檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置及其去除異物的方法
【專利摘要】公開一種檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置及其去除異物的方法。提供一種檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置、包括所述檢測裝置的圖像形成設(shè)備及檢測方法。所述檢測裝置包括：檢測器，具有光通過的光窗，并經(jīng)由光窗檢測在圖像承載構(gòu)件上形成的調(diào)色劑圖像的狀態(tài)；以及清潔器，去除附著于光窗的表面的污染物質(zhì)。所述清潔器包括：吸附單元，由傳導(dǎo)材料形成，并在與光窗的表面接觸的同時往復(fù)運動；以及電壓施加單元，向吸附單元施加用于吸附污染物質(zhì)的電壓。
【專利說明】檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置及其去除異物的方法
[0001]本申請涉及并要求于2012年11月26日在韓國知識產(chǎn)權(quán)局提交的第10-2012-134872號韓國專利申請的優(yōu)先權(quán)，所述申請的公開通過引用合并于此。
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0002]本發(fā)明的實施例涉及一種用于檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置、采用所述檢測裝置的圖像形成設(shè)備及從所述檢測裝置去除異物的方法，更具體地講，涉及一種能夠通過防止檢測裝置的污染來減小檢測誤差的檢測裝置、采用所述檢測裝置的圖像形成設(shè)備及從所述檢測裝置去除異物的方法。
【背景技術(shù)】
[0003]圖像形成設(shè)備通過曝光操作在感光體上形成靜電潛像，通過供給調(diào)色劑在感光體上形成調(diào)色劑圖像，將在感光體上形成的調(diào)色劑圖像傳送到印刷介質(zhì)，并通過使用熱和壓力將傳送的調(diào)色劑圖像定影到印刷介質(zhì)，從而執(zhí)行印刷。
[0004]然而，在感光體上形成的調(diào)色劑圖像的情況下，由于在執(zhí)行傳送操作時環(huán)境的影響(諸如溫度和濕度)，因此調(diào)色劑圖像的狀態(tài)(諸如調(diào)色劑圖像的濃度和排列狀態(tài))可能偏離預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)。為了解決這種問題，可檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)，可根據(jù)通過檢測獲得的值來調(diào)整濃度，或者可調(diào)整排列狀態(tài)。
[0005]然而，由于檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置可被布置為與具有形成的調(diào)色劑圖像的圖像承載構(gòu)件(諸如感光體)相鄰來檢測調(diào)色劑圖像，因此檢測裝置可能在形成調(diào)色劑圖像時被異物(諸如散落的調(diào)色劑)污染。檢測裝置的這種污染產(chǎn)生了檢測誤差，這使得根據(jù)檢測誤差的調(diào)整操作變得不明確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]將在以下描述中部分闡述其他方面和/或優(yōu)點，并且其他方面和/或優(yōu)點從描述中部分將是顯然的，或者可通過本發(fā)明的實施而得知。
[0007]本發(fā)明的示例性實施例提供一種圖像形成設(shè)備的檢測裝置，所述檢測裝置能夠減小因附著于檢測裝置的異物所產(chǎn)生的檢測誤差。
[0008]本發(fā)明的示例性實施例提供一種包括檢測裝置的圖像形成設(shè)備和從所述檢測裝置去除異物的方法。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種檢測裝置。所述檢測裝置包括:檢測器，具有光通過的光窗，并經(jīng)由光窗檢測在圖像承載構(gòu)件上形成的調(diào)色劑圖像的狀態(tài)；清潔器，去除附著于光窗的表面的污染物質(zhì)。所述清潔器包括:吸附單元，由傳導(dǎo)材料形成，并在與光窗的表面接觸的同時往復(fù)運動；電壓施加單元，向吸附單元施加用于吸附污染物質(zhì)的第一電壓。
[0010]吸附單元能夠被移動到與光窗接觸的第一位置以及釋放與光窗的接觸的第二位置。
[0011]當(dāng)吸附單元位于第一位置時，電壓施加單元可向吸附單元施加用于吸附污染物質(zhì)的第一電壓。
[0012]第一電壓可以是具有與污染物質(zhì)相反的極性的電壓。
[0013]第一電壓的極性可周期性地轉(zhuǎn)換。
[0014]清潔器可包括收集污染物質(zhì)的污染物質(zhì)收集單元。
[0015]污染物質(zhì)收集單元可包括與吸附單元的移動路徑交叉并與吸附單元接觸所凸起的接觸凸起。
[0016]當(dāng)吸附單元位于第二位置時，電壓施加單元可向吸附單元施加用于從吸附單元分離污染物質(zhì)的第二電壓。
[0017]第二電壓可以是具有與污染物質(zhì)相同的極性的電壓和接地電壓之一。
[0018]當(dāng)吸附單元位于第二位置時，電壓施加單元可向污染物質(zhì)收集單元施加用于將污染物質(zhì)收集到污染物質(zhì)收集單元中的第三電壓。
