專利名稱：一種超透鏡的調(diào)諧方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用在微納米成像、生物成像、納米光刻技術(shù)及其它納米光學(xué)領(lǐng)域中的一種超透鏡及其調(diào)諧方法，具體來說，涉及一種超透鏡及其調(diào)諧方法。
背景技術(shù)：
最近，基于金屬-介質(zhì)組合材料的超透鏡技術(shù)引起了人們的廣泛關(guān)注，原因在于超透鏡可突破傳統(tǒng)的光學(xué)衍射極限，對(duì)亞波長(zhǎng)量級(jí)的目標(biāo)物成像或放大。早期的超透鏡，在功能上主要是對(duì)目標(biāo)物等比例成像，因此可用于納米光刻等，近年來，超透鏡技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展，已可對(duì)亞波長(zhǎng)的目標(biāo)物進(jìn)行放大，其應(yīng)用領(lǐng)域拓展到生物DNA分子成像等領(lǐng)域?？蓪?duì)目標(biāo)物放大的超透鏡主要是雙曲透鏡，在設(shè)計(jì)原理上，該種透鏡利用平滑的雙曲色散特性，使得其能夠支持非常大的空間頻率的波失同時(shí)擁有相同的相速度。雙曲透鏡可以被集成到傳統(tǒng)的顯微鏡中，使得其能擴(kuò)大衍射極限的能力，并在實(shí)時(shí)顯微成像領(lǐng)域中開辟了一塊新天地。傳統(tǒng)的光學(xué)成像系統(tǒng)的分辨率由于本身固有的性質(zhì)而被衍射極限所限制，因此， 物體中包含的小于半個(gè)波長(zhǎng)的物體的空間信息容即高頻部分由于其在進(jìn)場(chǎng)范圍內(nèi)會(huì)迅速衰減而不能被投射到遠(yuǎn)場(chǎng)。盡管近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡可以通過收集非常接近物體的消逝場(chǎng)而突破這個(gè)限制，但是其掃描速率慢以及掃描針尖帶來的不可忽視的近場(chǎng)擾動(dòng)阻礙了近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡在實(shí)時(shí)成像方面以及生物系統(tǒng)的應(yīng)用。2000年，英國(guó)光理論學(xué)家 J. B. Pendry提出的能夠在近場(chǎng)范圍實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)成像的超透鏡是朝向克服衍射極限的實(shí)時(shí)成像的第一步；更重大的突破隨著光學(xué)雙曲透鏡概念的出現(xiàn)。2006年，^ibin Jacob首次提出了雙曲透鏡(Hyperlens)的概念，他利用金屬和介電質(zhì)材料交替的層狀結(jié)構(gòu)來讓倏逝波在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)域恢復(fù)成像，并且不需要再對(duì)透鏡的出射端進(jìn)行處理就能夠直接被觀測(cè)到。這種設(shè)計(jì)在曲面結(jié)構(gòu)上交替的介質(zhì)層和金屬層這種基于超材料的光學(xué)器件獲得了強(qiáng)烈的光學(xué)各向異性的性質(zhì)，這樣可以支持很大空間頻率的傳導(dǎo)波，同時(shí)由于其圓柱形結(jié)構(gòu)，使得波在向外傳播的過程中其橫向波失能夠得到壓縮使其沿著徑向傳播。因此，物體中所包含的高頻信息的細(xì)節(jié)部分通過這個(gè)雙曲結(jié)構(gòu)將被放大，使其大于衍射極限的同時(shí)能夠被傳輸?shù)竭h(yuǎn)場(chǎng)。但是以上所有的實(shí)驗(yàn)證明的雙曲透鏡都限制在一維的放大和紫外的波長(zhǎng)，然而在許多實(shí)際的成像應(yīng)用中，更多的情況是能夠在可見范圍內(nèi)的實(shí)時(shí)二維成像。2010年，美國(guó)加州大學(xué)伯克利分校的^iang Xiang團(tuán)隊(duì)提出了能夠?qū)崿F(xiàn)二維實(shí)時(shí)成像的球型雙曲超透鏡結(jié)構(gòu)， 其能夠突破衍射極限并在可見光范圍能實(shí)現(xiàn)二維的實(shí)時(shí)成像，不需要光學(xué)掃描或者成像的恢復(fù)重建，將倏逝波轉(zhuǎn)變成傳導(dǎo)波，在遠(yuǎn)場(chǎng)范圍內(nèi)生成放大的像。其二維實(shí)時(shí)成像的本領(lǐng)為光學(xué)掃描探針顯微鏡以及在或細(xì)胞中的生物分子學(xué)的實(shí)時(shí)成像開辟了新的大道。經(jīng)過十余年的研究，超透鏡成像技術(shù)的理論研究和實(shí)驗(yàn)研究均以發(fā)展到一個(gè)新的階段。然而，為了使該技術(shù)真正實(shí)用化，還有很多關(guān)鍵的科學(xué)問題需要解決，其中，最為關(guān)鍵的問題就是如何對(duì)超透鏡的成像進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)諧，使其能在結(jié)構(gòu)參數(shù)不改變的情況下工作在不同的波段，從而進(jìn)行清晰、高分辨率的完美成像。尤其，常用的超透鏡的成像方法無法對(duì)動(dòng)態(tài)移動(dòng)的目標(biāo)物實(shí)現(xiàn)清晰、高分辨率的完美成像。

