本發(fā)明涉及液晶顯示技術領域，具體而言涉及一種液晶顯示面板的測試方法及測試裝置。

背景技術：

LCD(Liquid Crystal Display,液晶顯示器)由于輕薄化和低功耗等優(yōu)點，是目前市場中的主流顯示裝置，而在產(chǎn)品生產(chǎn)過程中，為了提高產(chǎn)品良率，需要對液晶顯示面板進行成盒測試(Cell test)。

液晶顯示面板的工作原理是：在陣列基板(Array Substrate)和彩色濾光片基板(Color Filter Substrate)上分別施加灰階電壓和公共(V-com)電壓來控制液晶分子的偏轉方向，以將背光模組的光線折射出來產(chǎn)生畫面。其中，灰階電壓和公共電壓可視為灰階電壓信號和公共電極信號，當公共電壓位于灰階電壓的正負極性偏轉中心時，液晶顯示面板的顯示效果最佳。然而，每一液晶顯示面板的實際制程情況不同，導致公共電壓偏離灰階電壓的正負極性偏轉中心，使得液晶顯示面板出現(xiàn)閃爍(flicker)現(xiàn)象，從而影響成盒測試階段人工檢測的準確性。

技術實現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明實施例提供一種液晶顯示面板的測試方法及測試裝置，能夠針對液晶顯示面板的實際情況調節(jié)公共電極信號，減少閃爍現(xiàn)象的發(fā)生，提高成盒測試階段人工檢測的準確性。

本發(fā)明一實施例的液晶顯示面板的測試方法，所述方法應用于液晶顯示面板的測試裝置，所述測試裝置包括探針組、信號源以及閃爍測量儀，探針組連接待測試的液晶顯示面板的成盒測試墊，信號源分別與探針組和閃爍測量儀連接，所述方法包括：信號源為液晶顯示面板提供公共電極信號，使得液晶顯示面板顯示閃爍畫面；閃爍測量儀測量獲得液晶顯示面板當前的閃爍值，并將閃爍值反饋給信號源；信號源調整公共電極信號并將調整后的公共電極信號施加給液晶顯示面板，直至閃爍測量儀獲得的閃爍值最??；信號源將閃爍值最小時的公共電極信號施加給液晶顯示面板，以進行成盒測試。

其中，在閃爍測量儀測量獲得液晶顯示面板當前的閃爍值之前，所述方法還包括：沿預定方向的軌道移動閃爍測量儀以掃描液晶顯示面板，所述預定方向平行于液晶顯示面板的一側邊；在信號源將閃爍值最小時的公共電極信號施加給液晶顯示面板之前，所述方法還包括：將閃爍測量儀沿軌道移動至液晶顯示面板之外。

其中，所述軌道包括沿預定方向布置的滑槽及垂直于滑槽的支架，支架的一端與閃爍測量儀固定連接，支架的另一端與滑槽可移動連接。

其中，所述信號源調整公共電極信號并將調整后的公共電極信號施加給液晶顯示面板，直至閃爍測量儀獲得的閃爍值最小，包括：判斷調整后的相鄰兩次獲得的閃爍值是否變?。辉谙噜弮纱潍@得的閃爍值相等時，判定閃爍值最小。

本發(fā)明一實施例的液晶顯示面板的測試裝置，包括：探針組，用于連接待測試的液晶顯示面板的成盒測試墊；信號源，用于通過探針組為液晶顯示面板提供公共電極信號，使得液晶顯示面板顯示閃爍畫面；閃爍測量儀，用于測量獲得液晶顯示面板當前的閃爍值，并將閃爍值反饋給信號源；信號源還用于調整公共電極信號并將調整后的公共電極信號施加給液晶顯示面板，直至閃爍測量儀獲得的閃爍值最小；信號源進一步用于將閃爍值最小時的公共電極信號施加給液晶顯示面板，以進行成盒測試。

其中，所述裝置還包括沿預定方向設置的軌道，用于沿預定方向移動閃爍測量儀以掃描液晶顯示面板，以及將閃爍測量儀沿軌道移動至液晶顯示面板之外，所述預定方向平行于液晶顯示面板的一側邊。

其中，所述軌道包括沿預定方向布置的滑槽及垂直于滑槽的支架，支架的一端與閃爍測量儀固定連接，支架的另一端與滑槽可移動連接。

其中，信號源用于判斷調整后的相鄰兩次獲得的閃爍值是否變小，并在相鄰兩次獲得的閃爍值相等時，判定閃爍值最小。

其中，所述裝置還包括背光模組，用于為液晶顯示面板提供光源。

有益效果：本發(fā)明實施例根據(jù)每一液晶顯示面板當前的閃爍值調整公共電極信號，直至液晶顯示面板的閃爍值最小，即針對液晶顯示面板的實際情況調節(jié)公共電極信號直至得到最佳公共電極信號，以此減少閃爍現(xiàn)象的發(fā)生，從而提高成盒測試階段人工檢測的準確性。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的液晶顯示面板的測試裝置一實施例的結構俯視圖；

