專利名稱：一種檢測線路及液晶顯示面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種檢測線路及液晶顯示面板的制作方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示器的制作過程，一般分為陣列 制程、組立制程以及模組制程。陣列制程主要是以玻璃為基底制成液晶顯示器所需的玻璃基板，以在組立制程中將玻璃基板與彩色濾光基板結(jié)合，并在兩基板之間注入液晶后貼合，從而形成大片的組合玻璃，再將組合玻璃切割形成多個(gè)液晶顯示面板。在模組制程中，對切割后形成的液晶顯示面板與背框等多種零件進(jìn)行組裝以形成液晶顯示器。在組立制程中，形成大片的組合玻璃之后，對大片的組合玻璃進(jìn)行切割之前，還需對大片的組合玻璃進(jìn)行測試，以保證后續(xù)制程的順利進(jìn)行。其中，大片的組合玻璃具有多個(gè)面板單元，需對這些面板單元分別進(jìn)行陣列測試或PSVA (Polymer StabilizationVertical Alignment,聚合物穩(wěn)定垂直對齊)測試等，以確定每個(gè)面板單元是否能正常工作。如圖I所示，大片的組合玻璃10具有N個(gè)面板單元11，每個(gè)面板單元需要的測試線路(Test circuit)或PSVA線路為m條，則整個(gè)組合玻璃10上至少需要N x m條測試線路或PSVA線路，并且每一條測試線路或PSVA線路對應(yīng)一個(gè)Pad (測試墊，圖中未示)，因此大片的組合玻璃10至少需要Nxmf Pad，以通過Pad對測試線路或PSVA線路施加測試信號。在圖I中，每個(gè)面板單元11對應(yīng)一個(gè)Pad set (測試墊集合)12,其中每個(gè)Pad set12具有m個(gè)Pad，其分別連接至每個(gè)面板單元11的m條測試電路或PSVA線路。通過此種檢測線路，能夠分別對多個(gè)面板單元進(jìn)行檢測。但是，當(dāng)大片的組合玻璃10具有較多的面板單元11 (即N的數(shù)目較大)或者大片的組合玻璃10利用率較高時(shí)，測試線路或Pad的數(shù)目也會(huì)較多，此時(shí)難以在大片的組合玻璃10上設(shè)置如此多的測試線路和Pad。參閱圖2，為了精簡大片的組合玻璃20上的線路或Pad的數(shù)目，本申請發(fā)明人曾經(jīng)提出一種解決辦法，該解決的方法是將不同面板單元21的相同信號的測試線路或PSVA線路以并接的方式連接至同一條線路中，每條線路與一個(gè)Pad連接，其中Pad set22中包括m個(gè)Pad。因此，大片的組合玻璃20的測試線路或PSVA線路可由N x m條簡化為m條，而Pad數(shù)目也可由N X m個(gè)簡化為m個(gè)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種檢測線路及液晶顯示面板的制作方法，能夠簡化多個(gè)面板單元的周邊檢測線路，減小檢測線路的負(fù)載，同時(shí)也能夠明確分辨出發(fā)生短路的面板單元。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是提供一種液晶顯示器組立制程中的檢測線路，用于對具有多個(gè)面板單元的組合基板進(jìn)行測試，其特征在于，多個(gè)面板單元分為至少兩組，每組面板單元至少包括一個(gè)面板單元，多個(gè)面板單元包括至少一組信號線，檢測線路包括設(shè)置于組合基板上的至少一組測試線，每組測試線至少包括一條測試線；設(shè)置于組合基板上的多組控制線，每組控制線至少包括一條控制線；設(shè)置于組合基板上的測試墊集合，測試墊集合包括多組控制信號墊和至少一組測試信號墊；設(shè)置于組合基板上的開關(guān)集合，開關(guān)集合包括至少兩組控制開關(guān)，每組控制開關(guān)至少包括一個(gè)控制開關(guān)，控制開關(guān)包括控制端、輸入端以及輸出端；每個(gè)控制開關(guān)的控制端均通過相應(yīng)的控制線電連接至相應(yīng)的控制信號墊，每個(gè)控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的測試線電連接至相應(yīng)的測試信號墊，每個(gè)控制開關(guān)的輸出端均與相應(yīng)的面板單元的信號線電連接；其中一條測試線分別通過至少兩個(gè)相應(yīng)的控制開關(guān)連接到至少兩個(gè)面板單元。