[0019]第三電壓可以是具有與污染物質(zhì)相反的極性的電壓。
[0020]電壓施加單元可向吸附單元施加用于防止污染物質(zhì)附著于光窗的第四電壓。
[0021 ] 第四電壓可以是具有與污染物質(zhì)相同的極性的電壓和接地電壓之一。
[0022]所述檢測裝置可包括:包含所述檢測器的外殼，所述外殼在光窗與圖像承載構(gòu)件之間具有開口以允許光通過；遮板，打開和關(guān)閉所述開口。
[0023]吸附單元可被安裝在遮板的面向檢測器的表面上，并且吸附單元可通過遮板的移動來去除附著于光窗的污染物質(zhì)。
[0024]根據(jù)本總體發(fā)明構(gòu)思的一方面，提供一種包括所述檢測裝置的圖像形成設(shè)備。
[0025]所述設(shè)備可包括:包含所述檢測器的外殼，所述外殼在光窗與圖像承載構(gòu)件之間具有開口以允許光通過；遮板，打開和關(guān)閉所述開口。
[0026]吸附單元可被安裝在遮板的面向檢測器的表面上，并且吸附單元可通過遮板的移動來去除附著于光窗的污染物質(zhì)。
[0027]根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供一種由檢測在圖像承載構(gòu)件上形成的調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置執(zhí)行的去除污染物質(zhì)的方法。所述方法包括:向在與光窗接觸的同時往復(fù)運動的吸附單元施加用于吸附污染物質(zhì)的第一電壓，以吸附附著于檢測器的光窗的污染物質(zhì)；通過使用在吸附單元與污染物質(zhì)之間產(chǎn)生的電學(xué)基本力而允許污染物質(zhì)被吸附到吸附單元上。
[0028]在允許污染物質(zhì)被吸附到吸附單元上的步驟中，吸附單元可位于與光窗接觸的位置。
[0029]第一電壓可以是具有與污染物質(zhì)相反的極性的電壓。
[0030]第一電壓的極性可周期性地轉(zhuǎn)換。
[0031]所述方法可包括:在允許污染物質(zhì)被吸附到吸附單元上之后，分離吸附到吸附單元上的污染物質(zhì)。
[0032]在分離污染物質(zhì)的步驟中，吸附單元可位于用于釋放與光窗的接觸的位置。
[0033]在分離污染物質(zhì)的步驟中，吸附單元可在與形成在污染物質(zhì)收集單元上的接觸凸起接觸的同時被移動。
[0034]在分離污染物質(zhì)的步驟中，可向吸附單元施加用于分離吸附到吸附單元上的污染物質(zhì)的第二電壓。[0035]第二電壓可以是具有與污染物質(zhì)相同的極性的電壓和接地電壓之一。
[0036]在分離污染物質(zhì)的步驟中，可向污染物質(zhì)收集單元施加用于將污染物質(zhì)收集到污染物質(zhì)收集單元中的第三電壓。
[0037]第三電壓可以是具有與污染物質(zhì)相反的極性的電壓。
[0038]在分離污染物質(zhì)之后，可向吸附單元施加用于防止污染物質(zhì)附著于光窗的第四電壓。
[0039]所述方法可包括:經(jīng)由布置在圖像承載構(gòu)件與檢測器之間的遮板的移動來確定檢測器的曝光。
[0040]吸附單元可被安裝在遮板的面向檢測器的表面上，并且通過遮板的移動來去除附著于光窗的污染物質(zhì)。
[0041]所述檢測裝置、圖像形成設(shè)備和通過使用所述檢測裝置去除污染物質(zhì)的方法可通過使用機(jī)械摩擦和電學(xué)基本力去除附著于檢測裝置的污染物質(zhì)，來提高去除附著于檢測裝置的污染物質(zhì)的效率。此外，減小了檢測誤差，并且根據(jù)檢測值無誤差地校正了調(diào)色劑圖像的狀態(tài)，從而改善印刷圖像的質(zhì)量。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0042]通過參照附圖詳細(xì)描述本總體發(fā)明構(gòu)思的示例性實施例，本總體發(fā)明構(gòu)思的上述和其他特征和優(yōu)點將變得更加清楚，其中:
[0043]圖1示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的圖像形成設(shè)備；
[0044]圖2示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的圖像形成設(shè)備中包括的檢測裝置；
[0045]圖3和圖4示出檢測裝置中包括的示例性檢測器；
[0046]圖5至圖7示出檢測裝置中的吸附單元的示例性位置；
[0047]圖8示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的示例性檢測裝置；
[0048]圖9示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的檢測裝置；
[0049]圖1OA至圖1OE示出檢測裝置的示例性操作狀態(tài)；
[0050]圖11是示出根據(jù)圖1OA至圖1OE的示例性順序的控制驅(qū)動單元的示例性方向、開啟/關(guān)閉驅(qū)動單元的順序以及電壓施加單元的電壓施加狀態(tài)的時序圖。
【具體實施方式】
[0051]參照附圖來公開本發(fā)明的示例性實施例，在附圖中示出了本發(fā)明的示例性實施例。
[0052]圖1示出根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例的圖像形成設(shè)備。圖像形成設(shè)備可包括顯影單元110、傳送單元120a和120b、定影單元130、供電單元140、調(diào)整單元150和檢測裝置100。傳送單元120a和120b可包括另外的傳送單元。
