電路裝置、電光學(xué)裝置以及電子設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種電路裝置、電光學(xué)裝置以及電子設(shè)備。驅(qū)動器包括：電源電路，其具有第一至第n升壓電路；電路，其根據(jù)從電源電路被供給的電源而進行動作；異常檢測電路。異常檢測電路對根據(jù)第i升壓電路的升壓動作而生成的第i升壓電壓的異常進行檢測。第j升壓電路在第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，實施與通常的升壓動作相比電流供給能力較低的低能力升壓動作或者停止升壓動作。
【專利說明】
電路裝置、電光學(xué)裝置以及電子設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種電路裝置、電光學(xué)裝置以及電子設(shè)備等。
【背景技術(shù)】
[0002]在對顯示面板進行驅(qū)動的顯示驅(qū)動器中，由于需要例如源極驅(qū)動放大器的電源與柵極驅(qū)動放大器的電源、灰度電壓生成電路的電源、顯示面板的共同電壓等多種電壓，因此內(nèi)置了生成這些所需的電壓的電源電路。例如，在專利文獻1、2中公開了一種如下的顯示驅(qū)動器，所述顯示驅(qū)動器包括具有多個升壓電路(一次升壓電路至四次升壓電路)的電源電路、和被供給通過電源電路的升壓電路的升壓動作而生成的電源從而進行動作的源極驅(qū)動器與柵極驅(qū)動器。
[0003]在以此方式通過升壓動作而生成驅(qū)動用的電源的顯示驅(qū)動器中，因噪音或寄存器值的數(shù)據(jù)亂碼等原因，升壓電路的寄生雙極等中會流動有大電流，并發(fā)生所謂的電源適配不良，從而無法使升壓電路的升壓動作恢復(fù)至正常的狀態(tài)。
[0004]在面向便攜設(shè)備的顯示驅(qū)動器中發(fā)生了這樣的電源適配不良的情況下，通過用戶將便攜設(shè)備的電源開關(guān)斷開等，從而能夠消除該電源適配不良，而恢復(fù)至正常狀態(tài)。然而，在面向車載的顯示驅(qū)動器中，由于如果不實施例如關(guān)閉發(fā)動機等動作，則無法斷開向顯示驅(qū)動器供給的電源，因此難以實現(xiàn)從電源適配不良的恢復(fù)。
[0005]專利文獻I:日本特開2007-212897號公報
[0006]專利文獻2:日本特開2010-145738號公報

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]根據(jù)本發(fā)明的幾個方式，可提供一種能夠?qū)ι龎弘娐匪傻纳龎弘妷旱漠惓＿M行檢測，并使升壓電路的升壓動作恢復(fù)至正常狀態(tài)的電路裝置、電光學(xué)裝置以及電子設(shè)備等。
[0008]本發(fā)明的一個方式涉及一種電路裝置，所述電路裝置包括:電源電路，其具有第一至第η升壓電路，其中，η為η 2 2的整數(shù)；電路，其根據(jù)從所述電源電路被供給的電源而進行動作;異常檢測電路，所述異常檢測電路對第i升壓電壓的異常進行檢測，所述第i升壓電壓為根據(jù)所述第一至第η升壓電路中的第i升壓電路的升壓動作而生成的電壓，其中，i為I SiSn的整數(shù)，所述第一至第η升壓電路中的第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，實施與通常的升壓動作相比電流供給能力較低的低能力升壓動作或者停止升壓動作，其中，j為I < j 且j在i的整數(shù)。
[0009]根據(jù)本發(fā)明的一個方式，通過異常檢測電路對第i升壓電壓的異常進行檢測，從而電路裝置能夠?qū)ι龎弘妷旱漠惓＿M行自我檢測。而且，在第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，通過使與第i升壓電路不同的第j升壓電路實施低能力升壓動作或者停止升壓動作，從而能夠使第i升壓電壓恢復(fù)至正常的電壓，并且能夠使升壓電路的升壓動作恢復(fù)至正常狀態(tài)。
[0010]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的期間內(nèi)，實施所述低能力升壓動作或者停止升壓動作，并在所述第i升壓電壓的異常不再被檢測出的情況下，再開始進行所述通常的升壓動作。
[0011]由于如果第i升壓電壓恢復(fù)至正常則異常便成為不再被檢測出的狀態(tài)，因此能夠以此作為觸發(fā)而使第j升壓電路再開始進行通常的升壓動作，并能夠使升壓電路的動作與升壓電壓恢復(fù)至通常的狀態(tài)。以此方式，電路裝置能夠從電源異常中進行自我恢復(fù)。
[0012]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第i升壓電壓為電路裝置的基板電壓，所述異常檢測電路對所述基板電壓的異常進行檢測。
[0013]例如，由于在基板為P型的情況下基板電壓為最低電壓，因此在電源異常中寄生雙極中流動的電流最終流入至基板的可能性較高。由于此時基板電壓上升，因此能夠通過對該上升進行檢測從而對基板電壓的異常進行檢測。
[0014]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第j升壓電路為，所述第一至第η升壓電路中電流供給能力最高的升壓電路。
[0015]雖然電源適配不良為寄生雙極的導(dǎo)通狀態(tài)被維持的狀態(tài)，但是僅對該導(dǎo)通狀態(tài)進行維持的電流必須被供給至寄生雙極。因此，對于具有對寄生雙極的導(dǎo)通狀態(tài)進行維持的較高的電流供給能力的升壓電路而言，只要將其升壓動作設(shè)為低能力或者停止其升壓動作即可。
[0016]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第i升壓電壓為根據(jù)第j升壓電壓而生成的電壓，所述第j升壓電壓為根據(jù)所述第j升壓電路的升壓動作而生成的電壓。
[0017]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，實施所述低能力升壓動作，并在所述第i升壓電壓的異常不再被檢測出的情況下，再開始進行所述通常的升壓動作。
[0018]通過在第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下使第j升壓電路實施低能力升壓動作，從而能夠生成第j升壓電壓。在根據(jù)第j升壓電壓而成生第i升壓電壓的情況下，能夠通過生成第j升壓電壓從而生成第i升壓電壓，由此能夠從電源異常中進行自我恢復(fù)。
[0019]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第i升壓電壓為根據(jù)第k升壓電壓而生成的電壓，所述第k升壓電壓為根據(jù)所述第一至第η升壓電路中的第k升壓電路的升壓動作而生成的電壓，其中，k為I 且k在i，j的整數(shù)，所述第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，停止升壓動作。
[0020]在根據(jù)與第j升壓電壓不同的第k升壓電壓而生成第i升壓電壓的情況下，即使停止第j升壓電路的升壓動作，第i升壓電壓也能夠進行自我恢復(fù)。另外，即使在這種情況下，在第i升壓電壓的異常被檢測出時，第j升壓電路也可以實施低能力升壓動作。
[0021]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述電路為根據(jù)第j升壓電壓而對顯示面板進行驅(qū)動的驅(qū)動電路，其中，所述第j升壓電壓為根據(jù)所述第j升壓電路的升壓動作而生成的電壓。