其中，控制信號墊的組數(shù)量、控制線的組數(shù)量、面板單元的組數(shù)量一致，并且一一對應(yīng)。其中，每組面板單元對應(yīng)的控制開關(guān)的控制端均通過相應(yīng)的一條控制線電連接至相應(yīng)的一個(gè)控制信號墊；測試線的數(shù)量和測試信號墊的數(shù)量一致，并一一對應(yīng)，所有面板單元相同的信號線對應(yīng)的控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的一條測試線電連接至相應(yīng)的一個(gè)·測試信號墊。其中，控制開關(guān)為薄膜晶體管，包括柵極、源極以及漏極，柵極通過相應(yīng)的控制線與相應(yīng)的控制信號墊電連接，源極通過相應(yīng)的測試線與測試信號墊電連接，漏極與信號線電連接。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是提供一種液晶顯示面板的制作方法，包括準(zhǔn)備第一基板和第二基板，其中第一基板對應(yīng)多個(gè)面板單元，多個(gè)面板單元分為至少兩組，每組面板單元至少包括一個(gè)面板單元，多個(gè)面板單元包括至少一組信號線，在第一基板或第二基板形成檢測線路，檢測線路包括至少一組測試線，每組測試線至少包括一條測試線；多組控制線，每組控制線至少包括一條控制線；測試墊集合，測試墊集合包括多組控制信號墊和至少一組測試信號墊；開關(guān)集合，開關(guān)集合包括至少兩組控制開關(guān)，每組控制開關(guān)至少包括一個(gè)控制開關(guān)，控制開關(guān)包括控制端、輸入端以及輸出端；每個(gè)控制開關(guān)的控制端均與通過相應(yīng)的控制線電連接至相應(yīng)的控制信號墊，每個(gè)控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的測試線電連接至相應(yīng)的測試信號墊，每個(gè)控制開關(guān)的輸出端均與相應(yīng)的面板單元的信號線電連接；其中一條測試線分別通過至少兩個(gè)相應(yīng)的控制開關(guān)連接至至少兩個(gè)面板單元；組裝第一基板和第二基板，并在第一基板和第二基板之間形成液晶層，以形成具有多個(gè)面板單元的組合基板；依次對每個(gè)控制信號墊施加選擇電信號，依次電導(dǎo)通相應(yīng)面板單元的控制開關(guān)而使其他所有控制開關(guān)保持關(guān)閉，并在電導(dǎo)通一個(gè)面板單元對應(yīng)的控制開關(guān)時(shí)，通過測試信號墊對相應(yīng)面板單元進(jìn)行測試；在完成測試后切割組合基板以形成多個(gè)對應(yīng)面板單元的液晶顯示面板。其中，控制信號墊的組數(shù)量、控制線的組數(shù)量、面板單元的組數(shù)量一致，并且一一對應(yīng)。其中，每組面板單元對應(yīng)的控制開關(guān)的控制端均通過相應(yīng)的一條控制線電連接至相應(yīng)的一個(gè)控制信號墊；測試線的數(shù)量和測試信號墊的數(shù)量一致，并一一對應(yīng)，所有面板單元相同的信號線對應(yīng)的控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的一條測試線電連接至一個(gè)測試信號墊。
其中，控制開關(guān)為薄膜晶體管，包括柵極、源極以及漏極，柵極通過相應(yīng)的控制線與相應(yīng)的控制信號墊電連接，源極與通過相應(yīng)的測試線與測試信號墊電連接，漏極與信號線電連接。本發(fā)明的有益效果是本申請發(fā)明人較早前提出將不同面板單元21的相同信號的測試線路或PSVA線路以并接的方式連接至同一條線路中、每條線路與一個(gè)Pad連接，此種簡化線路的方式，使得每個(gè)Pad與N X m條測試線路或PSVA線路連接，導(dǎo)致每個(gè)Pad所對應(yīng)的電容負(fù)載增大，這就需要外加的電源供應(yīng)器必須要有足夠的電流供應(yīng)能力，否則容易發(fā)生推力不足的問題。