數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法和檢測(cè)
目.ο
【背景技術(shù)】
[0002]顯示面板的制備需經(jīng)過(guò)陣列(Array)工藝、成盒(Cell)工藝和模組(Moduel)工藝。其中，Array工藝一般包括柵線和數(shù)據(jù)線的制備、薄膜晶體管的制備、像素電極的制備等。圖1為現(xiàn)有的顯示面板的示意圖。如圖1所示，顯示面板包括多行柵線和多列數(shù)據(jù)線，該多行柵線和多列數(shù)據(jù)線限定出多個(gè)像素。在Array工藝中，制備柵線時(shí)，在顯示面板的邊框(Fanout)區(qū)保留兩條“柵線”(該柵線不與柵極驅(qū)動(dòng)電路連接)作為數(shù)據(jù)線和源極驅(qū)動(dòng)電路之間的連接線，如圖1所示，奇數(shù)列數(shù)據(jù)線與其中一條連接線do連接，偶數(shù)列數(shù)據(jù)線與另一條連接線de連接，所述連接線do與源極驅(qū)動(dòng)電路中用于向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)的D0端連接，所述連接線de與源極驅(qū)動(dòng)電路中用于向偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)的DE端連接，從而，源極驅(qū)動(dòng)電路可以單獨(dú)向奇數(shù)列和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)信號(hào)。
[0003]在Array工藝中，由于工藝缺陷、操作失誤及工藝精度等原因，相鄰的數(shù)據(jù)線可能會(huì)短接在一起(即DDS不良，其會(huì)造成顯示缺陷)，如圖1中的左起第三列和第四列數(shù)據(jù)線；因此，在Array工藝完成后，需要進(jìn)行檢測(cè)(Array Test)，并在檢測(cè)存在上述DDS不良時(shí)，對(duì)數(shù)據(jù)線進(jìn)行修復(fù)，以提高顯示面板的良品率。
[0004]現(xiàn)有檢測(cè)DDS不良的方法主要是:利用Array Test設(shè)備向所有的數(shù)據(jù)線輸入數(shù)據(jù)信號(hào)，將所有的像素點(diǎn)亮(圖1中，圓形表示像素處于點(diǎn)亮狀態(tài))；根據(jù)各數(shù)據(jù)線中數(shù)據(jù)信號(hào)的變化確定是否存在DDS不良。其原理是:如果相鄰的數(shù)據(jù)線短接在一起，D0端和DE端的負(fù)載會(huì)變大，進(jìn)而，各列數(shù)據(jù)線上的信號(hào)發(fā)生變化，這樣可以通過(guò)檢測(cè)數(shù)據(jù)線上的數(shù)據(jù)信號(hào)變化確定是否存在DDS不良。
[0005]上述檢測(cè)方法雖然可以確定是否存在DDS不良，但D0端和DE端的負(fù)載同時(shí)變大，相應(yīng)地，各數(shù)據(jù)線上的信號(hào)均會(huì)發(fā)生變化，從而使得無(wú)法確定發(fā)生DDS不良的具體位置，也不能通過(guò)維修將顯示面板修復(fù)，產(chǎn)品的良率并不能得到提高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題之一，提出了一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法和檢測(cè)裝置，其可以確定數(shù)據(jù)線短接不良的發(fā)生位置，從而通過(guò)將數(shù)據(jù)線發(fā)生不良的位置修復(fù)，可以提供產(chǎn)品的良率。
[0007]為實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的而提供一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法，用于檢測(cè)相鄰的數(shù)據(jù)線是否存在短接，以及確定短接發(fā)生的位置，所述檢測(cè)方法包括:
[0008]僅向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)，將與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素點(diǎn)亮；
[0009]檢測(cè)與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素是否被點(diǎn)亮；
[0010]在與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素被點(diǎn)亮?xí)r，識(shí)別偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線所連接的像素中亮度最高的像素，并確定所述亮度最高的像素所連接的數(shù)據(jù)線，該數(shù)據(jù)線與相鄰的奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線短接。
[0011]其中，所述檢測(cè)方法還包括在確定存在發(fā)生短接的數(shù)據(jù)線后進(jìn)行的:
[0012]僅向偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)，將與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素點(diǎn)亮；
[0013]識(shí)別奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線所連接的像素中亮度最高的像素，并確定所述亮度最高的像素所連接的數(shù)據(jù)線，該數(shù)據(jù)線與所述被確定短接的偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線之間短接。
[0014]其中，通過(guò)人眼目視判斷奇數(shù)列數(shù)據(jù)線或偶數(shù)列數(shù)據(jù)線所連接的像素的亮度。
[0015]其中，通過(guò)亮度檢測(cè)裝置判斷奇數(shù)列數(shù)據(jù)線或偶數(shù)列數(shù)據(jù)線所連接的像素的亮度。
[0016]其中，通過(guò)奇數(shù)列數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)信號(hào)判斷與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素的亮度，通過(guò)偶數(shù)列數(shù)據(jù)線中的數(shù)據(jù)信號(hào)判斷與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素的亮度。