[0022]由于顯示面板的驅(qū)動需要較大的消耗電流，因此第j升壓電壓具有較大的電流供給能力。通過使能夠成為這種針對寄生雙極的電流供給源的第j升壓電路實施低能力升壓動作或者停止升壓動作，從而能夠從電源異常中進行恢復(fù)。
[0023]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第j升壓電路具有通常升壓動作用的升壓晶體管和軟啟動用的升壓晶體管，在所述低能力升壓動作中，所述第j升壓電路通過所述軟啟動用的升壓晶體管來實施升壓動作。
[0024]軟啟動動作為，為了對沖擊電流進行抑制而使電流供給能力降低的升壓動作。因此，能夠在第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，通過使第j升壓電路利用軟啟動用的升壓晶體管來實施升壓動作，從而實施低能力升壓動作。
[0025]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述第j升壓電路包括串聯(lián)連接的第一至第四晶體管、與所述第一至第四晶體管中的第三、第四晶體管并聯(lián)連接的第五、第六晶體管，在所述通常的升壓動作中，所述第j升壓電路通過對所述第一至第四晶體管進行導(dǎo)通與斷開從而實施升壓動作，在所述低能力升壓動作中，所述第j升壓電路將所述第三、第四晶體管設(shè)為斷開，并使用所述第一、第二晶體管和所述第五、第六晶體管來實施升壓動作的軟啟動。
[0026]采用這種方式，從而能夠通過第三、第四晶體管來構(gòu)成通常升壓動作用的升壓晶體管，并能夠利用第五、第六晶體管來構(gòu)成軟啟動用的升壓晶體管。
[0027]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述異常檢測電路在所述第i升壓電壓超過了檢測電壓的情況下，檢測出所述第i升壓電壓為異常。
[0028]通過對第i升壓電壓超過了檢測電壓的情況進行檢測，從而能夠?qū)σ螂娫串惓６沟趇升壓電壓上升了的情況進行檢測。例如，在第i升壓電壓為基板電壓的情況下，能夠?qū)υ摶咫妷荷仙说那闆r進行檢測。
[0029]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述檢測電壓具有遲滯特性。
[0030]由于檢測電壓具有遲滯特性，因此在第i升壓電壓處于檢測電壓附近的情況下，能夠?qū)Ξ惓z測的結(jié)果反復(fù)進行正常與異常的反轉(zhuǎn)的情況進行抑制。
[0031]此外，在本發(fā)明的一個方式中，也可以為，所述異常檢測電路具有被設(shè)置在第一電源電壓的節(jié)點與所述第i升壓電壓的節(jié)點之間、且基于第二電源電壓的輸入電壓被輸入至柵極的檢測晶體管，其中，所述第一電源電壓為，高電位側(cè)電源電壓以及低電位側(cè)電源電壓中的一方，所述第二電源電壓為，所述高電位側(cè)電源電壓以及所述低電位側(cè)電源電壓中的另一方，所述異常檢測電路根據(jù)所述檢測晶體管的源極以及漏極中的一方的電壓變化而對所述第i升壓電壓的異常進行檢測。
[0032]通過在并非升壓電壓的第一電源電壓的節(jié)點與第i升壓電壓的節(jié)點之間設(shè)置檢測晶體管TDET，并向柵極輸入基于并非升壓電壓的第二電源電壓的輸入輸入電壓VNBl，從而能夠在升壓電壓的異常時，正確地對第i升壓電壓的異常進行檢測。
[0033]此外，本發(fā)明的其他方式涉及一種電光學(xué)裝置，所述電光學(xué)裝置包括:上述任意方式所述的電路裝置;顯示面板，所述電路為，根據(jù)從所述電源電路被供給的所述電源而對所述顯示面板進行驅(qū)動的驅(qū)動電路。
[0034]此外，本發(fā)明的其他方式涉及一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括上述任意方式所述的電路裝置。
【附圖說明】
[0035]圖1為驅(qū)動器的第一結(jié)構(gòu)例。
[0036]圖2(A)為驅(qū)動器的第二結(jié)構(gòu)例。圖2(B)為驅(qū)動器的第二結(jié)構(gòu)例的時序圖。
[0037]圖3(A)為驅(qū)動器的第三結(jié)構(gòu)例。圖3(B)為驅(qū)動器的第三結(jié)構(gòu)例的時序圖。
[0038]圖4為第j升壓電路的結(jié)構(gòu)例。
[0039]圖5(A)為驅(qū)動器的第四結(jié)構(gòu)例。圖5(B)為驅(qū)動器的第五結(jié)構(gòu)例。
[0040]圖6為驅(qū)動器的改變例。
[0041]圖7為異常檢測電路的第一詳細(xì)結(jié)構(gòu)例。
[0042]圖8為異常檢測電路的動作說明圖。
[0043]圖9為異常檢測電路的第二詳細(xì)結(jié)構(gòu)例。
[0044]圖10為電源電路的詳細(xì)結(jié)構(gòu)例。
[0045]圖11為應(yīng)用了電源電路的驅(qū)動器的結(jié)構(gòu)例。
[0046]圖12為電源電路的啟動順序。
[0047]圖13為電光學(xué)裝置、電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)例。
【具體實施方式】
[0048]下面，對本發(fā)明的優(yōu)選實施方式進行詳細(xì)說明。另外，以下所說明的本實施方式并非對權(quán)利要求書中所記載的本發(fā)明的內(nèi)容進行不當(dāng)限定，本實施方式中所說明的所有結(jié)構(gòu)不一定是作為本發(fā)明的解決方法所必須的。例如，雖然在下文中以電路裝置為驅(qū)動器的情況為示例進行了說明，但是如果為包括具有升壓電路的電源電路在內(nèi)的電路裝置，則能夠應(yīng)用本發(fā)明。
[0049]1.第一結(jié)構(gòu)例
[0050]如上文所述，對顯示面板進行驅(qū)動的驅(qū)動器通過電源電路來生成多個電壓，并通過該多個電壓而使源極驅(qū)動器等的電路進行動作。例如，如在圖10和圖11中后文所述那樣，驅(qū)動器100的電源電路110利用從系統(tǒng)電源210供給的系統(tǒng)電源電壓VDD、VSS而生成源極驅(qū)動器120的電源電壓VDDHSP、VDDHSN和共同電壓VCOM等。
[0051]雖然這些電壓在各個電路內(nèi)被供給至晶體管的各個節(jié)點或基板(S卩，P型、N型的擴散層等)，但是只要各個電壓維持預(yù)定的大小關(guān)系，則基板內(nèi)的PN結(jié)就會被施加反向電壓，因此寄生雙極不會導(dǎo)通。然而，存在如下情況，即，當(dāng)電壓的大小關(guān)系因某些主要原因而瓦解時，寄生雙極導(dǎo)通，并且在電源電路所生成的電壓之間產(chǎn)生電流路徑。而且，如果這種電流路徑被維持，則被提取該電流側(cè)的電壓降低，而流入有該電流側(cè)的電壓則上升，因此陷入了電源電路所生成的電壓并非預(yù)定的電壓的狀態(tài)。
[0052]作為使寄生雙極導(dǎo)通的主要原因，能夠假想到例如噪音或寄存器值的數(shù)據(jù)亂碼等。例如，在車載用途的情況下，存在由于具有發(fā)動機等的噪音發(fā)生源，因此處于噪音非常多的環(huán)境中。在驅(qū)動器的電源電路所生成的電壓中載有這樣的噪音的情況下，可認(rèn)為該噪音使寄生雙極導(dǎo)通，從而引起電源適配不良。此外，在由于噪音等而引起寄存器值的數(shù)據(jù)亂碼的情況下，則存在如下可能性，即，成為在通常的使用狀況下不會發(fā)生的這種電源電路的設(shè)定，且PN結(jié)成為正向電壓。例如，在將驅(qū)動器的電源導(dǎo)通時，對電源電路所生成的各個電壓進行保持的電容器的電荷被接地短路并進行放電。如果在驅(qū)動器實施通常的動作時，指示放電的寄存器值發(fā)生數(shù)據(jù)亂碼，則電源電路所生成的電壓中的一部分將接地短路。如果這樣，則有可能存在電壓的大小關(guān)系瓦解從而引起電源適配不良。
