本發(fā)明涉及檢測(cè)領(lǐng)域，尤其涉及一種電容式觸控面板檢測(cè)系統(tǒng)和方法。

背景技術(shù)：

觸控感測(cè)線(xiàn)(touchsensor)一般都是指鍍上ito導(dǎo)電層的觸控導(dǎo)電玻璃(itoglass)，或是觸控導(dǎo)電薄膜(itofilm)。電容式觸控面板的感測(cè)線(xiàn)一般需要在ito層上刻蝕出各種圖案。圖1為本發(fā)明電容式觸控面板感測(cè)線(xiàn)的平面結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，觸控感測(cè)線(xiàn)包括行感測(cè)線(xiàn)201、列感測(cè)線(xiàn)203、給行感測(cè)與列感測(cè)提供電壓信號(hào)的驅(qū)動(dòng)電路206，以及連接驅(qū)動(dòng)電路206與感測(cè)線(xiàn)的導(dǎo)線(xiàn)205。行感測(cè)線(xiàn)201由多個(gè)行感測(cè)pad202組成，列感測(cè)線(xiàn)203由多個(gè)列感測(cè)pad204組成。行感測(cè)pad之間通過(guò)同層導(dǎo)線(xiàn)或者不同層的橋接導(dǎo)線(xiàn)實(shí)現(xiàn)電學(xué)連接。列感測(cè)pad之間通過(guò)不同層的橋接導(dǎo)線(xiàn)或者同層導(dǎo)線(xiàn)實(shí)現(xiàn)電學(xué)連接。

現(xiàn)有電容式觸控面板的感測(cè)線(xiàn)檢測(cè)是在全部制作工藝完成后，給ic通電，根據(jù)輸出的波形判斷缺陷的位置。通過(guò)對(duì)驅(qū)動(dòng)電路204通電，檢測(cè)觸控感測(cè)線(xiàn)的波形斷缺陷的位置，但此方法不利于及早發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，而且當(dāng)觸控傳感器的圖案為單層ito結(jié)構(gòu)時(shí)，無(wú)法準(zhǔn)確定位缺陷出現(xiàn)的具體位置。

電容式觸控又稱(chēng)為靜電電容式觸控，是在手指觸摸面板后，通過(guò)捕捉從面板表面流走的電荷，確定觸控位置的方法。電容式觸控技術(shù)是利用手指等帶電體的觸控引起靜電電容變化，通過(guò)感測(cè)電路計(jì)算發(fā)生電容變化地方的x軸和y軸坐標(biāo)來(lái)確定觸控位置。

靜電電容流過(guò)人體的電流非常微弱，不同于脫毛衣時(shí)候產(chǎn)生的靜電。如圖2(a)所示，驅(qū)動(dòng)電路206給行感測(cè)線(xiàn)201與列感測(cè)線(xiàn)203施加一定的電壓信號(hào)后，在行感測(cè)pad202與列感測(cè)pad204之間會(huì)形成一個(gè)水平電場(chǎng)。如圖2(b)所示，當(dāng)手指接觸觸控面板時(shí)，手指與觸控面板上的感測(cè)電極之間會(huì)耦合形成一個(gè)手指電容cf，同時(shí)手指與地之間的人體也存在一個(gè)大電容cb。對(duì)觸控面板上的感測(cè)電極而言，cf和cb是兩個(gè)串聯(lián)電容。因?yàn)槿梭w電容cb的大小比手指電容cf至少高出一個(gè)數(shù)量級(jí)，所以感測(cè)電極通過(guò)手指到地面的通道上，手指電容cf起支配作用。由于手指電容cf的存在，行感測(cè)pad202與列感測(cè)pad204之間的水平電場(chǎng)發(fā)生變化，通過(guò)檢出這個(gè)變化量就可以確定手指觸控的具體位置。

電容式觸控面板在生產(chǎn)制作過(guò)程中，需要進(jìn)行功能測(cè)試，功能測(cè)試主要分為感測(cè)測(cè)試、fog(filmonglass)測(cè)試和成品測(cè)試三個(gè)部分。

感測(cè)測(cè)試是在感測(cè)來(lái)料切割以后必須要做的第一道工序，檢測(cè)的結(jié)果直接關(guān)系到整個(gè)電容式觸控面板的后端生產(chǎn)。因?yàn)殡娙菔接|控面板的感測(cè)由行感測(cè)線(xiàn)與列感測(cè)線(xiàn)垂直交叉構(gòu)成，每一個(gè)通道都是由設(shè)計(jì)好的ito電橋構(gòu)成，可以用萬(wàn)用表對(duì)感測(cè)上面的每個(gè)通道進(jìn)行測(cè)量，從而判斷其斷路與短路情況。但是，這樣做的效率極其低下，根本就無(wú)法去實(shí)施大批量生產(chǎn)的需求，因此，感測(cè)測(cè)試治具就顯得尤為重要。

fog測(cè)試是在感測(cè)功能測(cè)試和外觀(guān)檢驗(yàn)合格之后，進(jìn)行的第二道關(guān)鍵性測(cè)試，它將直接影響到后面的貼合。fog測(cè)試主要是通過(guò)電腦和相關(guān)的配套測(cè)試軟件來(lái)進(jìn)行，分析fog后ctp半成品的通斷短路所有情況。

