專利名稱：Led液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝。
背景技術(shù)：
目前對(duì)LED液晶屏光學(xué)性能的評(píng)價(jià)只能在顯示設(shè)備組裝成成品或半成品后通過測(cè)試才能知道，設(shè)計(jì)人員完全是根據(jù)液晶屏的理論參數(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)。作為背光源的LED燈，設(shè)置什么規(guī)格的燈，設(shè)置多少，設(shè)置在什么位置，LED燈與液晶屏之間的距離等，也都是根據(jù)LED燈的理論參數(shù)設(shè)計(jì)的，設(shè)計(jì)人員在設(shè)計(jì)初期并不知道設(shè)計(jì)方案是否符合要求，尤其是不知道光學(xué)效果是否符合標(biāo)準(zhǔn)。只有在液晶屏、背光源、機(jī)械件等組裝成半成品或者成品后，再通過測(cè)試得知設(shè)計(jì)方案存在的缺陷和錯(cuò)誤，設(shè)計(jì)人員再進(jìn)行修改。這樣不但浪費(fèi)資源，更主要的是延長了產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期，一個(gè)新產(chǎn)品往往要經(jīng)過多次修改，多次重新計(jì)算，多次組織生產(chǎn)樣機(jī)，降低了新產(chǎn)品的出品效率，提高了設(shè)計(jì)成本。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝，此LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝可以為設(shè)計(jì)人員提供一個(gè)方便的檢測(cè)平臺(tái)，及時(shí)獲得設(shè)計(jì)方案的性能參數(shù)，縮短新產(chǎn)品的設(shè)計(jì)周期，降低設(shè)計(jì)成本。本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是此LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝包括基板、支撐塊和光源組件，在所述基板上設(shè)置有固定孔；在所述支撐塊的上表面設(shè)置有擋板，在所述支撐塊的底部設(shè)置有固定柱，所述固定柱與所述固定孔相匹配；在所述光源組件的底部設(shè)置有膠條。支撐塊通過固定柱固定在基板上，支撐液晶屏組件和對(duì)液晶屏組件定位，光源組件按照設(shè)計(jì)方案的數(shù)量和位置粘貼在基板上。此工裝模擬設(shè)計(jì)方案對(duì)液晶屏和背光源進(jìn)行測(cè)試，可以及時(shí)獲得測(cè)試參數(shù)，縮短設(shè)計(jì)周期。為使此測(cè)試工裝適用于多種規(guī)格尺寸的液晶屏，所述固定孔為若干組，支撐塊根據(jù)液晶屏的尺寸選擇相應(yīng)的固定孔固定。還包括墊片，墊片設(shè)置在支撐塊與基板之間，調(diào)節(jié)液晶屏組件與光源組件之間的距離，測(cè)試光源組件的混光距離。本實(shí)用新型的有益效果是此LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝可以模擬設(shè)計(jì)方案對(duì)液晶屏組件、背光源、機(jī)械件等進(jìn)行綜合測(cè)試，檢測(cè)液晶屏和背光源的亮度、色度、均勻度等光學(xué)參數(shù)設(shè)定是否正確，及推算LED燈的混光距離、設(shè)置數(shù)量和布局等。利用此測(cè)試工裝可以及時(shí)獲得測(cè)試數(shù)據(jù)，根據(jù)數(shù)據(jù)快速修改設(shè)計(jì)方案，為設(shè)計(jì)人員提供更改設(shè)計(jì)方案的實(shí)踐依據(jù)，設(shè)計(jì)人員不需要等到液晶屏和背光源組裝成半成品再進(jìn)行測(cè)試，既節(jié)省了時(shí)間，又降低了成本。此LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝可以針對(duì)不同規(guī)格尺寸的液晶屏進(jìn)行測(cè)試，使用方便，實(shí)用性強(qiáng)，大大縮短了新產(chǎn)品開發(fā)周期，提高了新產(chǎn)品研發(fā)速度。

