專利名稱：檢測鏡頭模組性能的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及鏡頭模組性能檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測鏡頭模組性能的 方法。
背景技術(shù)：
隨著攝像功能的發(fā)展，相機模組被廣泛應(yīng)用于各種用途的攝像裝置中， 相機模組與便攜式電子裝置，例如手機、電腦等的結(jié)合，更是得到眾多消費 者的青睞。相機模組通常包括至少一鏡頭模組以及一感光元件。鏡頭模組可以包括 一鏡筒，以及設(shè)置于鏡筒中的多個鏡片(鏡頭)，光圈，濾光片等。光圏、 濾光片等可以設(shè)置在多個鏡片之間，所有鏡片的物側(cè)，或所有鏡片的像側(cè)。 光圈通過其本身，或通過經(jīng)設(shè)置于其物側(cè)的鏡片形成的位于鏡頭模組物側(cè)的 像(此時光圏本身或所形成的像成為一入射光瞳)，該入射光瞳可控制入射鏡頭模組的光線范圍；光圏通過其本身，或通過經(jīng)設(shè)置于其像側(cè)的鏡片形成 的位于鏡頭模組像側(cè)的像(此時光圈本身或所形成的像成為一出射光瞳)， 該出射光瞳可控制出射鏡頭模組的光線范圍。而在組裝鏡頭模組與感光元件 時，通常地，將鏡筒的中心與感光元件的中心設(shè)置于同一條線上，從而使出 射鏡頭模組的光線準確地投射至感光元件上形成圖像。然而，鏡頭模組組裝后，若鏡頭模組的入射光瞳或出射光瞳的中心不位 于鏡筒的中軸線上，則可能使入射鏡頭模組的光線范圍不是預(yù)期中的范圍， 或使出射鏡頭模組的光線范圍受損，如此情況下都將使感光元件上形成的圖 像沒有預(yù)期中的理想。有鑒于此，提供一種方便檢測鏡頭模組性能的方法實為必要。發(fā)明內(nèi)容以下，將以實施例說明一種檢測鏡頭模組性能的方法。 一種檢測鏡頭模組性能的方法，其包括如下步驟
提供一待測鏡頭模組及一檢測用相機，所述待測鏡頭模組包括鏡筒及組 裝在鏡筒中的鏡片、光圈，所述光圈提供給所述待測鏡頭模組一入射光瞳及一出射光瞳；用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及出射光瞳； 檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述出射光瞳的圖像的中心的 重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組為不合格品； 若是，再用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及入射光瞳，然 后再檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述入射光瞠的圖像的中心的 重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組為不合格品， 若是。一種檢測鏡頭模組性能的方法，其包括如下步驟提供一待測鏡頭模組及一檢測用相機，所述待測鏡頭模組包括鏡筒及組 裝在鏡筒中的鏡片、光圏，所述光圈提供給所述待測鏡頭模組一入射光瞳及 一出射光瞳；用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及入射光瞳； 檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述入射光曖的圖像的中心的 重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組為不合格品； 若是，再用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及出射光瞳，然 后再檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述出射光瞳的圖像的中心的 重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組為不合格品， 若是。相對于現(xiàn)有技術(shù)，所述檢測鏡頭模組性能的方法使用一檢測用相機拍 攝組裝好的待測鏡頭模組的鏡筒及入射光瞳或出射光瞳，然后檢測拍攝得 的二者的圖像的中心重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，以此對組裝好的待測鏡頭模組的鏡筒、鏡片、光圏的組裝狀況進行檢測。所述檢測用相機所需 的空間小，可以被方便地安裝在鏡頭模組組裝機臺上，對組裝的鏡頭模組 進行即時的檢測，如此在發(fā)現(xiàn)不良品時，可以及時進行重新組裝。該即時 的檢測避免成批的組裝不良品的情況發(fā)生，降低生產(chǎn)成本。