成品測(cè)試是在成品入庫(kù)之前所做的最后一道產(chǎn)品檢測(cè)，具體類(lèi)似于fog測(cè)試，檢測(cè)電容式觸控面板成品是否功能一切正常。

電容式觸控面板的功能檢測(cè)本質(zhì)就是要檢測(cè)感測(cè)線(xiàn)的功能是否正常。以電容式觸控面板測(cè)試的第一道測(cè)試為例，目前做電容式觸控面板測(cè)試架的廠(chǎng)家非常多，原理上面大部分都是通過(guò)測(cè)試感測(cè)各個(gè)通道的阻抗來(lái)分析該感測(cè)的功能可靠性。但是，真正使用時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)有很多問(wèn)題，這類(lèi)測(cè)試架經(jīng)常性發(fā)生誤判，將合格品判為不合格品，或者無(wú)法判斷開(kāi)路，甚至經(jīng)常性發(fā)生測(cè)試架斷線(xiàn)或者誤判，影響生產(chǎn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本有鑒于此，本發(fā)明的目的就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在上述或其它問(wèn)題，提供一種電容式觸控面板檢測(cè)系統(tǒng)和方法，其利用水平電場(chǎng)型液晶顯示器件可以高效直觀(guān)的檢測(cè)電容式觸控面板，具有檢測(cè)方法簡(jiǎn)單、檢測(cè)精度高、成本低的優(yōu)點(diǎn)。

為了達(dá)到上述或其它目的，本發(fā)明一方面提出了一種電容式觸控面板檢測(cè)系統(tǒng),用于檢測(cè)電容式觸控面板的感測(cè)線(xiàn)，該電容式觸控面板具有兩側(cè)，通過(guò)對(duì)該感測(cè)線(xiàn)施加電壓產(chǎn)生水平電場(chǎng)，包括：水平電場(chǎng)型液晶顯示器件，設(shè)置在該電容式觸控面板的一側(cè)，用于顯示檢測(cè)圖案；背光源，設(shè)置在該電容式觸控面板的另一側(cè)，用于透過(guò)該電容式觸控面板為該液晶顯示器件提供背光。

進(jìn)一步地，該電容式觸控面板至少包括：一透明基板，該透明基板上布置有多條第一感測(cè)線(xiàn)和多條第二感測(cè)線(xiàn)，通過(guò)施加電壓，該第一感測(cè)線(xiàn)和第二感測(cè)線(xiàn)之間形成水平電場(chǎng)。

進(jìn)一步地，該水平電場(chǎng)型液晶顯示器件包括：第一基板和第二基板，彼此相向?qū)χ?，液晶層，夾設(shè)于該第一基板和該第二基板之間,施加水平電場(chǎng)時(shí)液晶分子水平旋轉(zhuǎn)透光；第一配向膜和第二配向膜，分別配置在相向?qū)χ玫脑摰谝换搴驮摰诙宓膬?nèi)側(cè)表面。

進(jìn)一步地，還包括第一偏光片和第二偏光片，分別配置在相向?qū)χ玫脑摰谝换搴驮摰诙宓耐鈧?cè)。

進(jìn)一步地，還包括第一偏光片和第二偏光片，該第一偏光片配置在該背光源的光源出射方向的一側(cè)上，該第二偏光片配置在該第二基板的外側(cè)。

為了達(dá)到上述或其它目的，本發(fā)明另一方面提出了一種電容式觸控面板檢測(cè)方法,用于檢測(cè)電容式觸控面板的感測(cè)線(xiàn)，該電容式觸控面板具有兩側(cè)，通過(guò)對(duì)該感測(cè)線(xiàn)施加電壓產(chǎn)生水平電場(chǎng)，包括：提供水平電場(chǎng)型液晶顯示器件，設(shè)置在該電容式觸控面板的一側(cè)，用于顯示檢測(cè)圖案；提供背光源，設(shè)置在該電容式觸控面板的另一側(cè)，用于透過(guò)該電容式觸控面板為該液晶顯示器件提供背光。

