專利名稱：一種干涉儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種干涉儀，尤其涉及一種可作為差分移相鍵控(DPSK)解調(diào)器 的干涉儀。
背景技術(shù)：
差分移相鍵控(DPSK)作為一種適合高速光通信的信號調(diào)制格式而受到廣泛的重 視。移相鍵控(PSK)是一種數(shù)字調(diào)制格式，它通過改變或者調(diào)制使信號光的相位攜帶信息。 而DPSK是由相鄰比特的相位差攜帶信息的一種移相鍵控(PSK)。在光通信技術(shù)中，為讀出 差分移相鍵控(DPSK)信息，需要一個(gè)能把光相位信息轉(zhuǎn)變?yōu)楣鈴?qiáng)度信息的解調(diào)器。差分移 相鍵控(DPSK)信息的解碼是通過相臨比特相位的比較實(shí)現(xiàn)的。在理論上，攜帶差分移相鍵 控(DPSK)調(diào)制信號的光波被分成兩束，再經(jīng)過不同的光程重新合束后，兩列光波將發(fā)生干 涉，或者相干增強(qiáng)，或者相干減弱。為使光相位信息轉(zhuǎn)變?yōu)楣鈴?qiáng)度信息，需要控制兩束被分 開光束的光程，使其在合束時(shí)的光程差等于一個(gè)比特的距離。例如，一個(gè)40Gbit/s的系統(tǒng)， 一個(gè)比特等于25ps，光在一個(gè)比特的時(shí)間內(nèi)所走過的距離為7. 5mm。在這個(gè)例子里，上面所 說的兩束光的光程差就應(yīng)該等于7. 5mm。已有技術(shù)中的Mach-Zehnder型干涉儀可以實(shí)現(xiàn)上述差分移相鍵控(DPSK)信號的 解調(diào)，只需使干涉儀兩個(gè)臂的光程差等于一個(gè)比特的距離。由于光的干涉是以一個(gè)波長的 距離為周期，干涉強(qiáng)度隨相干光束的光程差的變化是十分敏感的。而且，光在Mach-Zehnder 干涉儀的每一個(gè)臂傳播的光程遠(yuǎn)大于光波的一個(gè)波長。因此，為了使兩束光的光程差的變 化不對干涉產(chǎn)生嚴(yán)重的影響，需要對Mach-Zehnder干涉儀進(jìn)行嚴(yán)格的溫度控制。特別對于 具有長光程的干涉儀，這是非常困難的，并且實(shí)現(xiàn)這樣高精度的控溫需要付出很高的成本。

實(shí)用新型內(nèi)容因此，本實(shí)用新型針對上述不足，而提出一種結(jié)構(gòu)較為簡單且對于溫度不敏感的 干涉儀結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型的技術(shù)方案是本實(shí)用新型的干涉儀，包括有兩個(gè)透光平行平片(102、103/402、403)，在平行平片的一個(gè)表面鍍條形部分反射 薄膜(106/406)，用于將入射到其上的光分成能量均等的兩束，在平行平片的另一個(gè)表面鍍 條形全反射薄膜(105/405)，用于將入射到其上的光反射；一個(gè)干涉儀支架(104/404)，固定上述的兩個(gè)透光平行平片(102、103/402、403)，
使兩個(gè)平行平片成一定夾角或者平行。進(jìn)一步的，所述的干涉儀支架是二個(gè)平行平片，固定于所述的兩個(gè)透光平行平片 (102,103)上下端之間，與之一起構(gòu)成一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)?；蛘?，所述的干涉儀支架是一個(gè)平行平片，固定于所述的兩個(gè)透光平行平片(402、 403)下端之間，與之一起構(gòu)成一個(gè)三角形結(jié)構(gòu)。[0011]進(jìn)一步的，在入射光進(jìn)入所述的透光平行平片(102/402)與相對的透光平行平片 (103/403)的之間的第一個(gè)光路(1)上設(shè)置有一個(gè)相位延遲器(107/409)。更進(jìn)一步的，在所述的透光平行平片(102/402)與相對的透光平行平片 (103/403)的之間的第二個(gè)光路(2)上設(shè)置有另一個(gè)相位延遲器(207)。