專(zhuān)利名稱：Mipi接口液晶屏測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶屏測(cè)試方法，尤其涉及一種MIPI接口的液晶屏測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示器為平面超薄的顯示設(shè)備，它由一定數(shù)量的彩色或黑白像素組成，放置于光源或者反射面前方。液晶顯示器具有薄型化、功耗低、適用面廣等特點(diǎn)，備受工程師青睞?，F(xiàn)有中小尺寸的液晶屏最常用的連接模式，一般是MCU模式和RGB模式，MCU模式控制簡(jiǎn)單方便，無(wú)需時(shí)鐘和同步信號(hào)，但要耗費(fèi)GRAM，難以做到大屏幕，常用于顯示靜止圖像；RGB模式無(wú)需GRAM，傳輸速度較快，但操作復(fù)雜，需要時(shí)鐘及同步信號(hào)控制，常用于顯示視頻或動(dòng)畫(huà)。但這兩種模式均采用FPGA的電路設(shè)計(jì)，F(xiàn)PGA編輯能力差，無(wú)法完成復(fù)雜的設(shè) 計(jì)，而且FPGA的電路復(fù)雜，耗能高，信號(hào)傳輸速度慢，還容易受到干擾。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，該方法可以快速測(cè)試液晶屏，簡(jiǎn)化了液晶屏的生廣工序，提聞了生廣效率，且結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，具有聞速傳輸數(shù)據(jù)、支持聞分辨率、抗干擾能力強(qiáng)及能耗低等特點(diǎn)。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，包括以下步驟步驟I、提供測(cè)試治具，該測(cè)試治具包括測(cè)試模塊、電性連接于該測(cè)試模塊的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、及電性連接于該測(cè)試模塊的MIPI模塊，所述測(cè)試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲(chǔ)模塊，該存儲(chǔ)模塊預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述MIPI模塊包括液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊，該液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊均電性連接于所述微處理器；步驟2、將待測(cè)液晶屏與背光源驅(qū)動(dòng)模塊及MIPI模塊電性連接；步驟3、接通該測(cè)試治具電源，該微處理器運(yùn)行測(cè)試程序并對(duì)電性連接于該微處理器的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行檢測(cè)；步驟4、若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊或信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊異常，則發(fā)出報(bào)警提示，若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊無(wú)異常，則對(duì)背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行初始化；步驟5、微處理器控制背光源驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶屏的背光源工作，液晶驅(qū)動(dòng)模塊初始化該待測(cè)液晶屏；步驟6、信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊將微處理器傳送過(guò)來(lái)的RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)傳輸給待測(cè)液晶屏，該待測(cè)液晶屏根據(jù)該MIPI信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)圖像；步驟7、判斷圖像是否異常，無(wú)異常，則該待測(cè)液晶屏為合格，異常，則該待測(cè)液晶屏為不合格。所述測(cè)試治具設(shè)有一 USB接口，該USB接口與所述存儲(chǔ)模塊電性連接，所述測(cè)試程序通過(guò)該USB接口燒錄到測(cè)試模塊的存儲(chǔ)模塊中。
所述測(cè)試治具還包括一接口模塊，所述接口模塊電性連接于背光源驅(qū)動(dòng)模塊及MIPI模塊，測(cè)試時(shí)，所述待測(cè)液晶屏安裝及電性連接于該接口模塊。所述測(cè)試治具還包括一電性連接于所述微處理器的蜂鳴器，所述步驟4中的報(bào)警提示為該蜂鳴器發(fā)出的報(bào)警提示音。所述步驟6的MIPI信號(hào)傳輸?shù)姆绞綖槌蓪?duì)走線的方式。所述步驟6中待測(cè)液晶屏根據(jù)MIPI信號(hào)依次顯示黑、白、紅、綠、藍(lán)、灰階、彩色圖像。所述步驟7中圖像無(wú)異常，該微處理器發(fā)出該待測(cè)液晶屏合格的信號(hào)，所述信號(hào)為該待測(cè)液晶屏顯示PASS畫(huà)面及蜂鳴器發(fā)出合格提示音。