[0053]在圖1中，圖示了能夠?qū)ι鲜龅倪@種電源的異常進行檢測，并自我恢復(fù)至正常狀態(tài)的驅(qū)動器的第一結(jié)構(gòu)例。
[0054]圖1的驅(qū)動器100包括具有第一至第η升壓電路BCl?BCn(n為n2 2的整數(shù))的電源電路110、根據(jù)從電源電路110被供給的電源而進行動作的驅(qū)動電路120(廣義而言為電路)和異常檢測電路130。
[0055]而且，異常檢測電路130對根據(jù)第i升壓電路BCi(i為I< i Sn的整數(shù))的升壓動作而生產(chǎn)的第i升壓電壓VBi的異常進行檢測。第j升壓電路BCj(j為I < j Sn且j在i的整數(shù))在第i升壓電壓VBi的異常被檢測出來的情況下，實施與通常的升壓動作相比使電流供給能力較低的低能力升壓動作或者停止升壓動作。
[0056]具體而言，電源電路110根據(jù)第一至第η升壓電路BCl?BCn所生成的第一至第η升壓電壓VBl?VBn而生成多個電源。例如，電源電路110還可以進一步包括對第一至第η升壓電路BCl?BCn所生成的升壓電壓VBl?VBn進行調(diào)節(jié)的多個調(diào)節(jié)器。而且，將該多個調(diào)節(jié)器的輸出或者第一至第η升壓電壓作為電源而輸出。
[0057]第一至第η升壓電路BCl?BCn的各個升壓電路為，例如實施由開關(guān)電容器動作實現(xiàn)的升壓動作的電荷栗電路?；蛘?，也可以為實施由電感器的PWM驅(qū)動實現(xiàn)的升壓動作的開關(guān)調(diào)節(jié)器。各個升壓電路生成從驅(qū)動器100的外部被供給的系統(tǒng)電壓、或者生成自我以外的升壓電路所生成的升壓電壓、或者使調(diào)節(jié)器的輸出升壓從而生成升壓電壓。在此，“升壓”不僅包括從正(或者負(fù))的輸入電壓生成相同符號的正(或者負(fù))的升壓電壓的情況，而且還包括從正(或者負(fù))的輸入電壓生成相反符號的負(fù)(或者正)的升壓電壓的情況。
[0058]異常檢測電路130對第i升壓電壓VBi成為非正常(異常)的電壓的情況進行檢測，并將其檢測信號SDT向第j升壓電路BCj輸入。例如，可認(rèn)為在正常狀態(tài)下第i升壓電壓VBi處于預(yù)定的電壓范圍內(nèi)，因此將成為預(yù)定的電壓范圍外(例如如后文所述那樣大于等于預(yù)定的電壓)的情況作為非正常狀態(tài)(異常狀態(tài))而進行檢測。第j升壓電路BCj接受到檢測信號SDT變?yōu)榧せ钸@一情況，從而實施低能力升壓動作或者停止升壓動作。
[0059]低能力升壓動作為，縮小了相對于負(fù)載的電流供給能力的升壓動作。即，當(dāng)將升壓電路的能夠?qū)⑸龎弘妷壕S持為規(guī)定的電壓的輸出電流的最大值設(shè)為電流供給能力時，在低能力升壓動作中無法通過與通常的升壓動作相比而較小的輸出電流來將升壓電壓維持為規(guī)定的電壓。例如，在電荷栗電路的情況下，能夠通過改變開關(guān)電容器的開關(guān)元件的尺寸(導(dǎo)通電阻)，從而改變電流供給能力。例如，能夠通過由圖4的軟啟動用的晶體管實施的升壓動作來實現(xiàn)低能力升壓動作。另外，通常的升壓動作是指，升壓電路所具有的本來的電流供給能力下的動作，例如為在圖4的升壓電路中由通常升壓動作用的晶體管所實施的升壓動作。
[0060]升壓動作的停止為，升壓電路不實施升壓動作的狀態(tài)，例如為電荷栗電路或開關(guān)調(diào)節(jié)器停止了開關(guān)動作的狀態(tài)。在該狀態(tài)下，停止于在開關(guān)動作中被反復(fù)操作的多個相中的任意相，或者升壓電路的輸出被設(shè)定為高阻抗?fàn)顟B(tài)。
[0061]如上文所述，通過異常檢測電路130對第i升壓電壓VBi的異常進行檢測，從而驅(qū)動器100能夠?qū)ι龎弘妷旱漠惓＿M行自我檢測。而且，在通過異常檢測電路130而檢測出第i升壓電壓VBi的異常的情況下，通過使第j升壓電路BCj實施低能力升壓動作或者停止升壓動作，從而能夠使升壓電壓恢復(fù)至正常狀態(tài)。
[0062]S卩，由于電流經(jīng)由驅(qū)動器100的基板內(nèi)的寄生雙極而在電源電路110所生成的電源之間流動，從而產(chǎn)生了電源適配不良。由于電源電路110基于升壓電壓而成生電源電壓，因此向寄生雙極流動的電流的供給源為升壓電路。對于寄生雙極而言，只要被供給有足夠的電流，則寄生雙極的導(dǎo)通狀態(tài)就將被維持。因此，通過使成為該電流的供給源的升壓電路實施低能力升壓動作或者停止升壓動作，從而能夠使寄生雙極的導(dǎo)通狀態(tài)被解除，由此能夠解除電源適配不良。
[0063]2.第二、第三結(jié)構(gòu)例
[0064]在圖2(A)、圖3(A)中示出了驅(qū)動器100的第二、第三結(jié)構(gòu)例。另外，在圖2(A)、圖3(A)中省略了升壓電路的一部分和驅(qū)動電路120的圖示。此外，在圖2(A)、圖3(A)中示出了第二、第三結(jié)構(gòu)例的時序圖。
[0065]如圖2(B)、圖3(B)所示，第j升壓電路BCj在第i升壓電壓VBi的異常被檢測出的期間內(nèi)，實施低能力升壓動作或者停止升壓動作，在第i升壓電壓VBi的異常的不再被檢測出的情況下，則再開始進行通常的升壓動作。
[0066]在圖2(B)、圖3(B)的示例中，第i升壓電壓VBi的異常被檢測出的期間為檢測信號SDT成為高電平(激活)的期間，第i升壓電壓VBi的異常不再被檢測出的情況為檢測信號SDT從高電平變?yōu)榈碗娖?非激活)的情況。
[0067]如上文所述，在本實施方式中，通過使第j升壓電路BCj實施低能力升壓動作或者停止升壓動作，從而能夠使第i升壓電壓恢復(fù)至正常狀態(tài)。由于如果第i升壓電壓恢復(fù)至正常狀態(tài)則成為異常的不再被檢測出的狀態(tài)，因此以此為觸發(fā)從而能夠再開始進行第j升壓電路BCj的通常的升壓動作，并能夠使升壓電路的動作與升壓電壓恢復(fù)至通常的狀態(tài)。該恢復(fù)動作在驅(qū)動器100內(nèi)完成，并且無需進行由用戶實施的電源開關(guān)的斷開等操作。由于存在如下情況，即例如在車載用途中即使驅(qū)動器100的電源產(chǎn)生了異常也難以停車并關(guān)閉發(fā)動機，因此希望能夠從電源異常中自我恢復(fù)并能夠恢復(fù)顯示。
[0068]此外，在本實施方式中，第i升壓電壓VBi為驅(qū)動器100的基板電壓。異常檢測電路130對該基板電壓的異常進行檢測。
[0069]S卩，驅(qū)動器100由集成電路裝置構(gòu)成，對該集成電路裝置的半導(dǎo)體基板所設(shè)定的電壓為基板電壓。在例如半導(dǎo)體基板為P型的情況下，將電源電路110所生成的電源中的最低電壓設(shè)定為基板電壓。例如，在后文所述的圖10的電源電路中，升壓電路BC4所生成的電壓VEE為基板電壓。
[0070]在半導(dǎo)體基板為P型的情況下，由于基板電壓為最低電壓，因此在電源異常時流入至寄生雙極的電流最終流入基板的可能性較高。由于在這種異常的電流流入至基板的情況下，基板電壓會上升，因此能夠通過對其電位進行檢測，從而對基板電壓的異常進行檢測。
[0071]具體而言，如圖2(B)、圖3(B)所示，異常檢測電路130在第i升壓電壓VBi超過了檢測電壓VDl的情況下，檢測出第i升壓電壓VBi為異常。該檢測電壓具有遲滯特性。即，在異常不再被檢測出時，使用與檢測電壓VDl不同的檢測電壓VD2(<VD1)。
[0072]以此方式，通過對第i升壓電壓VBi超過了檢測電壓VDl的情況進行檢測，從而能夠?qū)σ螂娫催m配不良而使基板電壓上升的情況進行檢測。由于可認(rèn)為在通常的動作狀態(tài)(即，電源電路110所生成的電源為正常的狀態(tài))下第i升壓電壓VBi在預(yù)定范圍內(nèi)變動，因此預(yù)先在該預(yù)定范圍外設(shè)定檢測電壓VD1。或者，在產(chǎn)生了電源適配不良時已知第i升壓電壓VBi成為何種程度的電壓(例如已知是實驗性的)的情況下，預(yù)先將檢測電壓VDl設(shè)定為該電壓。