再者，在測試的過程中，N個(gè)面板單元21同時(shí)進(jìn)行測試，若N個(gè)面板單元21中的其中一個(gè)面板單元21發(fā)生短路的情況，無法辨別出發(fā)生短路的面板單元。本發(fā)明人根據(jù)上述情況，在本發(fā)明中使檢測線路通過設(shè)置測試墊集合和開關(guān)集合，將每個(gè)面板單元的所有信號線分別通過開關(guān)集合中的控制開關(guān)的輸入端和輸出端與測試墊集合中的相應(yīng)測試信號墊連接，控制開關(guān)的控制端則電連接至控制信號墊，以選擇性地對一個(gè)或以上面板單元進(jìn)行有區(qū)別的測試，能夠簡化測試線路的同時(shí)，減小測試線路的負(fù)載，也能夠明確分辨出發(fā)生短路的面板單元?！?br>

圖I是現(xiàn)有技術(shù)中對多個(gè)面板單元進(jìn)行檢測的線路布局示意圖；圖2是本發(fā)明人在較早前提出的簡化組合玻璃的測試線路的線路布局示意圖；圖3是本發(fā)明液晶顯示器組立制程中的檢測線路的一實(shí)施方式的線路布局示意圖；圖4是本發(fā)明液晶顯示組立制程中的檢測線路的另一實(shí)施方式的線路布局示意圖；圖5是本發(fā)明液晶顯示組立制程中的檢測線路的又一實(shí)施方式的線路布局示意圖；圖6是本發(fā)明液晶顯示面板的制作方法的一實(shí)施方式的流程圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明的液晶顯示器組立制程中的檢測線路，能夠簡化測試線路，減小測試線路的負(fù)載，同時(shí)也能夠明確分辨出發(fā)生短路的面板單元。下面將結(jié)合附圖和實(shí)施方式對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)描述。參閱圖3，在本發(fā)明液晶顯示器組立制程中的檢測線路的一實(shí)施方式中，檢測線路用于對具有多個(gè)面板單元的組合基板100進(jìn)行測試，包括對多個(gè)面板單元進(jìn)行的陣列測試或者PSVA測試等。具體地，組合基板100包括N(N大于或等于2)個(gè)面板單元，分別為面板單元1011-101N。其中面板單元IOlk(k小于或等于N，表示N個(gè)面板單元中的第k個(gè)面板單元)包括至少一條信號線。以兩條信號線為例，面板單元IOlk包括第一信號線1021和第二信號線1022。對應(yīng)地，檢測線路包括設(shè)置在組合基板100上的兩條測試線，分別為第一測試線1031和第二測試線1032 ;設(shè)置在組合基板100上的多條控制線，分別為控制線1041-104N ；
設(shè)置在組合基板100上的測試墊集合108，其包括多個(gè)控制信號墊和兩個(gè)測試信號墊，多個(gè)控制信號墊分別為控制信號墊1061-106N，兩個(gè)測試信號墊分別為第一測試信號墊1051和第二測試信號墊1052 ；設(shè)置在組合基板100上的開關(guān)集合107，其包括多個(gè)控制開關(guān)1071，控制開關(guān)1071包括控制端10711、輸入端10712以及輸出端10713。其中，每個(gè)控制開關(guān)1071的控制 端10711均通過相應(yīng)的控制線電連接至相應(yīng)的控制信號墊，輸入端10712均通過相應(yīng)的測試線電連接至相應(yīng)的測試信號墊，輸出端10713均與相應(yīng)的面板單元的信號線電連接。第一測試線1031分別通過N個(gè)控制開關(guān)1071連接至N個(gè)面板單元，第二測試線1032分別通過另外的N個(gè)控制開關(guān)1071連接至N個(gè)面板單元。具體地，第一測試線1031與第一測試信號墊1051電連接，第二測試線1032與第二測試信號墊1052電連接。控制線1041-104N對應(yīng)地與控制信號墊1061-106N電連接。面板單元1011-101N的第一信號線1021均分別通過一個(gè)控制開關(guān)1071與對應(yīng)的第一測試線1031連接，以通過第一測試信號墊1051輸入測試信號至面板單元1011-101N ;面板單元1011-101N的第二信號線1022均分別通過另一個(gè)控制開關(guān)1071與對應(yīng)的第二測試線1032連接，以通過第二測試信號墊1052輸入測試信號至面板單元1011-101N。