[0053]根據(jù)圖像形成設(shè)備的示例性實施例，當(dāng)從外部接收到圖像數(shù)據(jù)時，顯影單元110使圖像顯影。曝光單元111至114將光注入到感光體115至118，靜電潛像可分別在感光體115至118上被形成，感光體115至118可被提供有電化的調(diào)色劑，調(diào)色劑顆?？筛街诟泄怏w115至118的表面，從而形成調(diào)色劑圖像。為了形成調(diào)色劑圖像，雖然圖1中未示出，但是顯影單元110可包括與感光體115至118接觸的用于使感光體115至118的表面電化的充電元件、向感光體115至118提供調(diào)色劑的顯影元件以及清潔感光體115至118的表面的清潔元件。雖然圖1中示出了四個曝光單元111至114和四個感光體115至118，但是形成彩色圖像并分別包括用于四種顏色(諸如青色、品紅色、黃色和黑色)的感光體和曝光單元的示例性圖像形成設(shè)備不限于此。
[0054]在感光體115至118上形成的調(diào)色劑圖像可從第一傳送單元120a被傳送到中間傳送帶127。分別與青色、品紅色、黃色和黑色的各個顏色相應(yīng)的圖像可被依次傳送到通過中間傳送輥125和126旋轉(zhuǎn)的中間傳送帶127，從而形成彩色調(diào)色劑圖像。在中間傳送帶127上形成的調(diào)色劑圖像可從第二傳送單元120b被傳送到印刷介質(zhì)102。雖然圖1示出調(diào)色劑圖像從感光體115至118被傳送到中間傳送帶127，然后從中間傳送帶127被傳送到印刷介質(zhì)102 (這是間接傳送方法的示例)，但是可將圖像從感光體115至118直接傳送到印刷介質(zhì)。形成調(diào)色劑圖像的感光體115至118或中間傳送帶127可被指定為圖像承載構(gòu)件。
[0055]印刷介質(zhì)102與傳送的圖像可沿印刷介質(zhì)102至定影單元130的傳送路徑106被傳送，以被定影輥131和132加熱并加壓。因此，圖像可被定影到印刷介質(zhì)102，從而完成圖像形成過程。印刷介質(zhì)102可包含在進(jìn)給單元101中。
[0056]公開圖像形成過程中的由傳送單元120a和120b執(zhí)行的傳送過程。供電單元140將傳送電壓提供給第一傳送單元120a和第二傳送單元120b。為了將在感光體115至118上形成的圖像傳送到中間傳送帶127，供電單元140將第一傳送電壓施加到第一傳送輥121至124。第一傳送電壓具有與在感光體115至118的表面上的調(diào)色劑圖像相反的極性。在感光體115至118的表面上的調(diào)色劑圖像可通過由第一傳送電壓提供的靜電力而被傳送到中間傳送帶127。當(dāng)供電單元140將第二傳送電壓提供給第二傳送輥128時，調(diào)色劑圖像可從中間傳送帶127被傳送到沿印刷介質(zhì)102的傳送路徑106傳送的印刷介質(zhì)102的表面。
[0057]傳送的調(diào)色劑圖像的濃度可受傳送電壓的影響。由于諸如溫度和濕度的各種環(huán)境因素，期望的濃度可能偏離實際輸出的圖像的濃度。因此，為了輸出具有期望濃度的圖像，可執(zhí)行濃度調(diào)整。公開通過使用檢測裝置100執(zhí)行濃度調(diào)整的示例性方法。
[0058]檢測裝置100檢測在中間傳送帶127上形成的調(diào)色劑圖像的狀態(tài)，例如，調(diào)色劑圖像的濃度。根據(jù)將由檢測裝置100檢測到的調(diào)色劑圖像的濃度值與預(yù)設(shè)參考濃度值進(jìn)行比較的結(jié)果，調(diào)整單元150控制供電單元140，以控制提供給傳送單元120a和120b的傳送電壓。
[0059]在檢測裝置100正在檢測作為圖像承載構(gòu)件的中間傳送帶127的調(diào)色劑圖像的濃度時，異物(諸如散落的調(diào)色劑)可粘在檢測裝置100的表面，并可污染檢測裝置100。檢測裝置100的這種污染可引起檢測誤差，從而阻止了精確的濃度調(diào)整。因此，為了執(zhí)行精確的濃度調(diào)整，防止檢測裝置100的污染會是必需的。檢測裝置100的清潔器20 (如圖2所示)可以是用于去除附著于檢測器10 (例如，見圖2)的污染物質(zhì)的豆?fàn)钤?br> [0060]圖2示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的圖1的圖像形成設(shè)備中包括的示例性檢測裝置100。圖3和圖4示出作為檢測裝置100的元件的檢測器10。
[0061]參照圖2，檢測裝置100可包括檢測器10和清潔器20，其中，檢測器10檢測調(diào)色齊_像I的狀態(tài)(諸如調(diào)色劑圖像I的濃度)，清潔器20去除附著于檢測器10的污染物質(zhì)P。[0062]檢測器10檢測調(diào)色劑圖像I的狀態(tài)(諸如調(diào)色劑圖像I的濃度)。然而，如上所述，檢測器10在檢測調(diào)色劑圖像I的狀態(tài)時可能被污染物質(zhì)P污染。參照圖3和圖4，公開由被污染的檢測裝置100引起的檢測誤差的示例性發(fā)生。
