測試線路、顯示面板及顯示裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種測試線路、顯示面板及顯示裝置，該測試線路包括對(duì)盒工藝檢測線路、第一扇區(qū)、第二扇區(qū)、用于將該對(duì)盒工藝檢測線路與該第一扇區(qū)相連接的導(dǎo)電區(qū)域，以及位于該導(dǎo)電區(qū)域中的電學(xué)檢測區(qū)域，其中，該第一扇區(qū)與該第二扇區(qū)相連接，該導(dǎo)電區(qū)域包括用于同該第一扇區(qū)相連接的第一重疊區(qū)，該電學(xué)檢測區(qū)域位于該導(dǎo)電區(qū)域中該第一重疊區(qū)之外的區(qū)域。本實(shí)用新型能夠避免由于電學(xué)測試區(qū)域損傷而導(dǎo)致后續(xù)模組檢測時(shí)的檢測信號(hào)不能正常傳輸，降低面板不良發(fā)生率。
【專利說明】測試線路、顯示面板及顯示裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型涉及顯示領(lǐng)域，尤其涉及一種測試線路、顯示面板及顯示裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 液晶顯示器是當(dāng)前主流的平板顯示器，其由陣列基板、彩膜基板和兩基板中間的 液晶層構(gòu)成。在陣列基板的制造工藝中，通常在對(duì)盒完成后要對(duì)一整張顯示面板進(jìn)行兩 次切割，為了對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)進(jìn)行監(jiān)控，對(duì)第一次切割后形成的中片（Q-panel)進(jìn)行第一次測 試，即對(duì)盒工藝檢測（cell test，CT)，隨即對(duì)第二次切割后形成的顯示面板單元（single panel)進(jìn)行第二次測試，即電學(xué)檢測（Electrical test, ET)。
[0003] 參見圖1，圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的測試線路的示意圖，其中，對(duì)盒工藝檢測線路Γ通 過過孔6'與導(dǎo)電區(qū)域5'相連，電學(xué)測試區(qū)域（ET test Pad)2'位于導(dǎo)電區(qū)域5'中，且通 過電學(xué)測試區(qū)域2'使得導(dǎo)電區(qū)域5'分別與第一扇形區(qū)域3'以及第二扇形區(qū)域4'相連接， 從而使得使第一扇形區(qū)域3'中的信號(hào)能夠傳輸至第二扇形區(qū)域4'中，進(jìn)而能夠使與第一 扇形區(qū)域3'相連的集成電路芯片（Integrated Circuit, 1C)發(fā)出的信號(hào)能夠發(fā)送至與第 二扇形區(qū)域4'相連的GOA (Gate Drive on Array,陣列基板行驅(qū)動(dòng)）區(qū)域中，但由于導(dǎo)電區(qū) 域5'裸露在空氣中，在對(duì)第二次切割后形成的顯示面板單元（single panel)進(jìn)行第二次 測試時(shí)，容易對(duì)電學(xué)測試區(qū)域2'造成損害，從而使得第一扇形區(qū)域3'中的信號(hào)不能傳輸?shù)?第二扇形區(qū)域4'中，導(dǎo)致后續(xù)模組檢測時(shí)的檢測信號(hào)不能從集成電路芯片到達(dá)G0A區(qū)域， 產(chǎn)生面板（panel)不良。 實(shí)用新型內(nèi)容
[0004] (一）要解決的技術(shù)問題
[0005] 本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種測試線路、顯示面板及顯示裝置，以解 決由于電學(xué)測試區(qū)域損傷而影響后續(xù)檢測的問題。
[0006] (二）技術(shù)方案
