專利名稱：一種液晶顯示面板及其測試方法
技術領域：
本發(fā)明涉及液晶顯示技術領域，特別是一種液晶顯示面板及其 測試方法。
背景技術：
液晶顯示器(LCD)包括兩個液晶顯示面板、兩液晶顯示面板之 間的介電各向異性的液晶層和兩液晶顯示面板外的偏光層。
當前應用較多的液晶顯示面板一般分為主動型液晶顯示面板和 被動型液晶顯示面板。主動型液晶顯示面板主要指薄膜晶體管型液晶 顯示器，其顯示單元通過獨立的晶體管控制灰階顯示。被動型顯示面 板主要通過形成于基板上的相互絕緣的用于選擇液晶點的行電極和 用于使液晶發(fā)生偏轉的列電極控制液晶顯示單元實現(xiàn)灰階顯示。
被動型液晶顯示面板分別在兩液晶顯示面板上形成行電極和列 電極，并將行、列電極分別向集成電路(IC)封裝區(qū)延伸(形成行、 列電極與集成電路的連接極)，集成電路封裝區(qū)一邊形成有集成電路 輸入電極以接通信號。工作時集成電路通過連接電極給行、列電極驅 動信號以得到特定的顯示圖案。
對于高集成度的液晶顯示面板，行、列電極與集成電路封裝區(qū)的 連接電路非常密集，電極間距很小， 一般為10 80微米，在產品制 造過程中，不可避免會形成少量的電極間短路或斷路產品。
比較常用的測試這類液晶顯示面板電性能缺陷的方法是通過垂 直導電膠條給集成電路封裝區(qū)或其他行、列電極連接電極驅動電壓， 通過選擇性的驅動電壓測試出產品的電性缺陷。因垂直導電膠條靠膠 條內的導電物質導電，其導電物質之間需要保證一定的間隙， 一般都 在50微米以上，因而對于電極間距在50微米以下的產品不能有效測 試出所有的不良。近年有開發(fā)出導電物質間隙更小的垂直導電條，但 因其成本太高，測試可信度不夠且不耐用，難以用于液晶顯示器的規(guī) 模生產。
也有使用探針掃描測試這類液晶顯示面板電性能缺陷的儀器，但 因其依靠金屬探針接觸式掃描，容易造成電極的劃傷，同時探針的消耗較快，成本較高、測試速度慢， 一般只用于抽樣測試，難以實現(xiàn)產品的規(guī)模化測試以保證產品出貨的零缺陷。
另有使用圖像對比法測試液晶顯示面板電極缺陷的儀器，這種方法一般適用于單片液晶顯示面板的測試，對于成盒后的液晶顯示面板，無法測試出電極間短路和集成電路封裝區(qū)電極的缺陷。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術的缺點，提供一種簡化其測試的液晶顯示面板及其測試方法。極大提高了液晶顯示面板的測試效率和測試可信度，如只需要普通垂直導電條即可快速、準確、無損傷的測試液晶顯示面板的電性能缺陷。
在行列電極與集成電路連接線上設置全顯測試區(qū)和在集成電路封裝區(qū)下設置分顯測試區(qū)的液晶顯示面板及其測試方法。
行電極同集成電路的連接線，列電極同集成電路的連接線，其中行、列電極同集成電路的連接線部分形成一全顯測試區(qū)
位于集成電路封裝區(qū)下的輔助測試電極，包括行輔助測試電極，列輔助測試電極
形成于基板上的集成電路輸入電極
液晶顯示面板工作時，由集成電路輸入電極輸入信號，集成電路分配驅動信號給各行電極和列電極，形成預定的顯示圖案。預定的顯示圖案是根據(jù)輸入信號確定的顯示圖案，即輸入何種信號，即顯示何種圖案。不在本發(fā)明所述范圍，無具體圖案。
行電極與集成電路的連接線路從其任意一端引出，并按較經濟的布局延伸至集成電路封裝區(qū)；列電極與集成電路的連接線路從距離集成電路較近的一側引出，直接延伸至集成電路封裝區(qū)。
行、列電極與集成電路的連接電路在集成電路封裝區(qū)下的寬度及間隙按相應集成電路要求的參數(shù)布局。
行、列電極與集成電路的連接線路在集成電路封裝區(qū)交替延長(奇數(shù)行、列電極延長或偶數(shù)行、列電極延長均可)，形成輔助測試電路(分顯測試電路)。
測試時分兩個步驟
第一步，對行、列電極同集成電路的連接線部分形成的全選測試區(qū)施加靜態(tài)、方波或正弦波驅動信號，液晶顯示器顯示區(qū)域所有行、
列即被驅動，顯示區(qū)將顯示所有點陣(圖2)，即全顯測試。
第二步，對集成電路封裝區(qū)下的分顯測試電路施加靜態(tài)、方波或正弦波驅動信號，液晶顯示器顯示區(qū)域的行、列電極被選擇性間隔驅
動，顯示區(qū)的點陣交替顯示(圖3)，即分顯(半顯)測試。一種液晶顯示面板，包括形成于基板上的行電極
形成于基板上與行電極垂直的列電極，其中行列電極共同組成LCD的顯示區(qū)
行電極同集成電路的連接線，列電極同集成電路的連接線，其中行、列電極同集成電路的連接線部分形成一全顯測試區(qū)
位于集成電路封裝區(qū)下的輔助測試電極，包括行輔助測試電極，列輔助測試電極
形成于基板上的集成電路輸入電極。
所述液晶顯示面板，由集成電路輸入電極輸入信號，集成電路分配驅動信號給各行電極和列電極，形成預定的顯示圖案。