進(jìn)一步地，以面板單元IOlk為例，面板單元IOlk的第一信號線1021和第二信號線1022分別與兩個(gè)控制開關(guān)1071的輸出端10713電連接，兩個(gè)控制開關(guān)1071的輸入端10712分別與第一測試線1031和第二測試線1032電連接，以分別通過第一測試信號墊1051和第二測試信號墊1052輸入測試信號至面板單元101k。而面板單元IOlk對應(yīng)的兩個(gè)控制開關(guān)1071的控制端10711均通過對應(yīng)的控制線104k (表示第k條控制線)與控制信號墊106k (表示第k個(gè)控制信號墊)電連接，以通過控制信號墊106k控制面板單元IOlk對應(yīng)的兩個(gè)控制開關(guān)1071的打開與關(guān)閉。從另外一個(gè)角度來說，也可以認(rèn)為N個(gè)面板單元1011-101N分為N組，每組面板單元包括一個(gè)面板單元，即面板單元101k。面板單元IOlk包括兩組信號線，一組信號線包括第一信號線1021，另一組信號線包括第二信號線1022，因此多個(gè)面板單元包括多組信號線。檢測線路中，包括兩組測試線，一組測試線包括第一測試線1031，另一組測試線包括第二測試線1032 #組控制線，每組控制線包括一條控制線，即控制線104k ;N組控制信號墊，每組控制信號墊包括一個(gè)控制信號墊，即控制信號墊106k ;兩組測試信號墊，一組測試信號墊包括第一測試信號墊1051，另一組測試信號墊包括第二測試信號墊1052 ;多組控制開關(guān)，每組控制開關(guān)包括一個(gè)控制開關(guān)1071。其中，N個(gè)面板單元1011-101N的組數(shù)量、N個(gè)控制信號墊1061-106N的組數(shù)量以及N條控制線1041-104N的組數(shù)量一致，并且一組面板單元對應(yīng)一組控制信號墊和一組控制線，三者一一對應(yīng)。而N個(gè)面板單元1011-101N的所有信號線的組數(shù)量和開關(guān)集合107中的控制開關(guān)1071的組數(shù)量一致，一組信號線對應(yīng)一組控制開關(guān)，兩者一一對應(yīng)。進(jìn)一步地，每組控制開關(guān)中控制開關(guān)1071的數(shù)量與相應(yīng)面板單元的每組信號線中的信號線的數(shù)量一致，并一一對應(yīng)；每組面板單元對應(yīng)的控制開關(guān)的控制端均通過相應(yīng)的一條控制線電連接至相應(yīng)的一個(gè)控制信號墊，可理解為，面板單元IOlk對應(yīng)的所有控制開關(guān)1071的控制端10711均通過控制線104k電連接至相應(yīng)的控制信號墊106k ;測試線的數(shù)量和測試信號墊的數(shù)量一致，并——對應(yīng)，并且，所有面板單元1011-101N的第一信號線1021對應(yīng)的控制開關(guān)1071的輸入端10712均通過相應(yīng)的第一測試線1031電連接至相應(yīng)的第一測試信號墊1051，所有面板單元1011-101N的第二信號線1022對應(yīng)的控制開關(guān)1071的輸入端10712均通過相應(yīng)的第二測試線1032電連接至相應(yīng)的第二測試信號墊1052。本實(shí)施方式的控制開關(guān)1071可以是薄膜晶體管，包括作為控制端的柵極、作為輸入端的源極以及作為輸出端的漏極。對應(yīng)地，面板單元IOlk對應(yīng)的兩個(gè)薄膜晶體管的柵極分別通過相應(yīng)的控制線104k與相應(yīng)的控制信號墊106k電連接，源極分別通過相應(yīng)的第一測試線1031和第二測試線1032與第一測試信號墊1051和第二測試信號墊1052電連接，漏極分別與相應(yīng)的第一信號線1021和第二信號線1022電連接。本實(shí)施方式通過控制信號墊1061-106N能夠選擇性地對面板單元1011-101N中的一個(gè)面板單元進(jìn)行測試。