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一種tft陣列基板及其制造方法和顯示裝置的制作方法

文檔序號(hào):2795221閱讀:116來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:一種tft陣列基板及其制造方法和顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種TFT陣列基板及其制造方法和顯示裝置。
背景技術(shù)
TFT-LCD (Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管液晶顯示器)是利用設(shè)置在液晶層上電場(chǎng)強(qiáng)度的變化,改變液晶分子的旋轉(zhuǎn)的程度,從而控制透光的強(qiáng)弱來(lái)顯示圖像的。一般來(lái)講,一塊完整的液晶顯示面板必須具有由背光模塊組、偏光片、上基板(通常是彩膜基板)和下基板(通常是陣列基板)以及由它們兩塊基板組成的盒中填充的液晶分子層構(gòu)成。陣列基板上形成有橫縱交叉的數(shù)據(jù)線和柵線,數(shù)據(jù)線和柵線圍設(shè)形成矩陣形式排列的像素單元。每個(gè)像素單元包括TFT開(kāi)關(guān)和像素電極;其中,TFT開(kāi)關(guān)包括柵電極、源電極、漏電極和有源層;柵電極連接?xùn)啪€,源電極連接數(shù)據(jù)線,漏電極連接像素電極,有源層形成在源、漏電極與柵電極之間。基板上一般還形成有公共電極,用于和像素電極形成電場(chǎng),公共電極與像素電極之間的電場(chǎng)強(qiáng)度變化控制著液晶分子的旋轉(zhuǎn)的程度。TFT陣列基板上與柵線平行并處于同一層的存儲(chǔ)底電容線和像素電極之間可以形成的存儲(chǔ)電容用來(lái)維持下一個(gè)信號(hào)來(lái)臨前液晶分子的狀態(tài)。ADSDS (ADvanced Super Dimension Switch),簡(jiǎn)稱 ADS,即高級(jí)超維場(chǎng)轉(zhuǎn)換技術(shù),通過(guò)同一平面內(nèi)狹縫電極邊緣所產(chǎn)生的電場(chǎng)以及狹縫電極層與板狀電極層間產(chǎn)生的電場(chǎng)形成多維電場(chǎng),使液晶盒內(nèi)狹縫電極間、電極正上方所有取向液晶分子都能夠產(chǎn)生旋轉(zhuǎn),從而提高了液晶工作效率并增大了透光效率。高級(jí)超維場(chǎng)轉(zhuǎn)換技術(shù)可以提高TFT-LCD產(chǎn)品的畫(huà)面品質(zhì),具有高分辨率、高透過(guò)率、低功耗、寬視角、高開(kāi)口率、低色差、無(wú)擠壓水波紋(push Mura)等優(yōu)點(diǎn)。在ADS模式的TFT陣列基板的制備過(guò)程中,像素電極層、源極、漏極以及有源層的制備通常分層制備,不僅基板厚度增加,且工藝流程繁瑣。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種TFT陣列基板及其制造方法和顯示設(shè)備,改進(jìn)了 ADS模式的TFT陣列基板結(jié)構(gòu),使基板厚度變薄,并簡(jiǎn)化了工藝流程。為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案—方面,提供一種TFT陣列基板制 造方法,包括在玻璃基板上通過(guò)第一次構(gòu)圖工藝處理得到柵線和柵極;在所述柵線和柵極上形成柵絕緣層;在所述柵絕緣層上形成石墨烯層,在所述柵極的上方,通過(guò)第二次構(gòu)圖工藝處理及氫化處理得到由石墨烯構(gòu)成的半導(dǎo)體有源層;在所述石墨烯層上,通過(guò)第三次構(gòu)圖工藝處理得到由石墨烯構(gòu)成的數(shù)據(jù)線、源極、漏極和像素電極;其中,所述源極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,所述漏極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,形成TFT溝道,所述像素電極與所述漏極相接觸;在所述數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極、像素電極之上形成保護(hù)層;在所述保護(hù)層上,在所述像素電極上方,形成公共電極。另一方面,提供一種TFT陣列基板,包括
基板;所述基板上形成有柵線和柵極;所述柵線和柵極上形成有柵絕緣層;在所述柵絕緣層上形成有由石墨烯構(gòu)成的數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極和像素電極;其中,所述源極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,所述漏極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,形成TFT溝道,所述像素電極與所述漏極相接觸;在所述數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極和像素電極上形成有保護(hù)層;在所述保護(hù)層上,在所述像素電極上方,形成有公共電極層。再一方面,提供一種顯示裝置,包括上述的TFT陣列基板。本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板及其制造方法和顯示裝置,采用石墨烯材料在柵絕緣層上同層制備了 TFT基板的數(shù)據(jù)線、源極、漏極、有源層和像素電極層,相比現(xiàn)有技術(shù)的在不同層制備的方法而言,使TFT陣列基板的厚度變薄,并簡(jiǎn)化了工藝流程。


