專利名稱：用于通過照明膜進(jìn)行自動檢測的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明與機(jī)器視覺有關(guān)，更具體地講，本發(fā)明通過照明(例如)結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜來最大程度識別異常情況。

背景技術(shù)：
近年來在功能強(qiáng)大的計(jì)算的協(xié)助下，已經(jīng)可以使用自動設(shè)備執(zhí)行一些之前需要受過訓(xùn)練的檢測人員執(zhí)行的檢測任務(wù)。此類“機(jī)器視覺”技術(shù)已變得十分先進(jìn)，其中一個用途是用于檢測材料長度不定的卷材。
機(jī)器視覺系統(tǒng)的正常運(yùn)行需要合適的卷材照明技術(shù)。要求特別嚴(yán)格的例子是檢測結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜的表面缺陷。已被采用的一項(xiàng)技術(shù)是所謂的“漫射透射光”技術(shù)。對結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜使用漫射透射照明技術(shù)時，漫射光源發(fā)出與膜表面呈許多不同角度的光來照明光學(xué)膜的結(jié)構(gòu)化一側(cè)。位于膜非結(jié)構(gòu)化一側(cè)的照相機(jī)聚焦在膜被照明的區(qū)域。當(dāng)某些類型的異常結(jié)構(gòu)通過照明的區(qū)域時，異常區(qū)域透射光的方式會與膜的非異常區(qū)域不同，這種差異被照相機(jī)檢測到。照相機(jī)會觀測到某些表面異常(例如，膜中的刮痕)與膜的其他區(qū)域相比更亮或更暗。
另一種被稱為“遠(yuǎn)暗場”的技術(shù)用于檢測能強(qiáng)烈散射光的異常。使用遠(yuǎn)暗場技術(shù)時，放置一個或兩個光源以使得其光與照相機(jī)的視線呈一定角度落在要檢測的膜上。照相機(jī)通?？床坏竭@些光源發(fā)出的光。僅當(dāng)某些表面異常通過一條或多條光束時，光才會向照相機(jī)散射，以使得缺陷被顯示為常暗圖像上的亮區(qū)域。遠(yuǎn)暗場技術(shù)屬于暗場照明類。另一類為近暗場。近和遠(yuǎn)的命名是指相對于被照明表面的平面的入射角。
這些照明技術(shù)中的每一種都有突出結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜上某些類型的異常的一些優(yōu)點(diǎn)，但是使用這些方法中的任一種都存在阻礙檢測的一些缺陷。


發(fā)明內(nèi)容
人們發(fā)現(xiàn)，可以制造融合了漫射透射照明技術(shù)和至少一種其他照明技術(shù)的照明構(gòu)造，作為由單臺成像照相機(jī)監(jiān)視的單個工位。在一個實(shí)施例中，另一種照明技術(shù)為遠(yuǎn)暗場光源。在某些實(shí)施例中，與單獨(dú)使用任何一種照明技術(shù)相比，該組合照明技術(shù)可以對異常提供更穩(wěn)固的檢測。通過任何某一種方法很少能檢測到或偶爾才能檢測到的異常實(shí)例可以得到增強(qiáng)，以使得易于進(jìn)行檢測。
在各種實(shí)施例中，本發(fā)明可能涉及以下某一項(xiàng)或全部項(xiàng) 1.一種用于照明透明或半透明結(jié)構(gòu)化片材以便光學(xué)接收裝置進(jìn)行檢測的系統(tǒng)，所述片材具有第一側(cè)面和第二側(cè)面，所述系統(tǒng)包括 第一光源，其引導(dǎo)漫射光穿過所述片材的一部分；以及 第二光源，其與所述第一光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的相同部分。
2.根據(jù)實(shí)施例1所述的系統(tǒng)，其中所述第一側(cè)面和第二側(cè)面為結(jié)構(gòu)化側(cè)面。