[0063]參照圖3，在由檢測器10執(zhí)行的檢測中間傳送帶127上的調(diào)色劑圖像的濃度的過程中，發(fā)光單元11向在中間傳送帶127上形成的調(diào)色劑圖像發(fā)射光。作為發(fā)光單元11的示例，可使用發(fā)光二極管(LED)或半導(dǎo)體激光二極管。光接收單元13接收作為從發(fā)光單元11發(fā)射到調(diào)色劑圖像I并被調(diào)色劑圖像I反射的光的反射光，并從反射光的光強的變化檢測調(diào)色劑圖像I的濃度。外殼15包含發(fā)光單兀11和光接收單兀13以及由位于外殼15的一部分上的透射(或透明)材料形成的光窗17。從發(fā)光單元11發(fā)射的光和來自調(diào)色劑圖像I的反射光穿過光窗17。光窗17可防止外殼15外部的污染物質(zhì)P穿過并進(jìn)入外殼15中。
[0064]在調(diào)色劑圖像I被傳送到中間傳送帶127上時，如圖4所示，諸如散落的調(diào)色劑的污染物質(zhì)P浮于檢測器10周圍，并且部分污染物質(zhì)P附著于光窗17的表面。當(dāng)污染物質(zhì)P附著于光窗17的表面時，從發(fā)光單元11發(fā)射的光或來自調(diào)色劑圖像I的反射光從污染物質(zhì)P反射或者以如下方式折射:反射光可能無法到達(dá)光接收單元13，或者到達(dá)光接收單元13的反射光的光強可能無法精確地反映調(diào)色劑圖像I的濃度。
[0065]參照圖2，清潔器20可在與光窗17的表面接觸的情況下往復(fù)運動。在清潔器20往復(fù)運動時，可對與清潔器20接觸的污染物質(zhì)P施加機(jī)械摩擦，從而去除附著于光窗17的部分污染物質(zhì)P。然而，僅通過使用這種機(jī)械摩擦，可能無法完全去除附著于光窗17的污染物質(zhì)P。與光窗17分離的污染物質(zhì)P可散落并附著于光窗17。當(dāng)光窗17由允許因摩擦導(dǎo)致的靜電力發(fā)生的材料(諸如透明的聚碳酸酯)形成時，污染物質(zhì)P可容易地附著于光窗17。
[0066]根據(jù)示例性實施例，檢測裝置100的清潔器20可被形成為通過向附著于光窗17的污染物質(zhì)P施加除了機(jī)械摩擦之外的電學(xué)基本力或排斥力來去除附著于光窗17的污染物質(zhì)P。清潔器20可包括吸附單元21、移動吸附單元21的驅(qū)動單元22、將電壓施加到吸附單元21的電壓施加單元23以及控制驅(qū)動單元22和電壓施加單元23的控制單元24。
[0067]吸附單元21可與光窗17的表面接觸，并具有傳導(dǎo)材料。例如，吸附單元21的材料可以是傳導(dǎo)光纖。然而，吸附單元21的材料不限于此，并且可以是各種傳導(dǎo)材料。由于具有傳導(dǎo)材料，吸附單元21可被電壓施加單元23電化為特定極性。吸附單元21可以是刷子的形狀。傳導(dǎo)材料可指示能夠被由電壓施加單元23施加的電壓電化為特定電壓的材料。吸附單元21可包括能夠防止靜電發(fā)生的抗靜電材料。
[0068]驅(qū)動單元22移動與光窗17的表面接觸的吸附單元21，以允許形成為刷子形狀的吸附單元21擦過光窗17的表面。驅(qū)動單元22沿與檢測器10的發(fā)光方向交叉的方向移動吸附單元21，從而通過使用機(jī)械摩擦去除附著于光窗17的部分污染物質(zhì)P。
[0069]電壓施加單元23將具有特定極性的電壓施加到具有傳導(dǎo)材料的吸附單元21。例如，電壓施加單元23施加極性與污染物質(zhì)P的極性相反的第一電壓，從而將吸附單元21電化為具有與污染物質(zhì)P相反的極性。因此，以污染物質(zhì)P被吸附到吸附單元21的方式在吸附單元21與污染物質(zhì)P之間發(fā)生電學(xué)基本力。
[0070]控制單元24控制電壓施加單元23是否施加電壓以及電壓的極性，并且控制驅(qū)動單元22是否驅(qū)動以及驅(qū)動方向。[0071]圖5至圖7示出檢測裝置100的吸附單元21的示例性位置。
[0072]參照圖5，吸附單元21可被移動到與光窗17接觸的第一位置21A以及釋放與光窗17的接觸的第二位置21B-1和21B-2。如附圖中所示，示例性的第二位置21B-1和21B-2可包括吸附單元21被移動到檢測器10的左側(cè)和右側(cè)之間的其他位置?？刂茊卧?4控制驅(qū)動單元22將吸附單元21移動到第一位置21A與第二位置21B-1和21B-2之一?？刂茊卧?4根據(jù)吸附單元21的位置來確定電壓施加單元23是否施加電壓并確定電壓的極性。例如，當(dāng)吸附單元21位于第一位置21A時，控制單元24控制電壓施加單元23將第一電壓施加到吸附單元21以吸附污染物質(zhì)P。例如，第一電壓可以是極性與污染物質(zhì)P的極性相反的電壓。通過第一電壓，可通過與吸附單元21的機(jī)械摩擦而去除附著于光窗17的部分污染物質(zhì)P，而由于吸附單元21的電學(xué)基本力，部分污染物質(zhì)P可被吸附到吸附單元21上。
[0073]參照圖6，當(dāng)吸附單元21位于第二位置2IB-1和21B-2之一時，控制單元24可控制吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P的分離。在吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P未從吸附單元21除去或分離的同時，當(dāng)吸附單元21被移動到第一位置21A時，不僅吸附系數(shù)可減小，而且吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P可污染更多的光窗17。然而，根據(jù)本發(fā)明的示例性實施例，吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P在用于釋放與光窗17的接觸的第二位置21B-1和21B-2之一被除去，從而使吸附單元21免受污染物質(zhì)P的污染并允許吸附單元21被重復(fù)使用。
