專利名稱：具有查找表和內(nèi)插電路的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，其通過對輸出自查找表(LUT)的輸出值進(jìn)行內(nèi)插生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，該查找表僅存儲對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平組合的數(shù)據(jù)。本發(fā)明還涉及利用內(nèi)插的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換的方法。
背景技術(shù)：
在利用LUT的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路中，對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的組合的輸出數(shù)據(jù)存儲在LUT的每個(gè)地址中。通過提供對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的地址，LUT輸出存儲在該地址中的輸出數(shù)據(jù)。因此，輸入數(shù)據(jù)集被轉(zhuǎn)換為對應(yīng)于輸入該數(shù)據(jù)集的輸出數(shù)據(jù)。
在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路中，對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)全部組合的全部輸出數(shù)據(jù)并不是都存儲在LUT中。即，為了減少所需的存儲容量，僅存儲了對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平組合的輸出數(shù)據(jù)，例如，每四個(gè)電平存儲一個(gè)。由對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)的電平附近的代表性電平組合的輸出數(shù)據(jù)的內(nèi)插，生成了對應(yīng)于未存儲在LUT中的組合的輸出數(shù)據(jù)。
作為利用LUT的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的示例，將解釋一種根據(jù)日本公開專利公報(bào)No.10-39837(參考文獻(xiàn)1)的液晶顯示(LCD)裝置。
在參考文獻(xiàn)1中公開的LCD顯示裝置中，為了改善液晶顯示面板的響應(yīng)，使用LUT轉(zhuǎn)換有待提供給LCD面板的像素驅(qū)動信號，由此信號電平(強(qiáng)度)是過驅(qū)動的。
為了在LCD面板上顯示視頻圖像，以固定的間隔連續(xù)地提供圖像數(shù)據(jù)，其包括用于驅(qū)動構(gòu)成幀的像素的信號。當(dāng)像素驅(qū)動信號的電平從先前幀中的開始電平變化為當(dāng)前幀中的目標(biāo)電平時(shí)，由于液晶分子的取向不能迅速變化，因此在當(dāng)前幀期間，像素的亮度并未達(dá)到對應(yīng)于目標(biāo)電平的值。結(jié)果，特別是在顯示移動的圖像時(shí)，顯示圖像的質(zhì)量是低的。
為了改善圖像的質(zhì)量，使用了過驅(qū)動技術(shù)。假設(shè)液晶顯示面板的像素驅(qū)動信號具有8比特的分辨率，或者256個(gè)信號電平，并且像素驅(qū)動信號的電平從先前幀中的10變化為當(dāng)前幀中的100。在該情況中，例如，提供了具有150而非100的信號電平的、經(jīng)轉(zhuǎn)換的或經(jīng)校正的像素驅(qū)動信號。因此，改善了液晶顯示面板的響應(yīng)和顯示在面板上的圖像的質(zhì)量。

發(fā)明內(nèi)容
所要解決的問題為了生成校正數(shù)據(jù)，提供了一種LUT，其存儲了對應(yīng)于當(dāng)前幀和先前幀的像素驅(qū)動信號的信號電平多種組合的校正值。包括當(dāng)前幀像素驅(qū)動信號電平的第一數(shù)據(jù)和包括先前幀像素驅(qū)動信號電平的第二數(shù)據(jù)輸入到LUT。然后，LUT輸出對應(yīng)于信號電平的特定組合的校正值或多個(gè)校正值。具體地，LUT將校正值存儲在2維配置的單元中，并且輸入數(shù)據(jù)信號電平的組合被用作訪問LUT的地址，由此LUT輸出存儲在對應(yīng)于該地址的單元中的校正值。
當(dāng)用于驅(qū)動當(dāng)前幀中像素的信號電平與用于驅(qū)動先前幀中同一像素的信號電平相同時(shí)，不需要像素驅(qū)動信號的轉(zhuǎn)換或校正。例如，當(dāng)先前幀和當(dāng)前幀的信號電平均為100時(shí)，具有電平100的未校正的信號應(yīng)提供給像素。因此，指出未進(jìn)行校正的校正值存儲在配置于對角線上的單元(對角單元)中，其對應(yīng)于當(dāng)前幀數(shù)據(jù)和先前幀數(shù)據(jù)的電平是相同的組合。例如，0作為校正值存儲在對角單元(diagonal cell)中。
另一方面，指出正方向校正(即，信號電平的增加)的校正值存儲在配置于對角線一側(cè)的區(qū)域中的單元中。在上文解釋的示例中，當(dāng)像素驅(qū)動信號的電平從先前幀中的10增加到當(dāng)前幀中的100時(shí)，信號電平被校正為150。即，進(jìn)行了具有電平量50的正方向校正。為了實(shí)現(xiàn)該結(jié)果，例如，校正值50存儲在對應(yīng)于地址(10，100)的單元中。
而且，指出負(fù)方向校正(即，信號電平的下降)的校正值存儲在配置于對角線另一側(cè)的區(qū)域中的單元中。然而，由于液晶顯示面板的非線性響應(yīng)，負(fù)方向校正量沒有必要同正方向校正量相同，即使是在輸入信號電平朝向具有相同電平的相反方向變化的時(shí)候。
例如，當(dāng)信號電平從先前幀中的100下降至當(dāng)前幀中的10時(shí)，負(fù)方向校正量沒有必要等于50。因此，存儲在對應(yīng)于地址(100，10)的單元中的校正值沒有必要是-50。換言之，存儲在對應(yīng)于地址(100，10)的單元中的校正值沒有必要具有同存儲在對應(yīng)于地址(10，100)的單元中的校正值相同的絕對值?；蛘?，更一般地，由存儲在對稱配置于對角線兩側(cè)的單元對中的校正值對指出的校正量沒有必要是相同的。
當(dāng)LUT僅存儲對應(yīng)于代表性電平組合的代表性校正值時(shí)，LUT輸出對應(yīng)于信號電平組合的地址周圍的單元中存儲的代表性校正值。然后，通過對該代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成關(guān)于信號電平組合的校正值。即使在該情況中，在當(dāng)前幀的信號電平和先前幀的信號電平是相同的時(shí)，或者當(dāng)該信號電平之間的差是小的時(shí)候，校正量應(yīng)是小的，以便于維持校正信號的連續(xù)性。
然而，實(shí)際上，當(dāng)輸入數(shù)據(jù)集的至少一個(gè)信號電平不等于任何代表性電平并且信號電平之間的差是小的時(shí)候，周圍單元包括沿對角線兩側(cè)對稱配置的單元對中的一個(gè)單元對。因此，通過使用存儲在沿對角線兩側(cè)配置的單元對中的代表性校正值，通過內(nèi)插生成了校正值。
然而，如上文所指出的，存儲在對稱配置于對角線兩側(cè)的單元對中的代表性校正值有可能指出具有不同量的朝向相反方向的校正。因此，通過內(nèi)插生成的校正值可能不是適當(dāng)?shù)?。即，生成的校正值可能指出相對大的校正量，即使是在先前幀和?dāng)前幀的信號電平之間的差是小的時(shí)候。結(jié)果，轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)可能喪失連續(xù)性并且顯示質(zhì)量劣化。
本發(fā)明的目的在于提供數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其能夠保持轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的連續(xù)性，同時(shí)減少所需用于提供LUT的存儲容量。用于解決問題的手段為了解決上文提及的問題，根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例提供了一種用于由輸入數(shù)據(jù)集生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路。每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集包括，選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平。該轉(zhuǎn)換電路包括查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平的組合。該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對。每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置。該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路進(jìn)一步包括內(nèi)插電路，其通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正，并且存儲于相鄰單元對中至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值具有互為相反的正負(fù)號和不同的絕對值。而且，當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，內(nèi)插電路將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值具有同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值，并且然后使用該替換代表性校正值生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