所述行電極與集成電路的連接線路從其任意一端引出，并按較經濟的布局延伸至集成電路封裝區(qū)；列電極與集成電路的連接線路從距離集成電路較近的一側引出，直接延伸至集成電路封裝區(qū)。
所述行、列電極與集成電路的連接電路在集成電路封裝區(qū)下的寬度及間隙按相應集成電路要求的參數(shù)布局。
所述行、列電極與集成電路的連接線路在集成電路封裝區(qū)交替延長，形成輔助測試電路。
所述與集成電路的連接線路在集成電路封裝區(qū)交替延長為奇數(shù)行、列電極延長或偶數(shù)行、列電極延長。
上述測試方法中，外界驅動信號與面板電極的導通只需一般垂直導電膠條或全導通膠條連接即可，測試速度快，可靠性高，成本低廉，特別適合規(guī)模生產時產品的批量測試。
有益效果
本發(fā)明的測試方法中，外界驅動信號與面板電極的導通只需一般垂直導電膠條或全導通膠條連接即可，測試速度快，可靠性高，成本低廉，特別適合規(guī)模生產時產品的批量測試。
圖1是本發(fā)明第一實施例的LCD面板結構圖2是本發(fā)明第一實施例的未加電時顯示示意圖3是本發(fā)明第一實施例的全選測試時正常顯示示意圖4是本發(fā)明第一實施例的全選測試時列電極斷路示意圖5是本發(fā)明第一實施例的全選測試時行電極斷路示意圖6是本發(fā)明第一實施例的全選測試時列電極短路示意圖7是本發(fā)明第一實施例的全選測試時行電極短路示意圖8是本發(fā)明第二實施例的全選測試時正常顯示示意圖9是本發(fā)明第二實施例的全選測試時列電極斷路示意圖10是本發(fā)明第二實施例的全選測試時行電極斷路示意圖11是本發(fā)明第二實施例的全選測試時列電極短路示意圖12是本發(fā)明第二實施例的全選測試時行電極短路示意圖。
具體實施例方式
結合附圖，對于本領域的技術人員，本發(fā)明的上述及其他特征將從后續(xù)示例性實施例的描述中更加清晰，其中
圖1的LCD面板結構，包括形成于基板上的行電極101
形成于基板上與行電極垂直的列電極102，其中行列電極共同組成LCD的顯示區(qū)100
行電極同集成電路的連接線201，列電極同集成電路的連接線202，其中行、列電極同集成電路的連接線部分形成一全選測試區(qū)203
位于集成電路封裝區(qū)300下的輔助測試電極，包括行輔助測試電極301，列輔助測試電極302
形成于基板上的集成電路輸入電極401
液晶顯示面板，由集成電路輸入電極輸入信號，集成電路分配驅動信號給各行電極和列電極，形成預定的顯示圖案。
行電極101與集成電路的連接線路從其任意一端引出，并按較經濟的布局延伸至集成電路封裝區(qū)；列電極102與集成電路的連接線路從距離集成電路較近的一側引出，直接延伸至集成電路封裝區(qū)。
8行、列電極101、 102與集成電路的連接電路在集成電路封裝區(qū)下的寬度及間隙按相應集成電路要求的參數(shù)布局。
行、列電極101、 102與集成電路的連接線路在集成電路封裝區(qū)交替延長，形成輔助測試電路。
與集成電路的連接線路在集成電路封裝區(qū)交替延長為奇數(shù)行、列電極延長或偶數(shù)行、列電極延長。
實施例一
在面板上形成行電極101、列電極102，將列電極與集成電路封裝區(qū)300設計電極連接，行電極與集成電路封裝區(qū)的連接線路按顯示區(qū)上下兩屏分別從左右引起并連接，在集成電路封裝區(qū)下，將行、列電極與集成電路的連接線間隔延長，奇數(shù)行或列延長或偶數(shù)行或列延長。
測試時分二個步驟
未加電壓時，所有的點陣，即行電極和列電極的交叉點，均無顯示圖案，如圖2所示，此圖是為了和有顯示的圖案對比。
第一步，對全選測試區(qū)203加交流電壓，在正交偏光片下觀察，結果判定如下-
所有的點陣，即行電極和列電極的交叉點，均顯示為黑色圖案時，表示顯示正常，無電性不良；如圖3所示。
某列電極無顯示，其他列電極顯示為黑色時，表示該列電極有斷路，并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；如圖4所示。
某行電極無顯示，其他行電極顯示為黑色時，表示該行電極有斷路，并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；如圖5所示。
第二步，對集成電路封裝區(qū)下的行列電極延長線加交流電壓，在正交偏光片下觀察，結果判定如下
若連續(xù)三列或以上的列電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)列電極之間有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的列電極所處位置判定短路位置；如圖6所示。