3.根據(jù)實(shí)施例1所述的系統(tǒng)，其中所述結(jié)構(gòu)化片材具有內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)實(shí)施例1所述的照明系統(tǒng)，其中所述第一側(cè)面為結(jié)構(gòu)化側(cè)面。
5.根據(jù)任何上述實(shí)施例所述的系統(tǒng)，其中所述第一光源引導(dǎo)光朝向所述片材的所述第一側(cè)面，并且所述光學(xué)接收裝置被定位用于接收來自所述片材的所述第二側(cè)面的光。
6.根據(jù)任何上述實(shí)施例所述的系統(tǒng)，其中所述片材為結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜。
7.根據(jù)任何上述實(shí)施例所述的系統(tǒng)，其中所述結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜為棱鏡膜。
8.根據(jù)任何上述實(shí)施例所述的系統(tǒng)，還包括 第三光源，其與所述第一光源和所述第二光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的相同部分。
9.根據(jù)實(shí)施例8所述的系統(tǒng)，還包括 第四光源，其與所述第一光源、所述第二光源和所述第三光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
10.根據(jù)實(shí)施例9所述的系統(tǒng)，還包括 第五光源，其與所述第一光源、所述第二光源、所述第三光源和所述第四光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
11.根據(jù)實(shí)施例10所述的系統(tǒng)，還包括 一個或多個附加光源，其與所述第一光源、所述第二光源、所述第三光源、所述第四光源或所述第五光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
12.根據(jù)任何上述實(shí)施例所述的系統(tǒng)，其中所述第一光源將漫射光導(dǎo)向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)。
13.根據(jù)任何上述實(shí)施例所述的系統(tǒng)，其中所述第二光源向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)提供遠(yuǎn)暗場光。
14.根據(jù)任何上述實(shí)施例所述的系統(tǒng)，其中所述第一光源將漫射光導(dǎo)向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)，所述第二光源將暗場透射光導(dǎo)向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)，并且所述第三光源引導(dǎo)暗場透射光或暗場反射光。
15.一種用于檢測光學(xué)膜的系統(tǒng)，包括 光感測裝置，其被定位用于感測來自光學(xué)膜表面檢測區(qū)域的光； 第一光源，其引導(dǎo)漫射透射光在所述卷材的檢測區(qū)域內(nèi)通過所述卷材，并進(jìn)入所述光感測裝置，所述第一光源以相對于所述卷材縱向的第一角度提供光； 第二光源，其引導(dǎo)光朝向所述卷材的所述檢測區(qū)域，所述第二光源以相對于所述卷材縱向的第二角度提供光，所述第二角度與所述第一角度不同。
16.根據(jù)實(shí)施例15所述的系統(tǒng)，其中所述光感測裝置為照相機(jī)。
17.根據(jù)實(shí)施例15-16所述的系統(tǒng)，其中所述光感測裝置為線掃描照相機(jī)。
18.根據(jù)實(shí)施例15-17所述的系統(tǒng)，其中所述光學(xué)膜相對于相對于所述光感測裝置、所述第一光源和所述第二光源中的任一個或全部運(yùn)動。
19.根據(jù)實(shí)施例15-18所述的系統(tǒng)，其中在制造所述光學(xué)膜時所述系統(tǒng)檢測光學(xué)膜。