為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖I為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法的流程示意圖;圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖一;圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖二 ;圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖三;圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖四;圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖五;圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖六;圖8為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖七;圖9為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖八;圖10為本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法過(guò)程中的基板結(jié)構(gòu)示意圖九。
具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板制造方法,如圖I所示,其步驟包括
S101、在基板上沉積金屬層,通過(guò)第一次構(gòu)圖工藝處理得到柵線和柵極。如圖2所示,可以使用磁控濺射方法,在基板201上制備一層厚度在1000人至7000人的金屬薄膜層。金屬材料通??梢圆捎描€、鋁、鋁鎳合金、鑰鎢合金、鉻、或銅等金屬,也可以使用上述幾種材料薄膜的組合結(jié)構(gòu)。然后,用掩模版通過(guò)曝光、顯影、刻蝕、剝離等第一次構(gòu)圖工藝處理,在玻璃基板201的一定區(qū)域上形成多條橫向的柵線(圖2中未表示)和與柵線相連的柵極202。S102、在柵線和柵極上形成柵絕緣層。如圖3所不,可以利用化學(xué)汽相沉積 法(Plasma Enhanced Chemical VaporDeposition,PECVD)在柵線、柵極加2上沉積厚度為1000人至6000人的柵絕緣層2。3,柵絕緣層203的材料通常是氮化硅,也可以使用氧化硅和氮氧化硅等。S103、在柵絕緣層上形成石墨烯層,通過(guò)第二次構(gòu)圖工藝處理及氫化處理,在柵極的上方得到由石墨烯構(gòu)成的半導(dǎo)體有源層。首先,如圖4所示,在柵絕緣層203上利用PECVD沉積一層石墨烯材料,或者旋涂一層水溶性單層或多層石墨烯材料,形成石墨烯層204。接著,如圖5所示,在石墨烯層204上涂覆一層光刻膠211。之后,經(jīng)過(guò)曝光、顯影后露出溝道區(qū)石墨烯207,如圖6所示。再通過(guò)H2,或H2和Ar2的混合氣體對(duì)溝道區(qū)石墨烯207進(jìn)行氫化處理,在柵極202的上方得到半導(dǎo)體有源層207。在這里需要說(shuō)明的是,石墨烯具有零禁帶特性,即使在室溫下載流子在石墨烯中的平均自由程和相干長(zhǎng)度也可以達(dá)到微米級(jí),同時(shí),石墨烯還具有遠(yuǎn)比硅高的載流子遷移率,因此它是一種性能優(yōu)異的半導(dǎo)體材料。最后,剝離掉其余的光刻膠,如圖7所示。S104、在石墨烯層上通過(guò)第三次構(gòu)圖工藝處理得到由石墨烯構(gòu)成的數(shù)據(jù)線、源極、漏極和像素電極;其中,源極與半導(dǎo)體有源層相接觸,漏極與半導(dǎo)體有源層相接觸,形成TFT溝道,像素電極與漏極相接觸。如圖8所示,再在石墨烯層204上涂覆光刻膠,經(jīng)過(guò)曝光、顯影、刻蝕、剝離之后,得到由石墨烯構(gòu)成的數(shù)據(jù)線(圖8中未表示)、源極208、漏極206和像素電極205。其中,源極208與半導(dǎo)體有源層207相接觸,漏極206與半導(dǎo)體有源層207相接觸,形成TFT溝道,像素電極205與漏極206相接觸。在此,要求半導(dǎo)體有源層207的寬度小于柵極202的寬度,使得形成TFT溝道的源極208與半導(dǎo)體有源層207相接觸的區(qū)域,以及漏極206與半導(dǎo)體有源層207相接觸的區(qū)域均位于柵極202的上方。