發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種超透鏡的調(diào)諧方法，在利用該超透鏡成像時(shí)，能夠在超透鏡結(jié)構(gòu)參數(shù)不改變的情況下，對(duì)超透鏡實(shí)時(shí)調(diào)諧，工作在不同的波段，對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行清晰、高分辨率的完美成像。技術(shù)方案為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是超透鏡的調(diào)諧方法， 包括以下步驟第一步制作超透鏡；第二步將目標(biāo)物放置在超透鏡的表面附近；第三步 利用外部設(shè)備對(duì)超透鏡進(jìn)行調(diào)諧，使第二步中的目標(biāo)物呈現(xiàn)清晰的像。進(jìn)一步，在所述的第三步中，外部設(shè)備為溫控裝置和溫控加熱板，將溫控加熱板放置在超透鏡的底部，并將溫控裝置和溫控加熱板通過導(dǎo)線連接；通過調(diào)節(jié)溫控裝置升溫和降溫，改變金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。進(jìn)一步，在所述的第三步中，外部設(shè)備為電流和電壓幅度都可以調(diào)節(jié)的電源，用金屬導(dǎo)線連接電源和超透鏡中的金屬層薄膜，使得超透鏡中的金屬層薄膜、導(dǎo)線和電源構(gòu)成一閉合電路；通過調(diào)節(jié)輸入金屬層薄膜中的電信號(hào)的電壓幅度大小，來控制超透鏡的溫度， 改變介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。進(jìn)一步，在所述的第三步中，外部設(shè)備為可以調(diào)節(jié)的外加光源，通過外加光源照射超透鏡的表面，利用光產(chǎn)生的熱量對(duì)超透鏡加熱，同時(shí)控制外加光源照射的強(qiáng)度，改變金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，進(jìn)而調(diào)諧超透鏡的成像效果。進(jìn)一步，在所述的第三步中，外部設(shè)備為電信號(hào)源，用金屬導(dǎo)線連接電信號(hào)源和超透鏡中的金屬層薄膜，使得超透鏡中的金屬層薄膜、導(dǎo)線和電信號(hào)源構(gòu)成一閉合電路；通過調(diào)節(jié)輸入金屬層薄膜中的電信號(hào)的電壓大小，改變金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。 進(jìn)一步，在所述的第三步中，外部設(shè)備為可以調(diào)節(jié)磁場(chǎng)強(qiáng)度的磁體，將超透鏡放置在磁場(chǎng)中，通過改變磁體產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度，控制金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。有益效果與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的技術(shù)方案具有以下的優(yōu)點(diǎn)
1.在超透鏡結(jié)構(gòu)參數(shù)不改變的情況下，對(duì)超透鏡實(shí)時(shí)調(diào)諧，工作在不同的波段，對(duì)靜止目標(biāo)物進(jìn)行清晰的完美成像。目前超透鏡的成像方法是利用單波長(zhǎng)光源照射超透鏡表面的目標(biāo)物，在超透鏡的另一側(cè)成像，成像清晰度僅與超透鏡的結(jié)構(gòu)參數(shù)有關(guān)，而超透鏡結(jié)構(gòu)參數(shù)已固定，在成像過程中無法改變。因此該方法不具有調(diào)諧功能，因此成像清晰度無法調(diào)節(jié)。另外，從超透鏡的原理上分析，超透鏡本身也是不具備調(diào)諧焦點(diǎn)的功能。本技術(shù)方案提出的超透鏡的調(diào)諧方法，通過利用外部設(shè)備，對(duì)超透鏡施加外加電場(chǎng)、溫度、光強(qiáng)或者磁場(chǎng)等因素的影響，并實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)外加電場(chǎng)、溫度、光強(qiáng)或者磁場(chǎng)的強(qiáng)度，以此來實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)超透鏡的金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)超透鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)諧，使超透鏡的聚焦位置定位在最佳位置，使靜止目標(biāo)物獲得最佳的成像效果。2.本發(fā)明提供的調(diào)諧方法可以利用多波長(zhǎng)的光源對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行清晰的完美成像。 目前超透鏡的成像方法不能夠?qū)Τ哥R的有效光程實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)調(diào)諧。這樣，只能用單一波長(zhǎng)