20.根據(jù)實(shí)施例15-19所述的系統(tǒng)，還包括 第三光源，其引導(dǎo)光朝向所述檢測區(qū)域，所述第三光源以相對于所述卷材縱向的第三角度提供光，所述第三角度與所述第一角度或所述第二角度不同。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的系統(tǒng)，還包括 一個或多個附加光源，其引導(dǎo)光朝向所述檢測區(qū)域，所述一個或多個附加光源以相對于所述卷材方向的如下角度提供光，所述角度與其他光源的角度不同。
22.一種照明透明或半透明結(jié)構(gòu)化片材的方法，包括 提供第一光源，所述第一光源引導(dǎo)漫射光通過所述片材的一部分；并且 提供第二光源，所述第二光源與所述第一光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。



圖1為檢測工位的示意性側(cè)視圖。
圖2為檢測工位的示意性側(cè)視圖。
圖3A至圖3C為計(jì)算機(jī)屏幕的截屏，示出了并排布置的三個光通過卷材同一部分。

具體實(shí)施例方式 本文所用術(shù)語“結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜”是指可透射光的材料構(gòu)成的膜，膜上或膜內(nèi)設(shè)置了一系列棱鏡，以使得膜可以通過反射或折射重新導(dǎo)向光。結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜在美國專利No.4,906,070(Cobb)中大致有所描述。
本文所用術(shù)語“增亮膜”是指可以增加朗伯背光源的表觀軸向亮度的一類膜，例如，通常與液晶顯示器(LCD)一起使用的膜。增亮膜可以為結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜。示例性增亮膜在美國專利No.5,917,664(O’Neill)中有所描述。一個實(shí)施例中的增亮膜可以包括在縱向彼此平行取向的微復(fù)制型棱鏡，也可以包括缺陷屏蔽圖案，其可以涉及微復(fù)制型棱鏡的有意隨機(jī)或偽隨機(jī)變化。示例性缺陷屏蔽圖案在美國專利No.6,354,709(Campbell)中有所描述。某些增亮膜在以與膜平面基本垂直的角度(軸向)觀察時看起來不透明度增加，但以基本垂直以外的角度觀察時看起來不透明度降低(例如，部分或完全透明)。該特性使其適合某些照明技術(shù)或照明技術(shù)的組合，本文將對其進(jìn)行更全面的描述。
在完美的鏡面上，以給定角度入射的光在入射角的平面內(nèi)以相等角度反射形成鏡面光束。在實(shí)際表面上，這些光中的一些將被散射(被吸收、被衍射或以別的方式被導(dǎo)向鏡面光束外的角度)。粒子、刮痕、表面粗糙、局部表面結(jié)構(gòu)或不同材料之間的界面可以導(dǎo)致光散射。該散射可以由感測設(shè)備檢測并進(jìn)行分析以辨識光學(xué)膜中存在的異常。本文所用術(shù)語“異常”是指膜中存在光學(xué)象差的區(qū)域。常見異常包括刮痕、表面粗糙、凹痕、微復(fù)制型圖案中的結(jié)構(gòu)性偏離(如果光學(xué)膜中存在此類圖案)、夾帶的氣泡和雜質(zhì)。這些異常和其他異常會導(dǎo)致光學(xué)膜不適用于某些應(yīng)用。
圖1為檢測工位的示意性側(cè)視圖，其中漫射透射光照明技術(shù)與其他技術(shù)(在本例子中為遠(yuǎn)暗場照明技術(shù))一起使用。在一些實(shí)施例中，該組合可以增加膜表面上存在的異常的對比度。此外，在一些實(shí)施例中，檢測技術(shù)的該組合可以對在其他情況下無法進(jìn)行檢測或難以進(jìn)行檢測的異常進(jìn)行檢測。在其他實(shí)施例中，該組合可以降低與某些類型結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜的檢測相關(guān)的視覺噪聲。