所述測(cè)試治具還設(shè)有一與所述微處理器電性連接的中斷開(kāi)關(guān)，當(dāng)所述步驟7中圖像異常時(shí)，通過(guò)該中斷開(kāi)關(guān)中斷待測(cè)液晶屏上圖像的轉(zhuǎn)換，以便對(duì)該異常畫(huà)面進(jìn)行分析。所述測(cè)試模塊為S3C2440芯片，所述MIPI模塊為SSD2805芯片。所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊為CP2123芯片。本發(fā)明的有益效果本發(fā)明提供的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，通過(guò)MIPI模塊將微處理器傳送過(guò)來(lái)的RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)并傳送給待測(cè)液晶屏顯示，直接寫(xiě)屏，傳輸速率高、支持高分辨率，使得液晶屏的測(cè)試簡(jiǎn)單方便快捷，滿足需求，且MIPI信號(hào)的傳輸采用成對(duì)走線方式，兩根線從波形上看成反相，抗干擾能力強(qiáng)，應(yīng)用該測(cè)試方法的液晶屏測(cè)試治具設(shè)計(jì)小巧精密，能耗低。為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說(shuō)明與附圖，然而附圖僅提供參考與說(shuō)明用，并非用來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限制。


下面結(jié)合附圖，通過(guò)對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式
詳細(xì)描述，將使本發(fā)明的技術(shù)方案及其它有益效果顯而易見(jiàn)。附圖中，圖I為本發(fā)明MIPI接口液晶屏測(cè)試方法流程圖；圖2為本發(fā)明MIPI接口液晶屏測(cè)試方法的模塊圖。
具體實(shí)施例方式為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。請(qǐng)參閱圖I及圖2，本發(fā)明提供的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，包括以下步驟步驟I、提供測(cè)試治具20，該測(cè)試治具20包括測(cè)試模塊22、電性連接于該測(cè)試模塊22的背光源驅(qū)動(dòng)模塊24、及電性連接于該測(cè)試模塊22的MIPI模塊26，所述測(cè)試模塊22包括微處理器222及電性連接于該微處理器222的存儲(chǔ)模塊224，該存儲(chǔ)模塊224預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述MIPI模塊26包括液晶驅(qū)動(dòng)模塊262及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264，該液晶驅(qū)動(dòng)模塊262及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264均電性連接于所述微處理器222 ；所述測(cè)試治具設(shè)有一 USB接口 27，該USB接口 27與存儲(chǔ)模塊224電性連接，所述測(cè)試程序通過(guò)該USB接口 27燒錄到測(cè)試模塊22的存儲(chǔ)模塊224中，進(jìn)而可根據(jù)不同產(chǎn)品燒錄不同的測(cè)試程序，使得該測(cè)試治具20適用于多種產(chǎn)品，擴(kuò)大了適用范圍，進(jìn)而降低了成本。步驟2、將待測(cè)液晶屏40與背光源驅(qū)動(dòng)模塊24及MIPI模塊26電性連接；所述測(cè)試治具20還包括一接口模塊28，所述該接口模塊28電性連接于背光源驅(qū)動(dòng)模塊24及MIPI模塊26，測(cè)試時(shí)，所述待測(cè)液晶屏40安裝及電性連接于所述接口模塊28。步驟3、接通該測(cè)試治具20電源，該微處理器222運(yùn)行測(cè)試程序并對(duì)電性連接于該微處理器222的背光源驅(qū)動(dòng)模塊24、液晶驅(qū)動(dòng)模塊262及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264進(jìn)行檢測(cè)；步驟4、若該微處理器222檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊24、液晶驅(qū)動(dòng)模塊262或信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264異常，則發(fā)出報(bào)警提示，若該微處理器檢222檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊24、液晶驅(qū)動(dòng)模塊262及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264無(wú)異常，則對(duì)背光源驅(qū)動(dòng)模塊24、液晶驅(qū)動(dòng)模塊262及信號(hào) 轉(zhuǎn)換模塊264進(jìn)行初始化；所述測(cè)試治具20還包括一電性連接于所述微處理器222的蜂鳴器29，所述報(bào)警提示為該蜂鳴器29發(fā)出的報(bào)警提示音。所述微處理器222在檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊24、液晶驅(qū)動(dòng)模塊262或信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264異常時(shí)，控制蜂鳴器29發(fā)出報(bào)警提示音，提示用戶背光源驅(qū)動(dòng)模塊24、液晶驅(qū)動(dòng)模塊262或信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264存在異常，這大大提高了該測(cè)試治具20的準(zhǔn)確度，避免了使用不良測(cè)試治具得出不準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。