[0074]吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P可由污染物質(zhì)收集單元25-1和25_2收集。污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2可與檢測器10分離布置。污染物質(zhì)收集單元25-1和25_2可包括沿與吸附單元21的移動路徑交叉的方向凸出的接觸凸起26-1和26-2。例如，吸附單元21在從第一位置21A被移動到第二位置21B-1和21B-2之一或從第二位置21B-1和21B-2之一被移動到第一位置21A的同時，與接觸凸起26-1和26_2接觸。由于吸附單元21與污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2的接觸凸起26_1和26_2之間的機(jī)械摩擦，吸附到吸附單元21上的部分污染物質(zhì)P可落到污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2上。
[0075]盡管由于電學(xué)基本力或排斥力所導(dǎo)致的與接觸凸起26-1和26-2的機(jī)械摩擦，但是殘余污染物質(zhì)P可能無法從吸附單元21分離。當(dāng)吸附單元21位于第二位置21B-1和21B-2之一時，電壓施加單元23向吸附單元21施加用于將污染物質(zhì)P從吸附單元21分離的第二電壓。電壓施加單元23可向污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2施加用于將附著于吸附單元21的污染物質(zhì)P收集到污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2中的第三電壓。作為示例，電壓施加單元23可向位于第二位置21B-1和21B-2之一的吸附單元21施加極性與污染物質(zhì)P的極性相同的電壓，從而在吸附單元21與吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P之間產(chǎn)生電學(xué)排斥力。由于這種電學(xué)排斥力，污染物質(zhì)P可從吸附單元21分離，并可被收集到污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2中。為了允許污染物質(zhì)P被有效地收集到污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2中，電壓施加單元23可向污染物質(zhì)收集單元25_1和25_2施加極性與污染物質(zhì)P的極性相反的電壓。經(jīng)此，在吸附單元21與污染物質(zhì)P之間產(chǎn)生電學(xué)排斥力，從而將從吸附單元21分離的污染物質(zhì)P收集到污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2中。作為示例，電壓施加單元23可向吸附單元21施加接地電壓(即，0V)并向污染物質(zhì)收集單元25-1和25_2施加極性與污染物質(zhì)P的極性相反的電壓。經(jīng)此，釋放了吸附單元21與污染物質(zhì)P之間的電學(xué)排斥力，并在污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2與污染物質(zhì)P之間產(chǎn)生了電學(xué)基本力。由于在污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2與污染物質(zhì)P之間產(chǎn)生的電學(xué)基本力，污染物質(zhì)P可從吸附單元21分離，并被收集到污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2中。電壓施加單元23的電壓電平以及是否施加電壓可由控制單元24控制。
[0076]在中間傳送帶127上形成調(diào)色劑圖像的調(diào)色劑具有單一極性(諸如負(fù)極性)，但是由于其他環(huán)境因素，污染物質(zhì)P (諸如在形成調(diào)色劑圖像I時散落的調(diào)色劑)可具有除了負(fù)極性之外的正極性。當(dāng)污染物質(zhì)P具有負(fù)極性和正極性兩者時，可執(zhí)行若干次由吸附單元21吸附污染物質(zhì)P的操作。例如，電壓施加單元23可周期性地轉(zhuǎn)換并施加具有與污染物質(zhì)P的極性相反的正極性或負(fù)極性的電壓。
[0077]作為示例，為了允許吸附單元21吸附具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P，電壓施加單元23向位于第一位置21A的吸附單元21施加具有正極性的電壓。當(dāng)由吸附單元21吸附具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P的操作完成時，吸附單元21被移動到第二位置21B-1，并且向吸附單元21施加具有負(fù)極性的電壓，使得吸附到吸附單元21上的具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P落到污染物質(zhì)收集單元25-1中。分離并去除了具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P的吸附單元21被移動到第一位置21A。為了允許吸附單元21吸附具有正極性的污染物質(zhì)P，電壓施加單元23向吸附單元21施加具有負(fù)極性的電壓。當(dāng)由吸附單元21吸附具有正極性的污染物質(zhì)P的操作完成時，吸附單元21被移動到第二位置21B-2，并且向吸附單元21施加具有正極性的電壓，使得吸附到吸附單元21上的具有正極性的污染物質(zhì)P落到污染物質(zhì)收集單元25-2中。換言之，為了允許吸附單元21吸附并去除附著于光窗17的具有正極性和負(fù)極性的污染物質(zhì)，電壓施加單元23根據(jù)吸附單元21的位置以及污染物質(zhì)P是否被吸附到吸附單元21上來轉(zhuǎn)換施加到吸附單元21的電壓的極性。