卷材I1為透光膜。僅作為非限制性實(shí)例，卷材I1可以為光學(xué)膜、結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜或增亮膜。如圖1所示，卷材I1處于制造過程中，并且可能從左到右或從右到左橫向移動，該移動的方向可能被視為“順維”方向或“縱向”。雖然本文是就制造過程中來示出和描述的，但是(例如)可以在卷材制造完成后，相似地采用本文所述照明和檢測技術(shù)。此外，雖然相對于連續(xù)或半連續(xù)卷材的照明和檢測(可能在制造環(huán)境中遇到)進(jìn)行的描述，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認(rèn)識到，可以根據(jù)需要提升、縮減或修改本文所述技術(shù)以適合制造以外的環(huán)境。
出于在本公開中舉例說明(而不是限定)的目的，卷材I1可以被視為增亮膜。在一個實(shí)施例中，卷材I1包括結(jié)構(gòu)化側(cè)和非結(jié)構(gòu)化側(cè)。在該實(shí)施例中，卷材I1的結(jié)構(gòu)化側(cè)具有微復(fù)制型棱鏡，并且該結(jié)構(gòu)化側(cè)面向漫射透射光源I3(卷材I1的下側(cè)表面為結(jié)構(gòu)化表面)。光源I3提供導(dǎo)向透鏡I4的光，透鏡I4向擴(kuò)散片I6提供光。光源I3、透鏡I4和擴(kuò)散片I6構(gòu)成漫射透射光源I9。漫射透射光源I9大致定位于卷材I1的平面的軸向上。擴(kuò)散片I6被定位用于照明卷材I1結(jié)構(gòu)化側(cè)的橫維部分(在下文中被稱為卷材照明區(qū)域)。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認(rèn)識到，除了圖1所示的示例性實(shí)施例之外，有無數(shù)種方法可用于提供漫射照明。例如，發(fā)光二極管(LED)陣列或熒光燈可用于提供漫射照明，可以使用或不使用擴(kuò)散片。定位在卷材I1的非結(jié)構(gòu)化側(cè)上的是透鏡I7，其接收透射穿過卷材I7的光。透鏡I7將光傳遞到感測裝置，在本實(shí)例中為照相機(jī)I8。來自擴(kuò)散片I6的光在穿過卷材I1時發(fā)生折射(某些類型增亮膜的特性)，以使得從照相機(jī)8的視角觀看時，卷材照明區(qū)域較暗(并且只要照相機(jī)8與卷材平面軸向的角度在限制內(nèi)就會這樣)。穿過卷材照明區(qū)域的異常趨向于不均勻地折射光，從而看上去可能比背景更亮。
第二種照明技術(shù)構(gòu)造(在本實(shí)例中為遠(yuǎn)暗場透射光源I10)由光源I2和透鏡I5提供，透鏡I5被定位用于以與卷材平面垂直入射角度呈大致35度的角度提供光。5度到85度的角度具有一定的有效性，這取決于具體的應(yīng)用。在一個實(shí)施例中，來自遠(yuǎn)暗場透射光源I10的光沿著與漫射透射光源I9所照明的卷材照明區(qū)域相同的區(qū)域集中。遠(yuǎn)暗場透射光源趨向于突出照明沿順維或縱向散射光的異常。這類異常可能包括微復(fù)制型棱鏡或圖案中的波動，以及/或者微復(fù)制和背襯材料之間的界面，或背襯材料自身的缺陷。
這兩種照明技術(shù)(漫射透射和遠(yuǎn)暗場)從而被組合起來，并且可以將單臺感測裝置(例如，線掃描照相機(jī))配置為接收從卷材照明區(qū)域發(fā)出的信號。
光源I2和I3可以為發(fā)光的任何裝置，例如，傳統(tǒng)白熾燈泡、熒光燈泡或鹵素?zé)襞荩籐ED；或激光器。作為另外一種選擇，光源I2和/或I3可以根本不產(chǎn)生自身的光，而是作為其他光源的導(dǎo)管。例如，光源I2和/或I3可以為所謂的“光纖線路光源”，其通過光纖線路從單獨(dú)的光源(通常為位于附近的單獨(dú)裝置)傳送光。在一些實(shí)施例中，光源I2和I3屬于不同類型(一個為熒光光源，一個為激光器或光纖線路光源，等等)。
透鏡I4和I5可以為任何類型的聚光或集光裝置。在一些實(shí)施例中，根據(jù)光源的本性，可以省略透鏡I4和I5。在一個實(shí)施例中，透鏡I4和I5為丙烯酸類樹脂圓柱形透鏡。