進(jìn)一步的，在所述的平行平片的入射光路上設(shè)置一個(gè)準(zhǔn)直器(101)，在所述的平行 平片的出射光路上設(shè)置光電探測器或光纖(108/308/408)。更進(jìn)一步的，在所述的光纖前的光路上設(shè)置透鏡(308/407)。本實(shí)用新型采用相同光學(xué)原理實(shí)現(xiàn)的另一種改進(jìn)的干涉儀，包括有兩個(gè)獨(dú)立膠合成一體的光學(xué)元件(50/602、603/702、703)，所述的光學(xué)元件是包 括兩個(gè)透光平行平片(501、502/6021、6022/6031、6032/7021、7022/7031、7032)，這兩個(gè) 平行平片互相平行的固定在一個(gè)元件支架(503)上，所述的兩個(gè)互相平行的平行平片的相 對向內(nèi)的兩個(gè)平面上一個(gè)鍍?nèi)瓷浔∧?505)，另一個(gè)鍍部分反射薄膜(504)；一個(gè)干涉儀支架(604/704)，固定上述的兩個(gè)光學(xué)元件(602、603/702、703)，使兩 個(gè)光學(xué)元件成一定夾角或者平行。進(jìn)一步的，所述的干涉儀支架是一個(gè)夾角固定架(604)，固定于所述的兩個(gè)光學(xué)元 件(602、603)之間?；蛘?，所述的干涉儀支架是一個(gè)平行四邊形支架(704)，固定于所述的兩個(gè)光學(xué)元 件(702、703)之間。或者，所述的干涉儀支架是二個(gè)平行平片，固定于所述的兩個(gè)光學(xué)元件(50)上下 端之間，與之一起構(gòu)成一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)。進(jìn)一步的，在入射光進(jìn)入所述的光學(xué)元件(702)的與相對的光學(xué)元件(703)的第 一個(gè)光路(1)上設(shè)置有一個(gè)相位延遲器(705)。更進(jìn)一步的，在入射光進(jìn)入所述的光學(xué)元件(702)的與相對的光學(xué)元件(703)的 第二個(gè)光路(2)上設(shè)置有另一個(gè)相位延遲器。進(jìn)一步的，在所述的光學(xué)元件的入射光路上設(shè)置一個(gè)準(zhǔn)直器(601/701)，在所述的 平行平片的出射光路上設(shè)置光電探測器或光纖。更進(jìn)一步的，在所述的光纖前的光路上設(shè)置透鏡。本實(shí)用新型在如上所述的平行平片的相同表面除了鍍有全反射薄膜 (105/406/505)或者部分反射薄膜(106/405/504)的位置外的其余位置均鍍增透膜。如上所述的相位延遲器(107/207/409/705)是熱光效應(yīng)的相位延時(shí)器或者電光 效應(yīng)的相位延時(shí)器或者電致伸縮的相位延遲器。本實(shí)用新型的光學(xué)工作原理是一束光入射到第一個(gè)所述的透明平行平片(或所 述的光學(xué)元件)上，被所述平行平片(或所述的光學(xué)元件)上所鍍的所述的部分反射膜分 成能量均等的兩束，其中一束光被所述的第一個(gè)平行平片(或所述的光學(xué)元件)上所鍍的 所述的全反射膜反射，并與透過所述的第一個(gè)平行平片(或所述的光學(xué)元件)的那束光相 平行的射向第二個(gè)上述的透明平行平片上(或所述的光學(xué)元件)；上述的被分離的一束光 被所述的第二個(gè)平行平片(或所述的光學(xué)元件)上的全反射薄膜反射到所述的第二個(gè)平行 平片(或所述的光學(xué)元件)上所鍍的部分反射薄膜上，并與上述的被分離的另一束光在這 個(gè)部分反射薄膜上重新合束并發(fā)生干涉。[0028]本實(shí)用新型采用如上所述的干涉儀結(jié)構(gòu)，兩束光經(jīng)過不同的光路后合束，它們之 間含有一個(gè)光程差。當(dāng)入射光為被DPSK格式調(diào)制的信號光時(shí)，所述的光程差所對應(yīng)的延遲 時(shí)間等于入射光信號相鄰比特之間的時(shí)間延遲時(shí)，則該干涉儀成為一個(gè)DPSK解調(diào)器。本實(shí) 用新型的干涉儀結(jié)構(gòu)由于所分成的兩束光每束都通過兩個(gè)元件的一個(gè)平行平片，因此，這 種干涉儀是溫度不敏感的。