根據(jù)多種示例性實(shí)施例，該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路可以進(jìn)一步包括地址檢測電路，其檢測該地址距離LUT對角線是否處于使得該地址周圍的單元包括相鄰單元對中一個(gè)相鄰單元對的范圍，并且在地址檢測電路檢測到地址處于該范圍中時(shí)，內(nèi)插電路可以替換代表性校正值中的一個(gè)。根據(jù)多種其他的示例性實(shí)施例，該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路可以進(jìn)一步包括地址轉(zhuǎn)換電路，其由輸入數(shù)據(jù)集的信號電平生成地址。
根據(jù)多種其他的示例性實(shí)施例，LUT可以是二維LUT，并且內(nèi)插電路通過針對對應(yīng)于同每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集的信號電平相鄰的代表性電平中的兩個(gè)的組合的四個(gè)代表性校正值進(jìn)行線性內(nèi)插，可以生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
為了解決上文提及的問題，根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例提供了一種用于由輸入數(shù)據(jù)集生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路。該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路包括查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值指出了對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平組合的校正方向和校正量。該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對。每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置。該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路進(jìn)一步包括內(nèi)插電路，其通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正，并且存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量。而且，當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，內(nèi)插電路將相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且然后使用該替換代表性校正值生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
根據(jù)多種示例性實(shí)施例，存儲在對角單元中的代表性校正值可以是0，并且替換代表性校正值和存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)可以具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。根據(jù)多種其他的示例性實(shí)施例，存儲在對角單元中的代表性校正值可以等于輸入數(shù)據(jù)集中的一個(gè)的代表性電平中各自對應(yīng)的代表性電平，并且替換代表性校正值同輸入數(shù)據(jù)集中的該一個(gè)的代表性電平中的第一對應(yīng)代表性電平之間的第一差值、與存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)代表性校正值同輸入數(shù)據(jù)集中的該一個(gè)的代表性電平中的第二對應(yīng)代表性電平之間的第二差值、具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
為了解決上文提及的問題，根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例提供了一種包括用于接收當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)的輸入終端的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路。該輸入數(shù)據(jù)具有選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平。該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路進(jìn)一步包括存儲器，用于存儲當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)，并且用于輸出先前輸入數(shù)據(jù)；和查找表(LUT)，其將代表性校正值存儲在二維配置的單元中，該代表性校正值指出了對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合的校正方向和校正量。該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對。每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置。該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路仍然進(jìn)一步包括內(nèi)插電路，其通過針對對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成了對應(yīng)于該當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的校正值。存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正，并且存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量。而且，當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，內(nèi)插電路將相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且然后使用該替換代表性校正值生成校正值。
為了解決上文提及的問題，根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例，提供了一種包括接收輸入數(shù)據(jù)集的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法。每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集包括，選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平。該方法進(jìn)一步包括提供查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平的組合。該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對。每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置。該方法進(jìn)一步包括通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正，并且存儲于相鄰單元對中至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值具有互為相反的正負(fù)號和不同的絕對值。而且，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)包括當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值具有同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值，并且使用該替換代表性校正值執(zhí)行內(nèi)插。