[0073]在圖2(A)所示的第二結(jié)構(gòu)例中，第i升壓電壓VBi為根據(jù)第j升壓電壓VBj而生成的電壓，其中，所述第j升壓電壓VBj為根據(jù)第j升壓電路BCj的升壓動作而生成的電壓。而且，如圖2(B)所述，第j升壓電路BCj在第i升壓電壓VBi的異常被檢測出來的情況下實施低能力升壓動作，而在第i升壓電壓VBi的異常不再被檢測出的情況下則再開始進行通常的升壓動作。
[0074]具體而言，電源電路110包括第i升壓電路BC1、第j升壓電路BCj和調(diào)節(jié)器RGA。而且，調(diào)節(jié)器RGA根據(jù)第j升壓電壓VBj而生成電壓VGA，第i升壓電路BCi對電壓VGA進行升壓并生成第i升壓電壓VBi。調(diào)節(jié)器RGA為例如線性調(diào)節(jié)器，并將第j升壓電壓VBj調(diào)節(jié)為基準(zhǔn)電壓的預(yù)定倍的電壓VGA。例如，在后文所述的圖10的電源電路中，第一升壓電路BCl與第j升壓電路BCj相對應(yīng)，調(diào)節(jié)器RG8與調(diào)節(jié)器RGA相對應(yīng)，第四升壓電路BC4與第i升壓電路BCi相對應(yīng)。
[0075]在采用這種結(jié)構(gòu)的情況下，為了使第i升壓電壓VBi從異常狀態(tài)中恢復(fù)，而需要調(diào)節(jié)器RGA的輸出電壓VGA。即，需要生成作為該調(diào)節(jié)器RGA的輸入電壓的第j升壓電壓VBj。因此，在圖2(A)的結(jié)構(gòu)中，在異常狀態(tài)下第j升壓電路BCj并不停止升壓動作而是實施低能力動作，即使在異常狀態(tài)下也向第i升壓電路BCi供給調(diào)節(jié)器RGA的輸出電壓VGA。由此，能夠消除電源適配不良，并且能夠使第i升壓電壓VBi向正常的電壓進行自我恢復(fù)。
[0076]在圖3(A)所示的第三結(jié)構(gòu)例中，第i升壓電壓VBi為根據(jù)第k升壓電壓VBk而生成的電壓，所述第k升壓電壓VBk為根據(jù)第k升壓電路(k為I < k < η且k在i，j的整數(shù))的升壓動作而生成的電壓。而且，如圖3(B)所示，第j升壓電路BCj在第i升壓電壓VBi的異常被檢測出來的情況下，停止升壓動作。
[0077]具體而言，電源電路110包括第i升壓電路BC1、第j升壓電路BCj、第k升壓電路BCk和調(diào)節(jié)器RGB。而且，調(diào)節(jié)器RGB根據(jù)第k升壓電壓VBk而生成電壓VGB，第i升壓電路Be i對電壓VGB進行升壓從而生成第i升壓電壓VBi。調(diào)節(jié)器RGB為例如線性調(diào)節(jié)器，且將第k升壓電壓VBk調(diào)節(jié)為基準(zhǔn)電壓的預(yù)定倍的電壓VGB。例如，在后文所述的圖10的電源電路中，第二、第三升壓電路BC2、BC3與第j升壓電路BCj相對應(yīng)，第一升壓電路BCl與第k升壓電路BCk相對應(yīng)，調(diào)節(jié)器RG8與調(diào)節(jié)器RGB相對應(yīng)，第四升壓電路BC4與第i升壓電路BCi相對應(yīng)。
[0078]在采用這種結(jié)構(gòu)的情況下，即使未生成第j升壓電壓VBj，第i升壓電壓VBi也能夠從異常狀態(tài)中恢復(fù)。因此，在圖3(A)的結(jié)構(gòu)中，在異常狀態(tài)下第j升壓電路BCj停止升壓動作。由此，雖然在異常狀態(tài)下未生成第j升壓電壓VBj，但是只要在第i升壓電路BCi能夠生成第i升壓電壓VBi的狀態(tài)下，就能夠從電源適配不良中進行自我恢復(fù)。
[0079]此外，在本實施方式中，第j升壓電路BCj為第一至第η升壓電路BCl?BCn中電流供給能力最高的升壓電路。
[0080]雖然電源適配不良為寄生雙極的導(dǎo)通狀態(tài)被維持的狀態(tài)，但是僅對該導(dǎo)通狀態(tài)進行維持的電流必須被供給至寄生雙極。因此，可認(rèn)為，在電流供給能力較小的升壓電路的輸出中，即使假設(shè)寄生雙極被導(dǎo)通，該導(dǎo)通狀態(tài)也可自然被解除。因此，對于具有對寄生雙極的導(dǎo)通狀態(tài)進行維持的較高的電流供給能力的升壓電路而言，只要將其升壓動作設(shè)為低能力或者停止其升壓動作即可。
[0081 ]例如，在圖10的電源電路中，第一升壓電路BCl為電流供給能力最高的升壓電路。由于在第一升壓電路BCl中作為后段的電路而設(shè)置有多個調(diào)節(jié)器與升壓電路，從而需要對這些調(diào)節(jié)器或升壓電路的輸出電流或消耗電流進行供給，因此第一升壓電路BCl的電流供給能力最大。即使在第一升壓電路BCl的后段的調(diào)節(jié)器與升壓電路的端部處寄生雙極被導(dǎo)通了，也能夠通過將作為其前段的電流供給源的第一升壓電路BCl的電流供給縮小或者停止，從而使其從電源適配不良中恢復(fù)。
[0082]此外，在本實施方式中，驅(qū)動電路120根據(jù)第j升壓電壓VBj而對顯示面板200(電光學(xué)面板)進行驅(qū)動，所述第j升壓電壓VBj為根據(jù)第j升壓電路BCj的升壓動作而生成的電壓。
[0083]驅(qū)動電路120為，對顯示面板的源極線進行驅(qū)動的源極驅(qū)動器。由于源極驅(qū)動器需要高速地對像素電容進行驅(qū)動，因此即使在驅(qū)動器100中，也成為消耗電流較大的電路。因此，在根據(jù)第j升壓電壓BCj而生成有驅(qū)動電路120的電源的情況下，第j升壓電壓VBj具有較大的電流供給能力。由于這種具有較大的電流供給能力的第j升壓電路BCj能夠成為針對寄生雙極的電流供給源，因此通過將其升壓動作設(shè)為低能力或者使其停止，從而能夠?qū)⑵鋸碾娫催m配不良中恢復(fù)。
[0084]例如，在圖10的電源電路中，調(diào)節(jié)器RG5、RG7、RG11、RG12的輸出電壓VDDHSP、VDDRMP、VDDHSN、VDDRMN為源極驅(qū)動器的電源電壓。即，第一升壓電路BCl和第三升壓電路BC3與第j升壓電路BCj相對應(yīng)。
[0085]另外，在圖10的電源電路中，第二升壓電路BC2、第四升壓電路BC4、第五升壓電路BC5也可以在電源適配不良時實施低能力升壓動作或者停止升壓動作。
[0086]3.升壓電路
[0087]在圖4中示出了能夠進行低能力升壓動作的第j升壓電路BCj的結(jié)構(gòu)例。圖4為第j升壓電路BC j為電荷栗電路時的結(jié)構(gòu)例。
[0088]第j升壓電路BCj具有通常升壓動作用的升壓晶體管TA3、TA4和軟啟動用的升壓晶體管TA5、TA6。而且，在低能力升壓動作中，通過軟啟動用的升壓晶體管TA5、TA6來實施升壓動作。
[0089]更具體而言，第j升壓電路BCj包括串聯(lián)連接的第一至第四晶體管TAl?TA4和與第三、第四晶體管TA3、TA4并聯(lián)連接的第五、第六晶體管TA5、TA6。而且，在通常的升壓動作中，通過對第一至第四晶體管TAl?TA4進行導(dǎo)通和斷開從而實施升壓動作，在低能力升壓動作中，將第三、第四晶體管TA3、TA4設(shè)為斷開并使用第一、第二晶體管TA1、TA2和第五、第六晶體管TA5、TA6來實施升壓動作的軟啟動。