擴(kuò)散片I6可以為散開或散射光的任何裝置。在一個實(shí)施例中，擴(kuò)散片I6為乳色玻璃片。在另一個實(shí)施例中為擴(kuò)散膜片，例如，由GeneralElectric of Fairfield，Connecticut制造的多種聚碳酸酯膜中的任何一種。
透鏡I7可以為任何類型的透鏡。在一個實(shí)施例中為配有85mm延伸管的Schneider Componon f5.6/150mm。
圖2為檢測工位的示意性側(cè)視圖，其中漫射透射光照明技術(shù)與其他照明技術(shù)一起使用。圖2包括與圖1相同的部件，但附加包括另一個遠(yuǎn)暗場透射光源(J1)和暗場反射光源(J2)。此外，圖2表明，可以在光學(xué)上組合不止兩種不同照明技術(shù)，并且可通過單臺照相機(jī)或在單個檢測工位內(nèi)感測。在這種情況下，例如，圖3中示出的全部四個光源將光聚集在照相機(jī)8所檢測的相同卷材照明部分上?？梢灶愃频夭捎猛瑫r采用四種以上照明技術(shù)的其他照明技術(shù)。
第二遠(yuǎn)暗場透射光源(J1)在卷材異常穿過卷材照明區(qū)域時可以幫助第一光源突出照明卷材異常。第二遠(yuǎn)暗場透射光源的構(gòu)造方式與第一光源的構(gòu)造方式大致相同，但在一個實(shí)施例中呈相對的角度。暗場折射光源(J2)趨向于特別突出背襯卷材平表面(卷材的非結(jié)構(gòu)化側(cè))上的異常。
多種照明技術(shù)的組合可以有利于較好地進(jìn)行自動卷材檢測。該優(yōu)勢可以是為寬泛的異常范圍提供足夠信噪對比度的照明技術(shù)的結(jié)果，所述寬泛的異常范圍沿著多種方向出現(xiàn)并且在不同表面或表面界面上。此外，與單獨(dú)使用多種照明技術(shù)的組合中的任一照明技術(shù)時相比，多種照明技術(shù)的組合還可以為更高比例的缺陷增加信噪比。例如，對于特定缺陷，漫射透射光源I3可以生成所得信號的75％，而在圖2所示檢測工位的情況中，兩個附加遠(yuǎn)暗場光源可以增加其余的25％，從而提供足夠的信號以分離異常區(qū)域。在另一個實(shí)例中，透射光源I9可以生成所得信號的35％，而在圖2所示檢測工位的情況中，兩個附加遠(yuǎn)暗場光源(J1和J2)可以增加其余的65％。
另外，在一些實(shí)施例中，多種照明技術(shù)可以用于降低與檢測卷材相關(guān)的固有噪聲。例如，諸如增亮膜之類的某些光學(xué)膜可以包括缺陷屏蔽圖案或膜特性(例如，棱柱維度或取向)的他有意隨機(jī)或偽隨機(jī)變化。使用單種照明技術(shù)照明這些有意膜變化時，這些有意膜變化可以看起來為背景噪聲，從而降低實(shí)際異常的對比度。然而，多種照明技術(shù)可以降低與此類有意膜變化相關(guān)的背景噪聲，從而增加信噪比。
實(shí)例 卷材檢測工位總體上如圖2所示來構(gòu)造。照明系統(tǒng)安裝在惰輥之間的自由跨度上的傳統(tǒng)卷材處理系統(tǒng)的卷材路徑下方。配備有傳統(tǒng)150mm透鏡的AVIIVATM CCD單色線掃描照相機(jī)(可從Atmel of San Jose，CA商購獲得)安裝在照明系統(tǒng)上卷材路徑上方83cm處。照明系統(tǒng)包括三個光源，每個光源都包括可從Fostec Imaging of San Diego，CA商購獲得的纖維導(dǎo)光管，由可從Illumination Technologies of East Syracuse，NY商購獲得的4900型自動校準(zhǔn)光源(Model 4900 Auto-Calibrating Light Source)驅(qū)動。直接光源直接向上瞄向照相機(jī)，而兩個遠(yuǎn)暗場光源瞄向與垂直方向呈40度的角度。另外，所有三個光源被取向使其長軸與橫維方向平行。
這三個光源中的每一個都具有柱透鏡，每個柱透鏡均由光學(xué)透明的丙烯酸類聚合物制成，直徑為1.25英寸(31.75mm)。槽寬為0.5英寸(12.5mm)的鋁框架安裝在直接光源和卷材的下側(cè)之間，以使得來自直接光源的光穿過柱透鏡中的一個，然后在其穿過卷材下側(cè)的路程中穿過該槽。糙面精整處理過的擴(kuò)散片的半透明膜被布置在該槽的整個頂部。