具體為，對面板單元IOlk進(jìn)行測試時(shí)，首先對應(yīng)地在控制信號墊106k輸入控制信號，以打開面板單元IOlk對應(yīng)的所有控制開關(guān)1071，然后第一測試信號墊1051和第二測試信號墊1052分別通過對應(yīng)的控制開關(guān)1071輸入測試信號至第一信號線1021和第二信號線1022，以使測試信號進(jìn)入面板單元101k。通過上述方式，本實(shí)施方式的·檢測線路能選擇性地對一個(gè)面板單元進(jìn)行單獨(dú)測試，避免了第一、第二測試線對多個(gè)面板單元進(jìn)行測試而出現(xiàn)較大負(fù)載的問題，同時(shí)能夠簡化測試線路，減小檢測線路的負(fù)載，明確分辨出發(fā)生短路的面板單元。當(dāng)然，在檢測線路允許的負(fù)載值的范圍內(nèi)，也可以通過控制信號墊1061-106N同時(shí)對多個(gè)面板單元進(jìn)行測試，具體測試過程可參考上述測試方式，在此不進(jìn)行贅述。而根據(jù)實(shí)際測試的需要，例如，需對面板單元1011-101N進(jìn)行PSVA測試，可同時(shí)對控制信號墊1061-106N輸入控制信號，以使得第一、第二測試信號墊同時(shí)對面板單元1011-101N輸入PSVA測試信號進(jìn)行PSVA檢測。此外，面板單元IOlk還可以包括三條或更多的信號線，而每條信號線需一個(gè)控制開關(guān)與對應(yīng)的測試線連接，不同面板單元的相同信號線分別通過控制開關(guān)連接至同一條測試線，測試線與測試信號墊的數(shù)量一致，具體的線路布局可參考上述實(shí)施方式的檢測線路，在此不進(jìn)行詳細(xì)描述。上述實(shí)施方式中每組面板單元包括一個(gè)面板單元，當(dāng)然，在另一實(shí)施方式中也可以使不同的面板單元組包括不同個(gè)面板單元，參閱圖4，本實(shí)施方式以三個(gè)面板單元2011-2013為例，面板單元2011-2013均包括第一信號線2021和第二信號線2022兩條信號線。將三個(gè)面板單元2011-2013分為兩組，分別為第一面板單元組201和第二面板單元組202，其中第一面板單元組201包括面板單元2011-2012，第二面板單元組包括面板單元2013。第一面板單元組201包括一組信號線，該組信號線包括面板單元2011-2012的第一信號線2021和第二信號線2022。第二面板單元組202包括一組信號線，該組信號線包括面板單元2013的第一信號線2021和第二信號線2022。開關(guān)集合207包括兩組控制開關(guān)，分別為第一控制開關(guān)組2071和第二控制開關(guān)組2072，每組控制開關(guān)均包括兩個(gè)控制開關(guān)3071。其中，第一面板單元組201的兩個(gè)面板單元2011-2012的第一信號線2021均與第一控制開關(guān)組2071的一個(gè)控制開關(guān)3071的輸出端30713電連接，第二信號線2022均與另一個(gè)控制開關(guān)3071的輸出端30713電連接。第二面板單元組202的面板單元2013的第一信號線2021與第二控制開關(guān)組2072的一個(gè)控制開關(guān)3071的輸出端30713電連接，第二信號線2022與另一個(gè)控制開關(guān)3071的輸出端30713電連接。第一控制開關(guān)組2071的兩個(gè)控制開關(guān)3071的控制端30711均通過第一控制線2041與第一控制信號墊2061電連接，第二控制開關(guān)組2072的兩個(gè)控制開關(guān)3071的控制端30711均通過第二控制線2042與第二控制信號墊2062電連接。面板單元2011-2013的第一信號線2021對應(yīng)的控制開關(guān)3071的輸入端30712均通過第一測試線2031與第一測試信號墊2051電連接，面板單元2011-2013的第二信號線2022對應(yīng)的控制開關(guān)3071的輸入端30712均通過第二測試線2032與第二測試信號墊2052電連接。通過上述方式，本實(shí)施方式只需通過相應(yīng)的控制信號墊輸入控制信號即可分別對第一面板單元組201和第二面板單元組202進(jìn)行測試，并且在檢測線路允許的負(fù)載值范圍內(nèi)，使第一面板單元組201的兩個(gè)面板單元2011-2012通過相同的兩個(gè)控制開關(guān)3071與第一、第二測試信號墊2051、2052連接，通過第一控制開關(guān)組2071同時(shí)測試面板單元2011和2012，由此能夠減少檢測線路的控制開關(guān)數(shù)量，降低成本，也能夠簡化檢測線路，減小檢測線路的負(fù)載，并且能分辨出發(fā)生短路的面板單元組。