圖1是本發(fā)明的第一實施例提供的檢測鏡頭模組性能的方法流程圖。 圖2是本發(fā)明的實施例提供的待領(lǐng)，j鏡頭模組與檢測用相機的示意圖。圖3是當圖2提供的待測鏡頭模組中光圈中心位于鏡片中心連線上時，檢 測用相機拍攝待測鏡頭模組的出射光瞳的光路示意圖。圖4是圖3的檢測用相機拍攝得的待測鏡頭模組的鏡筒端部的通光口與 出射光瞳的圖像中心重合時示意圖。圖5是圖3的檢測用相機拍攝得的待測鏡頭模組的鏡筒端部的通光口與 出射光瞳的圖像中心不重合時示意圖。圖6是當圖2提供的待測鏡頭模組中光圏中心不在鏡片中心連線上時，檢 測用相機拍攝待測鏡頭模組的出射光瞳的光路示意圖。圖7是本發(fā)明的第二實施例提供的檢測鏡頭模組性能的方法流程圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明提供的檢測鏡頭模組性能的方法作進一步詳細說明。請一并參閱圖1至圖3,本發(fā)明的第 一 實施例提供的檢測鏡頭模組性能的 方法100包括如下步驟(1 )提供一待測一鏡頭模組10及一檢測用相機20,所述待測鏡頭才莫組IO 包括一鏡筒ll，從物側(cè)至像側(cè)依序組裝在鏡筒ll中的兩個鏡片12、 13，以及 一夾設(shè)在所述鏡片12、 13之間的光圈14,所述光圏14經(jīng)所述鏡片12在所述待 測鏡頭模組10的物側(cè)形成一入射光瞳15,經(jīng)所述鏡片13在所述待測鏡頭模組 10的^f象側(cè)形成一出射光瞳16;(2 )用所述檢測用相機20拍攝所述待測鏡頭模組10的鏡筒11及所述出射 光曈16;(3 )檢驗拍攝得的所述鏡筒11的圖像的中心與所述出射光瞳16的圖像的 中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組10為不 合格品；若是，再用所述檢測用相機20拍攝所述待測鏡頭模組10的鏡筒11及 所述入射光瞳15,然后再檢驗拍攝得的所述鏡筒11的圖像的中心與所述入射 光瞳15的圖像的中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測 鏡頭模組10為不合格品。
在步驟(l)中，所述待測鏡頭模組10的鏡片12、 13的中心0,、 02連線 記為a,所述光圈14的大小為其內(nèi)徑DD長度，所述光圏14的中心記為M,所 述入射光瞳15中心記為M,，所述出射光瞳16中心記為M2。所述待測4竟頭^f莫組 10依實際的需要還可以組裝上濾光片等其它元件。所述檢測用相機20包括一 鏡頭22,以及一與鏡頭22相對設(shè)置的感光元件24。所述鏡頭22可以由多個鏡 片合成，所述鏡頭22的中心記為03。所述感光元件24可以采用電荷耦合裝置 (Charge Coupled Device,簡稱CCD )、互補金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Transistor,簡稱CMOS )或膠片。所述鏡頭22與感 光元件24中心連線記為b。在步驟(2 )中，所述檢測用相機20從所述待測鏡頭模組10的像側(cè)拍攝所 述鏡筒11及出射光瞳16。如果所述光圏14的中心M位于鏡片12、 13的中心Oj、 02連線a上，則所述入射光瞳15的中心M,、所述出射光瞳16的中心M2也均在 該連線a上(見圖3)。此時，因所述鏡筒ll的中軸線(圖未示)位置不同，所 述檢測用相機20拍攝得的所述鏡筒11的圖像21的中心N與所述出射光瞳16的 圖像26的中心M3重合程度可能存在如下幾種情況(a) 當所述鏡筒ll的中軸線與所述鏡片12、 13的中心0" 02連線a重合， 即所述鏡筒ll,鏡片12、 13，以及光圏14組裝均準確時，所述檢測用相機20 拍攝得的所述圖像21 (僅為所述鏡筒ll端部的通光口的圖像)的中心N將與 所述圖像26的中心M3完全重合(見圖4)。(b) 當所述鏡筒ll的中軸線與所述鏡片12、 13的中心0，、 02連線a不重合， 即所述鏡筒ll相對所述鏡片12、 13及光圈14組裝不準確時，所述^f全測用相機 20拍攝得的所述圖像21的中心N將與所述圖像26的中心M3有偏離(見圖5 )。另外，如圖6所示，如果所述光圈14的中心M不在鏡片12、 13的中心0,、 02連線a上，則所述入射光瞳15的中心M,、所述出射光瞳16的中心M2也均不 在該連線a上。此時，因所述鏡筒ll的中軸線位置不同，所述檢測用相機20 拍攝得的所述鏡筒11的圖像21的中心N與所述出射光瞳16的圖像26的中心M3 重合程度可能存在如下幾種情況(c) 當所述鏡筒ll的中軸線與所述鏡片12、 13的中心Oi、 02連線a重合， 即所述光圏14相對于鏡筒11及鏡片12、 13組裝不準確時，所述^會測用相機20 拍攝得的所述圖像21的中心N將與所述圖像26的中心M3有偏離。(d) 當所述鏡筒ll的中軸線與鏡片12、 13的中心0,、 02連線3不重合，但 所述光圏14的中心M位于所述鏡筒11的中軸線上，即所述鏡片12、 13相對所 述光圈14及鏡筒11組裝不準確時，所述檢測用相機20拍攝得的所述圖像21的 中心N與所述圖像26的中心M3有偏離。