[0090]晶體管TAl?TA3、TA5為P型晶體管，晶體管TA4、TA6為N型晶體管。在通常的升壓動作中，在第一期間(第一相)內(nèi)，晶體管TA2、TA4導(dǎo)通，晶體管TA1、TA3斷開，電容器CA的一端與接地電壓VSS連接，電容器CA的另一端與輸入電壓VIN連接。在第二期間(第二相)內(nèi)，晶體管TA2、TA4斷開，晶體管TAl、TA3導(dǎo)通，電容器CA的一端與輸入電壓VIN連接，并從電容器CA的另一端經(jīng)由晶體管TAl而輸出輸出電壓VQ = 2 X VIN。晶體管TA5、TA6在第一期間、第二期間內(nèi)均為斷開?；蛘?，在通常的升壓動作中也可以同時使用軟啟動用的晶體管TA5、TA6。即，也可以為，在第一期間內(nèi)，晶體管TA6導(dǎo)通，晶體管TA5斷開，在第二期間內(nèi)，晶體管TA5導(dǎo)通，晶體管TA6斷開。在低能力升壓動作中，在第一期間內(nèi)，晶體管TA2、TA6導(dǎo)通，晶體管TAl、TA5斷開，在第二期間內(nèi)，晶體管TA2、TA6斷開，晶體管TAl、TA5導(dǎo)通。
[0091]軟啟動用的升壓晶體管TA5、TA6的尺寸(例如溝道寬度W/溝道長度L的溝道寬度W等)與通常升壓動作用的升壓晶體管TA3、TA4的尺寸相比而較小。因此，通過使軟啟動用的升壓晶體管TA5、TA6的導(dǎo)通電阻變大且由該晶體管TA5、TA6來實施升壓動作，從而使第j升壓電路BC j的電流供給能力降低。為了在電源電路110的起動時對開始升壓動作時的沖擊電流進行抑制，而設(shè)置有軟啟動用的升壓晶體管TA5、TA6。通過以此方式使用原本設(shè)置的軟啟動電路，從而能夠?qū)崿F(xiàn)電源適配不良時的低能力升壓動作。
[0092]4.第四、第五結(jié)構(gòu)例
[0093]在圖5(A)中示出了驅(qū)動器100的第四結(jié)構(gòu)例。第四結(jié)構(gòu)例為，第j升壓電路BCj在電源適配不良時停止升壓動作時的結(jié)構(gòu)例。另外，在圖5(A)中省略了驅(qū)動電路120和升壓電路的一部分的圖不。
[0094]驅(qū)動器100包括控制電路140、第j升壓電路BCj和異常檢測電路130。第j升壓電路BCj包括使能信號生成部GEN、升壓時鐘生成部CKG和升壓部BST。
[0095]升壓部BST由圖4所說明的電荷栗電路構(gòu)成。升壓時鐘生成部CKG生成對升壓部BST進行驅(qū)動的時鐘信號。即，以與通常的升壓動作與軟啟動動作(低能力升壓動作)相對應(yīng)的方式而生成對構(gòu)成升壓部BST的晶體管TAl?TA6進行導(dǎo)通斷開控制的時鐘信號。
[0096]控制電路140向第j升壓電路BCj輸出使能信號EN和軟啟動信號SFT。第j升壓電路BCj在使能信號EN為激活的期間內(nèi)實施升壓動作，在軟啟動信號SFT為激活的期間內(nèi)實施軟啟動動作。
[0097]使能信號生成部GEN根據(jù)來自控制電路140的使能信號EN和來自異常檢測電路130的檢測信號SDT，而生成新的使能信號ΕΝΑ。在使能信號EN為激活的情況下，當(dāng)異常檢測電路130對第i升壓電壓VBi的異常進行檢測且檢測信號SDT成為激活時，使能信號生成部GEN輸出非激活的使能信號ΕΝΑ。即，在電源適配不良時，第j升壓電路BCj被指示停止升壓動作。例如，在使能信號EN和檢測信號SDT為高激活的情況下，使能信號生成部GEN由對檢測信號SDT進行邏輯反轉(zhuǎn)的反相器、和對反相器的輸出與使能信號EN的邏輯與進行輸出的邏輯與電路構(gòu)成。
[0098]在圖5(B)中示出了驅(qū)動器100的第五結(jié)構(gòu)例。第五結(jié)構(gòu)例為，第j升壓電路BCj在電源適配不良時實施低能力升壓動作時的結(jié)構(gòu)例。另外，在圖5(B)中省略了驅(qū)動電路120和升壓電路的一部分的圖示。
[0099]驅(qū)動器100包括控制電路140、第j升壓電路BCj和異常檢測電路130。第j升壓電路BCj包括軟啟動信號生成部GSF、升壓時鐘生成部CKG和升壓部BST。
[0100]軟啟動信號生成部GSF根據(jù)來自控制電路140的軟啟動信號SFT和來自異常檢測電路130的檢測信號SDT，而生成新的軟啟動信號SFTA。在軟啟動信號SFT為非激活的情況下，當(dāng)異常檢測電路130對第i升壓電壓VBi的異常進行檢測且檢測信號SDT成為激活時，軟啟動信號生成部GSF輸出激活的軟啟動信號SFTA。即，在電源適配不良時，指示第j升壓電路BCj實施軟啟動動作(低能力升壓動作)。例如，在軟啟動信號SFT與檢測信號SDT為高激活時的情況下，使能信號生成部GEN由對檢測信號SDT和軟啟動信號SFT的邏輯或進行輸出的邏輯或電路構(gòu)成。
[0101]5.改變例
[0102]在圖6中示出了驅(qū)動器100的改變例。在該改變例中，在升壓電壓(第i升壓電壓VBi)的異常被檢測出來的情況下，再次執(zhí)行電源電路110的啟動順序。
[0103]具體而言，異常檢測電路130對控制電路140輸出檢測信號SDT。控制電路140在檢測信號SDT成為激活時，使電源電路110的動作暫時停止，之后再起動電源電路110。啟動順序為，對電源電路110的各個部分的動作定時進行控制的順序。如在圖12中后文所示那樣，對例如開始第一至第η升壓電路BCl?BCn的升壓動作的定時、開始與停止軟啟動的定時、開始調(diào)節(jié)器的動作(或者允許輸出的)定時等進行控制。
[0104]以此方式，不僅通過低能力升壓動作與升壓動作的停止能夠從電源適配不良中進行自我恢復(fù)，即使通過再執(zhí)行啟動順序，也能夠從電源適配不良中進行自我恢復(fù)。即，當(dāng)再執(zhí)行啟動順序時，包括升壓電路在內(nèi)的電源電路的動作暫時停止，因此不再進行向寄生晶體管的電流供給，從而能夠從電源適配不良中進行恢復(fù)。
[0105]6.異常檢測電路
[0106]在圖7中示出了異常檢測電路130的第一詳細(xì)結(jié)構(gòu)例。如圖7所示，異常檢測電路130具有檢測晶體管TDET。檢測晶體管TDET被設(shè)置在作為高電位側(cè)電源電壓VDD以及低電位側(cè)電源電壓VSS中的一方的第一電源電壓的節(jié)點和第i升壓電壓VBi的節(jié)點之間，且基于作為高電位側(cè)電源電壓VDD以及低電位側(cè)電源電壓VSS中的另一方的第二電源電壓的輸入電壓VNBl被輸入至柵極。而且，異常檢測電路130根據(jù)檢測晶體管TDET的源極以及漏極中的一方的電壓變化而對第i升壓電壓VBi的異常進行檢測。
[0107]另外，在下文中，以檢測晶體管TDET為N型晶體管、第一電源電壓為高電位側(cè)電源電壓VDD、第二電源電壓為低電位側(cè)電源電壓VSS、異常檢測電路130基于檢測晶體管TDET的漏極(節(jié)點NB2)的電壓變化而進行異常檢測的情況為例來進行說明。
[0108]高電位側(cè)電源電壓VDD以及低電位側(cè)電源電壓VSS為例如從驅(qū)動器100外部的系統(tǒng)電源被供給的電源電壓，而并非電源電路110所生成的電壓。即，電源電壓VDD、VSS為，即使在第i升壓電壓VBi產(chǎn)生了異常時也不會發(fā)生變動的、可靠的固定的電壓。
[0109]通過在這種可靠的第一電源電壓VDD的節(jié)點與第i升壓電壓VBi的節(jié)點之間設(shè)置檢測晶體管TDET并且向其柵極輸入基于可靠的第二電源電壓VSS的輸入電壓VNBl，從而能夠正確地對第i升壓電壓VBi的異常進行檢測。即，由于第一電源電壓VDD和第二電源電壓VSS不會發(fā)生變化，因此檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2的變化就是因第i升壓電壓VBi的變化而產(chǎn)生的。即，通過對該檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2的變化進行檢測，從而能夠?qū)Φ趇升壓電壓VBi的異常進行檢測。
[0110]此外，在本實施方式中，異常檢測電路130具有電阻元件RC，所述電阻元件RC被設(shè)置在檢測晶體管TDET的漏極(源極與漏極中的一方)和第一電源電壓VDD的節(jié)點之間。
