專利名稱：Rgb接口的液晶屏測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試治具，尤其涉及一種RGB接口的液晶屏測(cè)試治具。
背景技術(shù)：
液晶顯示器為平面超薄的顯示設(shè)備，它由一定數(shù)量的彩色或黑白像素組成，放置于光源或者反射面前方。液晶顯示器具有薄型化、功耗低、適用面廣等特點(diǎn)，備受工程師青睞?，F(xiàn)有中小尺寸的液晶屏最常用的連接模式，一般是MCU模式和RGB模式，MCU模式 控制簡單方便，無需時(shí)鐘和同步信號(hào)，但要耗費(fèi)GRAM，難以做到大屏幕，常用于顯示靜止圖片；RGB模式無需GRAM，傳輸速度較快，但操作復(fù)雜，需要時(shí)鐘及同步信號(hào)控制，常用于顯示視頻或動(dòng)畫?，F(xiàn)有的液晶屏測(cè)試治具采用51單片機(jī)設(shè)計(jì)，系統(tǒng)時(shí)鐘最高僅達(dá)到48MHZ，在測(cè)試WVGA的顯示屏?xí)r，測(cè)試效率大大降低，無法滿足生產(chǎn)，隨著3G智能手機(jī)快速發(fā)展，更難以滿足客戶對(duì)移動(dòng)設(shè)備智能化要求，快速傳輸數(shù)據(jù)和支持高分辨率等性能。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，按照MPU模式初始化待測(cè)液晶屏，顯示數(shù)據(jù)無需寫入DDRAM，直接寫入液晶屏，不耗費(fèi)GRAM，傳輸速度快，支持高分辨率，滿足生產(chǎn)和客戶的需求。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，包括測(cè)試模塊、電性連接于所述測(cè)試模塊的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、及電性連接于所述測(cè)試模塊的控制模塊，所述測(cè)試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲(chǔ)模塊，所述存儲(chǔ)模塊預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述控制模塊包括電性連接于該微處理器的液晶驅(qū)動(dòng)模塊，所述液晶驅(qū)動(dòng)模塊包括一 SPI接口，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊電性連接于該微處理器。所述液晶屏測(cè)試治具還設(shè)有一 JTAG接口，該JTAG接口電性連接于該存儲(chǔ)器所述液晶屏測(cè)試治具還包括一接口模塊，該接口模塊電性連接于該控制模塊及背光源驅(qū)動(dòng)模塊。所述測(cè)試治具還包括一蜂鳴器，該蜂鳴器電性連接于該微處理器。所述測(cè)試治具還包括一中斷開關(guān)，該中斷開關(guān)電性連接于該微處理器。所述測(cè)試模塊為LPC2138芯片，所述控制模塊為SSD1963芯片。所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊為CP2123芯片。本實(shí)用新型的有益效果本實(shí)用新型提供的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，通過把液晶屏直接接在存儲(chǔ)器的總線上，并按照MCU模式初始化待測(cè)液晶屏，顯示數(shù)據(jù)不寫入DDRAM,直接寫屏，不耗費(fèi)GRAM，數(shù)據(jù)傳輸速度快，測(cè)試速度快，還支持高分辨率，容易做到大屏。為了能更進(jìn)一步了解本實(shí)用新型的特征以及技術(shù)內(nèi)容，請(qǐng)參閱以下有關(guān)本實(shí)用新型的詳細(xì)說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對(duì)本實(shí)用新型加以限制。
以下結(jié)合附圖，通過對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
詳細(xì)描述，將使本實(shí)用新型的技術(shù)方案及其它有益效果顯而易見。附圖中，圖I為本實(shí)用新型RGB接口的液晶屏測(cè)試治具的模塊圖。
具體實(shí)施方式
為更進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型所采取的技術(shù)手段及其效果，以下結(jié)合本實(shí)用新型的 優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。請(qǐng)參閱