圖1是本實(shí)用新型的實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實(shí)用新型的實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實(shí)用新型構(gòu)成的DPSK解調(diào)器的實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本實(shí)用新型的實(shí)施例3的結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是本實(shí)用新型的擴(kuò)展的光學(xué)元件結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是本實(shí)用新型的實(shí)施例4的結(jié)構(gòu)示意圖；圖7是本實(shí)用新型的實(shí)施例5的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
現(xiàn)結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。本實(shí)用新型以應(yīng)用于DPSK解調(diào)器的Mach-Zehnder干涉儀的一些實(shí)例說明。所述 DPSK解調(diào)器中，入射光被一個(gè)分束器分成兩束光，這兩束光被不同的反射鏡反射，經(jīng)過不同 的光程后被一個(gè)合束器重新合束。因?yàn)楣獬滩畹拇嬖?，這兩束重新合束的光彼此間有一個(gè) 時(shí)間延遲。這兩束光的光程差所引起的時(shí)間延遲被設(shè)計(jì)成等于被以DPSK格式調(diào)制的入射 光的相鄰比特之間的時(shí)間延遲。兩束相干光干涉之后的光強(qiáng)(I)為/ = Z1 + Z2 + I^T2 COS δ其中I1, I2為兩束相干光的光強(qiáng)，δ為兩束相干光的相位差。這樣利用干涉儀作 為DPSK解調(diào)器就可以把相位信息轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)度信息。本實(shí)用新型的一個(gè)實(shí)施例如圖1所示。這個(gè)實(shí)施例結(jié)構(gòu)中包括4個(gè)透明平行平片 102、103和104，其中平行平片104作為干涉儀支架。這四個(gè)平片膠合成如圖1所示的矩形。 其中，在平行平片102、103上鍍有條形全反射薄膜105和條形部分反射薄膜106。除鍍有上 述全反射薄膜和部分反射薄膜的位置外，平行平片102、103相同表面的其余位置鍍增透薄 膜。在四個(gè)平片所圍成的空間內(nèi)有一個(gè)相位延遲片107。此實(shí)施例結(jié)構(gòu)的干涉儀的工作過程是經(jīng)過準(zhǔn)直器101準(zhǔn)直的入射光以一定角度 入射到平行平片102上，并被其上所鍍的部分反射薄膜106分成1、2兩束光。光束1經(jīng)過 相位延遲片107入射到平行平片103上，并被其上所鍍的全反射薄膜105反射到平行平片 103的另一側(cè)所鍍的部分反射薄膜106上。光束2被平行平片102上所鍍的全反射薄膜105 反射到平行平片103上所鍍的部分反射薄膜106上。1、2兩束光被平行平片103上所鍍的 部分反射薄膜106重新合束。合束后的干涉光被光電探測器108接收。其中部分反射薄膜 106可以把入射光分成能量均等的兩束光。當(dāng)兩個(gè)平行平片104的材質(zhì)相同、長度相等，并 且平行平片102和103的材質(zhì)相同、厚度相等時(shí)，上述的1、2兩束光的光程差就完全由相位 延遲片107決定。此時(shí)，圖1所示結(jié)構(gòu)就構(gòu)成了一個(gè)溫度不敏感的干涉儀，并且，由于兩個(gè)平行平片102、103及其上所鍍薄膜的對稱性，此干涉儀對入射光有一個(gè)比較大的允許入射當(dāng)經(jīng)準(zhǔn)直器101準(zhǔn)直的入射光為被DPSK格式調(diào)制的信號光時(shí)，設(shè)置相位延遲器 107所引入的相位延遲量，使1、2兩束光重新合束時(shí)的相位差所對應(yīng)的時(shí)間延遲等于信號 光相鄰比特的時(shí)間延遲。