為了解決上文提及的問題，根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例，提供了一種包括接收輸入數(shù)據(jù)集的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法。每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集包括，選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平。該方法進(jìn)一步包括提供查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值指出了對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平組合的校正方向和校正量。該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對。每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置。該方法進(jìn)一步包括通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正，并且存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量。而且，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)包括當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，將相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且使用該替換代表性校正值執(zhí)行內(nèi)插。
為了解決上文提及的問題，根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例，提供了一種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其包括，接收當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)，該輸入數(shù)據(jù)具有選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平，將當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)存儲在存儲器中并由存儲器輸出先前輸入數(shù)據(jù)。該方法進(jìn)一步包括提供查找表(LUT)，其將代表性校正值存儲在二維配置的單元中，該代表性校正值指出了對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合的校正方向和校正量。該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對。每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置。該方法進(jìn)一步包括通過針對對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成了對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的校正值。存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正，并且存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量。而且，生成校正數(shù)據(jù)包括當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，將相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且然后使用該替換代表性校正值執(zhí)行內(nèi)插。
發(fā)明的效果根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例，當(dāng)輸入數(shù)據(jù)集的電平之間的差是小的時(shí)候，替換在沿LUT對角線兩側(cè)對稱配置的單元對中的一個(gè)單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)。該替換代表性校正值指出了同該單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量。然后，通過使用該替換代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成了校正值。因此，在信號電平之間的差是小的時(shí)候，可以生成適當(dāng)?shù)男Ｕ怠Ｒ虼?，可以維持校正數(shù)據(jù)的連續(xù)性，并且可以改善顯示質(zhì)量。


圖1是根據(jù)本發(fā)明的示例性數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的示意圖；圖2示出了LUT的示例性結(jié)構(gòu)；圖3是用于解釋示例性內(nèi)插過程的圖示；圖4示出了用于根據(jù)本發(fā)明的示例性數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路中的示例性LUT；圖5是用于解釋使用圖4中示出的LUT執(zhí)行的示例性內(nèi)插過程的圖示；圖6是用于解釋使用圖4中示出的LUT的傳統(tǒng)內(nèi)插過程的圖示；圖7是用于解釋根據(jù)本發(fā)明使用圖4中示出的LUT執(zhí)行的示例性內(nèi)插過程的圖示；圖8示出了用于根據(jù)本發(fā)明的示例性數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路中的另一示例性LUT；圖9是用于解釋根據(jù)本發(fā)明使用圖8中示出的LUT執(zhí)行的示例性內(nèi)插過程的圖示。
參考數(shù)字10～數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路12～幀存儲器13～地址轉(zhuǎn)換電路16、26～LUT18～地址檢測電路20～內(nèi)插電路具體實(shí)施方式
現(xiàn)將通過參考附圖描述根據(jù)本發(fā)明的多種示例性實(shí)施例的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路。
圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的示例性數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路的示意圖。圖1中示出的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路10用作液晶顯示裝置的一部分。該數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路10由像素驅(qū)動信號的當(dāng)前幀和先前幀的信號電平生成校正值，該校正值校正用于驅(qū)動液晶顯示面板的像素驅(qū)動信號的電平。并且，轉(zhuǎn)換電路10輸出所生成的校正值，作為轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
校正電路10包括存儲器12、地址轉(zhuǎn)換電路14、LUT16、地址檢測電路18和內(nèi)插電路20。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路10接收當(dāng)前幀的像素驅(qū)動信號作為輸入數(shù)據(jù)，并且將接收到的信號提供給存儲器12和地址轉(zhuǎn)換電路14。例如，針對每個(gè)像素輸入R、G、B信號，每個(gè)具有8比特的分辨率(256個(gè)電平)。換言之，每個(gè)信號可能采用256個(gè)可允許電平中的一個(gè)。在下面的描述中，為了簡化，假設(shè)為每個(gè)像素輸入了具有8比特分辨率的信號。
存儲器12是幀存儲器。該存儲器12存儲當(dāng)前幀的信號電平，并且輸出已提前存儲的先前幀信號電平。這樣，如圖1所示，地址轉(zhuǎn)換電路14接收兩個(gè)輸入數(shù)據(jù)，即，包括當(dāng)前幀信號電平的第一輸入數(shù)據(jù)和包括先前幀的信號電平的第二輸入數(shù)據(jù)。
地址轉(zhuǎn)換電路14由這兩個(gè)輸入數(shù)據(jù)生成地址，并且將生成的地址提供給LUT 16和地址檢測電路18。例如，連接兩個(gè)8比特的數(shù)據(jù)(每一個(gè)表示當(dāng)前幀或先前幀的信號電平)，以生成16比特的地址。
LUT 16是二維LUT。即，LUT 16存儲對應(yīng)于包括當(dāng)前幀信號電平和先前幀信號電平的兩個(gè)輸入數(shù)據(jù)的校正值，作為輸出數(shù)據(jù)。