值得注意的是，本實(shí)施方式的多個(gè)面板單元還可以進(jìn)行其他方式的分組，如分為·三組，每組面板單元也可以包括不同個(gè)數(shù)的面板單元，而在允許的負(fù)載值范圍內(nèi)，檢測線路可以采用與圖3類似的線路布局，以能夠?qū)为?dú)一個(gè)面板單元進(jìn)行測試，或者采用與圖4相類似的線路布局，以對不同面板單元組進(jìn)行測試，在此不進(jìn)行具體限制。參閱圖5，本發(fā)明檢測線路的又一實(shí)施方式中，以四個(gè)面板單元3011-3014為例，在檢測線路的負(fù)載值允許的范圍內(nèi)，將兩個(gè)面板單元分為一組。其中，第一面板單元組301包括面板單元3011和3012，第二面板單元組包括面板單元3013和3014。將第一面板單元組301的兩個(gè)面板單元3011、3012的第一信號線3021對應(yīng)的控制開關(guān)4071的控制端40711均通過控制線3041電連接至控制信號墊3061，第二信號線3022對應(yīng)的控制開關(guān)4071的控制端40711均通過控制線3042電連接至控制信號墊3062。第二面板單元組302的兩個(gè)面板單元3013、3014的第一信號線3021對應(yīng)的控制開關(guān)4071的控制端40711均通過控制線3043電連接至控制信號墊3063，第二信號線3022對應(yīng)的控制開關(guān)4071的控制端40711均通過控制線3044電連接至控制信號墊3064。本實(shí)施方式通過將每組面板單元中不同面板單元的相同信號線對應(yīng)的控制開關(guān)的控制端電連接至同一控制信號墊，能夠減小檢測線路負(fù)載，辨別出發(fā)生短路的面板單元組，同時(shí)也能檢測出不同面板單元的相同信號線是否發(fā)生短路或故障。參閱圖6，本發(fā)明液晶顯示面板的制作方法的一實(shí)施方式，包括步驟步驟S601 :準(zhǔn)備第一基板和第二基板，其中第一基板對應(yīng)多個(gè)面板單元，多個(gè)面板單元分為至少兩組，每組面板單元至少包括一個(gè)面板單元，多個(gè)面板單元包括至少一組信號線，在第一基板或第二基板上形成檢測線路，檢測線路包括至少一組測試線、多組控制線、測試墊集合以及開關(guān)墊集合，其中測試墊集合包括多組控制信號墊和至少一組測試信號墊，開關(guān)集合包括至少兩組控制開關(guān)。本實(shí)施方式的檢測線路為上述各實(shí)施方式的檢測線路，以圖3所示的檢測線路為例進(jìn)行說明。參閱圖3,將N (N大于或等于2)個(gè)面板單元分1011-101N為N組,每組包括一個(gè)面板單元。檢測線路中，包括兩組測試線，一組測試線包括第一測試線1031，另一組測試線包括第二測試線1032 ；N組控制線1041-104N，每組控制線包括一條控制線；N組控制信號墊1061-106N，每組控制信號墊包括一個(gè)控制信號墊；兩組測試信號墊，一組測試信號墊包括第一測試信號墊1051，另一組測試信號墊包括第二測試信號墊1052 ;多組控制開關(guān)，每組控制開關(guān)包括一個(gè)控制開關(guān)1071。其中，每個(gè)控制開關(guān)1071的控制端均通過控制線1041-104N中相應(yīng)的控制線電連接至控制信號墊1061-1061N中相應(yīng)控制信號墊，輸入端均通過第一測試線1021、1022中相應(yīng)的測試線電連接至測試信號墊1051、1052中相應(yīng)的測試信號墊，輸出端均與面板單元1011-101N中相應(yīng)面板單元的信號線電連接。第一測試線1031通過N個(gè)控制開關(guān)1071連接至N個(gè)面板單元，第二測試線1032通過另外的N個(gè)控制開關(guān)1071連接至N個(gè)面板單元。步驟S602 :組裝第一基板和第二基板，并在第一基板和第二基板之間形成液晶層，以形成具有多個(gè)面板單元的組合基板。