圖1，本實(shí)用新型提供的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具20，包括測(cè)試模塊22、電性連接于所述測(cè)試模塊22的背光源驅(qū)動(dòng)模塊25、及電性連接于所述測(cè)試模塊22的控制模塊26，所述測(cè)試模塊22包括微處理器224及電性連接于該微處理器224的存儲(chǔ)模塊222，所述存儲(chǔ)模塊222預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述控制模塊26包括電性連接于該微處理器224的液晶驅(qū)動(dòng)模塊262，所述液晶驅(qū)動(dòng)模塊262包括一 SPI接口 2622，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊25電性連接于該微處理器224。所述液晶屏測(cè)試治具20還包括一蜂鳴器21，該蜂鳴器21與該微處理器224電性連接，用于該微處理器224檢測(cè)所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊25及液晶驅(qū)動(dòng)模塊262存在異常時(shí)報(bào)警之用及測(cè)試完畢后提示該待測(cè)液晶屏40測(cè)試合格之用。 所述液晶屏測(cè)試治具20還設(shè)有一 JTAG接口 23，該JTAG接口 23電性相連于該存儲(chǔ)模塊222，通過該JTAG接口 23可以將測(cè)試程序燒錄到存儲(chǔ)模塊222中，及更換測(cè)試程序。進(jìn)而可根據(jù)不同產(chǎn)品燒錄不同的測(cè)試程序，使得該測(cè)試治具20適用于多種產(chǎn)品，擴(kuò)大了適用范圍，進(jìn)而降低了成本。所述液晶屏測(cè)試治具20還設(shè)有一中斷開關(guān)24，該中斷開關(guān)24電性連接于該微處理器224，通過該中斷開關(guān)24可以中斷待測(cè)液晶屏40上圖像的轉(zhuǎn)換。所述液晶屏測(cè)試治具20還包括一接口模塊27，該接口模塊27與控制模塊26及背光源驅(qū)動(dòng)模塊25電性連接，測(cè)試時(shí)待測(cè)液晶屏40安裝及電性接于所述接口模塊27，該待測(cè)液晶屏40與液晶驅(qū)動(dòng)模塊262及背光源驅(qū)動(dòng)模塊25電性連接，亦即SPI接口 2622與待測(cè)液晶屏40電性連接。所述待測(cè)液晶屏40通過該接口模塊27直接接于存儲(chǔ)器總線上，取消內(nèi)部RAM的設(shè)置，顯示數(shù)據(jù)不保存到內(nèi)部RAM中，直接往屏上寫，測(cè)試速度快。通過該接口模塊27，待測(cè)液晶屏40與控制模塊26的連線有VSYNC、HSYNC、DOTCLK、ENABLE及數(shù)據(jù)線等，數(shù)據(jù)傳輸位可分為8位、16位及18位。本實(shí)用新型提供的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具工作原理如下將待測(cè)液晶屏40安裝在接口模塊27上，該待測(cè)液晶屏40與控制模塊26及背光源驅(qū)動(dòng)模塊25電性連接，接通該測(cè)試治具20的電源，微處理器224運(yùn)行測(cè)試程序，對(duì)電性連接于該微處理器224的背光源驅(qū)動(dòng)模塊25及液晶驅(qū)動(dòng)模塊262進(jìn)行檢測(cè)，若檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊25或液晶驅(qū)動(dòng)模塊262存在異常時(shí)，則控制蜂鳴器21發(fā)出報(bào)警提示，提示用戶背光源驅(qū)動(dòng)模塊25或液晶驅(qū)動(dòng)模塊262存在異常；若檢測(cè)到背光源驅(qū)動(dòng)模塊25及液晶驅(qū)動(dòng)模塊262無異常，則對(duì)背光源驅(qū)動(dòng)模塊25及液晶驅(qū)動(dòng)模塊262進(jìn)行初始化，微處理器224控制背光源驅(qū)動(dòng)模塊25驅(qū)動(dòng)待測(cè)液晶屏40的背光源工作，同時(shí)向控制模塊26發(fā)送控制信號(hào)及測(cè)試信號(hào)，液晶驅(qū)動(dòng)模塊262通過SPI接口 2622按MCU模式初始化該待測(cè)液晶屏40，控制模塊26將接收到的測(cè)試信號(hào)直接傳輸給待測(cè)液晶屏40，該待測(cè)液晶屏40根據(jù)該測(cè)試信號(hào)顯示對(duì)應(yīng)圖像。判斷圖像是否異常，若測(cè)試過程沒有發(fā)現(xiàn)圖像異常，則判斷該待測(cè)液晶屏40合格，該微處理器224發(fā)出該待測(cè)液晶屏40合格的信號(hào)；若測(cè)試過程中某個(gè)圖像出現(xiàn)異常，則判斷待測(cè)液晶屏40不合格，并觸發(fā)該中斷開關(guān)24，中斷待測(cè)液晶屏40上圖像的轉(zhuǎn)換，并對(duì)該異常畫面進(jìn)行分析。所述待測(cè)液晶屏40根據(jù)測(cè)試信號(hào)依次顯示黑、白、紅、綠、藍(lán)、灰階、彩色圖像。所述微處理器224發(fā)出報(bào)警提示為微處理器224控制蜂鳴器21發(fā)出“滴”的提示音。所述微處理器224發(fā)出該待測(cè)液晶屏40合格的信號(hào)為該微處理器224控制該待測(cè)液晶屏40顯示 PASS畫面及控制蜂鳴器21發(fā)出“滴”的提示音。為了將所述蜂鳴器21所發(fā)出的報(bào)警提示音與合格提示音予以區(qū)別，可設(shè)置合格提示音為短音，而報(bào)警提示音為長音。在進(jìn)行測(cè)試前，對(duì)電性接于該微處理器224的背光源驅(qū)動(dòng)模塊25及液晶驅(qū)動(dòng)模塊262進(jìn)行檢測(cè)，確保了該測(cè)試治具的正常運(yùn)行，這大大提高了該測(cè)試治具20的準(zhǔn)確度，避免了使用不良測(cè)試治具得出不準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。