這時(shí)圖1所示的干涉儀就成為了一個(gè)把相位信號轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)度信 號的DPSK解調(diào)器。如圖2所示的實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)，可以在上述實(shí)施例1結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上，在光束2的光 路中也設(shè)置另一相位延遲器207，構(gòu)成雙相位延遲器的結(jié)構(gòu)，以增大調(diào)制、解調(diào)的帶寬。如圖3所示，在上述結(jié)構(gòu)中，可在被部分反射薄膜重新合束而得到的出射的干涉 光束的光路中設(shè)置成象透鏡309，把干涉光束耦合進(jìn)光纖308中，以便把這種干涉儀應(yīng)用在 光纖通信系統(tǒng)中。本實(shí)用新型的另一個(gè)種實(shí)施例結(jié)構(gòu)如圖4所示。這個(gè)實(shí)施例結(jié)構(gòu)中包括兩個(gè)透明 平行平片402、403。這兩個(gè)平行平片402、403成一個(gè)夾角放置，并被作為干涉儀支架的平 片404粘接在一起。當(dāng)然的，連接平片403和402的方式不僅可以局限于圖4所示的三角 形固定結(jié)構(gòu)，還可以為其他方式固定使得兩個(gè)平行平片402、403成一個(gè)夾角放置。在平行 平片402、403上鍍有條形全反射薄膜405和條形部分反射膜406。為了增強(qiáng)透光性，除鍍有 上述全反射薄膜和部分反射薄膜的位置外，平行平片402、403相同表面的其余位置鍍增透 薄膜。圖4所示的實(shí)施例結(jié)構(gòu)的干涉儀的工作過程是經(jīng)過準(zhǔn)直器401準(zhǔn)直的入射光以 一定角度入射到透明平片402上，并被其上所鍍的部分反射薄膜406分成1、2兩束光。光 束2經(jīng)過平片402、403所夾的空間入射到透明平片403所鍍的部分反射薄膜406上。光 束1被透明平片402上所鍍的全反射薄膜405反射到平片403上，并被平片403上所鍍的 全反射薄膜405反射到平片403的另一側(cè)所鍍的部分反射薄膜406上。1、2兩束光被平片 403上所鍍的部分反射薄膜406重新合束。合束后的干涉光被光電探測器接收。其中部分 反射薄膜406可以把入射光分成能量均等的兩束光。由于光束1和光束2在合束前所走過 的光程不同，在平片403上所鍍的部分反射薄膜406上合束時(shí)具有一個(gè)光程差。設(shè)計(jì)兩平 片402、403的材質(zhì)、厚度及夾角等參數(shù)，可以使1、2兩束光在合束時(shí)有一個(gè)設(shè)定的光程差， 即相位差。也可以在上述結(jié)構(gòu)中，設(shè)置相位延遲器409，以調(diào)節(jié)1、2兩束光的光程差。當(dāng)經(jīng)準(zhǔn)直器401準(zhǔn)直的入射光為被DPSK格式調(diào)制的信號光時(shí)，設(shè)置上述光程差， 使1、2兩束光重新合束時(shí)的相位差所對應(yīng)的時(shí)間延遲等于信號光相鄰比特的時(shí)間延遲。這 時(shí)如圖4所示的實(shí)施例的干涉儀就成為了一個(gè)把相位信號轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)度信號的DPSK解調(diào)