步驟S603 :依次對每個(gè)控制信號墊施加選擇電信號，依次電導(dǎo)通相應(yīng)面板單元的控制開關(guān)而使其他所有控制開關(guān)保持關(guān)閉，并在電導(dǎo)通一個(gè)面板單元對應(yīng)的控制開關(guān)時(shí)，通過測試信號墊對相應(yīng)面板單元進(jìn)行測試?！ぴ谛纬蓹z測線路后，形成液晶顯示面板之前，需對組合基板的多個(gè)面板單元進(jìn)行檢測，以判斷面板單元是否有損壞。將需檢測的面板單元所對應(yīng)的控制信號墊輸入電信號，以打開相應(yīng)面板單元的控制開關(guān)，再通過測試信號墊對相應(yīng)面板單元輸入測試信號，以對相應(yīng)面板單元進(jìn)行測試。步驟S604 :在完成測試后切割組合基板以形成多個(gè)對應(yīng)面板單元的液晶顯示面板。在完成測試后，將組合基板進(jìn)行切割以將每個(gè)面板單元分離出來，在后續(xù)制程中通過對每個(gè)面板單元進(jìn)行框膠固化等制程以形成液晶顯示面板。本實(shí)施方式的液晶顯示面板的制作方法，在第一基板或第二基板上形成的檢測線路，從而在形成具有多個(gè)面板單元的組合基板時(shí)可以對每個(gè)面板單元進(jìn)行單獨(dú)測試，避免檢測線路對多個(gè)面板單元進(jìn)行同時(shí)檢測而出現(xiàn)負(fù)載較大的問題，能夠簡化檢測線路，減小檢測線路的負(fù)載，并能明確分辨出短路的面板單元。以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施方式，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種液晶顯示器組立制程中的檢測線路，用于對具有多個(gè)面板單元的組合基板進(jìn)行測試，其特征在于，多個(gè)所述面板單元分為至少兩組，每組所述面板單元至少包括一個(gè)面板單元，所述多個(gè)面板單元包括至少一組信號線，所述檢測線路包括 設(shè)置于所述組合基板上的至少一組測試線，每組所述測試線至少包括一條測試線； 設(shè)置于所述組合基板上的多組控制線，每組所述控制線至少包括一條控制線； 設(shè)置于所述組合基板上的測試墊集合，所述測試墊集合包括多組控制信號墊和至少一組測試信號墊； 設(shè)置于所述組合基板上的開關(guān)集合，所述開關(guān)集合包括至少兩組控制開關(guān)，每組所述控制開關(guān)至少包括一個(gè)控制開關(guān)，所述控制開關(guān)包括控制端、輸入端以及輸出端； 每個(gè)所述控制開關(guān)的控制端均通過相應(yīng)的控制線電連接至相應(yīng)的控制信號墊，每個(gè)所述控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的測試線電連接至相應(yīng)的測試信號墊，每個(gè)所述控制開關(guān)的輸出端均與相應(yīng)的面板單元的信號線電連接； 其中一條所述測試線分別通過至少兩個(gè)相應(yīng)的控制開關(guān)連接到至少兩個(gè)面板單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測線路，其特征在于， 所述控制信號墊的組數(shù)量、控制線的組數(shù)量、面板單元的組數(shù)量一致，并且一一對應(yīng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測線路，其特征在于， 每組所述面板單元對應(yīng)的所述控制開關(guān)的控制端均通過相應(yīng)的一條所述控制線電連接至相應(yīng)的一個(gè)所述控制信號墊； 所述測試線的數(shù)量和測試信號墊的數(shù)量一致，并一一對應(yīng)，所有面板單元相同的所述信號線對應(yīng)的控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的一條測試線電連接至相應(yīng)的一個(gè)測試信號墊。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的檢測線路，其特征在于， 所述控制開關(guān)為薄膜晶體管，包括柵極、源極以及漏極，所述柵極通過相應(yīng)的控制線與相應(yīng)的控制信號墊電連接，所述源極通過相應(yīng)的測試線與測試信號墊電連接，所述漏極與信號線電連接。