[0008]圖I是本實(shí)用新型LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實(shí)用新型LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝中支撐塊的結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是本實(shí)用新型LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝的工作狀態(tài)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖I至圖3所示，此LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝包括基板I、支撐塊2和光源組件3，在基板I上設(shè)置固定孔4，支撐塊2的底部設(shè)置有固定柱5，通過固定柱5與固定孔4的配合使支撐塊2固定在基板I上，光源組件3通過膠條7固定在基板I上。液晶屏組件9放置在支撐塊2上，通過擋板6對(duì)液晶屏組件9進(jìn)行限位，光源組件3根據(jù)設(shè)計(jì)方案中的數(shù)量和位置粘貼在基板I上的相應(yīng)位置，采用這種方式，在測(cè)試中如果需要改變光源組件3的數(shù)量和位置，光源組件3的移動(dòng)和拆裝都很方便，方便設(shè)計(jì)人員確定光源組件3的最佳布局方式。液晶屏組件9和光源組件3不需要在組裝成半成品后才進(jìn)行測(cè)試，提高了測(cè)試效率， 縮短新產(chǎn)品研發(fā)周期。如圖I所述，在基板I上設(shè)置若干組固定孔4，每一組固定孔4針對(duì)一種尺寸的液晶屏組件9，通過選擇不同的固定孔4，調(diào)整支撐塊2之間的距離。當(dāng)需要測(cè)試大尺寸液晶屏?xí)r，由于中間部分需要設(shè)置光源組件3，所以可以在邊緣位置增加設(shè)置支撐塊2，以保證支撐力度。如圖3所示，在支撐塊2與基板I之間設(shè)置墊片8，墊片8分為若干組，每一組里包括若干個(gè)厚度相同的墊片8，而不同組的墊片8厚度不同。墊片8用于抬高支撐塊2，調(diào)整液晶屏組件9與光源組件3之間的距離，采用這種方法可以使設(shè)計(jì)人員更快、更直觀地確定背光源的最佳混光距離，在最短時(shí)間內(nèi)設(shè)計(jì)機(jī)械連接件。此LED液晶屏光學(xué)檢測(cè)工裝可以通過改變光源組件3的數(shù)量、位置，和液晶屏組件9的高度，對(duì)LED液晶屏光學(xué)性能的整體效果進(jìn)行檢測(cè)，包括亮度、色度、均勻度，光源組件3的混光距離、設(shè)置數(shù)量和布局等。
權(quán)利要求1.LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝，其特征在于包括基板(I)、支撐塊(2)和光源組件(3)，在所述基板(I)上設(shè)置有固定孔(4);在所述支撐塊(2)的上表面設(shè)置有擋板(6)，在所述支撐塊(2)的底部設(shè)置有固定柱(5)，所述固定柱(5)與所述固定孔(4)相匹配；在所述光源組件(3 )的底部設(shè)置有膠條(7 )。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝，其特征在于所述固定孔(4)為若干組。
3.根據(jù)權(quán)利要求I或2所述的LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝，其特征在于還包括墊片(8)。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝，此LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝包括基板、支撐塊和光源組件，在基板上設(shè)置有固定孔；在支撐塊的上表面設(shè)置有擋板，在支撐塊的底部設(shè)置有固定柱，固定柱與固定孔相匹配；在光源組件的底部設(shè)置有膠條。支撐塊通過固定柱固定在基板上，支撐液晶屏組件和對(duì)液晶屏組件定位，光源組件按照設(shè)計(jì)方案的數(shù)量和位置粘貼在基板上。此LED液晶屏光學(xué)測(cè)試工裝為設(shè)計(jì)人員提供一個(gè)方便的檢測(cè)平臺(tái)，及時(shí)獲得設(shè)計(jì)方案的性能參數(shù)，縮短新產(chǎn)品的設(shè)計(jì)周期，降低設(shè)計(jì)成本。
文檔編號(hào)G02F1/13GK202710878SQ201220396349
公開日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年8月10日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月10日
發(fā)明者謝波, 田海軍, 羅菲 申請(qǐng)人:四川長虹光電有限公司