[0007] 為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案提供了一種測試線路，包括對(duì)盒工 藝檢測線路、第一扇區(qū)、第二扇區(qū)、用于將所述對(duì)盒工藝檢測線路與所述第一扇區(qū)相連接的 導(dǎo)電區(qū)域，以及位于所述導(dǎo)電區(qū)域中的電學(xué)檢測區(qū)域，其中，所述第一扇區(qū)與所述第二扇區(qū) 相連接，所述導(dǎo)電區(qū)域包括用于同所述第一扇區(qū)相連接的第一重疊區(qū)，所述電學(xué)檢測區(qū)域 位于所述導(dǎo)電區(qū)域中所述第一重疊區(qū)之外的區(qū)域。
[0008] 進(jìn)一步地，所述導(dǎo)電區(qū)域通過設(shè)置在所述第一重疊區(qū)上的過孔與所述第一扇區(qū)相 連接。
[0009] 進(jìn)一步地，所述導(dǎo)電區(qū)域還包括用于同所述對(duì)盒工藝檢測線路相連接的第二重疊 區(qū)，所述電學(xué)檢測區(qū)域還位于所述導(dǎo)電區(qū)域中所述第二重疊區(qū)之外的區(qū)域。
[0010] 進(jìn)一步地，所述導(dǎo)電區(qū)域通過設(shè)置在所述第二重疊區(qū)上的過孔與所述對(duì)盒工藝檢 測線路相連接。
[0011] 進(jìn)一步地，所述導(dǎo)電區(qū)域還設(shè)置有開關(guān)，所述開關(guān)用于控制所述導(dǎo)電區(qū)域的通斷。
[0012] 進(jìn)一步地，所述開關(guān)設(shè)置在所述電學(xué)檢測區(qū)與所述第一重疊區(qū)之間的區(qū)域。
[0013] 進(jìn)一步地，還包括用于控制所述開關(guān)的控制線路。
[0014] 為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型還提供了一種顯示面板，包括上述任意一種的 測試線路。
[0015] 為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型還提供了一種顯示裝置，包括上述的顯示面板。
[0016] (三）有益效果
[0017] 本實(shí)用新型實(shí)施方式提供的測試線路，通過將電學(xué)測試區(qū)域設(shè)置在第一扇區(qū)與第 二扇區(qū)之外的區(qū)域，使得第一扇區(qū)中的信號(hào)不需通過電學(xué)測試區(qū)域就能夠到達(dá)第二扇區(qū)， 在對(duì)顯示面板進(jìn)行電學(xué)檢測時(shí)，即使對(duì)電學(xué)測試區(qū)造成損傷，也不會(huì)影響集成電路芯片與 G0A區(qū)域之間的信號(hào)傳輸，從而可以避免由于電學(xué)測試區(qū)域損傷而導(dǎo)致后續(xù)模組檢測時(shí)的 檢測信號(hào)不能正常傳輸，降低面板不良發(fā)生率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0018] 圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的測試線路的示意圖；
[0019] 圖2是本實(shí)用新型實(shí)施方式提供的一種測試線路的示意圖；
[0020] 圖3是本實(shí)用新型實(shí)施方式提供的另一種測試線路的示意圖。

【具體實(shí)施方式】
[0021] 下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下 實(shí)施例用于說明本實(shí)用新型，但不用來限制本實(shí)用新型的范圍。
[0022] 圖2是本實(shí)用新型實(shí)施方式提供的一種測試線路的示意圖，包括對(duì)盒工藝檢測線 路1、第一扇區(qū)3、第二扇區(qū)4、用于將所述對(duì)盒工藝檢測線路1與所述第一扇區(qū)3相連接的 導(dǎo)電區(qū)域5,以及位于所述導(dǎo)電區(qū)域5中的電學(xué)檢測區(qū)域2,其中，所述第一扇區(qū)3與所述第 二扇區(qū)4相連接，所述導(dǎo)電區(qū)域5包括用于同所述第一扇區(qū)3相連接的第一重疊區(qū)51，所述 電學(xué)檢測區(qū)域2位于所述導(dǎo)電區(qū)域5中所述第一重疊區(qū)51之外的區(qū)域。
[0023] 其中，所述第一重疊區(qū)為導(dǎo)電區(qū)域5同第一扇區(qū)3相重疊的區(qū)域，所述導(dǎo)電區(qū)域5 可以通過設(shè)置在所述第一重疊區(qū)51上的過孔6與所述第一扇區(qū)3相連接。