ο當(dāng)然的，在上述結(jié)構(gòu)中，可在光束2的光路中也設(shè)置另一個(gè)相位延遲器，構(gòu)成雙相 位延遲器的結(jié)構(gòu)，以增大調(diào)制、解調(diào)的帶寬。在上述結(jié)構(gòu)中，可在被部分反射薄膜重新合束而得到的出射的干涉光束的光路中 設(shè)置成象透鏡407，把干涉光束耦合進(jìn)光纖408中，以便把這種干涉儀應(yīng)用在光纖通信系統(tǒng) 中。在如圖1至圖4所示的實(shí)施例結(jié)構(gòu)中，鍍有增透膜、全反射薄膜和部分反射薄膜的 透明平片可用如圖5(1)中所示的光學(xué)元件代替。如圖5(1)所示，這個(gè)元件由四個(gè)透明平片501、502、503膠合而成。其中平片501、502被兩個(gè)長度相同、材質(zhì)相同的平片503連接， 構(gòu)成一矩形。其中，平片501的內(nèi)表面鍍有條形全反射薄膜504，平片502的內(nèi)表面鍍有條 形部分反射薄膜505。除鍍有上述全反向薄膜504、部分反射薄膜505的位置，平片501、502 相同表面的其余位置和相對表面皆鍍增透膜。在這個(gè)結(jié)構(gòu)中也可以再添加兩塊平片，使其 成為封閉的矩形，這樣可對平片所圍矩形的內(nèi)表面上所鍍薄膜起到保護(hù)作用，方便使用、保 存和調(diào)節(jié)。上述平行平片501、502可以是材質(zhì)相同、厚度相同的平行平片。如圖5(2)所示，這個(gè)元件具有分光功能的工作過程是入射光0經(jīng)過一平行平片 501，被另一平片502表面所鍍的部分反射薄膜505分成能量均等的兩束光。其中一束光1 被部分反射薄膜505反射到第一個(gè)平行平片501上所鍍的全反射薄膜504上，之后被全反 射薄膜504反射，反射的光束2并與經(jīng)過部分反射薄膜505透射的光束1平行射出此元件。當(dāng)然的，本實(shí)用新型的光學(xué)元件不拘泥于圖5(1)所示的矩形結(jié)構(gòu)，只要具有如上 所述的功能，這個(gè)光學(xué)元件可以是包括平行四邊形、矩形在內(nèi)的任意形狀。本實(shí)用新型中，由圖5所示的光學(xué)元件所構(gòu)成的干涉儀的一個(gè)實(shí)例如圖6所示。其 中包括兩個(gè)上述光學(xué)元件602、603，這兩個(gè)元件成一個(gè)夾角α被固定在支架604上。這個(gè) 支架604可以是可調(diào)的，以通調(diào)整支架604來調(diào)節(jié)光學(xué)元件602、603之間的夾角。如圖6所示的干涉儀工作過程是經(jīng)過準(zhǔn)直器601準(zhǔn)直的光入射到第一個(gè)光學(xué)元 件602上，被光學(xué)元件602的一個(gè)平行平片6022上所鍍的部分反射薄膜分成能量均等的兩 束光。其中光束1被602的另一個(gè)平行平片6021上所鍍的全反射薄膜反射，與經(jīng)平行平片 6022透射的光束2平行射向第二個(gè)光學(xué)元件603。光束1被光學(xué)元件603的一個(gè)平行平片 6031上所鍍的全反射薄膜反射到另一個(gè)平行平片6032上所鍍的部分反射薄膜上，與入射 到這個(gè)部分反射薄膜上的光束2重新合束。由于光束1和光束2在合束前所走過的光程不 同，在平片6032上所鍍的部分反射薄膜上合束時(shí)具有一個(gè)光程差。由于光束1和光束2在 合束前都經(jīng)過了兩光學(xué)元件602、603的一個(gè)平行平片6022、6032，它們在合束時(shí)的光程差 只等于自由空間中傳播時(shí)的光程差。因此，這種結(jié)構(gòu)的干涉儀是溫度不敏感的。設(shè)置兩個(gè)光學(xué)元件602、603的夾角，可以使1、2兩束光在合束時(shí)有一個(gè)設(shè)定的光 程差，即相位差。也可以在上述結(jié)構(gòu)中，在光束1、2的光路中設(shè)置相位延遲器，以調(diào)節(jié)1、2 兩束光的光程差。當(dāng)經(jīng)準(zhǔn)直器601準(zhǔn)直的入射光為被DPSK格式調(diào)制的信號光時(shí)，設(shè)置上述光程差， 使1、2兩束光重新合束時(shí)的相位差所對應(yīng)的時(shí)間延遲等于信號光相鄰比特的時(shí)間延遲。這 時(shí)圖6所示的干涉儀就成為了一個(gè)把相位信號轉(zhuǎn)換為光強(qiáng)度信號的DPSK解調(diào)器。在上述結(jié)構(gòu)中，可在被部分反射薄膜重新合束而得到的出射的干涉光束的光路中 設(shè)置成像透鏡，把干涉光束耦合進(jìn)光纖中，以便把這種干涉儀應(yīng)用在光纖通信系統(tǒng)中。