與測(cè)試線23連接。第一通孔215和第二通孔216分別設(shè)置在第一引出線213的兩端，第二引出線214的一端直接與信號(hào)線22連接，第二引出線214的另一端直接與測(cè)試線23連接。
[0048]使用本優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)21進(jìn)行顯示裝置的測(cè)試時(shí)，通過(guò)測(cè)試線23將外部的測(cè)試信號(hào)發(fā)生裝置25與測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)21連接起來(lái)，這樣測(cè)試信號(hào)發(fā)生裝置25產(chǎn)生的測(cè)試信號(hào)可通過(guò)測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)21的第一引出線213和第二引出線214輸入至顯示面板24的信號(hào)線22上，第二引出線214直接與信號(hào)線22和測(cè)試線23連接，第一引出線213通過(guò)第一通孔215和信號(hào)線22連接，通過(guò)第二通孔216與測(cè)試線23連接，從而進(jìn)行相應(yīng)的屏幕顯示檢測(cè)。
[0049]顯示面板24的測(cè)試結(jié)束后，可通過(guò)設(shè)置在測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)21上的切割標(biāo)記217將第一引出線213和第二引出線214剪斷，從而對(duì)信號(hào)線22和測(cè)試線23進(jìn)行分離操作。由于相鄰的第一引出線213的間距大于等于預(yù)設(shè)安全值，相鄰的第二引出線214的間距也大于等于預(yù)設(shè)安全值，因此在進(jìn)行切割操作時(shí)，不會(huì)產(chǎn)生不同測(cè)試引出線之間的短路現(xiàn)象。
[0050]同時(shí)由于第一引出線213和第二引出線214設(shè)置不同的平面上，因此第一引出線213在第二絕緣層212上的投影和第二引出線24在第二絕緣層212上的投影之間的間距可以小于預(yù)設(shè)安全值，因此在相同的面積下可以設(shè)置更多的測(cè)試引出線，便于對(duì)高分辨率的顯示裝置進(jìn)行顯示測(cè)試。
[0051]這樣即完成了本優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)21的顯示測(cè)試過(guò)程。
[0052]本優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)通過(guò)設(shè)置位于不同層面的第一引出線以及第二引出線，在進(jìn)行切割操作時(shí)，可以較好的避免不同測(cè)試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象。
[0053]本發(fā)明還提供一種測(cè)試裝置，其包括測(cè)試信號(hào)發(fā)生裝置以及測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，測(cè)試信號(hào)發(fā)生裝置用于生成測(cè)試信號(hào)；測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)通過(guò)測(cè)試線與測(cè)試信號(hào)發(fā)生裝置連接，用于將測(cè)試信號(hào)傳輸至相應(yīng)的顯示裝置內(nèi)部的信號(hào)線。
[0054]該測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)包括第一絕緣層、第二絕緣層、第一引出線以及第二引出線。第二絕緣層設(shè)置在第一絕緣層上，第一引出線設(shè)置在第一絕緣層和第二絕緣層之間，第二引出線設(shè)置在第二絕緣層上。第一引出線在第二絕緣層上的投影和第二引出線在第二絕緣層上的投影間隔設(shè)置。
[0055]測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)還包括第一通孔以及第二通孔，第一通孔設(shè)置在第二絕緣層上，用于將第一引出線引出至第二絕緣層上，以便第一引出線與信號(hào)線連接；第二通孔設(shè)置在第二絕緣層上，用于將第一引出線引出至第二絕緣層上，以便第一引出線與測(cè)試線連接。第一通孔和第二通孔分別設(shè)置在第一引出線的兩端，第二引出線的一端直接與信號(hào)線連接，第二引出線的另一端直接與測(cè)試線連接。
[0056]優(yōu)選的，本優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試裝置還包括切割標(biāo)記，該切割標(biāo)記設(shè)置在測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)上，以便在測(cè)試完畢后，對(duì)信號(hào)線和測(cè)試線進(jìn)行分離操作。
[0057]本優(yōu)選實(shí)施例的測(cè)試裝置的具體工作原理與上述的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)的優(yōu)選實(shí)施例中的描述相同或相似，具體請(qǐng)參見上述測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)的優(yōu)選實(shí)施例中的相關(guān)描述。