進(jìn)一步地，該電容式觸控面板至少包括：一透明基板，該透明基板上布置有多條第一感測(cè)線(xiàn)和多條第二感測(cè)線(xiàn)；對(duì)該第一感測(cè)線(xiàn)和該第二感測(cè)線(xiàn)不施加電壓時(shí)，該液晶顯示器件顯示全黑畫(huà)面或全白畫(huà)面；對(duì)該第一感測(cè)線(xiàn)和該第二感測(cè)線(xiàn)施加電壓時(shí)，該液晶顯示器件顯示檢測(cè)畫(huà)面；將該檢測(cè)畫(huà)面與標(biāo)準(zhǔn)畫(huà)面對(duì)比，可以判斷該透明電路基板的電路圖案是否正常。

進(jìn)一步地，對(duì)該第一感測(cè)線(xiàn)和該第二感測(cè)線(xiàn)施加電壓包括：該多條第一感測(cè)線(xiàn)同時(shí)施加第一電平電壓，該多條第二感測(cè)線(xiàn)同時(shí)施加第二電平電壓。

進(jìn)一步地，對(duì)該第一感測(cè)線(xiàn)和該第二感測(cè)線(xiàn)施加電壓包括：該多條第一感測(cè)線(xiàn)同時(shí)施加第一電平電壓，依次用第二電平電壓掃描第二感測(cè)線(xiàn)或者該多條第二感測(cè)線(xiàn)同時(shí)施加第一電平電壓，依次用第二電平電壓掃描第一感測(cè)線(xiàn)。

進(jìn)一步地，對(duì)該第一感測(cè)線(xiàn)和該第二感測(cè)線(xiàn)施加電壓包括：第1條該第一感測(cè)線(xiàn)施加第一電平電壓，依次用第二電平電壓掃描第二感測(cè)線(xiàn)；第二感測(cè)線(xiàn)掃描結(jié)束后，第n條第一感測(cè)線(xiàn)施加第一電平電壓，并依次用第二電平電壓掃描第二感測(cè)線(xiàn)，其中，n為大于等于2的自然數(shù)；第二感測(cè)線(xiàn)掃描結(jié)束后，最后一條該第一感測(cè)線(xiàn)施加第一電平電壓，并依次用第二電平電壓掃描第二感測(cè)線(xiàn)。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)：

本發(fā)明通過(guò)將能夠產(chǎn)生水平電場(chǎng)的電容式觸控面板放置于ips或者ffs或者藍(lán)相等液晶顯示器件的下方，驅(qū)動(dòng)液晶分子轉(zhuǎn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)亮暗畫(huà)面的顯示。通過(guò)觀(guān)察液晶盒的顯示畫(huà)面，可以判斷透明電路板的線(xiàn)路功能是否正常，從而確定透明電路板是否能正常工作。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明電容式觸控面板感測(cè)線(xiàn)的平面結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2(a)、2(b)為本發(fā)明電容式觸控面板感測(cè)線(xiàn)之間產(chǎn)生水平電場(chǎng)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3所示為本發(fā)明電容式觸控面板檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4a、4b為本發(fā)明電容式觸控面板檢測(cè)裝置的工作原理結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本發(fā)明水平電場(chǎng)型液晶顯示器件結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6a為本發(fā)明一實(shí)施例感測(cè)線(xiàn)工作狀態(tài)下結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6b為本發(fā)明又一實(shí)施例感測(cè)線(xiàn)工作狀態(tài)下結(jié)構(gòu)示意圖；

圖7為本發(fā)明另一實(shí)施例觸控面板的電容式菱形感測(cè)線(xiàn)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖8a為本發(fā)明感測(cè)線(xiàn)上沒(méi)有施加電壓時(shí)，液晶顯示器件顯示畫(huà)面；

圖8b為本發(fā)明感測(cè)線(xiàn)上施加電壓時(shí)，液晶顯示器件顯示的檢測(cè)畫(huà)面；

圖9a為本發(fā)明第二感測(cè)線(xiàn)上出現(xiàn)斷線(xiàn)的觸控面板平面示意圖；

圖9b為本發(fā)明圖9a中的觸控面板檢測(cè)畫(huà)面示意圖；

圖10a為本發(fā)明圖第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)發(fā)生短路的觸控面板的平面結(jié)構(gòu)示意圖；

圖10b為本發(fā)明圖10a中的觸控面板檢測(cè)畫(huà)面示意圖；

圖11a、11b為本發(fā)明再一實(shí)施例觸控面板的感測(cè)線(xiàn)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖12為本發(fā)明另一實(shí)施例電容式觸控面板為條狀感測(cè)線(xiàn)結(jié)構(gòu)示意圖；

圖13為本發(fā)明檢測(cè)裝置檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)畫(huà)面示意圖；

圖14a為本發(fā)明觸控面板在第二感測(cè)線(xiàn)上出現(xiàn)斷線(xiàn)的平面結(jié)構(gòu)示意圖；

圖14b為本發(fā)明圖14a中的觸控面板檢測(cè)畫(huà)面示意圖；

圖15a為本發(fā)明觸控面板上第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)發(fā)生短路的平面結(jié)構(gòu)示意圖；