[0111]S卩，電阻元件RC和檢測晶體管TDET在第一電源電壓VDD的節(jié)點和第i升壓電壓VBi的節(jié)點之間串聯(lián)連接。檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2為，通過電阻元件RC和檢測晶體管TDET的導(dǎo)通電阻實施電阻分割而得到的電壓。當(dāng)?shù)趇升壓電壓VBi發(fā)生變化時，檢測晶體管TDET的源極電壓發(fā)生變化，因此導(dǎo)通電阻發(fā)生變化，并且由于電阻分割之比改變，因此檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2發(fā)生變化，由此能夠?qū)Φ趇升壓電壓VBi的異常進行檢測。
[0112]此外，在本實施方式中具有第二晶體管TB2，所述第二晶體管TB2被設(shè)置在檢測晶體管的源極(源極與漏極中的另一方)和第i升壓電壓VBi的節(jié)點之間、且漏極和柵極被連結(jié)。例如，第二晶體管TB2為N型晶體管。
[0113]以此方式，通過將所謂的二極管連結(jié)的第二晶體管TB2設(shè)置于檢測晶體管TDET的源極側(cè)，從而能夠?qū)Ξ惓z測的檢測電壓進行調(diào)節(jié)。具體而言，第i升壓電壓VBi為與第二電源電壓VSS相比而較低的電壓(負(fù)電壓)。雖然在產(chǎn)生了電源適配不良時，作為基板電壓的第i升壓電壓VBi將上升，但由于在基板與第二電源電壓VSS之間存在有二極管(寄生二極管等)，因此第i升壓電壓VBi的上升到第二電源電壓VSS程度為止。因此，第i升壓電壓VBi的異常的檢測在與第二電源電壓VSS相比而較低的檢測電壓下進行。此時，通過設(shè)置第二晶體管TB2而能夠降低檢測電壓，從而能夠設(shè)定恰當(dāng)?shù)臋z測電壓。
[0114]雖然也能夠通過改變檢測晶體管TDET的柵極電壓來改變檢測電壓，但是該柵極電壓與遲滯特性相關(guān)聯(lián)，僅僅為了檢測電壓的調(diào)節(jié)是不能進行改變的。因此，通過設(shè)置第二晶體管TB2來對檢測電壓進行調(diào)節(jié)。
[0115]此外，在本實施方式中，異常檢測電路130在第i升壓電壓VBi超過了檢測電壓的情況下檢測出第i升壓電壓VBi為異常。該檢測電壓具有遲滯特性。
[0116]具體而言，異常檢測電路130具有:緩沖電路BFB，其對檢測晶體管TDET的漏極(源極與漏極中的一方)的電壓進行緩沖；第三晶體管TB3，其被設(shè)置在檢測晶體管TDET的柵極與第二電源電壓VSS的節(jié)點之間，且基于緩沖電路BFB的輸出(電壓VNB4)而被導(dǎo)通和斷開；第一電阻元件RBl，其被設(shè)置在第一電源電壓VDD的節(jié)點與檢測晶體管TDET的柵極之間；第二電阻元件RB2，其被設(shè)置在檢測晶體管TDET的柵極與第二電源電壓VSS的節(jié)點之間，且與第三晶體管TB3并聯(lián)連接。
[0117]緩沖電路BFB由接受檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2的第一反相器(P型晶體管TB4、N型晶體管TB5)和接受第一反相器的輸出的第二反相器IVBl構(gòu)成。異常檢測電路130包括接受緩沖電路BFB的輸出并輸出檢測信號SDT的反相器IVB2。
[0118]使用圖8來對異常檢測電路130的動作進行說明。圖8為使第i升壓電壓VBi發(fā)生變化時的檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2和柵極電壓VNBl的模擬結(jié)果。為了便于模擬，而使第i升壓電壓VBi沿著時間軸進行變化。
[0119]首先，對從正常向異常變化時的動作進行說明。在正常時，在第i升壓電壓VBi= -1OV的附近處進行動作。此時，由于檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2低于VSS = OV，因此緩沖電路BFB的輸出為低電平，晶體管TB3斷開。檢測晶體管TDET的柵極電壓VNBI由電阻元件RBl、RB2的電阻分割來決定。
[0120]當(dāng)?shù)趇升壓電壓VBi從-1OV上升(從紙面中央朝向右側(cè))時，伴隨于此，檢測晶體管TDET的源極電壓上升，檢測晶體管TDET的導(dǎo)通電阻上升。由此，檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2上升。當(dāng)?shù)趇升壓電壓VBi成為檢測電壓VDl時，檢測晶體管TDET斷開，檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2上升到電源電壓VDD為止。于是，緩沖電路BFB的輸出從低電平變?yōu)楦唠娖?。即，在第i升壓電壓VBi超過了檢測電壓VDl的情況下，被檢測出第i升壓電壓VBi為異常。
[0121]接下來，對從異常向正常恢復(fù)時的動作進行說明。當(dāng)?shù)趇升壓電壓VBi從VSS= OV降低(從紙面左側(cè)朝向中央)時，伴隨于此，檢測晶體管TDET的源極電壓降低。當(dāng)?shù)趇升壓電壓VBi成為檢測電壓VD2時，檢測晶體管TDET導(dǎo)通，檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2變得低于VSS = OV。于是，緩沖電路BFB的輸出從高電平變?yōu)榈碗娖健Ｔ诰彌_電路BFB的輸出為高電平時，晶體管TB3導(dǎo)通，檢測晶體管TDET的柵極電壓VNBl為VSS = 0V。由于其低于電阻元件RBl、RB2的分割電壓，因此如果檢測晶體管TDET的源極電壓不成為更低的狀態(tài)，則檢測晶體管TDET就不會導(dǎo)通。即，VD2<VD1，檢測電壓具有遲滯特性。
[0122]在圖9中示出了異常檢測電路130的第二詳細(xì)結(jié)構(gòu)例。在該結(jié)構(gòu)例中，異常檢測電路130具有第一晶體管TB1，所述第一晶體管TBl被設(shè)置在檢測晶體管TDET的漏極(源極與漏極中的一方)和第一電源電壓VDD的節(jié)點之間，且柵極上被輸入有輸入電壓VNB1。另外，對于與第一詳細(xì)結(jié)構(gòu)例相同的結(jié)構(gòu)要素標(biāo)記相同的符號，并適當(dāng)省略說明。
[0123]動作基本上與第一詳細(xì)結(jié)構(gòu)例相同。即，第一晶體管TBl的導(dǎo)通電阻與第一詳細(xì)結(jié)構(gòu)例中的電阻元件RC相對應(yīng)。檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2由第一晶體管TB I的導(dǎo)通電阻與檢測晶體管TDET的導(dǎo)通電阻的電阻分割決定，當(dāng)?shù)趇升壓電壓VBi上升且檢測晶體管TDET的導(dǎo)通電阻變高時，檢測晶體管TDET的漏極電壓VNB2上升，從而緩沖電路BFB的輸出發(fā)生反轉(zhuǎn)，由此異常被檢測出來。
[0124]7.電源電路
[0125]在圖10中示出了電源電路110的詳細(xì)結(jié)構(gòu)例。在圖11中示出了應(yīng)用有圖10的電源電路110的驅(qū)動器100的結(jié)構(gòu)例。
[0126]圖11的驅(qū)動器100包括:電源電路110、源極驅(qū)動器120(驅(qū)動電路)、柵極驅(qū)動器150和控制電路140。源極驅(qū)動器120(數(shù)據(jù)驅(qū)動器)為對顯示面板200的源極線(數(shù)據(jù)線)進行驅(qū)動的電路，且包括例如灰度電壓生成電路、D/A轉(zhuǎn)換電路和源極放大器等。柵極驅(qū)動器150(掃描驅(qū)動器)為對顯示面板200的柵極線(掃描線)進行驅(qū)動的電路，且包括例如電平位移器與緩沖器等?？刂齐娐?40例如包括實施與顯示控制器300之間的通信的接口電路、對從顯示控制器300輸送的畫像數(shù)據(jù)進行鎖存的線鎖存器、對顯示控制的定時進行控制的定時控制器等。例如，控制電路140由門陣列等構(gòu)成。