步驟5、微處理器222控制背光源驅(qū)動(dòng)模塊24驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶屏40的背光源(未圖示)工作，液晶驅(qū)動(dòng)模塊262初始化該待測(cè)液晶屏40 ；步驟6、信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264將微處理器222傳送過(guò)來(lái)的RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)傳輸給待測(cè)液晶屏40，該待測(cè)液晶屏40根據(jù)該MIPI信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)圖像；所述信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264將微處理器222傳送過(guò)來(lái)的RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)，并將該MIPI信號(hào)通過(guò)成對(duì)走線的傳輸方式傳輸給待測(cè)液晶屏40，所述待測(cè)液晶屏40根據(jù)該MIPI信號(hào)依次顯示黑、白、紅、綠、藍(lán)、灰階、彩色圖像，所述成對(duì)走線方式，即D0UT_N和00爪_ 成對(duì)走線，從波形上看兩根線成反相，這就增強(qiáng)了抗干擾能力，減少外部電磁波的干擾。步驟7、判斷圖像是否異常，無(wú)異常，則該待測(cè)液晶屏40為合格，異常，則該待測(cè)液晶屏40為不合格。若測(cè)試過(guò)程圖像沒(méi)有出現(xiàn)異常，則判斷該待測(cè)液晶屏40合格，該微處理器222發(fā)出該待測(cè)液晶屏40合格的信號(hào)，所述合格的信號(hào)為控制該待測(cè)液晶屏40顯示PASS畫(huà)面及控制蜂鳴器29發(fā)出提示音“滴”。所述測(cè)試治具20還設(shè)有一電性連接于該微處理器222的中斷開(kāi)關(guān)30，當(dāng)所述圖像異常時(shí)，通過(guò)該中斷開(kāi)關(guān)30中斷該待測(cè)液晶屏上圖像的轉(zhuǎn)換，以便對(duì)該異常畫(huà)面進(jìn)行分析。所述液晶屏驅(qū)動(dòng)模塊262使用MIPI DSI接口方式，通過(guò)配置可伸縮的數(shù)據(jù)通道，該MIPI DSI接口可以實(shí)現(xiàn)3Gb/s的數(shù)據(jù)傳輸速率，它使用低壓擺幅差分信號(hào)，而且有非常低的輸出信號(hào)電平。在本較佳實(shí)施例中，所述測(cè)試模塊22為S3C2440芯片，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊22為CP2123芯片，所述MIPI模塊26為SSD2805芯片。
值得一提的是，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試模塊22中的微處理器222向MIPI模塊26發(fā)送控制信號(hào)及RGB信號(hào)，MIPI模塊26中的信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊264將RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)傳送給待測(cè)液晶屏40顯示，該方法集合了 MCU模式與RGB模式的優(yōu)點(diǎn)，使得應(yīng)用該方法的測(cè)試治具控制簡(jiǎn)單方便，無(wú)需時(shí)鐘和同步信號(hào)，而且無(wú)需耗費(fèi)GRAM，顯示數(shù)據(jù)無(wú)需寫(xiě)入DDRAM，直接寫(xiě)屏，數(shù)據(jù)傳輸速度快，最高可達(dá)700Mbps，還支持高分辨率，最高支持WVGA分辨率。綜上所述，本發(fā)明提供的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，本發(fā)明提供的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，通過(guò)MIPI模塊將微處理器傳送過(guò)來(lái)的RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)并傳送給待測(cè)液晶屏顯示，直接寫(xiě)屏，傳輸速率高、支持高分辨率，使得液晶屏的測(cè)試簡(jiǎn)單方便快捷，滿足需求，且MIPI信號(hào)的傳輸采用成對(duì)走線方式，兩根線從波形上看成反相，抗干擾能力強(qiáng)，應(yīng)用該測(cè)試方法的液晶屏測(cè)試治具設(shè)計(jì)小巧精密，能耗低。 以上所述，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟 步驟I、提供測(cè)試治具，該測(cè)試治具包括測(cè)試模塊、電性連接于該測(cè)試模塊的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、及電性連接于該測(cè)試模塊的MIPI模塊，所述測(cè)試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲(chǔ)模塊，該存儲(chǔ)模塊預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述MIPI模塊包括液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊，該液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊均電性連接于所述微處理器； 步驟2、將待測(cè)液晶屏與背光源驅(qū)動(dòng)模塊及MIPI模塊電性連接； 