圖15b為本發(fā)明圖15a中的觸控面板檢測(cè)畫(huà)面示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例，進(jìn)一步闡明本發(fā)明，應(yīng)理解這些實(shí)施例僅用于說(shuō)明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍，在閱讀了本發(fā)明之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員對(duì)本發(fā)明的各種等價(jià)形式的修改均落于本申請(qǐng)所附權(quán)利要求所限定的范圍。

本發(fā)明根據(jù)電容式觸控面板的工作原理，提出了一種把電容式觸控面板功能檢測(cè)的傳統(tǒng)純電學(xué)檢測(cè)工作轉(zhuǎn)換為光學(xué)圖像的識(shí)別工作，可以兼容感測(cè)線(xiàn)測(cè)試、fog測(cè)試和成品測(cè)試三種功能測(cè)試，從而大大提高電容式觸控面板的檢測(cè)效率。

現(xiàn)有技術(shù)中，利用水平電場(chǎng)工作的還有ips(in-planeswitching)液晶顯示技術(shù)。ips液晶顯示面板包括：下偏光片，陣列基板，彩膜基板，上偏光片，在陣列基板和彩膜基板之間夾設(shè)ips液晶,驅(qū)動(dòng)ips液晶工作的電壓由像素電極與公共電極提供。

作為自然光的背光源穿過(guò)下偏光片后，轉(zhuǎn)換為直線(xiàn)偏振光。當(dāng)像素電極與公共電極之間沒(méi)有施加電壓差時(shí)，ips液晶沒(méi)有發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，直線(xiàn)偏振光直接穿過(guò)液晶與彩膜基板。由于到達(dá)上偏光片的偏振光，其偏振防線(xiàn)與上偏光片的偏光軸方向正交，所以偏振光被全部吸收，沒(méi)有光能夠透過(guò)上偏光片，ips液晶面板顯示為黑色。

當(dāng)像素電極與公共電極之間施加電壓差后，形成水平電場(chǎng)，驅(qū)動(dòng)ips液晶發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，穿過(guò)下偏光片后形成的直線(xiàn)偏振光，其偏振方向被液晶層改變。這些被改變了偏振方向的偏振光到達(dá)上偏光片后，其中的一部分被上偏光片吸收，剩下的一部分透過(guò)上偏光片。這時(shí)，ips液晶面板顯示為白色。

本發(fā)明結(jié)合ips液晶面板與電容式觸控面板都通過(guò)水平電場(chǎng)實(shí)現(xiàn)各自的性能的特點(diǎn)，把電容式觸控面板的行感測(cè)線(xiàn)與列感測(cè)線(xiàn)作為ips液晶面板的像素電極與公共電極，驅(qū)動(dòng)行感測(cè)線(xiàn)與列感測(cè)線(xiàn)來(lái)控制ips液晶面板的顯示效果。通過(guò)觀(guān)察ips液晶面板的顯示畫(huà)面，可以判斷電容式觸控面板的行感測(cè)線(xiàn)與列感測(cè)線(xiàn)功能是否正常，從而確定電容屏是否能正常工作。

電容式觸控的本質(zhì)是行感測(cè)線(xiàn)與列感測(cè)線(xiàn)之間形成的水平電場(chǎng)，在手指等導(dǎo)體干擾下，通過(guò)檢測(cè)干擾位置來(lái)判斷觸控發(fā)生的具體位置。所以，利用液晶顯示檢測(cè)電容式觸控面板感測(cè)線(xiàn)時(shí)，選擇ips、藍(lán)相等液晶顯示模式。優(yōu)選地，采用成熟的ips液晶顯示模式所使用的液晶材料。其中，ffs(fringefieldswitching)是與ips同一種類(lèi)的液晶顯示模式。如果沒(méi)有特別說(shuō)明，下面所述的液晶都是ips液晶。

圖3所示為本發(fā)明電容式觸控面板檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖3所示，水平電場(chǎng)型液晶顯示器件100是一個(gè)沒(méi)有功能電極的液晶盒，通過(guò)電容式觸控面板200給液晶顯示器件100中的液晶提供水平電場(chǎng)。控制施加在觸控面板200中的行感測(cè)線(xiàn)與列感測(cè)線(xiàn)的電壓，可以改變液晶顯示器件100的液晶狀態(tài)，從而改變液晶顯示器件100的亮度。用于液晶顯示器件100顯示的光源由背光源300提供。

液晶顯示器件100采用的是ips液晶103，ips顯示模式的特點(diǎn)是homogenize配向的液晶分子在平行于第一基板101與第二基板102的面內(nèi)。ips液晶分子的轉(zhuǎn)動(dòng)始終處于平面內(nèi)，液晶轉(zhuǎn)動(dòng)只需克服彈性系數(shù)k22。