至此,本發(fā)明實(shí)施例中的數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極、像素電極位于同一層上,使得基板厚度變薄,與現(xiàn)有分層制備而言減少了工藝。由于石墨烯是一種二維材料,其特性介于半導(dǎo)體與導(dǎo)體之間,本征態(tài)時(shí),由于能帶交疊,其導(dǎo)電性具有金屬特性,電導(dǎo)率能達(dá)到20000cm2/V. S,可以作為TFT的源漏極材料,當(dāng)用氫氣或氬氣,或者兩者混合氣體處理之后,產(chǎn)生氫化石墨烯,帶隙增加,可以作為半導(dǎo)體材料。且相對(duì)于一般的半導(dǎo)體材料而言,其具有更高的載流子遷移率。S105、在數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極、像素電極之上形成保護(hù)層。如圖9所示,在數(shù)據(jù)線、源極208、半導(dǎo)體有源層207、漏極206、像素電極205之上涂覆一層厚度在1000人到6000人的保護(hù)層209,其材料通常是二氧化硅或透明的有機(jī)樹(shù)脂材料等氧化物。S106、在保護(hù)層上,在像素電極的上方,形成公共電極如圖10所示,在保護(hù)層209沉積一層ITO (Indium Tin Oxides,銦錫氧化物)或石墨烯,厚度在100人至1000人之間。然后在沉積的ITO或石墨烯上涂覆一層光刻膠,然后進(jìn)過(guò)曝光、顯影、刻蝕、剝離等構(gòu)圖工藝得到位于像素電極205之上的公共電極210。本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板及其制造方法,采用石墨烯材料在柵絕緣層上同層制備了 TFT基板的數(shù)據(jù)線、源極、漏極、有源層和像素電極層,相比現(xiàn)有技術(shù)的在不同層制備的方法而言,使TFT陣列基板的厚度變薄,并簡(jiǎn)化了工藝流程。本發(fā)明實(shí)施例提供的TFT陣列基板,如圖10所示,包括基板201 ;在基板201上形成有柵線(圖中未表示)和柵極202 ;在柵線和柵極202上形成有柵絕緣層203 ;在柵絕緣層203上形成有由石墨烯構(gòu)成的數(shù)據(jù)線(圖中未表示)、源極208、半導(dǎo)體有源層207、漏極206和像素電極205 ;其中,源極208與半導(dǎo)體有源層207相接觸,漏極206與半導(dǎo)體有源層207相接觸,形成TFT溝道,像素電極205與漏極206相接觸;在數(shù)據(jù)線、源極208、半導(dǎo)體有源層207、漏極206和像素電極205上形成有保護(hù)層209 ;在保護(hù)層209上,在像素電極205上方,形成有公共電極210。其中,半導(dǎo)體有源層207的石墨烯為經(jīng)過(guò)氫化處理后的石墨烯層。由于石墨烯是一種二維材料,其特性介于半導(dǎo)體與導(dǎo)體之間,本征態(tài)時(shí),由于能帶交疊,其導(dǎo)電性具有金屬特性,電導(dǎo)率能達(dá)到20000cm2/V. S,可以作為TFT的源漏極材料,當(dāng)用氫氣或氬氣,或者兩者混合氣體處理之后,產(chǎn)生氫化石墨烯,帶隙增加,可以作為半導(dǎo)體材料。且相對(duì)于一般的半導(dǎo)體材料而言,其具有更高的載流子遷移率。在本實(shí)施例中,要求半導(dǎo)體有源層207的寬度小于柵極202的寬度,使得形成TFT溝道的源極208與半導(dǎo)體有源層207相接觸的區(qū)域,以及漏極206與半導(dǎo)體有源層207相接觸的區(qū)域均位于柵極202的上方。另外,本實(shí)施例中的公共電極210可以由氧化銦錫或石墨烯構(gòu)成。在本實(shí)施例中,可以明顯看出,數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極、像素電極位于同一層上,使得TFT陣列基板的厚度變薄,與現(xiàn)有的分層制備相比,簡(jiǎn)化了制備工藝。本發(fā)明實(shí)施例還提供一種顯示裝置,使用了上述的TFT陣列基板。所述顯示裝置,包括液晶面板、液晶電視、手機(jī)、平板電腦、導(dǎo)航儀等。本實(shí)施例中的顯示裝置,由于其使用的TFT陣列基板中的數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極、像素電極位于同一層上,使得TFT陣列基板的厚度變薄,導(dǎo)致顯示裝置也相應(yīng)變薄,與現(xiàn)有的分層制備相比,簡(jiǎn)化了制備工藝。以上所述,僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式