圖2示出了LUT 16的示例性結(jié)構(gòu)。LUT 16存儲校正值D0，其對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的信號電平(即，當(dāng)前幀信號電平a0和先前幀的信號電平b0)的組合。具體地，在示例性LUT 16中，僅存儲對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合的代表性校正值。
在本申請文件中，用于存儲校正值D0的LUT 16的每個(gè)位置被稱為“單元”(cell)。這些單元以二維方式、相關(guān)于輸入數(shù)據(jù)電平a0和b0配置在LUT 16中。因此，通過使用輸入數(shù)據(jù)電平a0和b0的組合作為地址，存儲在單元中的每個(gè)校正值D0是可訪問的。
在實(shí)踐中，LUT 16可以使用諸如靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器(SRAM)塊的存儲器塊進(jìn)行構(gòu)建。構(gòu)建為SRAM塊的LUT 16的物理結(jié)構(gòu)可以不同于如圖2的結(jié)構(gòu)。但是，校正值D0是相關(guān)于兩個(gè)輸入數(shù)據(jù)電平a0和b0存儲在SRAM塊中。因此，構(gòu)建在SRAM塊中的LUT 16具有二維邏輯結(jié)構(gòu)，如圖2示意性示出的。
當(dāng)LUT 16構(gòu)建為SRAM塊時(shí)，每個(gè)校正值D0可以存儲在SRAM塊的字中，通過SRAM塊中的地址，其是可訪問的。注意到，SRAM塊中字的地址不必與LUT 16中單元的地址相同。但是，這些地址是相關(guān)的，由此通過使用輸入數(shù)據(jù)電平a0和b0的組合，存儲在SRAM塊的字中的校正值D0是可訪問的。
存儲在LUT 16中的校正值D0可以是待添加到當(dāng)前幀信號電平中的值，以生成校正的或轉(zhuǎn)換的信號電平?？商鎿Q地，LUT可以存儲校正的或轉(zhuǎn)換的信號電平，作為校正值D0。
配置于LUT 16對角線上的單元中存儲的輸出數(shù)據(jù)(其對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的相互相等的代表性電平組合(a0＝b0))指出了未進(jìn)行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換。而且，沿對角線兩側(cè)對稱安置的單元對(相鄰單元)中存儲的至少某些輸出數(shù)據(jù)對指出了具有不同量的朝向相反方向的校正。
例如，當(dāng)LUT 16存儲了待添加到當(dāng)前幀信號電平的代表性校正值時(shí)，配置在對角線上的單元中存儲的每個(gè)代表性校正值是0。而且，存儲在相鄰單元對中的至少一個(gè)代表性校正值對具有互為相反的正負(fù)號和不同的絕對值。
當(dāng)由地址轉(zhuǎn)換電路14提供的地址對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合中的一個(gè)時(shí)，LUT 16輸出存儲在對應(yīng)于該地址的單元中的輸出數(shù)據(jù)(代表性校正值)。在其他情況下，LUT 16輸出多個(gè)輸出數(shù)據(jù)，該多個(gè)輸出數(shù)據(jù)對應(yīng)于同這兩個(gè)輸入數(shù)據(jù)信號電平相鄰的代表性電平的組合。換言之，LUT 16輸出代表性校正值，該代表性校正值存儲在對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)電平a0和b0組合的地址周圍的單元中。例如，對于每個(gè)輸入數(shù)據(jù)，LUT 16輸出代表性校正值，該代表性校正值存儲在對應(yīng)于輸入信號電平兩側(cè)的兩個(gè)代表性電平組合的四個(gè)單元中存儲。
自LUT 16輸出的輸出數(shù)據(jù)輸入到內(nèi)插電路20。
地址檢測電路18檢測輸出自地址轉(zhuǎn)換電路14的地址是否位于LUT 16的對角線上或其附近。輸出自地址檢測電路18的檢測信號輸入到內(nèi)插電路20。
通過例如，比較由地址轉(zhuǎn)換電路14提供的地址的兩個(gè)部分，每個(gè)部分對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)的信號電平和對應(yīng)于輸出自存儲器12的信號電平，進(jìn)行地址檢測電路18的檢測。適當(dāng)?shù)卮_定被檢測為LUT 16對角線附近的地址的范圍。例如，當(dāng)?shù)刂诽幱谥車鷨卧ㄏ噜弳卧獙χ械囊粋€(gè)相鄰單元對的范圍中時(shí)，該地址可被確定為在對角線附近。
內(nèi)插電路20生成校正值，用于校正待提供給液晶面板的像素驅(qū)動信號的電平。該校正值是通過使用由LUT 16提供的輸出數(shù)據(jù)(代表性校正值)和由地址檢測電路18輸出的檢測信號進(jìn)行內(nèi)插而生成的。
當(dāng)?shù)刂穼?yīng)于輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合中的一個(gè)時(shí)，內(nèi)插電路20不執(zhí)行內(nèi)插。即，內(nèi)插電路僅輸出由LUT 16提供的輸出數(shù)據(jù)作為校正值，該輸出數(shù)據(jù)是存儲在LUT 16的對應(yīng)單元中的代表性校正值。該校正值被用于校正待提供給液晶面板的像素驅(qū)動信號的電平。
地址檢測電路18還可以檢測地址是否對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合中的一個(gè)，并且輸出指出了檢測結(jié)果的檢測信號。然后，內(nèi)插電路20可以取決于由地址檢測電路18提供的檢測信號，改變其操作。
當(dāng)檢測信號指出地址未對應(yīng)于任何代表性電平組合、并且指出該地址未處于對角線上或其附近時(shí)，內(nèi)插電路20通過內(nèi)插生成校正值。
圖3解釋了內(nèi)插的示例性過程。輸入數(shù)據(jù)信號電平是a0和b0。首先，內(nèi)插電路20接收代表性校正值，該代表性校正值存儲在對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)電平a0和b0的組合的地址周圍的LUT 16的單元中。如圖3所示，信號電平a0處于輸入數(shù)據(jù)中的一個(gè)的代表性電平a1和a2之間。信號電平b0處于輸入數(shù)據(jù)中的另一個(gè)代表性電平b1和b2之間。因此，內(nèi)插電路20接收分別對應(yīng)于代表性電平組合(a1，b1)、(a1，b2)、(a2，b1)和(a2，b2)的代表性校正值D1、D2、D3和D4。
在接收到代表性校正值后，內(nèi)插電路20通過對自LUT 16接收的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成對應(yīng)于輸入信號電平a0和b0的組合的校正值。如圖3所示，由這些代表性電平所包圍的矩形被對應(yīng)于信號電平a0和b0的水平線和垂直線分為四個(gè)矩形。包括點(diǎn)(a1，b1)、(a1，b2)、(a2，b1)和(a2，b2)作為角的矩形區(qū)域分別是S1、S2、S3和S4。對應(yīng)于組合(a0，b0)的校正值D0可使用下式(1)計(jì)算。
D0＝(D4·S1+D3·S2+D2·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4) (1)另一方面，當(dāng)檢測信號指出地址未對應(yīng)于任何代表性電平組合并且該地址處于對角線上或其附近時(shí)，內(nèi)插電路20使用下列過程生成校正值。
首先，內(nèi)插電路20將存儲在相鄰單元對中的一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值。該替換代表性校正值指出了存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量。然后，用于校正待提供給液晶面板的像素驅(qū)動信號電平的校正值通過使用例如，式(1)進(jìn)行內(nèi)插而生成。
因此，內(nèi)插電路20可以在地址處于對角線上或其附近時(shí)生成適當(dāng)?shù)男Ｕ怠?br> 例如，當(dāng)LUT 16存儲了待添加到當(dāng)前幀信號電平中的代表性校正值時(shí)，替換代表性校正值可以是具有同相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值的值。
根據(jù)多種其他的示例性轉(zhuǎn)換電路，輸入數(shù)據(jù)(當(dāng)前幀輸入數(shù)據(jù))和輸出自存儲器12的數(shù)據(jù)(先前幀輸入數(shù)據(jù))可以直接提供給LUT 16。即，地址轉(zhuǎn)換電路14可以被省略，由此LUT直接接收輸入數(shù)據(jù)集。相似地，地址檢測電路18可以直接接收輸入數(shù)據(jù)集，并且通過使用輸入數(shù)據(jù)集的信號電平，而非使用由地址轉(zhuǎn)換電路14生成的地址，執(zhí)行檢測。
下一步，通過參考圖4進(jìn)一步詳細(xì)解釋示例性數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路。
圖4示出了示例性LUT 16，其存儲對應(yīng)于當(dāng)前幀像素信號的代表性電平a0和先前幀像素信號的代表性電平b0的組合的輸出數(shù)據(jù)(代表性校正值)。