(e) 當所述鏡筒ll的中軸線與所述鏡片12、 n的中心O,、 02連線a不重合， 且所述光圈14的中心M不位于所述鏡筒11的中軸線上，即所述鏡筒ll，鏡片 12、 13,以及光圈14均組裝不準確時，所述出射光瞳16的中心M2可能不位于 鏡筒ll中軸線上，或恰位于鏡筒ll中軸線上。此時，所述檢測用相機20拍攝 得的所述圖像21的中心N與所述圖像26的中心M3重合程度便可能存在兩種情 況 一種是有偏離(對應(yīng)于所述出射光瞳16的中心M2不位于鏡筒11中軸線 時)， 一種是完全重合(對應(yīng)于所述出射光瞳16的中心M2恰位于鏡筒11中軸 線上時)。所述檢測用相機20可以設(shè)定拍攝得的所述圖像21的中心N與所述圖像26 的中心M3重合程度的合適范圍，也即偏離程度的允許范圍，在上述(b)、 (c)、 (d)的情況下，以及(e)拍攝到有偏離的情況下，可以直接根據(jù)所述檢測用相機 20拍攝得的圖像21、 26的中心N、 M3重合程度是否在所設(shè)定的合適范圍內(nèi)， 若否，做出所述待測鏡頭模組10為不合格品的判定；若是，以及在上述拍攝 到(a)的情況及(e)的重合情況下，便均須要再用所述檢測用相機20從所述待測 鏡頭模組10的物側(cè)拍攝所述待測鏡頭模組10的鏡筒11及入射光瞳15，并再檢 驗所述待測鏡頭模組1 O拍攝得的所述鏡筒11的圖像的中心與所述入射光瞳15 的圖像的中心(圖未示)重合程度是否在所設(shè)定的合適范圍內(nèi)。在(a)的前提 下，此時所述待測鏡頭模組10拍攝得的所述鏡筒11的圖像的中心與所述入射 光瞳15的圖像的中心(圖未示)也將完全重合，可以判定所述待測鏡頭模組 IO為組裝合格品；在(e)的前提下，因為所述入射光瞳15將可能不再恰位于鏡 筒11中軸線上，此時所述待測鏡頭模組10拍攝得的所述鏡筒11的圖像的中心 與所述入射光瞳15的圖像的中心(圖未示)便有偏離，此時再依據(jù)所設(shè)定的 合適范圍，便可判定所述待測鏡頭模組10為不合格品或組裝合格品。所述檢測用相機20拍攝得的所述圖像26的大小為其內(nèi)徑D' D，長度，在 上述判定所述待測鏡頭模組10為組裝合格品的情況下，可以將所述圖像26與 一同等拍攝條件下拍攝得的符合設(shè)計要求的圖像進行比較，由此可以進一步 檢測出所述出射光瞳16的大小是否符合設(shè)計要求。當然，也可以將拍攝得的所述入射光瞳15的圖像(圖未示)與一同等拍攝條件下拍攝得的符合設(shè)計要求的圖像進行比較，由此可以進一步檢測出所述入射光瞳15的大小是否符合設(shè)計要求。所述檢測用相機20檢測速度快，所需的空間小，可以被方便地安裝在鏡 頭模組組裝機臺上，對組裝好的鏡頭模組的鏡筒、鏡片、光圈的組裝狀況進 行即時檢測，如此在發(fā)現(xiàn)不良品時，可以及時進行重新組裝。經(jīng)所述檢測用 相機20檢測后的鏡頭模組可以等到一定批量后，再送到鏡頭解析調(diào)制轉(zhuǎn)換函 數(shù)(Modulation Transfer Function,簡稱MTF)量測工作站去量測光學(xué)性能。 所述檢測用相機20的檢測可以避免成批的不良品的情況發(fā)生，降低生產(chǎn)成本。另外，當所述光圈14設(shè)置在所述鏡片12、 13的物側(cè)時，所述光圏14提供 給所述待測鏡頭模組10的入射光瞳為所述光圈14本身，所述光圏14提供給所 述待測鏡頭模組10的出射光瞳為所述光圈14經(jīng)所述鏡片12、 13形成的位于所 述鏡片12、 13像側(cè)的像，所述檢測用相機20可以先從待測鏡頭模組10的像側(cè) 拍攝所述鏡筒ll及出射光瞳(圖未示)，依需要再從待測鏡頭模組10的物側(cè)拍 攝所述鏡筒ll及入射光瞳(圖未示)。當所述光圏14設(shè)置在所述鏡片12、 13的像側(cè)，所述光圏14提供給所述待 測鏡頭模組10的入射光瞳為所述光圏14經(jīng)所述鏡片12、 13形成的位于所述鏡 片12、 13物側(cè)的像，所述光圏14提供給所述待測鏡頭模組10的出射光瞳為所 述光圈14本身，所述檢測用相機20可以先從待測鏡頭模組10的像側(cè)拍攝所述 鏡筒ll及出射光瞳(圖未示)，依需要再從待測鏡頭模組10的物側(cè)拍攝所述鏡 筒ll及入射光瞳(圖未示)。當然，在上述需要在待測鏡頭模組10的物側(cè)與像側(cè)轉(zhuǎn)換拍攝情況下，可 以由一驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動所述檢測用相機20移動至拍攝位置，或在待測鏡頭模組 10的物側(cè)與像側(cè)各設(shè)置 一 臺所述檢測用相機20。請參閱圖7 ，本發(fā)明的第二實施例提供的檢測鏡頭模組性能的方法200包 括如下步驟(1 )提供一待測鏡頭模組10及一檢測用相機20，所述待測鏡頭模組IO 包括一鏡筒ll，從物側(cè)至像側(cè)依序組裝在鏡筒ll中的兩個鏡片12、 13，以及 一夾設(shè)在所述鏡片12、 13之間的光圏14，所述光圈14經(jīng)所述鏡片12在所述待