本實(shí)用新型中，由圖5所示的光學(xué)元件所構(gòu)成的干涉儀的另一個(gè)實(shí)例如圖7所示。 其中包括兩個(gè)上述光學(xué)元件702、703，這兩個(gè)元件由一個(gè)平行四邊形支架704連接。在兩個(gè) 光學(xué)元件702和703之間有一個(gè)相位延遲片705。圖7所示的干涉儀的工作過程與圖6所示的干涉儀的工作過程相似。差別在于圖 7所示的干涉儀，其合束光1、2的相位差必須由相位延遲片705引入，元件702、703和自由 空間無法引入相位差。圖7所示的結(jié)構(gòu)與圖6所示結(jié)構(gòu)皆是對溫度不敏感的。當(dāng)經(jīng)準(zhǔn)直器701準(zhǔn)直的入射光為被DPSK格式調(diào)制的信號光時(shí)，且當(dāng)由延遲片705引入的相位差所對應(yīng)的延遲時(shí)間等于入射光信號相鄰比特之間的時(shí)間延遲時(shí)，此干涉儀成 為一個(gè)DPSK解調(diào)器。在上述結(jié)構(gòu)中，可在光束2的光路中也設(shè)置一相位延遲器，構(gòu)成雙相位延遲器的 結(jié)構(gòu)，以增大調(diào)制、解調(diào)的帶寬。在本實(shí)用新型所包含的范圍內(nèi)，含有相位延遲片的結(jié)構(gòu)中，其相位延遲片可以是 基于熱光效應(yīng)、電光效應(yīng)、電致伸縮等效應(yīng)的可調(diào)相位延遲片。也可以是溫度不敏感的相位 延遲片，以使整個(gè)干涉儀是溫度不敏感的。盡管結(jié)合優(yōu)選實(shí)施方案具體展示和介紹了本實(shí)用新型，但所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng) 該明白，在不脫離所附權(quán)利要求書所限定的本實(shí)用新型的精神和范圍內(nèi)，在形式上和細(xì)節(jié) 上可以對本實(shí)用新型做出各種變化，均為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求一種干涉儀，其特征在于包括有兩個(gè)透光平行平片，在平行平片的一個(gè)表面鍍條形部分反射薄膜，入射到其上的光被均分為兩束，在平行平片的另一個(gè)表面鍍條形全反射薄膜，入射到其上的光被反射；一個(gè)干涉儀支架，固定上述的兩個(gè)透光平行平片，使兩個(gè)平行平片成一定夾角或者平行。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干涉儀，其特征在于所述的干涉儀支架是二個(gè)平行平片，固 定于所述的兩個(gè)透光平行平片上下端之間，與之一起構(gòu)成一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干涉儀，其特征在于所述的干涉儀支架是一個(gè)平行平片，固 定于所述的兩個(gè)透光平行平片下端之間，與之一起構(gòu)成一個(gè)三角形結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干涉儀，其特征在于在入射光進(jìn)入所述的透光平行平片與 相對的透光平行平片的之間的第一個(gè)光路上設(shè)置有一個(gè)相位延遲器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的干涉儀，其特征在于在所述的透光平行平片與相對的透光 平行平片的之間的第二個(gè)光路上設(shè)置有另一個(gè)相位延遲器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的干涉儀，其特征在于在所述的平行平片的入射光路上設(shè)置 一個(gè)準(zhǔn)直器，在所述的平行平片的出射光路上設(shè)置光電探測器或光纖。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的干涉儀，其特征在于在所述的光纖前的光路上設(shè)置透鏡。