示例性LUT 16的最左側(cè)的列示出了輸入數(shù)據(jù)集中的一個(gè)的代表性電平或者當(dāng)前幀像素信號的代表性電平a0。LUT最下側(cè)的行示出了輸入數(shù)據(jù)集中的另一個(gè)的代表性電平或者先前幀的像素信號的代表性電平b0。為了簡化，假設(shè)這些輸入數(shù)據(jù)具有0至32的電平。每4個(gè)電平中的一個(gè)，即，電平0、4、8、...32適于作為代表性電平。
LUT 16的剩余部分，即，從左側(cè)起的第二至第十列和從頂側(cè)起的第一至第九行，示出了對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集代表性值的組合的輸出數(shù)據(jù)。
在LUT 16中示出的輸出數(shù)據(jù)包括待應(yīng)用于輸入數(shù)據(jù)的代表性校正值。具體地，該值將添加到當(dāng)前幀像素信號的電平中，以生成校正信號。
在配置于LUT 16的對角線上的單元中，其中先前幀的信號電平和當(dāng)前幀的信號電平是相同的，存儲了意味著未進(jìn)行校正的0值。在配置于對角線上側(cè)區(qū)域中的單元中存儲了正的值，并且在配置于對角線下側(cè)區(qū)域中的單元中存儲了負(fù)的值。正的值指出了正方向的校正，或者指出了當(dāng)前幀信號的電平應(yīng)增加以生成校正信號。負(fù)的值指出了負(fù)方向的校正，或者指出了當(dāng)前幀信號的電平應(yīng)減少以生成校正信號。
在示例性LUT 16中，使用影線標(biāo)記的沿對角線兩側(cè)對稱配置的單元對中的一個(gè)單元對(從左側(cè)起第五列和從頂側(cè)起第五行中的單元，和從左側(cè)起第六列和從頂側(cè)第六行中的單元)分別存儲值4和-4。該對值具有不同的正負(fù)號和相同的絕對值，其指出了互為相反的校正方向和相同的校正量。
沿對角線兩側(cè)對稱安置的其他單元對中的每一個(gè)(相鄰單元且用陰影表示)存儲具有互為相反的正負(fù)號和不同的絕對值的值。這些校正值對的每一個(gè)指出了互為相反的校正方向和不同的校正量。
將解釋由示例性數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路10執(zhí)行的用于生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的示例性過程。
首先，將考慮其中當(dāng)前幀像素信號電平a0＝19和先前幀信號電平b0＝9的示例性情況。這些信號電平不是代表性電平。而且，對應(yīng)于輸入電平組合的地址未處于對角線上或其附近。因此，內(nèi)插電路20接收存儲在該地址周圍的LUT 16單元中的代表性校正值。然后，內(nèi)插電路通過圖5中解釋的過程生成校正值。
如圖4和5所示，存儲在周圍單元中的代表性校正值分別是D1＝4、D2＝4、D3＝6、D4＝8。然后，內(nèi)插電路20使用下式(2)生成校正值D0。
D0＝(D4·S1+D3·S2+D2·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)＝(8×3+6×9+4×1+4×3)/(3+9+1+3)＝5.9 (2)下一步，將考慮其中當(dāng)前幀像素信號電平a0＝10和先前幀信號電平b0＝10的另一示例性情況。對應(yīng)于該輸入信號電平的組合的地址處于LUT的對角線上。然而，這些信號電平不是代表性電平。因此，內(nèi)插電路20通過針對存儲在對應(yīng)于該信號電平組合的地址周圍的單元中的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成校正值。
現(xiàn)將通過參考圖6解釋傳統(tǒng)的內(nèi)插過程。如圖4和6所示，存儲在周圍單元中的代表性校正值分別是D1＝0、D2＝-5、D3＝2、D4＝0。傳統(tǒng)的內(nèi)插電路使用下式(3)生成校正值D0。
D0＝(D4·S1+D3·S2+D2·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)＝(0×4+2×4+(-5)×4+0×4)/(4+4+4+4)＝-0.8 (3)在該示例中，輸入數(shù)據(jù)集的信號電平是彼此相同的(a0＝b0＝10)。因此，不需要用于改善LCD面板響應(yīng)的校正，或者校正值應(yīng)是0。然而，如式(3)所示，傳統(tǒng)的轉(zhuǎn)換電路生成了不同于0的校正值。這是因?yàn)?，用于?nèi)插的代表性校正值包括具有相反正負(fù)號和不同絕對值的值(D2＝-5和D3＝2)，其存儲在沿對角線兩側(cè)對稱配置的單元對中的一個(gè)單元對中。
換言之，盡管這些值存儲在沿對角線兩側(cè)對稱配置的單元對中，但是由于用于內(nèi)插的代表性校正值對不是對稱的，結(jié)果，通過線性內(nèi)插計(jì)算的校正值不等于0。
另一方面，在根據(jù)本發(fā)明的示例性轉(zhuǎn)換電路10中，通過圖7所示的過程生成校正值D0。
即，地址檢測電路18檢測對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)信號電平a0＝10和b0＝10的組合的地址處于LUT 16的對角線上。然后，內(nèi)插電路20將存儲在沿對角線兩側(cè)對稱配置的單元對中的一個(gè)單元(相鄰單元)對中的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值。該替換代表性校正值指出了同存儲在該相鄰單元對中的該代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量。
在圖7所示的示例中，存儲在相鄰單元對中的代表性校正值是D2＝-5和D3＝2。值-5由值-2替換，其具有同存儲在該相鄰單元對中的該代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值。然后，內(nèi)插電路20使用下式(4)生成校正值D0。
D0＝(D4·S1+D3·S2+(-D3)·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)＝(0×4+2×4+(-2)×4+0×4)/(4+4+4+4)＝0 (4)根據(jù)圖7所示的示例性過程，對應(yīng)于輸入信號電平組合的地址處于LUT 16的對角線上。內(nèi)插電路20將存儲在沿對角線兩側(cè)安置的單元(相鄰單元)對中的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值具有同存儲在該相鄰單元對中的該代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值。結(jié)果，內(nèi)插電路20通過使用替換代表性校正值和三個(gè)其他的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成了D0＝0的適當(dāng)校正值。
因此，可以維持校正數(shù)據(jù)的連續(xù)性，或者校正信號電平的連續(xù)性，并且可以改善顯示質(zhì)量。
當(dāng)對應(yīng)于輸入信號電平組合的地址未處于對角線上而是處于對角線附近時(shí)，可以應(yīng)用相同的過程。即，根據(jù)傳統(tǒng)的轉(zhuǎn)換電路，當(dāng)?shù)刂肪嚯x對角線處于使得該地址周圍的單元包括沿對角線兩側(cè)對稱安置的單元對中的一個(gè)單元(相鄰單元)對的范圍時(shí)，則可能出現(xiàn)喪失校正數(shù)據(jù)連續(xù)性的相同問題。
同樣在該情況中，將存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值具有同存儲在該相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值。然后，使用相同的式(4)，內(nèi)插電路20正確地計(jì)算校正值D0。因此，可以維持輸出數(shù)據(jù)的連續(xù)性，或者校正信號電平的連續(xù)性，并且可以改善顯示質(zhì)量。
即使當(dāng)對應(yīng)于輸入信號電平組合的地址周圍的單元包括相鄰單元對中的一個(gè)相鄰單元對時(shí)，也不必總是替換存儲在該相鄰單元對中的代表性校正值中的一個(gè)。即，僅在存儲在該地址周圍的相鄰單元對中的代表性校正值指出了不同校正量時(shí)，才需要進(jìn)行替換。
因此，可以提供一種檢測電路，使得內(nèi)插電路20僅在該檢測電路檢測到存儲在該地址周圍的相鄰單元對中的代表性校正值指出不同的校正量時(shí)執(zhí)行替換。也可以在該地址周圍的單元包括相鄰單元對中的任何一個(gè)時(shí)替換代表性校正值中的一個(gè)，而不檢驗(yàn)由存儲在該相鄰單元對中的代表性校正值所指出的校正量。后者對于縮短處理時(shí)間是有利的。
在圖7所示的示例性內(nèi)插過程中，代表性校正值D2由替換代表性校正值-D3所替換。還可以將替換代表性校正值D3替換為替換代表性校正值-D2。
在圖4所示的示例性LUT 16中，每四個(gè)輸入數(shù)據(jù)電平中的一個(gè)適于作為代表性輸入電平。然而，可以不同方式選擇代表性電平。