,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種TFT陣列基板制造方法,其特征在于,包括 在基板上形成金屬層,通過(guò)第一次構(gòu)圖工藝處理得到柵線和柵極; 在所述柵線和柵極上形成柵絕緣層; 在所述柵絕緣層上形成石墨烯層,通過(guò)第二次構(gòu)圖工藝處理及氫化處理,在所述柵極的上方得到由石墨烯構(gòu)成的半導(dǎo)體有源層; 在所述石墨烯層上通過(guò)第三次構(gòu)圖工藝處理得到由石墨烯構(gòu)成的數(shù)據(jù)線、源極、漏極和像素電極;其中,所述源極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,所述漏極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,形成TFT溝道,所述像素電極與所述漏極相接觸; 在所述數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極、像素電極之上形成保護(hù)層; 在所述保護(hù)層上,在所述像素電極上方,形成公共電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的TFT陣列基板制造方法,其特征在于,在所述柵絕緣層上形成石墨烯層,通過(guò)第二次構(gòu)圖工藝處理及氫化處理,在所述柵極的上方得到由石墨烯構(gòu)成的半導(dǎo)體有源層包括 在所述柵絕緣層上,利用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法沉積一層石墨烯材料,或者旋涂一層水溶性單層或多層石墨烯材料,形成石墨烯層; 在所述石墨烯層上涂覆光刻膠,經(jīng)過(guò)曝光、顯影后露出溝道區(qū)的石墨烯; 利用H2,或H2和Ar2的混合氣體對(duì)所述溝道區(qū)的石墨烯進(jìn)行氫化處理; 剝離掉剩余的光刻膠,在所述柵極的上方得到由石墨烯構(gòu)成的半導(dǎo)體有源層。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的TFT陣列基板制造方法,其特征在于,所述公共電極由氧化銦錫或石墨烯構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的TFT陣列基板制造方法,其特征在于,所述半導(dǎo)體有源層的寬度小于所述柵極的寬度,使得形成TFT溝道的所述源極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸的區(qū)域,以及所述漏極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸的區(qū)域均位于所述柵極的上方。
5.—種TFT陣列基板,其特征在于,包括 基板; 在所述基板上形成有柵線和柵極; 在所述柵線和柵極上形成有柵絕緣層; 在所述柵絕緣層上形成有由石墨烯構(gòu)成的數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極和像素電極;其中,所述源極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,所述漏極與所述半導(dǎo)體有源層相接觸,形成TFT溝道,所述像素電極與所述漏極相接觸; 在所述數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極和像素電極上形成有保護(hù)層; 在所述保護(hù)層上,在所述像素電極上方,形成有公共電極。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的TFT陣列基板,其特征在于,所述半導(dǎo)體有源層的石墨烯為經(jīng)過(guò)氫化處理后的石墨烯層。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的TFT陣列基板,其特征在于,所述公共電極層由氧化銦錫或石墨烯構(gòu)成。
8.一種顯示裝置,其特征在于,包括權(quán)利要求5 7任一項(xiàng)所述的TFT陣列基板。
全文摘要
本發(fā)明提供一種TFT陣列基板及其制造方法和顯示裝置,涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,改進(jìn)了ADS模式的TFT陣列基板結(jié)構(gòu),使基板厚度變薄,并簡(jiǎn)化了工藝流程。TFT陣列基板制造方法包括在玻璃基板上通過(guò)第一次構(gòu)圖工藝處理得到柵線和柵極;在柵線和柵極上形成柵絕緣層;在柵絕緣層上形成石墨烯層,通過(guò)第二次構(gòu)圖工藝處理及氫化處理,在柵極的上方得到半導(dǎo)體有源層;再通過(guò)第三次構(gòu)圖工藝處理得到位于同一層的數(shù)據(jù)線、源極、漏極和像素電極;在數(shù)據(jù)線、源極、半導(dǎo)體有源層、漏極、像素電極之上形成保護(hù)層;在保護(hù)層上,在像素電極上方,形成公共電極。本發(fā)明實(shí)施例用于制造ADS模式TFT陣列基板。
文檔編號(hào)G02F1/1362GK102629577SQ20111029407
公開(kāi)日2012年8月8日 申請(qǐng)日期2011年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2011年9月29日
發(fā)明者姚琪, 張鋒, 戴天明, 薛建設(shè) 申請(qǐng)人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司
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