照相機(jī)的輸出被引導(dǎo)至個人計(jì)算機(jī)以進(jìn)行分析。該計(jì)算機(jī)運(yùn)行MatroxInspector 2.2軟件包，該軟件包可從Matrox Imaging of Dorval，Quebec，Canada商購獲得。
卷材檢測工位用于檢測7mm厚光學(xué)性能的棱鏡光學(xué)膜，該棱鏡光學(xué)膜具有各種產(chǎn)品的制造中可能使用的一類有意特性變化。選擇特定材料卷用于實(shí)驗(yàn)是因?yàn)?，其表現(xiàn)出各種可能的缺陷，從尺寸范圍為一百到數(shù)百微米的溝槽和表面雜質(zhì)等粗糙缺陷到寬度約15到20微米的非常細(xì)小的刮痕。
圖3A至圖3C為計(jì)算機(jī)屏幕的截屏，示出了并排布置的三個光通過卷材同一部分。圖3A為僅通過漫射透射光源照明的一定長度的膜的掃描結(jié)果。該圖顯示了逐漸的“疹斑”灰度色彩變化。由于有意膜特性變化導(dǎo)致的錯綜的背景噪聲，導(dǎo)致難以辨識異常。圖3B為僅通過遠(yuǎn)暗場光源照明的一定長度的膜的掃描結(jié)果。盡管圖3A具有逐漸的錯綜信號變化，但圖3B具有更清楚、更陡峭的信號變化(許多是由于相同有意膜特性變化引起的)。與圖3A中相同，同樣難以相對于與有意膜特性變化有關(guān)的背景噪聲辨識異常。圖3C為同時采用圖3A中描述的技術(shù)和圖3B中描述的技術(shù)照明的一定長度的材料的掃描結(jié)果。相對于圖3A和圖3B，異常D1之類的異常能更清楚地區(qū)分，并且背景噪聲也已降低。可以從圖中看出，存在與本發(fā)明的照明系統(tǒng)相關(guān)的顯著協(xié)同增強(qiáng)效應(yīng)新型系統(tǒng)不僅突出更多傳統(tǒng)照明方法單獨(dú)能突出的所有缺陷，而且還突出其它更難分辨的缺陷。
表1示出了三種照明技術(shù)對于相對均勻的結(jié)構(gòu)化棱鏡膜的相對作用效果。Y軸表示照明技術(shù)。橫槽/順槽是指測試異常相對于膜結(jié)構(gòu)化側(cè)上的槽圖案的取向。


表1 表2示出了三種照明技術(shù)對于偽隨機(jī)圖案化棱鏡膜的相對作用效果。

表權(quán)利要求
1.一種用于照明透明或半透明結(jié)構(gòu)化片材以便光學(xué)接收裝置進(jìn)行檢測的系統(tǒng)，所述片材具有第一側(cè)面和第二側(cè)面，所述系統(tǒng)包括
第一光源，其引導(dǎo)漫射光穿過所述片材的一部分；以及
第二光源，其與所述第一光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的相同部分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述第一側(cè)面和第二側(cè)面為結(jié)構(gòu)化側(cè)面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述結(jié)構(gòu)化片材具有內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的照明系統(tǒng)，其中所述第一側(cè)面為結(jié)構(gòu)化側(cè)面。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中所述第一光源引導(dǎo)光朝向所述片材的所述第一側(cè)面，并且所述光學(xué)接收裝置被定位用于接收來自所述片材的所述第二側(cè)面的光。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述片材為結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其中所述結(jié)構(gòu)化光學(xué)膜為棱鏡膜。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，還包括
第三光源，其與所述第一光源和所述第二光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，還包括