8.一種干涉儀，其特征在于包括有兩個(gè)獨(dú)立膠合成一體的光學(xué)元件，所述的光學(xué)元件是包括兩個(gè)透光平行平片，這兩 個(gè)平行平片互相平行的固定在一個(gè)元件支架上，所述的兩個(gè)互相平行的平行平片的相對向 內(nèi)的兩個(gè)平面上一個(gè)鍍?nèi)瓷浔∧?，另一個(gè)鍍部分反射薄膜；一個(gè)干涉儀支架，固定上述的兩個(gè)光學(xué)元件，使兩個(gè)光學(xué)元件成一定夾角或者平行。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的干涉儀，其特征在于所述的干涉儀支架是一個(gè)夾角固定架， 固定于所述的兩個(gè)光學(xué)元件之間。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的干涉儀，其特征在于所述的干涉儀支架是一個(gè)平行四邊形 支架，固定于所述的兩個(gè)光學(xué)元件之間。
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的干涉儀，其特征在于所述的干涉儀支架是二個(gè)平行平片， 固定于所述的兩個(gè)光學(xué)元件上下端之間，與之一起構(gòu)成一個(gè)矩形結(jié)構(gòu)。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的干涉儀，其特征在于在入射光進(jìn)入所述的光學(xué)元件的與相 對的光學(xué)元件的第一個(gè)光路上設(shè)置有一個(gè)相位延遲器。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的干涉儀，其特征在于在入射光進(jìn)入所述的光學(xué)元件的與 相對的光學(xué)元件的第二個(gè)光路上設(shè)置有另一個(gè)相位延遲器。
14.根據(jù)權(quán)利要求8所述的干涉儀，其特征在于在所述的光學(xué)元件的入射光路上設(shè)置 一個(gè)準(zhǔn)直器，在所述的平行平片的出射光路上設(shè)置光電探測器或光纖。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的干涉儀，其特征在于在所述的光纖前的光路上設(shè)置透鏡。
16.根據(jù)權(quán)利要求1或8所述的干涉儀，其特征在于在所述的平行平片的相同表面除 了鍍有全反射薄膜或者部分反射薄膜的位置外的其余位置均鍍增透膜。
17.根據(jù)權(quán)利要求4或5或12或13所述的干涉儀，其特征在于所述的相位延遲器是 熱光效應(yīng)的相位延時(shí)器或者電光效應(yīng)的相位延時(shí)器或者電致伸縮的相位延遲器。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種干涉儀，尤其涉及一種可作為DPSK解調(diào)器的干涉儀。本實(shí)用新型的干涉儀，包括有兩個(gè)透光平行平片，在平行平片的一個(gè)表面鍍條形部分反射薄膜，用于入射到其上的光分成能量均等的兩束，在平行平片的另一個(gè)表面鍍條形全反射薄膜和一個(gè)干涉儀支架，固定上述的兩個(gè)透光平行平片，使兩個(gè)平行平片成一定夾角或者平行。或者，所述的透光平行平片可以替代為獨(dú)立膠合成一體的光學(xué)元件，所述的光學(xué)元件是包括兩個(gè)透光平行平片，這兩個(gè)平行平片互相平行的固定在一個(gè)元件支架上，所述的兩個(gè)互相平行的平行平片的相對向內(nèi)的兩個(gè)平面上一個(gè)鍍?nèi)瓷浔∧?，另一個(gè)鍍部分反射薄膜。本實(shí)用新型的干涉儀對溫度不敏感，可以應(yīng)用于DPSK解調(diào)器中。
文檔編號G02F2/00GK201681239SQ20102002722
公開日2010年12月22日 申請日期2010年1月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月15日
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