傳統(tǒng)的ips液晶顯示模式是在陣列基板的像素電極與公共電極之間施加電壓，使液晶分子在面內(nèi)發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，引起雙折射來(lái)控制光的透過(guò)量。像素電極和公共電極設(shè)計(jì)在同一側(cè)，以形成平面電場(chǎng)。在本發(fā)明中，電容式觸控面板200的第一感測(cè)線(xiàn)202和第二感測(cè)線(xiàn)203都設(shè)置在液晶顯示器件100第一基板101一側(cè)，在液晶層中形成平面水平電場(chǎng)，控制液晶顯示器件100中的液晶103的轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)。

液晶顯示器件100顯示用的光來(lái)自背光源300，背光源300的原始光源來(lái)自發(fā)光體組合301。發(fā)光體組合301可以是pdp(plasmadisplaypanel，等離子顯示屏)、fed(fieldemissiondisplays，場(chǎng)發(fā)射顯示)、oled(organiclight-emittingdiode，有機(jī)電激光顯示)等主動(dòng)發(fā)光顯示面板，也可以是led(light-emittingdiode,發(fā)光二極管)點(diǎn)光源或者ccfl(coldcathodefluorescentlamp，冷陰極熒光燈管)線(xiàn)光源規(guī)則排列形成的直下式光源，也可以是led點(diǎn)光源或者ccfl線(xiàn)光源在導(dǎo)光板側(cè)邊導(dǎo)入后經(jīng)導(dǎo)光板處理形成的面光源。發(fā)光體組合301發(fā)出的光，可以是白光，也可以是單色光。優(yōu)選地，發(fā)光體組合301是led點(diǎn)光源在導(dǎo)光板側(cè)邊導(dǎo)入后經(jīng)導(dǎo)光板處理形成的白色面光源。發(fā)光體組合301發(fā)出的光經(jīng)過(guò)光學(xué)膜片組合302后，被第一偏光板303轉(zhuǎn)為線(xiàn)偏振光。光學(xué)膜片組合302的作用是把發(fā)光體301發(fā)出的光調(diào)整為均勻的面光源，具體的光學(xué)膜片包括擴(kuò)散片、棱鏡片等。

本發(fā)明公開(kāi)的檢測(cè)系統(tǒng)的偏光片設(shè)置方式不限于圖3所示的布置方式,還可以調(diào)整其布置方式為第一偏光片303和第二偏光片105，分別配置在相向?qū)χ玫脑摰谝换?01和該第二基板102的外側(cè)。

液晶顯示器件100的尺寸大于觸控面板感測(cè)線(xiàn)的分布范圍，可以一次性完成液晶顯示器件100對(duì)觸控面板200的檢測(cè)。在檢測(cè)時(shí)，觸控面板200的感測(cè)線(xiàn)一側(cè)與液晶顯示器件100的偏光板101接觸。電容式觸控面板的檢測(cè)系統(tǒng)的工作原理如圖4a、4b所示。

如圖4a所示，在無(wú)外加電壓條件下，來(lái)自背光源300的線(xiàn)偏振光，穿過(guò)透明的電容式觸控面板200后，進(jìn)入液晶顯示器件100，形成平行于液晶分子短軸的直線(xiàn)偏光。因?yàn)榫€(xiàn)偏振光平行于液晶分子的短軸不會(huì)改變線(xiàn)偏振光的偏振狀態(tài)，所以，該線(xiàn)偏振光以同樣的狀態(tài)射入第二偏光板105。因?yàn)樵摼€(xiàn)偏振光與第二偏光板105的偏光軸垂直，所以改線(xiàn)偏振光就被第二偏光板105吸收，沒(méi)有光線(xiàn)能夠透過(guò)第二偏光板105，顯示呈黑色狀態(tài)。

如圖4b所示，當(dāng)電容式觸控面板200的第一電極202與第二電極203之間施加電壓差后，形成水平電場(chǎng)，驅(qū)動(dòng)ips液晶105發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，液晶分子沿著電場(chǎng)方向排列，偏離偏光板的直行方向。來(lái)自背光源300的線(xiàn)偏振光，穿過(guò)透明的電容式觸控面板200后，進(jìn)入液晶顯示器件100，其偏振方向被液晶層改變，呈(橢)圓偏光狀態(tài)。這些被改變了偏振方向的偏振光到達(dá)上偏光片后，其中的一部分被上偏光片吸收，剩下的一部分透過(guò)上偏光片。這時(shí)，ips液晶面板顯示為白色。