4對(duì)目標(biāo)物成像，采用傳統(tǒng)的成像方法和超透鏡，如果更換光源的波長(zhǎng)即無法對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行清晰的成像。而本技術(shù)方案提供的方法可以對(duì)超透鏡的有效光程實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)調(diào)諧。這樣，在成像過程中，通過實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)外加電場(chǎng)、溫度、光強(qiáng)或者磁場(chǎng)的強(qiáng)度，以此來實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)超透鏡的金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，使超透鏡的有效光程改變， 將不同波長(zhǎng)的光源調(diào)諧到其最佳的有效光程范圍內(nèi)，定位在最佳位置并獲得最佳的成像效
果ο3.本發(fā)明提供的調(diào)諧方法可以對(duì)移動(dòng)目標(biāo)物進(jìn)行清晰的完美成像。移動(dòng)目標(biāo)物由于在動(dòng)態(tài)變化過程中，所以它的成像焦點(diǎn)位置是動(dòng)態(tài)變化的。目前超透鏡的成像方法不能夠?qū)Τ哥R實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)調(diào)諧。這樣，對(duì)于移動(dòng)目標(biāo)物，采用傳統(tǒng)的成像方法和超透鏡，無法對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行清晰的成像。而本技術(shù)方案提供的方法可以對(duì)超透鏡實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)調(diào)諧。這樣，對(duì)于移動(dòng)目標(biāo)物，在成像過程中，通過實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)外加電場(chǎng)、溫度、光強(qiáng)或者磁場(chǎng)的強(qiáng)度，以此來實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)超透鏡的金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，使超透鏡的聚焦位置根據(jù)移動(dòng)目標(biāo)物的不同位置，實(shí)時(shí)改變，使移動(dòng)目標(biāo)物獲得最佳的成像效果。4.實(shí)現(xiàn)本發(fā)明提供的調(diào)諧方法形式多樣。由于金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)可以通過熱光效應(yīng)、電光效應(yīng)、或者磁光效應(yīng)進(jìn)行調(diào)節(jié)，并且每種效應(yīng)的實(shí)現(xiàn)方式也是多樣的，所以本技術(shù)方案的調(diào)諧方法可以通過多種裝置實(shí)現(xiàn)。例如， 通過溫控裝置和溫控加熱板對(duì)透鏡進(jìn)行加熱，利用熱光效應(yīng)來調(diào)節(jié)金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)；通過電流和電壓幅度都可以調(diào)節(jié)的電源，調(diào)節(jié)進(jìn)入金屬層薄膜中的電壓幅度，利用電光效應(yīng)來調(diào)節(jié)介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)；通過可以調(diào)節(jié)的外加光源照射超透鏡的表面，利用熱光效應(yīng)來調(diào)節(jié)金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)；通過電信號(hào)源與金屬層薄膜的連接，利用熱光效應(yīng)來調(diào)節(jié)金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)；通過可以產(chǎn)生磁場(chǎng)的裝置，利用磁光效應(yīng)來調(diào)節(jié)金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)。


圖1是本發(fā)明中使用的平板形超透鏡的結(jié)構(gòu)剖視圖。圖2是本發(fā)明中使用的圓柱形超透鏡的結(jié)構(gòu)剖視圖。圖3是本發(fā)明中使用的半球形超透鏡的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4是滿足超透鏡成像條件的色散曲線示意圖。圖5是不滿足超透鏡成像條件的色散曲線示意圖。圖中有金屬層薄膜1、介質(zhì)層薄膜2。