第四光源，其與所述第一光源、所述第二光源和所述第三光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，還包括
第五光源，其與所述第一光源、所述第二光源、所述第三光源和所述第四光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的系統(tǒng)，還包括
一個或多個附加光源，其與所述第一光源、所述第二光源、所述第三光源、所述第四光源或所述第五光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述第一光源將漫射光導(dǎo)向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其中所述第二光源向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)提供遠(yuǎn)暗場光。
14.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其中所述第一光源將漫射光導(dǎo)向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)，所述第二光源將暗場透射光導(dǎo)向所述卷材的與所述光學(xué)接收裝置相反的一側(cè)，并且所述第三光源引導(dǎo)暗場透射光或暗場反射光。
15.一種用于檢測光學(xué)膜的系統(tǒng)，包括
光感測裝置，其被定位用于感測來自光學(xué)膜表面檢測區(qū)域的光；
第一光源，其引導(dǎo)漫射透射光在所述卷材的檢測區(qū)域內(nèi)通過所述卷材，并進(jìn)入所述光感測裝置，所述第一光源以相對于所述卷材縱向的第一角度提供光；
第二光源，其引導(dǎo)光朝向所述卷材的所述檢測區(qū)域，所述第二光源以相對于所述卷材縱向的第二角度提供光，所述第二角度與所述第一角度不同。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其中所述光感測裝置為照相機(jī)。
17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中所述光感測裝置為線掃描照相機(jī)。
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其中所述光學(xué)膜相對于所述光感測裝置、所述第一光源和所述第二光源中的任一個或全部運(yùn)動。
19.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，其中在制造所述光學(xué)膜時所述系統(tǒng)檢測所述光學(xué)膜。
20.根據(jù)權(quán)利要求16所述的系統(tǒng)，還包括
第三光源，其引導(dǎo)光朝向所述檢測區(qū)域，所述第三光源以相對于所述卷材縱向的第三角度提供光，所述第三角度與所述第一角度或所述第二角度不同。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的系統(tǒng)，還包括
一個或多個附加光源，其引導(dǎo)光朝向所述檢測區(qū)域，所述一個或多個附加光源以相對于所述卷材方向的如下角度提供光，所述角度與其他光源的角度不同。
22.一種照明透明或半透明結(jié)構(gòu)化片材的方法，包括
提供第一光源，所述第一光源引導(dǎo)漫射光通過所述片材的一部分；并且
提供第二光源，所述第二光源與所述第一光源同時引導(dǎo)光朝向所述片材的所述相同部分。
全文摘要
用于光學(xué)膜的機(jī)器檢測的照明技術(shù)。在一個實(shí)施例中，描述了用于照明透明或半透明結(jié)構(gòu)化片材以便光學(xué)接收裝置進(jìn)行檢測的照明系統(tǒng)。
文檔編號G02B7/18GK101606094SQ200880004280
公開日2009年12月16日 申請日期2008年1月29日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月16日
發(fā)明者史蒂文·P·弗洛德, 詹姆斯·A·馬斯特曼 申請人:3M創(chuàng)新有限公司