示例性LUT 16可以使用諸如SRAM塊的存儲器塊構(gòu)建。盡管圖4示出了其中示出了輸入數(shù)據(jù)集代表性電平的最左側(cè)的列和最下側(cè)的行，但是在SRAM中僅存儲輸出數(shù)據(jù)或代表性校正值。輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平組合被用作訪問SRAM。
如上文所解釋的，示例性地址轉(zhuǎn)換電路14通過將表示當(dāng)前幀和先前幀的信號電平的兩個(gè)8比特?cái)?shù)據(jù)連接起來，可以生成16比特的地址，并且將生成的地址提供給LUT 16。然而，由于LUT 16僅存儲對應(yīng)于代表性信號電平組合的代表性校正值，因此對于訪問SRAM，不需要表示信號電平的所有比特。
例如，當(dāng)電平0、4、8、12...被用作代表性電平時(shí)，對于訪問SRAM而言，不需要表示每個(gè)信號電平的數(shù)據(jù)的較低的兩個(gè)比特。但是，LUT16可以使用較低的比特確定地址是否對應(yīng)于代表性電平組合中的一個(gè)。示例性地址檢測電路18和內(nèi)插電路20也需要該較低的比特。例如，地址檢測電路18可以使用該較低的比特，用于檢測地址是否對應(yīng)于代表性電平組合中的一個(gè)，或者地址是否位于對角線上或其附近。
在圖4所示的示例性LUT 16中，存儲待添加到當(dāng)前幀輸入信號電平的代表性校正值。在該情況中，盡管在圖1中沒有示出，但是由內(nèi)插電路20生成的校正值可以添加到當(dāng)前幀信號電平中，以生成校正像素驅(qū)動信號。該校正像素驅(qū)動信號可以轉(zhuǎn)換為模擬像素驅(qū)動信號，并且提供給液晶顯示面板的驅(qū)動器。
還可以提供這樣的LUT，其存儲經(jīng)過校正的信號或經(jīng)過轉(zhuǎn)換的信號的電平作為代表性校正值。
圖8示出了示例性LUT 26，其存儲對應(yīng)于當(dāng)前幀輸入信號代表性電平a0和先前幀輸入信號代表性電平b0的組合的校正信號電平，作為代表性校正值。存儲在LUT 26的每個(gè)單元中的代表性校正值等于當(dāng)前幀輸入信號電平a0與存儲在圖4所示LUT 16的對應(yīng)單元中的代表性校正值的和。
在配置于LUT 26對角線上的單元中，存儲了等于對應(yīng)的當(dāng)前幀信號代表性電平a0的值，其意味著未進(jìn)行校正。在配置于對角線上側(cè)區(qū)域中的單元中，存儲了大于對應(yīng)的當(dāng)前幀信號代表性電平a0的值，其意味著進(jìn)行朝向正方向的校正。在配置于對角線下側(cè)區(qū)域中的單元中，存儲了小于對應(yīng)的當(dāng)前幀信號代表性電平a0的值，其意味著進(jìn)行朝向負(fù)方向的校正。
在示例性LUT 26中，由影線標(biāo)記的沿對角線兩側(cè)對稱配置的單元對中的一個(gè)單元對分別存儲值20和8。從左側(cè)起第五列和從頂側(cè)起第五行中的單元中存儲的值20比對應(yīng)的當(dāng)前幀輸入信號電平a0(a0＝16)大4。從左側(cè)起第六列和從頂側(cè)起第六行中的單元中存儲的值8比對應(yīng)的當(dāng)前幀輸入信號電平a0(a0＝12)小4。該代表性校正值對指出了互為相反的校正方向和相同的校正量。
陰影部分的沿對角線兩側(cè)對稱配置的其他單元對中的每一個(gè)存儲指出了互為相反的校正方向和不同的校正量的值。例如，從左側(cè)起第四列和從頂側(cè)起第六行中的單元中存儲的值14比對應(yīng)的當(dāng)前幀輸入信號電平a0(a0＝12)大2。該值指出了具有量2的朝向正方向的校正。另一方面，從左側(cè)起第五列和從頂側(cè)起第七行中的單元中存儲的值3比對應(yīng)的當(dāng)前幀輸入信號電平(a0＝8)小5。該值指出了具有量5的朝向負(fù)方向的校正。
當(dāng)LUT 16由LUT 26替換時(shí)，相似地，內(nèi)插電路20可以執(zhí)行內(nèi)插。特別地，當(dāng)對應(yīng)于輸入信號電平組合的地址周圍的單元包括沿對角線兩側(cè)配置的單元對中的一個(gè)單元(相鄰單元)對時(shí)，替換存儲在該相鄰單元對中的代表性校正值中的一個(gè)，并且然后使用替換代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插。
將通過參考圖9解釋使用圖8所示的LUT 26的示例性內(nèi)插過程。例如，當(dāng)輸入數(shù)據(jù)的電平是a0＝10和b0＝10時(shí)，周圍單元包括相鄰單元對中的一個(gè)相鄰單元對，即，從左側(cè)起第四列和上其第六行中的單元和從左側(cè)起第五列和從頂側(cè)起第七行中的單元。在該情況中，內(nèi)插電路20可以將存儲在相鄰單元對中的代表性校正值(14和3)中的一個(gè)替換為替換代表性校正值。
例如，代表性校正值3可替換為值6，其指出了與由該代表性校正值中另一個(gè)所指出的朝向相反方向具有相同量(2)的校正。即，替換代表性校正值(6)同對應(yīng)的當(dāng)前幀輸入數(shù)據(jù)代表性電平(a1＝8)之間的差是-2，其指出了具有量2的朝向負(fù)方向的校正。當(dāng)存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)(14)同對應(yīng)的當(dāng)前幀輸入數(shù)據(jù)代表性電平(a2＝12)之間的差是2，其指出了具有校正量2的朝向正方向的校正。這兩個(gè)差具有相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
這樣，內(nèi)插電路20使用下式(5)生成了校正值D0。
D0＝(D4·S1+D3·S2+(a1-(D3-a2))·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)＝(12×4+14×4+(8-2)×4+8×4)/(4+4+4+4)＝10 (5)
因此，內(nèi)插電路20生成了適當(dāng)?shù)男Ｕ?0，其等于當(dāng)前幀輸入信號的電平。
如在圖8中可以看到的，示例性LUT 26中存儲的代表性校正值包括某些負(fù)值。當(dāng)液晶顯示面板的驅(qū)動器不能接受負(fù)的像素驅(qū)動信號時(shí)，校正信號可以通過限制器提供給驅(qū)動器。
可替換地，例如，如美國專利6,853,384的圖10中描述的，LUT 26中存儲的校正值可以是移位了固定的量，由此任何校正值均不會采用負(fù)值。在該情況中，配置在對角線上的單元中存儲的代表性校正值比對應(yīng)的當(dāng)前幀信號電平大移位量。盡管如此，對角線上的單元中存儲的校正值指出了未進(jìn)行用于改善液晶面板的響應(yīng)的轉(zhuǎn)換或校正。換言之，排除了固定移位的LUT中存儲的代表性校正值指出了校正方向和校正量。
在上文描述的示例性實(shí)施例中，使用了二維LUT 16或26，并且使用式(1)、(2)、(4)和(5)通過線性內(nèi)插計(jì)算了校正值。然而，可以使用多種其他的內(nèi)插式。在上文描述的示例性實(shí)施例中，對于每個(gè)輸入數(shù)據(jù)，內(nèi)插電路由對應(yīng)于與輸入信號電平相鄰的兩個(gè)代表性電平的組合的四個(gè)代表性校正值，生成了校正值。然而，對于每個(gè)輸入數(shù)據(jù)，內(nèi)插電路可以使用對應(yīng)于多于兩個(gè)代表性值的組合的代表性值，執(zhí)行內(nèi)插。
還可以使用三維LUT，其存儲了對應(yīng)于三個(gè)輸入數(shù)據(jù)的代表性輸入電平組合的代表性校正值。例如，該三維LUT可以存儲對應(yīng)于三個(gè)連續(xù)幀的代表性信號電平的代表性校正值，或者可以存儲對應(yīng)于三個(gè)原色信號的代表性電平的代表性校正值。
當(dāng)使用三維LUT時(shí)，可以基于代表性校正值和由對應(yīng)于輸入信號電平的表面所劃分的長方體的體積執(zhí)行內(nèi)插。
至此，參考優(yōu)先實(shí)施例，詳細(xì)解釋了示例性數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法。然而，本發(fā)明不限于上述特定的實(shí)施例。在本發(fā)明的精神下，可以進(jìn)行多種改進(jìn)和修改。
權(quán)利要求
1.一種用于由輸入數(shù)據(jù)集生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集包括選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平，該轉(zhuǎn)換電路包括查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平的組合，該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對，每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置；和內(nèi)插電路，其通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)，其中存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正；存儲于相鄰單元對中至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值具有互為相反的正負(fù)號和不同的絕對值；和當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，內(nèi)插電路將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值具有同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值，并且然后使用該替換代表性校正值生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