圖2是圖1所示液晶顯示面板的測試裝置的結構側視圖；

圖3是本發(fā)明的液晶顯示面板的測試方法一實施例的流程示意圖。

具體實施方式

下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明所提供的各個示例性的實施例的技術方案進行清楚、完整地描述。在不沖突的情況下，下述各個實施例以及實施例中的特征可以相互組合。并且，本發(fā)明全文所采用的方向性術語，例如“上”、“下”等措辭，均是為了更好的描述各個實施例，并非用于限制本發(fā)明的保護范圍。

請參閱圖1和圖2，為本發(fā)明一實施例的液晶顯示面板的測試裝置。所述測試裝置10包括探針組11、信號源12、閃爍測量儀13、軌道14以及背光模組15。

背光模組15用于為待測試的液晶顯示面板20提供畫面顯示所需的光源。

探針組11包括多個探針，用于分別連接待測試的液晶顯示面板20的多個成盒測試墊21，從而為液晶顯示面板20提供顯示畫面所需的信號。例如，如圖1所示，探針組11包括多個探針111和多個探針112，探針111用于與液晶顯示面板20的柵極線連接以提供柵極驅動信號，探針112用于與液晶顯示面板20的數(shù)據(jù)線連接以提供灰階電壓信號。當然，所述探針組11還包括用于與液晶顯示面板20的公共電極連接的探針，以為液晶顯示面板20提供公共電極信號。

信號源12用于通過探針組11為液晶顯示面板20提供各種信號，例如公共電極信號，使得液晶顯示面板20顯示閃爍畫面。

閃爍測量儀13用于測量獲得液晶顯示面板20當前的閃爍值，又稱flicker值，并將該閃爍值反饋給信號源12?？蛇x地，閃爍測量儀13固定于軌道14的支架141的一端，且如圖1所示，閃爍測量儀13位于液晶顯示面板20的上方，支架141的另一端與滑槽142可移動連接，滑槽142沿平行于液晶顯示面板20的一側邊的預定方向布置，支架141垂直于該預定方向。例如，滑槽142沿水平方向設置且支架141沿豎直方向設置，閃爍測量儀13沿水平方向移動以掃描液晶顯示面板20，從而測量獲得液晶顯示面板20當前的閃爍值。

信號源12調整公共電極信號并將調整后的公共電極信號施加給液晶顯示面板20，直至閃爍測量儀13獲得的閃爍值最小。也就是說，信號源12將公共電極信號調整至適用于該液晶顯示面板20的最佳公共電極信號，此時公共電極信號位于灰階電壓信號的正負極性偏轉中心，液晶顯示面板20不發(fā)生閃爍現(xiàn)象或者說人眼識別不到閃爍現(xiàn)象。具體地，信號源12(內置的處理器)判斷調整后的相鄰兩次獲得的閃爍值是否變小，如果相鄰兩次獲得的閃爍值相等，則判定閃爍值最??；如果相鄰兩次中后一次獲得的閃爍值小于前一次獲得的閃爍值。則繼續(xù)調整公共電極信號，直至相鄰兩次獲得的閃爍值相等。

信號源12進一步用于將閃爍值最小時的公共電極信號施加給液晶顯示面板20，以進行成盒測試。其中，在人工檢測液晶顯示面板20之前，本實施例將閃爍測量儀13沿軌道14移動至液晶顯示面板20所在區(qū)域之外，例如圖1中虛線所示區(qū)域。

結合圖3所示，由本實施例的測試裝置10對液晶顯示面板20進行成盒測試的工作原理及過程可以包括以下步驟S31～S34。

S31：信號源為液晶顯示面板提供公共電極信號，使得液晶顯示面板顯示閃爍畫面。

S32：閃爍測量儀測量獲得液晶顯示面板當前的閃爍值，并將閃爍值反饋給信號源。

S33：信號源調整公共電極信號并將調整后的公共電極信號施加給液晶顯示面板，直至閃爍測量儀獲得的閃爍值最小。

S34：信號源將閃爍值最小時的公共電極信號施加給液晶顯示面板，以進行成盒測試。

由上述可知，與現(xiàn)有技術不同的是，本發(fā)明實施例能夠根據(jù)每一液晶顯示面板20當前的閃爍值調整公共電極信號，即針對每一液晶顯示面板20的實際情況調節(jié)公共電極信號直至得到最佳公共電極信號，以此減少閃爍現(xiàn)象的發(fā)生，從而避免閃爍對人眼的影響，提高成盒測試階段人工檢測的準確性。

其中，閃爍測量儀13測量獲得閃爍值以及信號源12調整公共電極信號的原理及過程，可參閱現(xiàn)有技術，此處不再贅述。

應理解，以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，例如各實施例之間技術特征的相互結合，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內。