該測(cè)試治具20在初始化待測(cè)液晶屏40時(shí)，采用MCU模式，使得該測(cè)試治具20操作簡單方便，無需時(shí)鐘信號(hào)和同步信號(hào)，待測(cè)液晶屏40直接接在存儲(chǔ)器總線上，顯示數(shù)據(jù)無需寫入DDRAM，直接寫屏，無需耗費(fèi)GRAM，支持高分辨率，最高支持WVGA分辨率。在整個(gè)測(cè)試過程，所述待測(cè)液晶屏40初始化后，該微處理器224通過控制模塊26不停地往待測(cè)液晶屏40寫數(shù)據(jù)。在本較佳實(shí)施例中，所述測(cè)試模塊22選用LPC2138芯片，所述控制模塊26選用SSD1963芯片，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊25選用CP2123芯片。綜上所述，本實(shí)用新型提供的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，通過把液晶屏直接接在存儲(chǔ)器的總線上，并按照MCU模式初始化待測(cè)液晶屏，顯示數(shù)據(jù)不寫入DDRAM，直接寫屏，不耗費(fèi)GRAM，數(shù)據(jù)傳輸速度快，測(cè)試速度快，還支持高分辨率，容易做到大屏。以上所述，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思作出其他各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形都應(yīng)屬于本實(shí)用新型權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其特征在于，包括測(cè)試模塊、電性連接于所述測(cè)試模塊的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、及電性連接于所述測(cè)試模塊的控制模塊，所述測(cè)試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲(chǔ)模塊，所述存儲(chǔ)模塊預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述控制模塊包括電性連接于該微處理器的液晶驅(qū)動(dòng)模塊，所述液晶驅(qū)動(dòng)模塊包括一 SPI接口，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊電性連接于該微處理器。
2.如權(quán)利要求I所述的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其特征在于，所述液晶屏測(cè)試治具還設(shè)有一 JTAG接口，該JTAG接口電性連接于該存儲(chǔ)器。
3.如權(quán)利要求I所述的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其特征在于，所述液晶屏測(cè)試治具還包括一接口模塊，該接口模塊電性連接于該控制模塊及背光源驅(qū)動(dòng)模塊。
4.如權(quán)利要求I所述的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其特征在于，所述測(cè)試治具還包括一蜂鳴器，該蜂鳴器電性連接于該微處理器。
5.如權(quán)利要求I所述的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其特征在于，所述測(cè)試治具還包括 一中斷開關(guān)，該中斷開關(guān)電性連接于該微處理器。
6.如權(quán)利要求I所述的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其特征在于，所述測(cè)試模塊為LPC2138芯片，所述控制模塊為SSD1963芯片。
7.如權(quán)利要求I所述的RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其特征在于，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊為CP2123芯片。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種RGB接口的液晶屏測(cè)試治具，其包括測(cè)試模塊、電性連接于所述測(cè)試模塊的背光源驅(qū)動(dòng)模塊、及電性連接于所述測(cè)試模塊的控制模塊，所述測(cè)試模塊包括微處理器及電性連接于該微處理器的存儲(chǔ)模塊，所述存儲(chǔ)模塊預(yù)先燒錄有測(cè)試程序，所述控制模塊包括電性連接于該微處理器的液晶驅(qū)動(dòng)模塊，所述液晶驅(qū)動(dòng)模塊包括一SPI接口，所述背光源驅(qū)動(dòng)模塊電性連接于該微處理器。通過將待測(cè)液晶屏直接接在存儲(chǔ)器的總線上，并按照MCU模式初始化待測(cè)液晶屏，顯示數(shù)據(jù)不寫入DDRAM，直接寫屏，不耗費(fèi)GRAM，數(shù)據(jù)傳輸速度快，測(cè)試速度快，還支持高分辨率，容易做到大屏。
文檔編號(hào)G09G3/00GK202487114SQ20122008562
公開日2012年10月10日 申請(qǐng)日期2012年3月8日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月8日
發(fā)明者喬偉雄 申請(qǐng)人:無錫博一光電科技有限公司