應(yīng)的對比度測試系統(tǒng)中進行了詳細的描述，因此此處不再贅述。而且，盡管在附圖中以特定順序描述了本公開中方法的各個步驟，但是，這并非要求或者暗示必須按照該特定順序來執(zhí)行這些步驟，或是必須執(zhí)行全部所示的步驟才能實現(xiàn)期望的結(jié)果。附加的或備選的，可以省略某些步驟，將多個步驟合并為一個步驟執(zhí)行，以及/或者將一個步驟分解為多個步驟執(zhí)行等。

本領(lǐng)域技術(shù)人員在考慮說明書及實踐這里公開的發(fā)明后，將容易想到本公開的其它實施方案。本申請旨在涵蓋本公開的任何變型、用途或者適應(yīng)性變化，這些變型、用途或者適應(yīng)性變化遵循本公開的一般性原理并包括本公開未公開的本技術(shù)領(lǐng)域中的公知常識或慣用技術(shù)手段。說明書和實施例僅被視為示例性的，本公開的真正范圍和精神由所附的權(quán)利要求指出。