2.權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，進(jìn)一步包括地址檢測電路，其檢測該地址距離LUT對角線是否處于使得該地址周圍的單元包括相鄰單元對中一個(gè)相鄰單元對的范圍，其中在地址檢測電路檢測到地址處于該范圍中時(shí)，內(nèi)插電路替換代表性校正值中的一個(gè)。
3.權(quán)利要求1或2的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，進(jìn)一步包括地址轉(zhuǎn)換電路，其由輸入數(shù)據(jù)集的信號電平生成地址。
4.權(quán)利要求1～3的任何一個(gè)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，其中LUT是二維LUT；并且內(nèi)插電路通過針對對應(yīng)于同每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集的信號電平相鄰的代表性電平中的兩個(gè)的組合的四個(gè)代表性校正值進(jìn)行線性內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
5.一種用于由輸入數(shù)據(jù)集生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集包括選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平，該轉(zhuǎn)換電路包括查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值指出了對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平組合的校正方向和校正量，該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對，每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置；和內(nèi)插電路，其通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)；其中存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正；存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量；并且當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，內(nèi)插電路將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且然后使用該替換代表性校正值生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
6.權(quán)利要求5的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，其中存儲在對角單元中的代表性校正值是0；并且替換代表性校正值和存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
7.權(quán)利要求5的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，其中存儲在對角單元中的代表性校正值等于輸入數(shù)據(jù)集中的一個(gè)的代表性電平中各自對應(yīng)的代表性電平；并且替換代表性校正值同輸入數(shù)據(jù)集中的該一個(gè)的代表性電平中的第一對應(yīng)代表性電平之間的第一差值、與存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)代表性校正值同輸入數(shù)據(jù)集中的該一個(gè)的代表性電平中的第二對應(yīng)代表性電平之間的第二差值、具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
8.權(quán)利要求5～7的任何一個(gè)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，進(jìn)一步包括地址檢測電路，其檢測該地址距離LUT對角線是否處于使得該地址周圍的單元包括相鄰單元對中一個(gè)相鄰單元對的范圍，其中在地址檢測電路檢測到地址處于該范圍中時(shí)，內(nèi)插電路替換代表性校正值中的一個(gè)。
9.一種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，包括輸入終端，用于接收當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)，該輸入數(shù)據(jù)具有選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平；存儲器，用于存儲當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)，并且用于輸出先前輸入數(shù)據(jù)；查找表(LUT)，其將代表性校正值存儲在二維配置的單元中，該代表性校正值指出了對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合的校正方向和校正量，該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對，每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置；和內(nèi)插電路，其通過針對對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成了對應(yīng)于該當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的校正值；其中存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正；存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量；并且當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，內(nèi)插電路將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且然后使用該替換代表性校正值生成校正值。
10.權(quán)利要求9的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，其中存儲在對角單元中的代表性校正值是0；并且替換代表性校正值和存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
11.權(quán)利要求9的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，其中存儲在對角單元中的代表性校正值等于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)代表性電平中各自對應(yīng)的代表性電平；并且替換代表性校正值同當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)代表性電平中的第一對應(yīng)代表性電平之間的第一差值、與存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中另一個(gè)代表性校正值同當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)代表性電平中的第二對應(yīng)代表性電平之間的第二差值、具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
12.權(quán)利要求9～11的任何一個(gè)的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，進(jìn)一步包括地址檢測電路，其檢測該地址距離LUT對角線是否處于使得該地址周圍的單元包括相鄰單元對中一個(gè)相鄰單元對的范圍，其中在地址檢測電路檢測到地址處于該范圍中時(shí)，內(nèi)插電路替換代表性校正值中的一個(gè)。