測鏡頭模組10的物側(cè)形成一入射光瞳15，經(jīng)所述鏡片13在所述待測鏡頭模組 10的像側(cè)形成一出射光瞳16;(2)用所述檢測用相機20拍攝所述待測鏡頭模組10的鏡筒11及所述入射 光瞳15;(3 )檢驗拍攝得的所述鏡筒11的圖像的中心與所述入射光瞳15的圖像的 中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組10為不 合格品；若是，再用所述檢測用相機20拍攝所述待測鏡頭模組10的鏡筒11及 所述出射光瞳16，然后再檢驗拍攝得的所述鏡筒ll的圖像的中心與所述出射 光瞳16的圖像的中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測 鏡頭模組10為不合格品。所述第二實施例提供的檢測鏡頭模組性能的方法200與所述第一實施例 提供的檢測鏡頭模組性能的方法100的區(qū)別在于所述方法200先拍攝鏡筒11 及所述入射光瞳15,依需要再拍攝鏡筒11及出射光瞳16?？梢岳斫獾氖牵瑢υ诒绢I(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技 術(shù)方案和技術(shù)構(gòu)思做出其它各種相應(yīng)的改變和變形，而所有這些改變和變形 都應(yīng)屬在本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測鏡頭模組性能的方法，其包括如下步驟提供一待測鏡頭模組及一檢測用相機，所述待測鏡頭模組包括鏡筒及組裝在鏡筒中的鏡片、光圈，所述光圈提供給所述待測鏡頭模組一入射光瞳及一出射光瞳；用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及出射光瞳；檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述出射光瞳的圖像的中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組為不合格品；若是，再用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及入射光瞳，然后再檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述入射光瞳的圖像的中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組為不合格品。
2. 如權(quán)利要求l所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，所述待測鏡 頭模組的光圏設(shè)置在鏡片之間，所述入射光瞳為所述光圏經(jīng)設(shè)置于其物 側(cè)的鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組物側(cè)的像，所述出射光瞳為所述 光圏經(jīng)設(shè)置于其像側(cè)的鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組像側(cè)的像，所 述檢測用相機從所述待測鏡頭模組的物側(cè)拍攝所述鏡筒及入射光睡，從 所述待測鏡頭模組的像側(cè)拍攝所述鏡筒及出射光瞳。
3. 如權(quán)利要求l所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，所述待測鏡 頭模組的光圏設(shè)置在鏡片物側(cè)，所述入射光瞳為所述光圏本身，所述出 射光瞳為所述光圈經(jīng)設(shè)置于其像側(cè)的鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組 像側(cè)的像，所述檢測用相機從所述待測鏡頭模組的物側(cè)拍攝所述鏡筒及 入射光瞳，從所述待測鏡頭模組的像側(cè)拍攝所述鏡筒及出射光瞳。
4. 如權(quán)利要求l所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，所述待測鏡 頭模組的光圈設(shè)置在鏡片像側(cè)，所述入射光瞳為所述光圈經(jīng)設(shè)置于其物 側(cè)的鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組物側(cè)的像，所述出射光瞳為所述 光圏本身，所述檢測用相機從所述待測鏡頭模組的物側(cè)拍攝所述鏡筒及 入射光瞳，從所述待測鏡頭模組的像側(cè)拍攝所述鏡筒及出射光瞳。
5. 如權(quán)利要求l所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，在拍攝得的 所述鏡筒的圖像的中心與所述入射光瞳的圖像的中心的重合程度是在合 適的范圍內(nèi)時，進一 步檢測拍攝得的所述入射光瞳的圖像的大小或所述 出射光瞳的圖像的大小，以檢測所述入射光瞳的大小或所述出射光瞳的 大小是否符合設(shè)計要求。