[0017]作為另一個(gè)技術(shù)方案，本發(fā)明還提供一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)裝置，所述檢測(cè)裝置按照上述數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法檢測(cè)相鄰的數(shù)據(jù)線是否存在短接，以及短接發(fā)生的位置。
[0018]其中，所述數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)裝置包括:數(shù)據(jù)信號(hào)提供模塊，用于向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線或偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)；亮度檢測(cè)模塊，用于在數(shù)據(jù)信號(hào)提供模塊僅向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)時(shí)，檢測(cè)與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素是否被點(diǎn)亮，以及在被點(diǎn)亮的與偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素中識(shí)別出亮度最高的像素；判斷模塊，用于判斷數(shù)據(jù)線是否發(fā)生短接，以及根據(jù)亮度檢測(cè)模塊識(shí)別出的所述亮度最高的像素所連接的數(shù)據(jù)線，確定與相鄰數(shù)據(jù)線發(fā)生短接的偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線。
[0019]優(yōu)選地，所述亮度檢測(cè)模塊還用于在所述判斷模塊確定發(fā)生短接的偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線后，數(shù)據(jù)信號(hào)提供模塊僅向偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)時(shí)，在被點(diǎn)亮的與奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素中識(shí)別出亮度最高的像素；判斷模塊還用于根據(jù)亮度檢測(cè)模塊識(shí)別出的所述亮度最高的像素所連接的奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線，確定與所述被確定發(fā)生短接的偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線短接在一起的奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線。
[0020]其中，所述亮度檢測(cè)模塊為亮度計(jì)。
[0021]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0022]本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法，其通過(guò)僅向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線/偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供信號(hào)時(shí)，檢測(cè)偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線連接的像素是否被點(diǎn)亮，以及所述像素的亮度，可以確定偶數(shù)列數(shù)據(jù)線/奇數(shù)列數(shù)據(jù)線是否發(fā)生短接，以及確定與相鄰數(shù)據(jù)線短接的數(shù)據(jù)線，即短接發(fā)生的位置，從而可以將發(fā)生短接的數(shù)據(jù)線修復(fù)，提高產(chǎn)品的良率。
[0023]本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)裝置，其采用上述數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法檢測(cè)顯示面板的數(shù)據(jù)線是否存在不良，以及不良存在的位置，可以在獲知不良位置的基礎(chǔ)上，對(duì)不良位置的數(shù)據(jù)線進(jìn)行修復(fù)，從而提高產(chǎn)品的良率。
【附圖說(shuō)明】
[0024]附圖是用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說(shuō)明書(shū)的一部分，與下面的【具體實(shí)施方式】一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中:
[0025]圖1為發(fā)生DDS不良的顯不面板的不意圖；
[0026]圖2為本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法在第一實(shí)施方式中的流程圖；
[0027]圖3為顯示面板中的各數(shù)據(jù)線的示意圖；
[0028]圖4為本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法在第二實(shí)施方式中的流程圖；
[0029]圖5為本發(fā)明提供的數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)裝置的示意圖。
[0030]其中，附圖標(biāo)記:
[0031]do、de:連接線；D0、DE:源極驅(qū)動(dòng)電路中分別向奇數(shù)列數(shù)據(jù)線和偶數(shù)列數(shù)據(jù)線提供數(shù)據(jù)信號(hào)的端；
[0032]1:數(shù)據(jù)信號(hào)提供模塊；2:亮度檢測(cè)模塊；3:判斷模塊。
【具體實(shí)施方式】
[0033]以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的【具體實(shí)施方式】?jī)H用于說(shuō)明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0034]本發(fā)明提供一種數(shù)據(jù)線短接不良的檢測(cè)方法的多個(gè)實(shí)施方式，所述數(shù)據(jù)線短接不良的檢