圖5為本發(fā)明水平電場(chǎng)型液晶顯示器件結(jié)構(gòu)示意圖，如圖5所示，本發(fā)明提供一種水平電場(chǎng)型液晶顯示器件100，包括：第一基板101與第二基板102貼合而成的液晶盒，其中，第一基板101與第二基板102的材料可以是玻璃、塑料等透明材料。在第一基板101靠近液晶103一側(cè)涂布有第一配向膜107；在第二基板102靠近液晶103一側(cè)涂布有第二配向膜108。配向膜的作用是讓液晶103沿著一定的方向排列。在某些場(chǎng)合，為了屏蔽外界電場(chǎng)對(duì)液晶盒內(nèi)的液晶103造成電學(xué)干擾，需要在第二基板102靠近第二偏光板105一側(cè)設(shè)置一層透明導(dǎo)電膜(圖中未示)。在某些場(chǎng)合，為了簡(jiǎn)化系統(tǒng)，需要把第二偏光板105直接粘貼在第二基板102外側(cè)(圖中未示)。

第一配向膜107和第二配向膜108的配向方向相同，設(shè)定為d，配向方向d與第一偏光板303的偏光軸p1平行。第一偏光板的偏光軸p1與第二偏光板的偏光軸p2可以是垂直正交的關(guān)系，也可以是平行的關(guān)系。優(yōu)選地，偏光軸p1和偏光軸p2的為垂直正交的關(guān)系。

配向膜的配向方向、偏光板的偏光軸，以及電容式觸控面板感測(cè)線(xiàn)形狀之間的關(guān)系如圖6所示。

圖6a給出了電容式觸控面板200的第一感測(cè)線(xiàn)202和第二感測(cè)線(xiàn)203為平行分布的單疇結(jié)構(gòu)下的液晶工作狀態(tài)。平行分布的第一感測(cè)線(xiàn)202和第二感測(cè)線(xiàn)203之間形成一個(gè)水平電場(chǎng)，通過(guò)摩擦或紫外光照射等方式形成第一配向膜107和第二配向膜108的配向方向d，確定液晶103的初始方位角ψ0。配向膜的配向方向d與第一偏光板303的偏光軸p1平行，與第二偏光板105的偏光軸p2垂直正交。

圖6b給出了電容式觸控面板200的第一感測(cè)線(xiàn)202和第二感測(cè)線(xiàn)203為曲折分布的多疇結(jié)構(gòu)下的液晶工作狀態(tài)。曲折分布的第一感測(cè)線(xiàn)202和第二感測(cè)線(xiàn)203之間形成兩個(gè)方向的水平電場(chǎng)，通過(guò)摩擦或紫外光照射等方式形成第一配向膜107與第二配向膜108的配向方向d，確定液晶103的初始方位角ψ0。配向膜的配向方向d與第一偏光板303的偏光軸p1平行，與第二偏光板105的偏光軸p2垂直正交。

采用本發(fā)明提供的電容式觸控感測(cè)檢測(cè)系統(tǒng)，可以完整地再現(xiàn)觸控面板上的電場(chǎng)分布狀態(tài)。通過(guò)電光轉(zhuǎn)換的方式，把觸控面板感測(cè)線(xiàn)上的電場(chǎng)分布轉(zhuǎn)換為亮暗不同灰階分布的畫(huà)面。通過(guò)觀(guān)察畫(huà)面，把看到的畫(huà)面與標(biāo)準(zhǔn)畫(huà)面進(jìn)行對(duì)比，如果一致即為合格，如果不一致就是不合格。

圖7為電容式觸控面板普遍使用的菱形感測(cè)線(xiàn)(pad)結(jié)構(gòu)，平行于x軸的為第一感測(cè)線(xiàn)202，平行于y軸的為第二感測(cè)線(xiàn)203，在第一感測(cè)線(xiàn)202與第二感測(cè)線(xiàn)203交叉區(qū)域通過(guò)sio2或者sinx等透明絕緣層隔離。針對(duì)圖7所示的感測(cè)線(xiàn)結(jié)構(gòu)，對(duì)應(yīng)的第一偏光板偏光軸p1與第二偏光板偏光軸p2，以及第一配向膜與第二配向膜的配向方向d之間的關(guān)系如圖7所示。

基于圖7所示的感測(cè)pad結(jié)構(gòu)、偏光板偏光軸關(guān)系和配向膜配向方向關(guān)系，通過(guò)控制第一感測(cè)線(xiàn)202與第二感測(cè)線(xiàn)203的電壓，可以控制液晶顯示器件的顯示狀態(tài)。

如圖8a所示，當(dāng)?shù)谝桓袦y(cè)線(xiàn)和第二感測(cè)線(xiàn)上沒(méi)有施加電壓時(shí)，液晶顯示器件顯示的是一個(gè)全黑的畫(huà)面。

如圖8b所示，給所有第一感測(cè)線(xiàn)施加0v電壓，給所有第二感測(cè)線(xiàn)施加10v電壓時(shí)，液晶顯示器件100上顯示的是由多個(gè)規(guī)則圖案組成的畫(huà)面。其中，顯示白色的區(qū)域就是第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)之間形成邊緣電場(chǎng)，即水平電場(chǎng)的區(qū)域。該水平電場(chǎng)區(qū)域也是觸控面板用來(lái)檢出觸控位置的區(qū)域。