13.一種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，包括接收輸入數(shù)據(jù)集，每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集包括選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平；提供查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平的組合，該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對，每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置；和通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)；其中存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正；存儲于相鄰單元對中至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值具有互為相反的正負(fù)號和不同的絕對值；而且生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)包括當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值具有同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)相反的正負(fù)號和相同的絕對值，并且使用該替換代表性校正值執(zhí)行內(nèi)插。
14.權(quán)利要求13的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中LUT是二維LUT；并且生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)包括通過針對對應(yīng)于同每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集的信號電平相鄰的代表性電平中的兩個(gè)的組合的四個(gè)代表性校正值執(zhí)行線性內(nèi)插。
15.一種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，包括接收輸入數(shù)據(jù)集，每個(gè)輸入數(shù)據(jù)集包括選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平；提供查找表(LUT)，其將輸出數(shù)據(jù)存儲在二維或三維配置的單元中，該輸出數(shù)據(jù)包括代表性校正值，該代表性校正值指出了對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集的代表性電平組合的校正方向和校正量，該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對，每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置；和通過針對對應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)集信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)；其中存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正；存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量；而且，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)包括當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且使用該替換代表性校正值執(zhí)行內(nèi)插。
16.權(quán)利要求15的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中存儲在對角單元中的代表性校正值是0；并且替換代表性校正值和存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
17.權(quán)利要求15的方法，其中存儲在對角單元中的代表性校正值等于輸入數(shù)據(jù)集中的一個(gè)的代表性電平中各自對應(yīng)的代表性電平；并且替換代表性校正值同輸入數(shù)據(jù)集中的該一個(gè)的代表性電平中的第一對應(yīng)代表性電平之間的第一差值、與存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)代表性校正值同輸入數(shù)據(jù)集中的該一個(gè)的代表性電平中的第二對應(yīng)代表性電平之間的第二差值、具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
18.一種數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，包括接收當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)，其具有選自包括代表性電平的多個(gè)可允許電平的信號電平；將當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)存儲在存儲器中并由存儲器輸出先前輸入數(shù)據(jù)；提供查找表(LUT)，其將代表性校正值存儲在二維配置的單元中，該代表性校正值指出了對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的代表性電平組合的校正方向和校正量，該單元包括配置在LUT對角線上的對角單元和多個(gè)相鄰單元對，每個(gè)相鄰單元對沿對角線兩側(cè)對稱配置；和通過針對對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成了對應(yīng)于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)和先前輸入數(shù)據(jù)的信號電平組合的校正值；其中存儲于對角單元中的代表性校正值指出了未進(jìn)行校正；存儲于相鄰單元對中的至少一個(gè)相鄰單元對中的代表性校正值指出了互為相反的校正方向和不同的校正量；而且生成校正數(shù)據(jù)包括當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄏ噜弳卧獙χ械脑撝辽僖粋€(gè)相鄰單元對時(shí)，將該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同該相鄰單元對中存儲的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且然后使用該替換代表性校正值執(zhí)行內(nèi)插。
19.權(quán)利要求18的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中存儲在對角單元中的代表性校正值是0；并且替換代表性校正值和存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
20.權(quán)利要求18的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其中存儲在對角單元中的代表性校正值等于當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)代表性電平中各自對應(yīng)的代表性電平；并且替換代表性校正值同當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)代表性電平中的第一對應(yīng)代表性電平之間的第一差值、與存儲在相鄰單元對中的代表性校正值中另一個(gè)代表性校正值同當(dāng)前輸入數(shù)據(jù)代表性電平中的第二對應(yīng)代表性電平之間的第二差值、具有互為相反的正負(fù)號和相同的絕對值。
全文摘要
所要解決的問題是，提供了數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換方法，其能夠保持轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的連續(xù)性，同時(shí)減少所需的存儲容量。用于解決問題的手段是，示例性轉(zhuǎn)換電路，包括LUT，其存儲代表性校正值；和內(nèi)插電路，其通過針對對應(yīng)于輸入信號電平組合的地址周圍的LUT單元中存儲的代表性校正值進(jìn)行內(nèi)插，生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。當(dāng)?shù)刂分車膯卧ㄑ豅UT的對角線兩側(cè)配置的相鄰單元對時(shí)，內(nèi)插電路將代表性校正值中的一個(gè)替換為替換代表性校正值，該替換代表性校正值指出了同存儲在該相鄰單元對中的代表性校正值中的另一個(gè)所指出的相反的校正方向和相同的校正量，并且然后生成轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)。
文檔編號G02F1/133GK1741121SQ20051009654
公開日2006年3月1日 申請日期2005年8月24日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月24日
發(fā)明者溝口裕二 申請人:川崎微電子股份有限公司