若連續(xù)三行或以上的行電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)行電極之間有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的行電極所處位置判定短路位置；如圖7所示。由以上測試方法和步驟，就可判定出產品是否有電性能不良，即短路或斷路。實施例二
在面板上形成行電極101、列電極102，將列電極與集成電路封裝區(qū)300設計電極連接，行電極的奇數(shù)行與集成電路封裝區(qū)的連接線路從顯示區(qū)一側引出，偶數(shù)行與集成電路封裝區(qū)的連接線路從顯示區(qū)的另一側引出。在集成電路封裝區(qū)下，將列電極與集成電路的連接線間隔延長(奇數(shù)行(列)延長或偶數(shù)行(列)延長)，行電極與集成電路的連接線不需間隔延長。
測試時分二個步驟
第一步，對全選測試區(qū)203加交流電壓，在正交偏光片下觀察，結果判定如下
所有的點陣，即行電極和列電極的交叉點，均顯示為黑色圖案時，表示顯示正常，無電性不良；如圖8所示。
某列電極無顯示，其他列電極顯示為黑色時，表示該列電極有斷路，并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；如圖9所示。
某行電極無顯示，其他行電極顯示為黑色時，表示該行電極有斷路，并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；如圖10所示。
第二步，對集成電路封裝區(qū)下的列電極延長線和其中一側的行電極延長線加交流電壓，在正交偏光片下觀察，結果判定如下
若連續(xù)三列或以上的列電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)列電極之間有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的列電極所處位置判定短路位置；如圖11所示。
若連續(xù)三行或以上的行電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)行電極之間有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的行電極所處位置判定短路位置；如圖12所示。
10
權利要求
1、一種液晶顯示面板，其特征在于，包括形成于基板上的行電極(101)形成于基板上與行電極垂直的列電極(102)，其中行列電極共同組成LCD的顯示區(qū)(100)行電極同集成電路的連接線(201)，列電極同集成電路的連接線(202)，其中行、列電極同集成電路的連接線部分形成一全選測試區(qū)(203)位于集成電路封裝區(qū)(300)下的輔助測試電極，包括行輔助測試電極(301)，列輔助測試電極(302)形成于基板上的集成電路輸入電極(401)。
2、 根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述液晶顯 示面板，由集成電路輸入電極輸入信號，集成電路分配驅動信號給各行電 極和列電極，形成預定的顯示圖案。
3、 根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述行電極 (101)與集成電路的連接線路從其任意一端引出，并按較經濟的布局延伸至集成電路封裝區(qū)；列電極(102)與集成電路的連接線路從距離集成 電路較近的一側引出，直接延伸至集成電路封裝區(qū)。
4、 根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述行、列 電極(101、 102)與集成電路的連接電路在集成電路封裝區(qū)下的寬度及間 隙按相應集成電路要求的參數(shù)布局。
5、 根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述行、列 電極(101、 102)與集成電路的連接線路在集成電路封裝區(qū)交替延長，形 成輔助測試電路。
6、 根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示面板，其特征在于，所述與集成 電路的連接線路在集成電路封裝區(qū)交替延長為奇數(shù)行、列電極延長或偶數(shù) 行、列電極延長。
7、 一種液晶顯示面板及其測試方法，包括全顯測試和分顯測試； 測試時分兩個步驟第一步，對行、列電極同集成電路的連接線部分形成的全顯測試區(qū)施 加靜態(tài)、方波或正弦波驅動信號，液晶顯示器顯示區(qū)域所有行、列即被驅 動，顯示區(qū)將顯示所有點陣，即全顯測試；第二步，對集成電路封裝區(qū)下的分顯測試電路施加靜態(tài)、方波或正弦 波驅動信號，液晶顯示器顯示區(qū)域的行、列電極被選擇性間隔驅動，顯示 區(qū)的點陣交替顯示，即分顯測試。