[0024] 其中，所述導(dǎo)電區(qū)域5還包括用于同所述對(duì)盒工藝檢測線路1相連接的第二重疊 區(qū)52,優(yōu)選地，所述電學(xué)檢測區(qū)域2還位于所述導(dǎo)電區(qū)域5中所述第二重疊區(qū)52之外的區(qū) 域，所述第二重疊區(qū)為導(dǎo)電區(qū)域5同所述對(duì)盒工藝檢測線路1相重疊的區(qū)域，所述導(dǎo)電區(qū)域 5通過設(shè)置在所述第二重疊區(qū)52上的過孔與所述對(duì)盒工藝檢測線路1相連接。
[0025] 本實(shí)用新型實(shí)施方式提供的測試線路，第一扇區(qū)3與集成電路芯片（1C)連接，第 二扇區(qū)4與G0A區(qū)域相連接，通過將電學(xué)測試區(qū)域設(shè)置在第一扇區(qū)與第二扇區(qū)之外的區(qū)域， 使得第一扇區(qū)3中的信號(hào)不需通過電學(xué)測試區(qū)域就能夠到達(dá)第二扇區(qū)，在對(duì)顯示面板進(jìn)行 電學(xué)檢測時(shí)，即使對(duì)電學(xué)測試區(qū)域造成損傷，也不會(huì)影響集成電路芯片與G0A區(qū)域之間的 信號(hào)傳輸，從而可以避免由于電學(xué)測試區(qū)域損傷而導(dǎo)致后續(xù)模組檢測時(shí)的檢測信號(hào)不能正 常傳輸，降低面板不良發(fā)生率。
[0026] 圖3是本實(shí)用新型實(shí)施方式提供的另一種測試線路的示意圖，該測試線路包括對(duì) 盒工藝檢測線路1、第一扇區(qū)3、第二扇區(qū)4、用于將所述對(duì)盒工藝檢測線路1與所述第一扇 區(qū)3相連接的導(dǎo)電區(qū)域5,以及位于所述導(dǎo)電區(qū)域5中的電學(xué)檢測區(qū)域2,其中，所述第一扇 區(qū)3與所述第二扇區(qū)4相連接，所述導(dǎo)電區(qū)域5包括用于同所述第一扇區(qū)3相連接的第一 重疊區(qū)51，所述電學(xué)檢測區(qū)域2位于所述導(dǎo)電區(qū)域5中所述第一重疊區(qū)51之外的區(qū)域，其 中，所述導(dǎo)電區(qū)域5還設(shè)置有開關(guān)7,所述開關(guān)7用于控制所述導(dǎo)電區(qū)域5的通斷。
[0027] 其中，可以將開關(guān)設(shè)置在所述電學(xué)檢測區(qū)與所述第一重疊區(qū)之間的區(qū)域。
[0028] 優(yōu)選地，為了能夠?qū)ι鲜鰧?shí)施方式中的開關(guān)7進(jìn)行控制，還包括用于控制所述開 關(guān)7的控制線路8。
[0029] 具體地，通過本實(shí)用新型實(shí)施方式提供的測試線路對(duì)顯示面板進(jìn)行對(duì)盒工藝檢測 (cell test，CT)時(shí)，用戶向控制線路8輸入控制信號(hào)控制開關(guān)7打開，CT信號(hào)通過對(duì)盒工 藝檢測線路輸入顯示面板，并通過導(dǎo)電區(qū)域5傳輸至第一扇區(qū)3,并經(jīng)第二扇區(qū)4傳輸至 G0A區(qū)從而實(shí)現(xiàn)對(duì)盒工藝檢測，當(dāng)對(duì)顯示面板進(jìn)行電學(xué)檢測時(shí)，用戶向控制線路8輸入控制 信號(hào)控制開關(guān)7打開，電學(xué)檢測信號(hào)通過電學(xué)檢測區(qū)域2進(jìn)入顯示面板，并依次經(jīng)過導(dǎo)電區(qū) 域、第一扇區(qū)和第二扇區(qū)進(jìn)入G0A區(qū)，從而實(shí)現(xiàn)顯示面板的電學(xué)檢測，當(dāng)對(duì)顯示面板進(jìn)行模 組檢測時(shí)，用戶向控制線路8輸入控制信號(hào)控制開關(guān)7關(guān)閉，模組檢測信號(hào)依次經(jīng)過第一扇 區(qū)和第二扇區(qū)進(jìn)入G0A區(qū)，從而實(shí)現(xiàn)模組檢測。
[0030] 此外，本實(shí)用新型實(shí)施方式還提供了一種顯示面板，包括如上述任意一種的測試 線路。