5.一種液晶顯示面板的制作方法，其特征在于，包括 準(zhǔn)備第一基板和第二基板，其中第一基板對應(yīng)多個(gè)面板單元，多個(gè)所述面板單元分為至少兩組，每組所述面板單元至少包括一個(gè)面板單元，所述多個(gè)面板單元包括至少一組信號線，在所述第一基板或第二基板上形成檢測線路，所述檢測線路包括 至少一組測試線，每組所述測試線至少包括一條測試線； 多組控制線，每組所述控制線至少包括一條控制線； 測試墊集合，所述測試墊集合包括多組控制信號墊和至少一組測試信號墊； 開關(guān)集合，所述開關(guān)集合包括至少兩組控制開關(guān)，每組所述控制開關(guān)至少包括一個(gè)控制開關(guān)，所述控制開關(guān)包括控制端、輸入端以及輸出端； 每個(gè)所述控制開關(guān)的控制端均與通過相應(yīng)的控制線電連接至相應(yīng)的控制信號墊，每個(gè)所述控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的測試線電連接至相應(yīng)的測試信號墊，每個(gè)所述控制開關(guān)的輸出端均與相應(yīng)的面板單元的信號線電連接； 其中一條所述測試線分別通過至少兩個(gè)相應(yīng)的控制開關(guān)連接至至少兩個(gè)面板單元； 組裝所述第一基板和第二基板，并在第一基板和第二基板之間形成液晶層，以形成具有多個(gè)面板單元的組合基板； 依次對每個(gè)所述控制信號墊施加選擇電信號，電導(dǎo)通相應(yīng)面板單元的控制開關(guān)而使其他所有控制開關(guān)保持關(guān)閉，并在電導(dǎo)通一個(gè)所述面板單元對應(yīng)的控制開關(guān)時(shí)，通過所述測試信號墊對相應(yīng)面板單元進(jìn)行測試； 在完成所述測試后切割組合基板以形成多個(gè)對應(yīng)面板單元的液晶顯示面板。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的制作方法，其特征在于， 所述控制信號墊的組數(shù)量、控制線的組數(shù)量、面板單元的組數(shù)量一致，并且一一對應(yīng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的制作方法，其特征在于， 每組面板單元對應(yīng)的所述控制開關(guān)的控制端均通過相應(yīng)的一條控制線電連接至相應(yīng)的一個(gè)控制信號墊； 所述測試線的數(shù)量和測試信號墊的數(shù)量一致，并一一對應(yīng)，所有面板單元相同的所述信號線對應(yīng)的控制開關(guān)的輸入端均通過相應(yīng)的一條測試線電連接至一個(gè)測試信號墊。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的制作方法，其特征在于， 所述控制開關(guān)為薄膜晶體管，包括柵極、源極以及漏極，所述柵極通過相應(yīng)的控制線與相應(yīng)的控制信號墊電連接，所述源極與通過相應(yīng)的測試線與測試信號墊電連接，所述漏極與信號線電連接。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示器組立制程中的檢測線路，其通過設(shè)置測試墊集合和開關(guān)集合，將每個(gè)面板單元的所有信號線分別通過開關(guān)集合中的控制開關(guān)的輸入端和輸出端與測試墊集合中的相應(yīng)測試信號墊連接，控制開關(guān)的控制端則電連接至控制信號墊，以選擇性地對一個(gè)面板單元進(jìn)行單獨(dú)測試。本發(fā)明還提供一種液晶顯示面板的制作方法。通過上述方式，本發(fā)明能夠簡化檢測線路，減小檢測線路的負(fù)載。
文檔編號G02F1/1333GK102789076SQ20121027145
公開日2012年11月21日 申請日期2012年8月1日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月1日
發(fā)明者陳政鴻 申請人:深圳市華星光電技術(shù)有限公司