8、 根據(jù)權利要求7所述的液晶顯示面板及其測試方法，其特征在 于，實施例一在面板上形成行電極(101)、列電極(102),將列電極與集成電路封 裝區(qū)(300)設計電極連接，行電極與集成電路封裝區(qū)的連接線路按顯示 區(qū)上下兩屏分別從左右引出并連接，在集成電路封裝區(qū)下，將行、列電極 與集成電路的連接線間隔延長，奇數(shù)行或列延長或偶數(shù)行或列延長測試時分二個步驟未加電壓時，所有的點陣，即行電極和列電極的交叉點，均無顯示圖 案，第一步，對全選測試區(qū)(203)加交流電壓，在正交偏光片下觀察， 結果判定如下所有的點陣，即行電極和列電極的交叉點，均顯示為黑色圖案時，表 示顯示正常，無電性不良；某列電極無顯示，其他列電極顯示為黑色時，表示該列電極有斷路， 并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；某行電極無顯示，其他行電極顯示為黑色時，表示該行電極有斷路， 并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；第二步，對集成電路封裝區(qū)下的行列電極延長線加交流電壓，在正交 偏光片下觀察，結果判定如下若連續(xù)三列或以上的列電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)列電極之間 有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的列電極所處位置判定短路位置；若連續(xù)三行或以上的行電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)行電極之間 有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的行電極所處位置判定短路位置；由以上測試方法和步驟，就可判定出產品是否有電性能不良，即短路 或斷路。
9、 根據(jù)權利要求7所述的液晶顯示面板及其測試方法，其特征在 于，實施例二在面板上形成行電極(101)、列電極(102)，將列電極與集成電路封裝區(qū)(300)設計電極連接，行電極的奇數(shù)行與集成電路封裝區(qū)的連接線 路從顯示區(qū)一側引出，偶數(shù)行與集成電路封裝區(qū)的連接線路從顯示區(qū)的另 一側引出，在集成電路封裝區(qū)下,將列電極與集成電路的連接線間隔延長， 奇數(shù)行或列延長或偶數(shù)行或列延長，行電極與集成電路的連接線不需間隔 延長測試時分二個步驟第一步，對全選測試區(qū)(203)加交流電壓，在正交偏光片下觀察， 結果判定如下所有的點陣，即行電極和列電極的交叉點，均顯示為黑色圖案時，表示顯示正常，無電性不良；某列電極無顯示，其他列電極顯示為黑色時，表示該列電極有斷路， 并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；某行電極無顯示，其他行電極顯示為黑色時，表示該行電極有斷路， 并可根據(jù)其顯示畫面的缺失位置判定斷路位置；第二步，對集成電路封裝區(qū)下的列電極延長線和其中一側的行電極加 交流電壓，在正交偏光片下觀察，結果判定如下若連續(xù)三列或以上的列電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)列電極之間 有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的列電極所處位置判定短路位置；若連續(xù)三行或以上的行電極同時顯示為黑色，表示該連續(xù)行電極之間 有短路，并可根據(jù)連續(xù)顯示的行電極所處位置判定短路位置。
全文摘要
本發(fā)明提供一種液晶顯示面板形成于基板上的行電極；形成于基板上與行電極垂直的列電極，其中行列電極共同組成LCD的顯示區(qū)；行電極同集成電路的連接線，列電極同集成電路的連接線，其中行、列電極同集成電路的連接線部分形成一全選測試區(qū)；位于集成電路封裝區(qū)下的輔助測試電極，包括行、列輔助測試電極；形成于基板上的集成電路輸入電極。方法第一步，對行、列電極同集成電路的連接線部分形成的全顯測試區(qū)施加靜態(tài)、方波或正弦波驅動信號，顯示區(qū)將顯示所有點陣，即全顯測試；第二步，對集成電路封裝區(qū)下的分顯測試電路施加靜態(tài)、方波或正弦波驅動信號，顯示區(qū)將間隔顯示一半的點陣，即分顯測試。
文檔編號G02F1/13GK101464575SQ20091000076
公開日2009年6月24日 申請日期2009年1月12日 優(yōu)先權日2009年1月12日
發(fā)明者宋宇紅, 楊順林, 黃清華 申請人:深圳市宇順電子股份有限公司