[0078]根據(jù)示例性實施例，當(dāng)污染物質(zhì)P具有多個極性時，吸附單元21在兩個污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2之間往復(fù)運動，其中，兩個污染物質(zhì)收集單元25-1和25_2被布置為在兩個污染物質(zhì)收集單元25-1和25-2之間插入檢測器10。然而，本發(fā)明不限于此，如圖8所示，吸附單元21可在檢測器10與位于檢測器10的一側(cè)的單個收集單元25之間往復(fù)運動，并可去除具有多個極性的污染物質(zhì)P。當(dāng)污染物質(zhì)P基本上具有一個極性(例如，負(fù)極性)時，吸附單元21可在檢測器10與位于檢測器10的一側(cè)的單個收集單元25之間往復(fù)運動，并可去除具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P。
[0079]參照圖7，在如圖6所示吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P落到第二位置21B-1和21B-2之后，即，在從吸附單元21分離污染物質(zhì)P的操作完成之后，電壓施加單元23可向吸附單元21施加第四電壓，以防止污染物質(zhì)P附著于光窗17。電壓施加單元23可經(jīng)由吸附單元21電化光窗17。如圖5和圖6所示，在正執(zhí)行吸附單元21的吸附和分離過程的同時去除附著于光窗17的表面的污染物質(zhì)P。然而，如圖5所示，在吸附污染物質(zhì)P的同時，由于與施加了極性與污染物質(zhì)P的極性相反的電壓的吸附單元21的摩擦，光窗17的表面無意中會被電化為具有與污染物質(zhì)P的極性相反的極性。由于這個原因，光窗17的表面可處于附著了污染物質(zhì)P的狀態(tài)。因此，電壓施加單元23可通過向吸附單元21施加第四電壓來電化光窗17的表面，以防止污染物質(zhì)P附著于光窗17的表面。作為不例，光窗17可被電化為接地狀態(tài)。為此，電壓施加單元23可向吸附單元21施加接地電壓。當(dāng)光窗17被電化為接地狀態(tài)時，盡管污染物質(zhì)P具有正極性和負(fù)極性兩者，也可防止污染物質(zhì)P附著于光窗17。作為示例，光窗17可被電化為與污染物質(zhì)P相同的極性。電壓施加單元23可向吸附單元21施加具有與污染物質(zhì)P相同的極性的電壓。當(dāng)污染物質(zhì)P基本上具有一個極性(諸如負(fù)極性)時，光窗17的表面被電化為與污染物質(zhì)P相同的負(fù)極性，從而防止污染物質(zhì)P由于電學(xué)基本力而附著于光窗17的表面。
[0080]圖9示出根據(jù)本發(fā)明的實施例的檢測裝置100B。參照圖9，檢測裝置100B可包括檢測器10、清潔器20、外殼30和遮板(shutter) 31。
[0081]外殼30可包含檢測器10并被安裝在圖像形成設(shè)備中。外殼30可包括在光窗17與作為圖像承載構(gòu)件的中間傳送帶127之間的開口 30a，以允許光通過。
[0082]遮板31用于確定檢測器10的曝光，并可打開或關(guān)閉開口 30a。當(dāng)檢測器10不操作時，遮板31通過關(guān)閉開口 30a來保護(hù)檢測器10免于暴露于污染物質(zhì)P (諸如調(diào)色劑)并被污染物質(zhì)P污染。當(dāng)檢測器10操作時，遮板31通過打開開口 30a來允許光在光窗17與中間傳送帶127之間通過。
[0083]吸附單元21可被安裝在遮板31上。例如，吸附單元21可被安裝在遮板31面向檢測器10的表面上。隨著遮板31被移動，安裝在遮板31上的吸附單元21可去除附著于光窗17的污染物質(zhì)P。換言之，當(dāng)遮板31關(guān)閉開口 30a時，吸附單元21與光窗17的頂部接觸，并吸附污染物質(zhì)P。當(dāng)遮板31打開開口 30a時，吸附單元21從光窗17分離，并且吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P可下落。
[0084]圖1OA至圖1OE示出檢測裝置(例如，圖2的檢測裝置100)的示例性操作。圖11是示出根據(jù)圖1OA至圖1OE的順序的控制驅(qū)動單元22的方向、開啟/關(guān)閉驅(qū)動單元22的順序以及電壓施加單元23的電壓施加狀態(tài)的示例性時序圖。