具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案作進(jìn)一步的描述。本發(fā)明的一種超透鏡的調(diào)諧方法，包括以下步驟第一步制作超透鏡。在該步驟中，如圖1、圖2和圖3所示，超透鏡是由金屬層薄膜1和介質(zhì)層薄膜2交替組成。介質(zhì)層薄膜2由具有光學(xué)透明性的介質(zhì)材料制成，優(yōu)選由二氧化硅，或者氧化鋁介質(zhì)材料制成。第二步將目標(biāo)物放置在超透鏡的表面附近。
在該步驟中，目標(biāo)物是移動(dòng)的物體，或者靜止的物體。第三步利用外部設(shè)備對(duì)超透鏡進(jìn)行調(diào)諧，使第二步中的目標(biāo)物呈現(xiàn)清晰的像。在該步驟中，由于本技術(shù)方案是利用熱光效應(yīng)、電光效應(yīng)、磁光效應(yīng)等高階非線性效應(yīng)調(diào)節(jié)金屬層薄膜1中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)超透鏡成像聚焦的調(diào)節(jié)，所以外部設(shè)備可以有多種形式。因?yàn)槊糠N效應(yīng)的實(shí)現(xiàn)方式也是多樣的，所以本技術(shù)方案的調(diào)諧方法可以通過多種不同裝置實(shí)現(xiàn)。采用熱光效應(yīng)調(diào)節(jié)金屬層薄膜1中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，外部設(shè)備可以是溫控裝置和溫控加熱板。將溫控加熱板放置在超透鏡的底部，并將溫控裝置和溫控加熱板通過導(dǎo)線連接，形成一閉合電路。通過調(diào)節(jié)溫控裝置升溫和降溫，來改變金屬層薄膜1中的中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。外部設(shè)備可以是電信號(hào)源。用金屬導(dǎo)線連接電信號(hào)源和超透鏡中的金屬層薄膜1，使得超透鏡中的金屬層薄膜1、導(dǎo)線和電信號(hào)源構(gòu)成一閉合電路。通過調(diào)節(jié)電信號(hào)源流出的電流大小，來控制超透鏡的溫度，利用熱光效應(yīng)改變金屬層薄膜1中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。外部設(shè)備還可以是強(qiáng)度可以調(diào)節(jié)的外加光源。通過外加光源照射超透鏡的表面，利用光產(chǎn)生的熱量對(duì)超透鏡加熱，同時(shí)控制外加光源照射的強(qiáng)度，改變金屬層薄膜1中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，進(jìn)而調(diào)諧超透鏡的成像效果。采用電光效應(yīng)調(diào)節(jié)介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，外部設(shè)備可以是電流和電壓幅度都可以調(diào)節(jié)的電源。用金屬導(dǎo)線連接電源和超透鏡中的金屬層薄膜1，使得超透鏡中的金屬層薄膜1、導(dǎo)線和電源構(gòu)成一閉合電路。通過調(diào)節(jié)輸入金屬層薄膜1中的電信號(hào)的電壓幅度大小，改變介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。采用磁光效應(yīng)調(diào)節(jié)金屬層薄膜1中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，外部設(shè)備可以是磁場(chǎng)強(qiáng)度可調(diào)節(jié)的磁體。將超透鏡放置在磁場(chǎng)中，通過改變磁體產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度和磁場(chǎng)方向，控制金屬層薄膜1中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。以下論述通過改變金屬層薄膜1中的金屬和介質(zhì)層薄膜2中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果的原理。我們以圖2的圓柱形超透鏡為例來說明。根據(jù)等效介質(zhì)理論，要想實(shí)現(xiàn)超透鏡的完美成像，其等效介電常數(shù)必須滿足式(1)和式(2)
權(quán)利要求
1.一種超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，該調(diào)諧方法包括以下步驟第一步制作超透鏡；第二步將目標(biāo)物放置在超透鏡的表面附近；第三步利用外部設(shè)備對(duì)超透鏡進(jìn)行調(diào)諧，使第二步中的目標(biāo)物呈現(xiàn)清晰的像。
2.按照權(quán)利要求1所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，在所述的第一步中，超透鏡是由金屬層薄膜(1)和介質(zhì)層薄膜(2)交替組成。
3.按照權(quán)利要求2所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，所述的介質(zhì)層薄膜(2)是由具有光學(xué)透明性的介質(zhì)材料制成。