[0031] 此外，本實(shí)用新型還提供了一種顯示裝置，包括上述的顯示面板。其中，上述顯示 裝置可以是筆記本電腦顯示屏、電子紙、有機(jī)發(fā)光二級(jí)管顯示器、液晶顯示器、液晶電視、數(shù) 碼相框、手機(jī)、平板電腦等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。
[0032] 以上實(shí)施方式僅用于說明本實(shí)用新型，而并非對(duì)本實(shí)用新型的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng) 域的普通技術(shù)人員，在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和 變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本實(shí)用新型的范疇，本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍應(yīng) 由權(quán)利要求限定。
【權(quán)利要求】
1. 一種測試線路，包括對(duì)盒工藝檢測線路、第一扇區(qū)、第二扇區(qū)、用于將所述對(duì)盒工藝 檢測線路與所述第一扇區(qū)相連接的導(dǎo)電區(qū)域，以及位于所述導(dǎo)電區(qū)域中的電學(xué)檢測區(qū)域， 其特征在于，所述第一扇區(qū)與所述第二扇區(qū)相連接，所述導(dǎo)電區(qū)域包括用于同所述第一扇 區(qū)相連接的第一重疊區(qū)，所述電學(xué)檢測區(qū)域位于所述導(dǎo)電區(qū)域中所述第一重疊區(qū)之外的區(qū) 域。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路，其特征在于，所述導(dǎo)電區(qū)域通過設(shè)置在所述第一 重疊區(qū)上的過孔與所述第一扇區(qū)相連接。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試線路，其特征在于，所述導(dǎo)電區(qū)域還包括用于同所述對(duì) 盒工藝檢測線路相連接的第二重疊區(qū)，所述電學(xué)檢測區(qū)域還位于所述導(dǎo)電區(qū)域中所述第二 重疊區(qū)之外的區(qū)域。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試線路，其特征在于，所述導(dǎo)電區(qū)域通過設(shè)置在所述第二 重疊區(qū)上的過孔與所述對(duì)盒工藝檢測線路相連接。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1至4任一所述的測試線路，其特征在于，所述導(dǎo)電區(qū)域還設(shè)置有開 關(guān)，所述開關(guān)用于控制所述導(dǎo)電區(qū)域的通斷。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試線路，其特征在于，所述開關(guān)設(shè)置在所述電學(xué)檢測區(qū)與 所述第一重疊區(qū)之間的區(qū)域。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試線路，其特征在于，還包括用于控制所述開關(guān)的控制線 路。
8. -種顯示面板，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至7任一所述的測試線路。
9. 一種顯示裝置，其特征在于，包括如權(quán)利要求8所述的顯示面板。
【文檔編號(hào)】G02F1/13GK203838446SQ201420266323
【公開日】2014年9月17日 申請(qǐng)日期:2014年5月23日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月23日
【發(fā)明者】唐磊, 李彬 申請(qǐng)人:北京京東方光電科技有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司