[0085]參照圖1OA和圖11中的區(qū)段1100，電壓施加單元23向吸附單元21施加正電壓，驅(qū)動單元22控制吸附單元21在與光窗17接觸的同時左右往復(fù)運動。由于吸附單元21的往復(fù)運動，摩擦被施加到附著于光窗17的污染物質(zhì)P，并且作為結(jié)果，附著于光窗17的污染物質(zhì)P從光窗17分離。由于與具有正極性的吸附單元21的電學(xué)基本力，因吸附單元21的往復(fù)運動而從光窗17分離的具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P和附著于光窗17的具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P被吸附到吸附單元21上。
[0086]參照圖1OB和圖11中的區(qū)段1101，吸附具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P的吸附單元21被移動到檢測器10的右側(cè)，并到達(dá)位于檢測器10的右側(cè)的第一污染物質(zhì)收集單元25-1。在到達(dá)第一污染物質(zhì)收集單元25-1時，吸附單元21與第一污染物質(zhì)收集單元25-1的接觸凸起26-1接觸，并且吸附到吸附單元21上的部分污染物質(zhì)P因吸附單元21與接觸凸起26-1之間的摩擦而初步下落。在吸附單元21朝檢測器10向左移動時，吸附單元21與第一污染物質(zhì)收集單元25-1的接觸凸起26-1接觸，并且吸附到吸附單元21上的部分污染物質(zhì)P因吸附單元21與接觸凸起26-1之間的摩擦而再次下落。不管與接觸凸起26-1的摩擦，污染物質(zhì)P的殘余部分可因電學(xué)基本力或排斥力而下落到第一污染物質(zhì)收集單元25-1上。作為示例，如11中示出的區(qū)段1101，在吸附單元21到達(dá)第一污染物質(zhì)收集單元25-1的第二位置2IB-1和21B-2中，與第一位置2IA相反的負(fù)電壓可被施加到吸附單元21，從而在吸附單元21與污染物質(zhì)P之間產(chǎn)生電學(xué)排斥力。由于這種電學(xué)排斥力，具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P可從吸附單元21分離。作為另一示例，雖然在附圖中未示出，但是施加到吸附單元21的電壓可被阻止或者可向吸附單元21施加接地電壓，并且向第一污染物質(zhì)收集單元25-1施加正電壓，從而由于在具有負(fù)極性的污染物質(zhì)P與第一污染物質(zhì)收集單元25-1之間產(chǎn)生的電學(xué)基本力而將污染物質(zhì)P收集到第一污染物質(zhì)收集單元25-1中。
[0087]參照圖1OC和圖11中的區(qū)段1102，吸附單元21被移動到與光窗17接觸的第一位置21A。向吸附單元21施加負(fù)電壓，并且控制吸附單元21在與光窗17接觸的同時左右往復(fù)運動。由于與吸附單元21的摩擦，附著于光窗17的污染物質(zhì)P被分離。另一方面，由于電學(xué)基本力，在圖1OA中示出的過程中未被吸附的具有正極性的污染物質(zhì)P可被吸附到施加了負(fù)電壓的吸附單元21上。
[0088]參照圖1OD和圖11的區(qū)段1103，在吸附具有正極性的污染物質(zhì)P時，吸附單元21被移動到檢測器10的左側(cè)，并到達(dá)位于檢測器10的左側(cè)的第二污染物質(zhì)收集單元25-2。在到達(dá)第二污染物質(zhì)收集單元25-2時，吸附單元21與第二污染物質(zhì)收集單元25-2的接觸凸起26-2接觸，并且吸附到吸附單元21上的部分污染物質(zhì)P因吸附單元21與接觸凸起26-2之間的摩擦而初步下落。在吸附單元21朝檢測器10向右移動時，吸附單元21與第二污染物質(zhì)收集單元25-2的接觸凸起26-2接觸，并且吸附到吸附單元21上的部分污染物質(zhì)P因吸附單元21與接觸凸起26-2之間的摩擦而再次下落。不管與接觸凸起26-2的摩擦，污染物質(zhì)P的殘余部分可因電學(xué)基本力或排斥力而下落到第二污染物質(zhì)收集單元25-2上。
[0089]利用圖1OA至圖1OD中示出的示例性過程，吸附單元21已去除附著于光窗17的污染物質(zhì)P。然而，光窗17因與吸附單元21的接觸而無意中會具有特定極性。在此情況下，光窗17可處于污染物質(zhì)穩(wěn)固地附著于光窗17的狀態(tài)。因此，如圖1OE所示，在分離吸附到吸附單元21上的污染物質(zhì)P的過程之后，光窗17的極性被去除，從而防止具有極性的污染物質(zhì)P附著于光窗17。作為示例，電壓施加單元23可向吸附單元21施加接地電壓。作為示例，當(dāng)污染物質(zhì)P基本上具有一個極性時，電壓施加單元23可向吸附單元21施加具有與污染物質(zhì)P相同的極性的電壓。
[0090]另一方面，可在特定條件下執(zhí)行檢測裝置100的污染物質(zhì)去除操作。例如，當(dāng)檢測到的檢測器10的校準(zhǔn)值改變時，清潔器20可進(jìn)行操作。校準(zhǔn)可被定義為調(diào)整發(fā)光部分11的電流以允許檢測器10均勻保持相對于特定反射體(未示出)的光接收值的操作。因此，當(dāng)校準(zhǔn)值與特定參考值不同時，由于可預(yù)料光窗17被污染，因此清潔器20可進(jìn)行操作以去除附著于光窗17的污染物質(zhì)P。
[0091]作為示例，當(dāng)在超過特定量的時間內(nèi)不存在印刷操作時，清潔器20可進(jìn)行操作。由于調(diào)色劑的特性，當(dāng)調(diào)色劑實際上被剩下并且在超過特定量的時間內(nèi)不存在印刷操作時，在顯影單元Iio內(nèi)部的調(diào)色劑的極性退化，從而減小相對于感光體111至115或中間傳送帶127的調(diào)色劑的傳送能力。據(jù)此，大量的調(diào)色劑可能被散落，這可污染檢測器10的光窗17。因此，當(dāng)在超過特定量的時間內(nèi)不存在操作時，為了去除附著于光窗17的污染物質(zhì)P，清潔器20可進(jìn)行操作。