[0127]圖10的電源電路110包括第一至第五升壓電路BCl?BC5和第一至第十三調(diào)節(jié)器RGl?RG13。例如，第一至第五升壓電路BCl?BC5為電荷栗電路，第一至第十三調(diào)節(jié)器RGl?RG13為線性調(diào)節(jié)器。另外，在圖10中，各個電壓的圖面上下方向上的位置關(guān)系表示大致的電壓的大小關(guān)系。例如，VDDL、VLD01等為VDD和VSS之間的電壓，V0UTM、V0UT3等為低于VSS的電壓(負(fù)電壓)，V0UT等為高于VDD的電壓。
[0128]調(diào)節(jié)器1^1、1^2、1^3對電源電壓￥00進行降壓，并生成電壓￥001^、￥0)01、￥0)02。如圖11所示，電壓VDDL為控制電路140(邏輯電路)的電源電壓。
[0129]升壓電路BCl以電壓VSS為基準(zhǔn)將電壓VLDOl升壓兩倍從而生成電壓V0UT。調(diào)節(jié)器RG4、RG5、RG6、RG7、RG8、RG9 對電壓 VOUT 進行降壓而生成電壓 VREG、VDDHSP、VDDRHP、VDDRMP、VOFREG、VONREG。調(diào)節(jié)器RG4以未圖示的帶隙電路的輸出電壓為基準(zhǔn)而生成電壓VREG。其他的調(diào)節(jié)器RGl?RG3、RG5?RG13以電壓VREG為基準(zhǔn)而輸出各個電壓。如圖10所示，電壓VDDHSP、VDDRMP為源極驅(qū)動器120的正的電源電壓(用于點反轉(zhuǎn)驅(qū)動的正極驅(qū)動的電源電壓)。電壓VDDRHP為灰度電壓生成電路的電源電壓。
[0130]升壓電路BC2以電壓VSS為基準(zhǔn)將電壓VLD02反轉(zhuǎn)而生成負(fù)的電壓V0UTM。調(diào)節(jié)器RGlO根據(jù)電壓VLD02和電壓VOUTM而生成電壓VC0M。電壓VCOM為，對顯示面板200的源極線進行驅(qū)動時的共同電壓。
[0131]升壓電路BC3以電壓VSS為基準(zhǔn)將電壓VDD反轉(zhuǎn)升壓四倍而生成負(fù)的電壓V0UT3。調(diào)節(jié)器1^11對電壓￥01713進行降壓而生成電壓￥00把1調(diào)節(jié)器1^12對電壓￥00!^~進行降壓而生成電壓VDDRMN。如圖1O所示，電壓VDDHSN、VDDRMP為源極驅(qū)動器120的負(fù)的電源電壓(用于點反轉(zhuǎn)驅(qū)動的負(fù)極驅(qū)動的電源電壓)。
[0132]升壓電路BC4以電壓VSS為基準(zhǔn)將電壓VOFREG反轉(zhuǎn)升壓三倍而生成負(fù)的電壓VEE。電壓VEE為驅(qū)動器100的半導(dǎo)體基板(P型基板)的基板電壓。調(diào)節(jié)器RG13對電壓VEE進行降壓而生成電壓VGL。如圖1O所示，電壓VGL為柵極驅(qū)動器150的負(fù)的電源電壓。
[0133]升壓電路BC5根據(jù)電壓VONREG和電壓VGL而生成電壓VDDHG = VONREG X 2-VGL。如圖1O所示，電壓VDDHG為柵極驅(qū)動器150的正的電源電壓。
[0134]在圖12中示出了控制電路14O所執(zhí)行的電源電路110的啟動順序。另外，啟動順序并不限定于圖12，例如也可以同時開始升壓電路BCl?BC5的升壓動作。例如，也可以采用如下結(jié)構(gòu)，即，以用戶能夠通過寄存器設(shè)定來對啟動順序進行設(shè)定。
[0135]如圖12所示，當(dāng)對電源電路110的起動進行指示的寄存器值DISON通過驅(qū)動器100外部的顯示控制器(處理部)而被設(shè)為激活時，控制電路140開始進行電源電路110的啟動順序。例如，啟動順序的執(zhí)行期間為六幀F(xiàn)l?F6。另外，調(diào)節(jié)器RGl在驅(qū)動器100的電源接通時與帶隙電路等一起開始動作。
[0136]在啟動順序中，首先，在第二幀F(xiàn)2開始時，將升壓電路BCl?BC3的使能信號設(shè)為激活，從而開始進行升壓動作。此外，將調(diào)節(jié)器RG2?4設(shè)為開始動作。到第二至第五幀F(xiàn)2?F5為止，將升壓電路BCl?BC3的軟啟動信號設(shè)為激活從而進行軟啟動動作。接著，在第三幀F(xiàn)3開始時，將調(diào)節(jié)器RG5?7、11、12的使能信號設(shè)為激活，從而開始動作。到該第三幀F(xiàn)3為止，一次至三次升壓系統(tǒng)啟動，從而輸出調(diào)節(jié)器的基準(zhǔn)電壓與共同電壓、源極驅(qū)動器的電源電壓。
[0137]此外，在第三幀F(xiàn)3開始時，將調(diào)節(jié)器RG8的使能信號設(shè)為激活，從而開始動作，并將升壓電路BC4的使能信號設(shè)為激活，從而開始進行升壓動作。接著，在第四幀F(xiàn)4開始時，將調(diào)節(jié)器RG13的使能信號設(shè)為激活，從而開始動作。此外，將調(diào)節(jié)器RG9的使能信號設(shè)為激活，從而開始動作，并將升壓電路BC5的使能信號設(shè)為激活，從而開始進行升壓動作。到該第四幀F(xiàn)4為止，四次以及五次升壓系統(tǒng)啟動，從而輸出柵極驅(qū)動器的電源電壓和基板電壓。
[0138]接著，在第五幀F(xiàn)5期間內(nèi)(第六幀F(xiàn)6開始前)，將調(diào)節(jié)器RGlO的使能信號設(shè)為激活，從而開始動作。在該第五幀F(xiàn)5中輸出共同電壓。在第六幀F(xiàn)6開始時，結(jié)束升壓電路BCl?BC3的軟啟動動作并轉(zhuǎn)移至通常的升壓動作，并在第六幀F(xiàn)6結(jié)束時，結(jié)束啟動順序。
[0139]另外，在通過圖6說明了的啟動順序的再執(zhí)行中，在來自異常檢測電路130的檢測信號SDT成為激活的情況下，控制電路140通過將寄存器值DISON設(shè)為非激活，并再次將寄存器值DISON設(shè)為激活，從而再次執(zhí)行啟動順序。
[OMO] 8.電光學(xué)裝置、電子設(shè)備
[0141]在圖13中示出了能夠應(yīng)用本實施方式的驅(qū)動器100的電光學(xué)裝置和電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)例。作為本實施方式的電子設(shè)備，能夠假想到例如投影儀、電視化裝置、信息處理裝置(計算機)、便攜型信息終端、汽車導(dǎo)航系統(tǒng)、便攜型游戲終端等的、搭載了顯示裝置的各種各樣的電子設(shè)備。
[0142]圖13所示的電子設(shè)備包括:電光學(xué)裝置350、顯示控制器300(主控制器、第一處理部)、CPU310(第二處理部)、存儲部320、用戶接口部330、數(shù)據(jù)接口部340。電光學(xué)裝置350包括驅(qū)動器100、顯示面板200。
[0143]顯示面板200為例如矩陣型的液晶顯示面板。或者，顯示面板200也可以為使用了自發(fā)光元件的EL(Electro-Luminescence)的顯示面板。例如，在顯示面板200上連接有柔性基板，并且在該柔性基板上安裝有驅(qū)動器100，從而構(gòu)成電光學(xué)裝置350。另外，驅(qū)動器100和顯示面板200也可以不被構(gòu)成為電光學(xué)裝置350，而是作為獨立的部件被組裝在電子設(shè)備中。例如，也可以采用如下方式，即，在顯示面板200上連接配線引出用的柔性基板，并將驅(qū)動器100與顯示控制器300等一起安裝在剛性基板上，并且通過將柔性基板連接到該剛性基板上，從而安裝好顯示面板200。
