本發(fā)明屬于液晶面板測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

液晶面板在正式出廠前，均需要進(jìn)行點燈測試，從而檢測液晶面板是否存在壞點。傳統(tǒng)技術(shù)中，如圖1所示，為液晶面板點燈測試裝置與液晶面板的連接布置圖；在圖1中，1代表液晶面板；2代表液晶面板點燈測試裝置；如圖2所示，為圖1中A區(qū)域的剖面圖；從圖2可以看出，液晶面板點燈測試裝置配置有若干個測試接口3，液晶面板印刷有多條測試線；在每個測試接口和測試線之間設(shè)置有探針4，通過探針使測試接口和測試線之間實現(xiàn)電路連接，從而最終通過判斷測試線的亮滅情況檢測液晶面板是否存在壞點。

然而，在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題：

當(dāng)使用時間較長時，容易出現(xiàn)探針左右晃動的情況，嚴(yán)重時，探針的一端甚至從測試接口中完全脫離，出現(xiàn)圖3所示的情況，從而導(dǎo)致測試接口和測試線之間不具有電連接，無法進(jìn)行有效的液晶面板點燈測試。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

針對現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本發(fā)明提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統(tǒng)，可有效解決上述問題。

本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：

本發(fā)明提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法，包括以下步驟：

步驟1，在液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個測試插槽；將n根測試線劃分為n/m組，每組測試線的末端均固定到對應(yīng)的一個測試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；

步驟2，液晶面板點燈測試裝置配置有m個測試接口，將m個測試接口與m個測試插槽相對設(shè)置后，在m個測試接口與m個測試插槽之間設(shè)置一層保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開設(shè)有m個固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

還配置有m個探針；每個所述探針的一端插入到一個測試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個測試接口的內(nèi)部，由此實現(xiàn)通過探針將測試接口和對應(yīng)的測試插槽的電連接，并且，通過保護(hù)膜定位探針。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點燈測試裝置和所述液晶面板之間。

本發(fā)明還提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位系統(tǒng)，包括液晶面板、液晶面板點燈測試裝置、探針以及保護(hù)膜；

其中，所述液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個測試插槽；將n根測試線劃分為n/m組，每組測試線的末端均固定到對應(yīng)的一個測試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；

所述液晶面板點燈測試裝置配置有m個測試接口，將m個測試接口與m個測試插槽相對設(shè)置后，在m個測試接口與m個測試插槽之間設(shè)置一層所述保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開設(shè)有m個固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

所述探針的配置數(shù)量同樣為m個；每個所述探針的一端插入到一個測試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個測試接口的內(nèi)部，由此實現(xiàn)通過探針將測試接口和對應(yīng)的測試插槽的電連接，并且，通過保護(hù)膜定位探針。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。

優(yōu)選的，所述保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點燈測試裝置和所述液晶面板之間。

本發(fā)明提供的液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統(tǒng)具有以下優(yōu)點：

(1)通過設(shè)置保護(hù)膜，可保證長時間使用時探針穩(wěn)定固定在測試插槽和測試接口之間，不會發(fā)生位置偏移以及脫落現(xiàn)象，從而保證測試插槽和測試接口之間長期穩(wěn)定的電性連接，保證測試質(zhì)量；

(2)還具有結(jié)構(gòu)簡單、制造工藝簡單以及成本低的優(yōu)點，可廣泛推廣使用。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術(shù)提供的液晶面板點燈測試裝置與液晶面板的連接布置圖；

圖2為圖1中A區(qū)域的剖面圖；

圖3為現(xiàn)有技術(shù)中長時間使用后探針出現(xiàn)晃動或脫離狀態(tài)時的結(jié)構(gòu)圖；

圖4為本發(fā)明提供的安裝保護(hù)膜后探針的布置示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明所解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

結(jié)合圖4，本發(fā)明提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位方法，包括以下步驟：

步驟1，在液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個測試插槽；將n根測試線劃分為n/m組，每組測試線的末端均固定到對應(yīng)的一個測試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；例如，m為6個。

步驟2，液晶面板點燈測試裝置配置有m個測試接口，將m個測試接口與m個測試插槽相對設(shè)置后，在m個測試接口與m個測試插槽之間設(shè)置一層保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開設(shè)有m個固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

還配置有m個探針；每個所述探針的一端插入到一個測試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個測試接口的內(nèi)部，由此實現(xiàn)通過探針將測試接口和對應(yīng)的測試插槽的電連接，并且，通過保護(hù)膜定位探針。

實際應(yīng)用中，保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點燈測試裝置和所述液晶面板之間。

本發(fā)明還提供一種液晶面板點燈測試時的探針定位系統(tǒng)，包括液晶面板、液晶面板點燈測試裝置、探針以及保護(hù)膜；

其中，所述液晶面板的內(nèi)部印刷有n根測試線，在液晶面板的側(cè)面設(shè)置有m個測試插槽；將n根測試線劃分為n/m組，每組測試線的末端均固定到對應(yīng)的一個測試插槽中；其中，n和m均為自然數(shù)；

所述液晶面板點燈測試裝置配置有m個測試接口，將m個測試接口與m個測 試插槽相對設(shè)置后，在m個測試接口與m個測試插槽之間設(shè)置一層所述保護(hù)膜；所述保護(hù)膜開設(shè)有m個固定通孔；該固定通孔與探針的外徑相匹配；

所述探針的配置數(shù)量同樣為m個；每個所述探針的一端插入到一個測試插槽的內(nèi)部，所述探針的另一端穿過所述保護(hù)膜的固定通孔后，插入到一個測試接口的內(nèi)部，由此實現(xiàn)通過探針將測試接口和對應(yīng)的測試插槽的電連接，并且，通過保護(hù)膜定位探針。

實際應(yīng)用中，保護(hù)膜為絕緣材質(zhì)。保護(hù)膜被熱塑固定在所述液晶面板點燈測試裝置和所述液晶面板之間。

由此可見，本發(fā)明提供的液晶面板點燈測試時的探針定位方法及系統(tǒng)具有以下優(yōu)點：

(1)通過設(shè)置保護(hù)膜，可保證長時間使用時探針穩(wěn)定固定在測試插槽和測試接口之間，不會發(fā)生位置偏移以及脫落現(xiàn)象，從而保證測試插槽和測試接口之間長期穩(wěn)定的電性連接，保證測試質(zhì)量；

(2)還具有結(jié)構(gòu)簡單、制造工藝簡單以及成本低的優(yōu)點，可廣泛推廣使用。

以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視本發(fā)明的保護(hù)范圍。