4.按照權(quán)利要求3所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，所述的介質(zhì)材料是二氧化硅，或者氧化鋁。
5.按照權(quán)利要求1所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，在所述的第二步中，目標(biāo)物是移動(dòng)的物體，或者靜止的物體。
6.按照權(quán)利要求1所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，在所述的第三步中，外部設(shè)備為溫控裝置和溫控加熱板，將溫控加熱板放置在超透鏡的底部，并將溫控裝置和溫控加熱板通過導(dǎo)線連接；通過調(diào)節(jié)溫控裝置升溫和降溫，改變金屬層薄膜(1)中的金屬和介質(zhì)層薄膜(2)中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。
7.按照權(quán)利要求1所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，在所述的第三步中，外部設(shè)備為電流和電壓幅度都可以調(diào)節(jié)的電源，用金屬導(dǎo)線連接電源和超透鏡中的金屬層薄膜 (1)，使得超透鏡中的金屬層薄膜(1)、導(dǎo)線和電源構(gòu)成一閉合電路；通過調(diào)節(jié)輸入金屬層薄膜(1)中的電信號(hào)的電壓幅度大小，來控制超透鏡的溫度，改變介質(zhì)層薄膜(2)中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。
8.按照權(quán)利要求1所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，在所述的第三步中，外部設(shè)備為可以調(diào)節(jié)的外加光源，通過外加光源照射超透鏡的表面，利用光產(chǎn)生的熱量對(duì)超透鏡加熱，同時(shí)控制外加光源照射的強(qiáng)度，改變金屬層薄膜(1)中的金屬和介質(zhì)層薄膜(2)中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，進(jìn)而調(diào)諧超透鏡的成像效果。
9.按照權(quán)利要求1所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，在所述的第三步中，外部設(shè)備為電信號(hào)源，用金屬導(dǎo)線連接電信號(hào)源和超透鏡中的金屬層薄膜(1 )，使得超透鏡中的金屬層薄膜(1)、導(dǎo)線和電信號(hào)源構(gòu)成一閉合電路；通過調(diào)節(jié)輸入金屬層薄膜(1)中的電信號(hào)的電壓大小，改變金屬層薄膜(1)中的金屬和介質(zhì)層薄膜(2)中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。
10.按照權(quán)利要求1所述的超透鏡的調(diào)諧方法，其特征在于，在所述的第三步中，外部設(shè)備為可以調(diào)節(jié)磁場(chǎng)強(qiáng)度的磁體，將超透鏡放置在磁場(chǎng)中，通過改變磁體產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度，控制金屬層薄膜(1)中的金屬和介質(zhì)層薄膜(2)中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，調(diào)諧超透鏡的成像效果。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種超透鏡的調(diào)諧方法，包括以下步驟第一步制作超透鏡；第二步將目標(biāo)物放置在超透鏡的表面附近；第三步利用外部設(shè)備對(duì)超透鏡進(jìn)行調(diào)諧，使第二步中的目標(biāo)物呈現(xiàn)清晰的像。本技術(shù)方案提出的超透鏡的調(diào)諧方法，通過利用外部設(shè)備，對(duì)超透鏡施加外加電場(chǎng)、溫度、光強(qiáng)或者磁場(chǎng)等因素的影響，并實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)外加電場(chǎng)、溫度、光強(qiáng)或者磁場(chǎng)的強(qiáng)度，以此來實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)超透鏡的金屬層薄膜中的金屬和介質(zhì)層薄膜中的介質(zhì)材料的介電常數(shù)，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)對(duì)超透鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)調(diào)諧，使超透鏡的聚焦位置定位在最佳位置，使目標(biāo)物獲得最佳的成像效果。
文檔編號(hào)G02F1/29GK102162965SQ201110099289
公開日2011年8月24日 申請(qǐng)日期2011年4月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月20日
發(fā)明者張彤, 張曉陽, 陳秋月 申請(qǐng)人:東南大學(xué)