[0144]用戶接口部330為，接受來自用戶的各種操作的接口部。例如，由按鈕或鼠標(biāo)、鍵盤、被安裝在顯示面板200上的觸摸面板等構(gòu)成。數(shù)據(jù)接口部340為，實施圖像數(shù)據(jù)與控制數(shù)據(jù)的輸入輸出的接口部。例如為USB等的有線通信接口，或者無線LAN等的無線通信接口。存儲部320對從數(shù)據(jù)接口部340輸入的圖像數(shù)據(jù)進行存儲?；蛘?，存儲部320作為CPU310和顯示控制器300的工作存儲器而發(fā)揮功能。CPU310實施電子設(shè)備的各部的控制處理與各種數(shù)據(jù)處理。顯示控制器300實施驅(qū)動器100的控制處理。例如，顯示控制器300將從數(shù)據(jù)接口部340或存儲部320傳送來的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為驅(qū)動器100能夠接受的形式，并將該轉(zhuǎn)換后的圖像數(shù)據(jù)向驅(qū)動器100進行輸出。驅(qū)動器100根據(jù)從顯示控制器300傳送來的圖像數(shù)據(jù)而對顯示面板200進行驅(qū)動。
[0145]另外，雖然如上文所述對本實施方式進行了詳細(xì)說明，但對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言能夠很容易地理解出可在實質(zhì)上不脫離本發(fā)明的新事項以及效果的多種改變。因此，這種改變例也全部被包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。例如，在說明書或附圖中，至少一次與更廣義或同義的不同用語一起記載的用語，在說明書或附圖中的任意位置處均能夠替換為該不同的用語。此外，本實施方式以及改變例的全部組合也包含在本發(fā)明的范圍內(nèi)。此外，電源電路、異常檢測電路、電路裝置、電光學(xué)裝置、電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)、動作也并不限定于本實施方式所說明的內(nèi)容，能夠進行各種變形實施。
[0146]符號說明
[0147]100…驅(qū)動器；110…電源電路；120…源極驅(qū)動器；120…驅(qū)動電路；130…異常檢測電路；140…控制電路；150…柵極驅(qū)動器;200…顯示面板;210…系統(tǒng)電源;300…顯示控制器;310…CPU;320...存儲部;330…用戶接口部;340…數(shù)據(jù)接口部;350…電光學(xué)裝置;BCi…第i升壓電路;BCj…第j升壓電路;BCk…第k升壓電路;BFB...緩沖器電路;TDET...檢測晶體管;VBi…第i升壓電壓;VBj...第j升壓電壓;VBk...第k升壓電壓;VD1、VD2...檢測電壓;VDD...高電位側(cè)電源電壓;VSS...低電位側(cè)電源電壓。
【主權(quán)項】
1.一種電路裝置，其特征在于，包括: 電源電路，其具有第一至第η升壓電路，其中，η為η 2 2的整數(shù)； 電路，其根據(jù)從所述電源電路被供給的電源而進行動作； 異常檢測電路， 所述異常檢測電路對第i升壓電壓的異常進行檢測，所述第i升壓電壓為根據(jù)所述第一至第η升壓電路中的第i升壓電路的升壓動作而生成的電壓，其中，i為I Si Sn的整數(shù)， 所述第一至第η升壓電路中的第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，實施與通常的升壓動作相比電流供給能力較低的低能力升壓動作或者停止升壓動作，其中，」為1 < j2.如權(quán)利要求1所述的電路裝置，其特征在于， 所述第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的期間內(nèi)，實施所述低能力升壓動作或者停止升壓動作，并在所述第i升壓電壓的異常不再被檢測出的情況下，再開始進行所述通常的升壓動作。3.如權(quán)利要求1或2所述的電路裝置，其特征在于， 所述第i升壓電壓為電路裝置的基板電壓， 所述異常檢測電路對所述基板電壓的異常進行檢測。4.如權(quán)利要求1至3中任一項所述的電路裝置，其特征在于， 所述第j升壓電路為，所述第一至第η升壓電路中電流供給能力最高的升壓電路。5.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的電路裝置，其特征在于， 所述第i升壓電壓為根據(jù)第j升壓電壓而生成的電壓，所述第j升壓電壓為根據(jù)所述第j升壓電路的升壓動作而生成的電壓。6.如權(quán)利要求5所述的電路裝置，其特征在于， 所述第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，實施所述低能力升壓動作，并在所述第i升壓電壓的異常不再被檢測出的情況下，再開始進行所述通常的升壓動作。7.如權(quán)利要求1至4中任一項所述的電路裝置，其特征在于， 所述第i升壓電壓為根據(jù)第k升壓電壓而生成的電壓，所述第k升壓電壓為根據(jù)所述第一至第η升壓電路中的第k升壓電路的升壓動作而生成的電壓，其中，k為I η且k在i，j的整數(shù)， 所述第j升壓電路在所述第i升壓電壓的異常被檢測出的情況下，停止升壓動作。8.如權(quán)利要求1至7中任一項所述的電路裝置，其特征在于， 所述電路為根據(jù)第j升壓電壓而對顯示面板進行驅(qū)動的驅(qū)動電路，其中，所述第j升壓電壓為根據(jù)所述第j升壓電路的升壓動作而生成的電壓。9.如權(quán)利要求1至8中任一項所述的電路裝置，其特征在于， 所述第j升壓電路具有通常升壓動作用的升壓晶體管和軟啟動用的升壓晶體管， 在所述低能力升壓動作中，所述第j升壓電路通過所述軟啟動用的升壓晶體管來實施升壓動作。10.如權(quán)利要求1至8中任一項所述的電路裝置，其特征在于， 所述第j升壓電路包括串聯(lián)連接的第一至第四晶體管、與所述第一至第四晶體管中的第三、第四晶體管并聯(lián)連接的第五、第六晶體管， 在所述通常的升壓動作中，所述第j升壓電路通過對所述第一至第四晶體管進行導(dǎo)通與斷開從而實施升壓動作，在所述低能力升壓動作中，所述第j升壓電路將所述第三、第四晶體管設(shè)為斷開，并使用所述第一、第二晶體管和所述第五、第六晶體管來實施升壓動作的軟啟動。11.如權(quán)利要求1至10中任一項所述的電路裝置，其特征在于， 所述異常檢測電路在所述第i升壓電壓超過了檢測電壓的情況下，檢測出所述第i升壓電壓為異常。12.如權(quán)利要求11所述的電路裝置，其特征在于， 所述檢測電壓具有遲滯特性。13.如權(quán)利要求11或12所述的電路裝置，其特征在于， 所述異常檢測電路具有被設(shè)置在第一電源電壓的節(jié)點與所述第i升壓電壓的節(jié)點之間、且基于第二電源電壓的輸入電壓被輸入至柵極的檢測晶體管，其中，所述第一電源電壓為，高電位側(cè)電源電壓以及低電位側(cè)電源電壓中的一方，所述第二電源電壓為，所述高電位側(cè)電源電壓以及所述低電位側(cè)電源電壓中的另一方， 所述異常檢測電路根據(jù)所述檢測晶體管的源極以及漏極中的一方的電壓變化而對所述第i升壓電壓的異常進行檢測。14.一種電光學(xué)裝置，其特征在于，包括: 權(quán)利要求1至13中任一項所述的電路裝置； 顯示面板， 所述電路為，根據(jù)從所述電源電路被供給的所述電源而對所述顯示面板進行驅(qū)動的驅(qū)動電路。15.一種電子設(shè)備，其特征在于， 包括權(quán)利要求1至13中任一項所述的電路裝置。
【文檔編號】G09G3/00GK105895000SQ201610090038
【公開日】2016年8月24日
【申請日】2016年2月17日
【發(fā)明人】西村元章
【申請人】精工愛普生株式會社