[0092]已經(jīng)參照附圖描述了示例性實施例。例如，在描述的實施例中，檢測調(diào)色劑圖像的濃度的檢測器被描述為檢測器10，但是不限于此。檢測器可利用光學(xué)檢測調(diào)色劑圖像的狀態(tài)，例如，用于自動顏色配準(zhǔn)的檢測器檢測具有多種顏色的調(diào)色劑被適當(dāng)?shù)嘏帕性趫D像承載構(gòu)件上。根據(jù)示例性實施例，已經(jīng)描述了通過使用具有青色、品紅色、黃色和黑色的顏色的調(diào)色劑來形成彩色圖像的圖像形成設(shè)備，但是圖像形成設(shè)備不限于此。根據(jù)示例性實施例的圖像形成設(shè)備可應(yīng)用于通過使用各種方法在記錄介質(zhì)上形成圖像的圖像形成設(shè)備，諸如使用具有單一顏色的調(diào)色劑的圖像形成設(shè)備。[0093]盡管已經(jīng)參照本發(fā)明的示例性實施例具體示出和描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將理解，在不脫離由權(quán)利要求限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可對本發(fā)明進(jìn)行形式和細(xì)節(jié)上的各種改變。
【權(quán)利要求】
1.一種檢測裝置，包括: 檢測器，具有能夠允許光通過的光窗，并經(jīng)由光窗檢測在圖像承載構(gòu)件上形成的調(diào)色劑圖像的狀態(tài)； 清潔器，去除附著于光窗的表面的污染物質(zhì)， 其中，清潔器包括: 吸附單元，由傳導(dǎo)材料形成，并在與光窗的表面接觸的同時往復(fù)運動， 電壓施加單元，向吸附單元施加用于吸附污染物質(zhì)的第一電壓。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其中，吸附單元能夠被移動到與光窗接觸的第一位置以及釋放與光窗的接觸的第二位置， 當(dāng)吸附單元位于第一位置時，電壓施加單元向吸附單元施加用于吸附污染物質(zhì)的第一電壓。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測裝置，其中，清潔器還包括收集污染物質(zhì)的污染物質(zhì)收集單元。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測裝置，其中，污染物質(zhì)收集單元包括與吸附單元的移動路徑交叉并與吸附單元接觸所凸起的接觸凸起。
5.如權(quán)利要求3所述的檢測裝置，其中，當(dāng)吸附單元位于第二位置時，電壓施加單元向吸附單元施加用于從吸附單元分離污染物質(zhì)的第二電壓。
6.如權(quán)利要求5所述的檢測裝置，其中，當(dāng)吸附單元位于第二位置時，電壓施加單元向污染物質(zhì)收集單元施加用于將污染物質(zhì)收集到污染物質(zhì)收集單元中的第三電壓。
7.如權(quán)利要求5所述的檢測裝置，其中，電壓施加單元向吸附單元施加用于防止污染物質(zhì)附著于光窗的第四電壓。
8.如權(quán)利要求1所述的檢測裝置，還包括: 包含所述檢測器的外殼，所述外殼在光窗與圖像承載構(gòu)件之間具有開口以允許光通過； 遮板，打開和關(guān)閉所述開口。
9.如權(quán)利要求8所述的檢測裝置，其中，吸附單元被安裝在遮板的面向檢測器的表面上， 其中，吸附單元通過遮板的移動來去除附著于光窗的污染物質(zhì)。
10.一種包括權(quán)利要求1至權(quán)利要求9之一所述的檢測裝置的圖像形成設(shè)備。
11.一種由檢測在圖像承載構(gòu)件上形成的調(diào)色劑圖像的狀態(tài)的檢測裝置執(zhí)行的去除污染物質(zhì)的方法，所述方法包括: 向在與光窗接觸的同時往復(fù)運動的吸附單元施加用于吸附污染物質(zhì)的第一電壓，以吸附附著于檢測器的光窗的污染物質(zhì)； 通過使用在吸附單元與污染物質(zhì)之間產(chǎn)生的電學(xué)基本力而允許污染物質(zhì)被吸附到吸附單元上。
12.如權(quán)利要求11所述的方法，還包括:在允許污染物質(zhì)被吸附到吸附單元上之后，分離吸附到吸附單元上的污染物質(zhì)。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，在分離污染物質(zhì)的步驟中，向吸附單元施加用于分離吸附到吸附單元 上的污染物質(zhì)的第二電壓。
14.如權(quán)利要求13所述的方法，其中，在分離污染物質(zhì)的步驟中，向污染物質(zhì)收集單元施加用于將污染物質(zhì)收集到污染物質(zhì)收集單元中的第三電壓。
15.如權(quán)利要求13所述的方法，其中，在分離污染物質(zhì)之后，向吸附單元施加用于防止污染物質(zhì)附著于光窗的第四電壓。
【文檔編號】G03G15/08GK103838113SQ201310608441
【公開日】2014年6月4日 申請日期:2013年11月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年11月26日
【發(fā)明者】樸殷錫, 吳宗哲 申請人:三星電子株式會社