步驟3、接通該測(cè)試治具電源，該微處理器運(yùn)行測(cè)試程序并對(duì)電性連接于該微處理器的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行檢測(cè)； 步驟4、若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊或信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊異常，則發(fā)出報(bào)警提示，若該微處理器檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊無(wú)異常，則對(duì)背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行初始化； 步驟5、微處理器控制背光源驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶屏的背光源工作，液晶驅(qū)動(dòng)模塊初始化該待測(cè)液晶屏； 步驟6、信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊將微處理器傳送過(guò)來(lái)的RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)傳輸給待測(cè)液晶屏，該待測(cè)液晶屏根據(jù)該MIPI信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)圖像； 步驟7、判斷圖像是否異常，無(wú)異常，則該待測(cè)液晶屏為合格，異常，則該待測(cè)液晶屏為不合格。
2.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具設(shè)有一USB接口，該USB接口與所述存儲(chǔ)模塊電性連接，所述測(cè)試程序通過(guò)該USB接口燒錄到測(cè)試模塊的存儲(chǔ)模塊中。
3.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具還包括一接口模塊，所述接口模塊電性連接于背光源驅(qū)動(dòng)模塊及MIPI模塊，測(cè)試時(shí)，所述待測(cè)液晶屏安裝及電性連接于該接口模塊。
4.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具還包括一電性連接于所述微處理器的蜂鳴器，所述步驟4中的報(bào)警提示為該蜂鳴器發(fā)出的報(bào)警提示音。
5.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟6的MIPI信號(hào)傳輸?shù)姆绞綖槌蓪?duì)走線的方式。
6.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟6中待測(cè)液晶屏根據(jù)MIPI信號(hào)依次顯示黑、白、紅、綠、藍(lán)、灰階、彩色圖像。
7.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟7中圖像無(wú)異常，該微處理器發(fā)出該待測(cè)液晶屏合格的信號(hào)，所述信號(hào)為該待測(cè)液晶屏顯示PASS畫(huà)面及蜂鳴器發(fā)出合格提示音。
8.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試治具還設(shè)有一與所述微處理器電性連接的中斷開(kāi)關(guān)，當(dāng)所述步驟7中圖像異常時(shí)，通過(guò)該中斷開(kāi)關(guān)中斷待測(cè)液晶屏上圖像的轉(zhuǎn)換，以便對(duì)該異常畫(huà)面進(jìn)行分析。
9.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試模塊為S3C2440芯片，所述MIPI模塊為SSD2805芯片。
10.如權(quán)利要求I所述的MIPI接口液晶屏測(cè)試方法，其特征在于，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊為CP2123芯 片。
全文摘要
一種MIPI接口液晶屏測(cè)試方法包括以下步驟1、提供一測(cè)試治具；2、將待測(cè)液晶屏與背光源驅(qū)動(dòng)模塊及MIPI模塊電性連接；3、接通該測(cè)試治具電源；4、若該微處理器檢測(cè)到異常，則發(fā)出報(bào)警提示，若該微處理器檢測(cè)到無(wú)異常，則對(duì)背光源驅(qū)動(dòng)模塊、液晶驅(qū)動(dòng)模塊及信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)行初始化；5、微處理器控制背光源驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶屏的背光源工作；6、信號(hào)轉(zhuǎn)換模塊將微處理器傳送過(guò)來(lái)的RGB信號(hào)轉(zhuǎn)換為MIPI信號(hào)傳輸給待測(cè)液晶屏，該待測(cè)液晶屏根據(jù)該MIPI信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)圖像；7、判斷圖像是否異常，無(wú)異常，則該待測(cè)液晶屏為合格，異常，則該待測(cè)液晶屏為不合格。
文檔編號(hào)G02F1/13GK102789073SQ201210059828
公開(kāi)日2012年11月21日 申請(qǐng)日期2012年3月8日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月8日
發(fā)明者成小定 申請(qǐng)人:無(wú)錫博一光電科技有限公司