圖8b為正常觸控面板在本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)中所顯示的畫(huà)面。在實(shí)際檢測(cè)時(shí)，如果所檢測(cè)的觸控面板存在缺陷，缺陷處感測(cè)線(xiàn)的功能缺失可以直接反應(yīng)在液晶顯示器件100上。

圖9a為在第二感測(cè)線(xiàn)上出現(xiàn)斷線(xiàn)的觸控面板。把該觸控面板放置于本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)中，給所有第一感測(cè)線(xiàn)施加0v電壓，給所有第二感測(cè)線(xiàn)施加10v電壓，液晶顯示器件100所顯示的畫(huà)面如圖9b所示。在正對(duì)斷線(xiàn)處的顯示位置上出現(xiàn)異常的顯示圖案。

把圖9b所示的畫(huà)面與圖8b所示的畫(huà)面進(jìn)行對(duì)比，兩個(gè)畫(huà)面不一致，可以判斷所檢測(cè)的觸控面板不合格。通過(guò)比對(duì)畫(huà)面，找出圖9b中異常的區(qū)域，可以確定相應(yīng)位置的觸控感測(cè)線(xiàn)存在缺陷。所以，采用本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)與檢測(cè)方法，不僅可以快速判斷觸控面板是否合格，還可以具體找出缺陷的位置。

圖10a為一塊第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)發(fā)生短路的觸控面板。把該觸控面板放置于本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)中，給所有第一感測(cè)線(xiàn)施加0v電壓，給所有第二感測(cè)線(xiàn)施加10v電壓，液晶顯示器件100所顯示的畫(huà)面如圖10b所示。在正對(duì)短路處的顯示位置上出現(xiàn)異常的顯示圖案。

把圖10b所示的畫(huà)面與圖8b所示的畫(huà)面進(jìn)行對(duì)比，兩個(gè)畫(huà)面不一致，可以判斷所檢測(cè)的觸控面板不合格。通過(guò)比對(duì)畫(huà)面，找出圖10b中異常的區(qū)域，可以確定相應(yīng)位置的觸控感測(cè)線(xiàn)存在缺陷。所以，采用本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)與檢測(cè)方法，不僅可以快速判斷觸控面板是否合格，還可以具體找出缺陷的位置。

與圖7所示的感測(cè)結(jié)構(gòu)類(lèi)似的還有如圖11所示的三角形感測(cè)pad。無(wú)論是圖7所示的菱形感測(cè)pad，還是圖11所示的三角形感測(cè)pad，第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)之間形成的水平電場(chǎng)都呈“八”字形的曲折分布，所以這類(lèi)觸控面板的感測(cè)檢測(cè)方法類(lèi)似。包括液晶顯示器件100的配向膜配向方向，第一偏光板與第二偏光板的偏光軸方向都類(lèi)似。

圖12所示的電容式觸控面板使用條狀的感測(cè)pad，平行于x軸的為第一感測(cè)線(xiàn)202，平行于y軸的為第二感測(cè)線(xiàn)203，在第一感測(cè)線(xiàn)202與第二感測(cè)線(xiàn)203交叉區(qū)域通過(guò)sio2或者sinx等透明絕緣層隔離。針對(duì)圖12所示的感測(cè)線(xiàn)結(jié)構(gòu)，對(duì)應(yīng)的第一偏光板偏光軸p1與第二偏光板偏光軸p2，以及第一配向膜和第二配向膜的配向方向d之間的關(guān)系如圖12所示。

基于圖12所示的條狀感測(cè)線(xiàn)pad結(jié)構(gòu)、偏光板偏光軸關(guān)系和配向膜配向方向關(guān)系，通過(guò)控制第一感測(cè)線(xiàn)202與第二感測(cè)線(xiàn)203的電壓，可以控制液晶顯示器件的顯示狀態(tài)。

如圖13所示，給所有第一感測(cè)線(xiàn)施加0v電壓，給所有第二感測(cè)線(xiàn)施加10v電壓時(shí)，液晶顯示器件100上顯示的是由多個(gè)規(guī)則圖案組成的畫(huà)面。其中，顯示白色的區(qū)域就是第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)之間形成邊緣電場(chǎng)，即水平電場(chǎng)的區(qū)域。該水平電場(chǎng)區(qū)域也是觸控面板用來(lái)檢出觸控位置的區(qū)域。

圖13為正常觸控面板在本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)中所顯示的畫(huà)面。在實(shí)際檢測(cè)時(shí)，如果所檢測(cè)的觸控面板存在缺陷，缺陷處感測(cè)線(xiàn)的功能缺失可以直接反應(yīng)在液晶顯示器件100上。