6. —種檢測鏡頭模組性能的方法，其包括如下步驟提供一待測鏡頭模組及一檢測用相機，所述待測鏡頭模組包括鏡筒及 組裝在鏡筒中的鏡片、光圈，所述光圈提供給所述待測鏡頭模組一入射 光瞳及一出射光瞳；用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及入射光瞳； 檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述入射光瞳的圖像的中心 的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模組為不合 格品；若是，再用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及出射 光瞳，然后再檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述出射光瞳的圖 像的中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若否，判定所述待測鏡頭模 組為不合格品。
7. 如權(quán)利要求6所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，所述待測鏡 頭模組的光圏設(shè)置在鏡片之間，所述入射光瞳為所述光圏經(jīng)設(shè)置于其物側(cè) 的鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組物側(cè)的像，所述出射光瞳為所述光圈 經(jīng)設(shè)置于其像側(cè)的鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組像側(cè)的像，所述檢測 用相機從所述待測鏡頭模組的物側(cè)拍攝所述鏡筒及入射光曖，從所述待測 鏡頭模組的像側(cè)拍攝所述鏡筒及出射光瞳。
8. 如權(quán)利要求6所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，所述待測鏡 頭模組的光圈設(shè)置在鏡片物側(cè)，所述入射光瞳為所述光圈本身，所述出射 光瞳為所述光圈經(jīng)設(shè)置于其像側(cè)的鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組像 側(cè)的像，所述檢測用相機從所述待測鏡頭模組的物側(cè)拍攝所述鏡筒及入射 光瞳，從所述待測鏡頭模組的像側(cè)拍攝所述鏡筒及出射光瞳。
9. 如權(quán)利要求6所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，所述待測鏡頭 模組的光圏設(shè)置在鏡片像側(cè)，所述入射光瞳為所述光圈經(jīng)設(shè)置于其物側(cè)的 鏡片形成的位于所述待測鏡頭模組物側(cè)的像，所述出射光瞳為所述光圈本 身，所述檢測用相機從所述待觀'J鏡頭模組的物側(cè)拍攝所述鏡筒及入射光 瞳，從所述待測鏡頭模組的像側(cè)拍攝所述鏡筒及出射光瞳。 10.如權(quán)利要求6所述的檢測鏡頭模組性能的方法，其特征在于，在拍攝得的 所述鏡筒的圖像的中心與所述出射光瞳的圖像的中心的重合程度是在合 適的范圍內(nèi)時，進一步檢測拍攝得的所述入射光瞳的圖像的大小或所述出 射光瞳的圖像的大小，以檢測所述入射光瞳的大小或所述出射光瞳的大小 是否符合設(shè)計要求。
全文摘要
本發(fā)明提供一種檢測鏡頭模組性能的方法，其包括如下步驟提供一待測鏡頭模組及一檢測用相機，所述待測鏡頭模組包括鏡筒及組裝在鏡筒中的鏡片、光圈，所述光圈提供給所述待測鏡頭模組一入射光瞳及一出射光瞳；用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及出射光瞳；檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述出射光瞳的圖像的中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)，若是，再用所述檢測用相機拍攝所述待測鏡頭模組的鏡筒及入射光瞳，然后再檢驗拍攝得的所述鏡筒的圖像的中心與所述入射光瞳的圖像的中心的重合程度是否在合適的范圍內(nèi)。
文檔編號G03B43/00GK101149558SQ20061006272
公開日2008年3月26日 申請日期2006年9月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月22日
發(fā)明者袁崐益 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司