[0058]本發(fā)明的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)及測(cè)試裝置通過(guò)設(shè)置位于不同層面的第一引出線以及第二引出線，在進(jìn)行切割操作時(shí)，可以較好的避免不同測(cè)試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象；以解決現(xiàn)有的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)及測(cè)試裝置的在進(jìn)行切割操作時(shí)，不同測(cè)試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象的技術(shù)問(wèn)題。
[0059]綜上所述，雖然本發(fā)明已以優(yōu)選實(shí)施例揭露如上，但上述優(yōu)選實(shí)施例并非用以限制本發(fā)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以權(quán)利要求界定的范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，用于連接顯示裝置內(nèi)部的信號(hào)線以及外部的測(cè)試線，其特征在于，包括: 第一絕緣層； 第二絕緣層，設(shè)置在所述第一絕緣層上； 第一引出線，設(shè)置在所述第一絕緣層和所述第二絕緣層之間；以及 第二引出線，設(shè)置在所述第二絕緣層上； 其中所述第一引出線在所述第二絕緣層上的投影與所述第二引出線在所述第二絕緣層上的投影間隔設(shè)置。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，其特征在于，相鄰的所述第一引出線的間距大于等于預(yù)設(shè)安全值，相鄰的所述第二引出線的間距大于等于所述預(yù)設(shè)安全值。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)還包括: 第一通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述信號(hào)線連接。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)還包括: 第二通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述測(cè)試線連接。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第一通孔和所述第二通孔分別設(shè)置在所述第一引出線的兩端。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述第二引出線的一端直接與所述信號(hào)線連接，所述第二引出線的另一端直接與所述測(cè)試線連接。7.一種測(cè)試裝置，其特征在于，包括: 測(cè)試信號(hào)發(fā)生裝置，用于生成測(cè)試信號(hào)；以及 測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，通過(guò)測(cè)試線與所述測(cè)試信號(hào)發(fā)生裝置連接，用于將所述測(cè)試信號(hào)傳輸至相應(yīng)的顯示裝置內(nèi)部的信號(hào)線； 其中所述測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)包括: 第一絕緣層； 第二絕緣層，設(shè)置在所述第一絕緣層上； 第一引出線，設(shè)置在所述第一絕緣層和所述第二絕緣層之間；以及 第二引出線，設(shè)置在所述第二絕緣層上； 其中所述第一引出線在所述第二絕緣層上的投影與所述第二引出線在所述第二絕緣層上的投影間隔設(shè)置。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置還包括: 切割標(biāo)記，設(shè)置在所述測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)上，以便在測(cè)試完畢后，對(duì)所述信號(hào)線和所述測(cè)試線進(jìn)行分離操作。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)還包括: 第一通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述信號(hào)線連接；以及 第二通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述測(cè)試線連接； 其中所述第一通孔和所述第二通孔分別設(shè)置在所述第一引出線的兩端。10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二引出線的一端直接與所述信號(hào)線連接，所述第二引出線的另一端直接與所述測(cè)試線連接。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)，用于連接顯示裝置內(nèi)部的信號(hào)線以及外部的測(cè)試線，其包括第一絕緣層、第二絕緣層、第一引出線以及第二引出線，其中第一引出線在第二絕緣層上的投影與第二引出線在第二絕緣層上的投影間隔設(shè)置；本發(fā)明還提供一種測(cè)試裝置。本發(fā)明的測(cè)試引出線結(jié)構(gòu)和測(cè)試裝置在進(jìn)行切割操作時(shí)，可以較好的避免不同測(cè)試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象。
【IPC分類】G09G3/00, G01R1/04
【公開號(hào)】CN105139787
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510439532
【發(fā)明人】甘啟明
【申請(qǐng)人】深圳市華星光電技術(shù)有限公司
【公開日】2015年12月9日
【申請(qǐng)日】2015年7月24日