圖14a為一塊在第二感測(cè)線(xiàn)上出現(xiàn)斷線(xiàn)的觸控面板。把該觸控面板放置于本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)中，給所有第一感測(cè)線(xiàn)施加0v電壓，給所有第二感測(cè)線(xiàn)施加10v電壓，液晶顯示器件100所顯示的畫(huà)面如圖14b所示。在正對(duì)斷線(xiàn)處的顯示位置上出現(xiàn)異常的顯示圖案。

把圖14b所示的畫(huà)面與圖13所示的畫(huà)面進(jìn)行對(duì)比，兩個(gè)畫(huà)面不一致，可以判斷所檢測(cè)的觸控面板不合格。通過(guò)比對(duì)畫(huà)面，找出圖14b中異常的區(qū)域，可以確定相應(yīng)位置的觸控感測(cè)線(xiàn)存在缺陷。所以，采用本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)與檢測(cè)方法，不僅可以快速判斷觸控面板是否合格，還可以具體找出缺陷的位置。

圖15a為一塊第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)發(fā)生短路的觸控面板。把該觸控面板放置于本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)中，給所有第一感測(cè)線(xiàn)施加0v電壓，給所有第二感測(cè)線(xiàn)施加10v電壓，液晶顯示器件100所顯示的畫(huà)面如圖15b所示。在正對(duì)短路處的顯示位置上出現(xiàn)異常的顯示圖案。

把圖15b所示的畫(huà)面與圖13所示的畫(huà)面進(jìn)行對(duì)比，兩個(gè)畫(huà)面不一致，可以判斷所檢測(cè)的觸控面板不合格。通過(guò)比對(duì)畫(huà)面，找出圖15b中異常的區(qū)域，可以確定相應(yīng)位置的觸控感測(cè)線(xiàn)存在缺陷。所以，采用本發(fā)明提供的檢測(cè)系統(tǒng)與檢測(cè)方法，不僅可以快速判斷觸控面板是否合格，還可以具體找出缺陷的位置。

本發(fā)明一實(shí)施例還提供了檢測(cè)時(shí)的電壓驅(qū)動(dòng)方法，包括:所有的第一感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加一個(gè)相同的電壓，所有的第二感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加另一個(gè)相同的電壓。比如，所有的第一感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加0v電壓，所有的第二感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加10v電壓。這種檢測(cè)方法，液晶顯示器件100整面同時(shí)顯示所要檢測(cè)的畫(huà)面。

本發(fā)明又一實(shí)施例提供了檢測(cè)時(shí)的電壓驅(qū)動(dòng)方法，包括:所有的第一感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加一個(gè)相同的電壓，依次掃描第二感測(cè)線(xiàn)。比如，所有的第一感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加0v電壓，施加10v電壓依次掃描第二感測(cè)線(xiàn)。所有的第二感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加一個(gè)相同的電壓，依次掃描第一感測(cè)線(xiàn)。比如，所有的第二感測(cè)線(xiàn)統(tǒng)一施加0v電壓，施加10v電壓依次掃描第一感測(cè)線(xiàn)。這種檢測(cè)方法，液晶顯示器件100對(duì)應(yīng)每一條感測(cè)線(xiàn)顯示一行畫(huà)面，或者一列畫(huà)面。

本發(fā)明另一實(shí)施例提供了檢測(cè)時(shí)的電壓驅(qū)動(dòng)方法，包括:給某一條第一感測(cè)線(xiàn)施加一個(gè)電壓，依次掃描第二感測(cè)線(xiàn)。第二感測(cè)線(xiàn)掃描結(jié)束后，給第二條第一感測(cè)線(xiàn)施加一個(gè)電壓，并依次掃描第二感測(cè)線(xiàn)。第二感測(cè)線(xiàn)掃描結(jié)束后，給第三條第一感測(cè)線(xiàn)施加一個(gè)電壓，并依次掃描第二感測(cè)線(xiàn)。第二感測(cè)線(xiàn)掃描結(jié)束后，給第n條第一感測(cè)線(xiàn)施加一個(gè)電壓，并依次掃描第二感測(cè)線(xiàn)。第二感測(cè)線(xiàn)掃描結(jié)束后，給最后一條第一感測(cè)線(xiàn)施加一個(gè)電壓，并依次掃描第二感測(cè)線(xiàn)。同樣的電壓施加方法，把第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)互換進(jìn)行檢測(cè)。這種檢測(cè)方法，液晶顯示器件100對(duì)應(yīng)每一個(gè)第一感測(cè)線(xiàn)與第二感測(cè)線(xiàn)交叉處顯示一個(gè)小塊區(qū)域的畫(huà)面。

本發(fā)明中涉及的未說(shuō)明部份與現(xiàn)有技術(shù)相同或采用現(xiàn)有技術(shù)加以實(shí)現(xiàn)。應(yīng)當(dāng)指出：對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，凡是根據(jù)本發(fā)明技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、變更以及等效結(jié)構(gòu)變化，均屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍內(nèi)。