測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及測試領(lǐng)域，特別是涉及一種測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展，人們對顯示技術(shù)的要求也越來越高，現(xiàn)有的顯示裝置在出廠前均會進(jìn)行多種顯示檢測，以滿足人們的各種需要。
[0003]圖1A為現(xiàn)有技術(shù)的測試引出線結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖，圖1B為沿圖1A的A_A’截面線的截面圖。顯示面板為11，信號線為12，測試引出線為13，測試線為14，測試信號發(fā)生裝置為15。
[0004]在顯示裝置的制成過程中會形成信號線12以及測試引出線13，信號線12與測試引出線13—一對應(yīng)，測試信號發(fā)生裝置為15會通過測試引出線13向信號線12傳輸測試信號，以對顯示面板11進(jìn)行顯示檢測。
[0005]在對顯示面板11檢測完畢后，為了便于設(shè)置信號線端子，會將測試引出線13切割掉。但是由于顯示面板11的分辨率越來越高，導(dǎo)致測試引出線13之間的間距也越來越小，在進(jìn)行切割操作時，切割產(chǎn)生的碎肩容易引起不同測試引出線13之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象。
[0006]故，有必要提供一種測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的在于提供一種在進(jìn)行切割操作時，可以較好的避免不同測試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象的測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置；以解決現(xiàn)有的測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置的在進(jìn)行切割操作時，不同測試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象的技術(shù)問題。
[0008]為解決上述問題，本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
[0009]本發(fā)明實施例提供一種測試引出線結(jié)構(gòu)，用于連接顯示裝置內(nèi)部的信號線以及外部的測試線，其包括:
[0010]第一絕緣層；
[0011]第二絕緣層，設(shè)置在所述第一絕緣層上；
[0012]第一引出線，設(shè)置在所述第一絕緣層和所述第二絕緣層之間；以及
[0013]第二引出線，設(shè)置在所述第二絕緣層上；
[0014]其中所述第一引出線在所述第二絕緣層上的投影與所述第二引出線在所述第二絕緣層上的投影間隔設(shè)置。
[0015]在本發(fā)明所述的測試引出線結(jié)構(gòu)中，相鄰的所述第一引出線的間距大于等于預(yù)設(shè)安全值，相鄰的所述第二引出線的間距大于等于所述預(yù)設(shè)安全值。
[0016]在本發(fā)明所述的測試引出線結(jié)構(gòu)中，所述測試引出線結(jié)構(gòu)還包括:
[0017]第一通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述信號線連接。
[0018]在本發(fā)明所述的測試引出線結(jié)構(gòu)中，所述測試引出線結(jié)構(gòu)還包括:
[0019]第二通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述測試線連接。
[0020]在本發(fā)明所述的測試引出線結(jié)構(gòu)中，所述第一通孔和所述第二通孔分別設(shè)置在所述第一引出線的兩端。
[0021]在本發(fā)明所述的測試引出線結(jié)構(gòu)中，所述第二引出線的一端直接與所述信號線連接，所述第二引出線的另一端直接與所述測試線連接。
[0022]本發(fā)明實施例還提供一種測試裝置，其包括:
[0023]測試信號發(fā)生裝置，用于生成測試信號；以及
[0024]測試引出線結(jié)構(gòu)，通過測試線與所述測試信號發(fā)生裝置連接，用于將所述測試信號傳輸至相應(yīng)的顯示裝置內(nèi)部的信號線；
[0025]其中所述測試引出線結(jié)構(gòu)包括:
[0026]第一絕緣層；
[0027]第二絕緣層，設(shè)置在所述第一絕緣層上；
[0028]第一引出線，設(shè)置在所述第一絕緣層和所述第二絕緣層之間；以及
[0029]第二引出線，設(shè)置在所述第二絕緣層上；
[0030]其中所述第一引出線在所述第二絕緣層上的投影與所述第二引出線在所述第二絕緣層上的投影間隔設(shè)置。
[0031]在本發(fā)明所述的測試裝置中，所述測試裝置還包括:
[0032]切割標(biāo)記，設(shè)置在所述測試引出線結(jié)構(gòu)上，以便在測試完畢后，對所述信號線和所述測試線進(jìn)行分離操作。
[0033]在本發(fā)明所述的測試裝置中，所述測試引出線結(jié)構(gòu)還包括:
[0034]第一通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述信號線連接；以及
[0035]第二通孔，設(shè)置在所述第二絕緣層上，用于將所述第一引出線引出至所述第二絕緣層上，以便所述第一引出線與所述測試線連接；
[0036]其中所述第一通孔和所述第二通孔分別設(shè)置在所述第一引出線的兩端。
[0037]在本發(fā)明所述的測試裝置中，所述第二引出線的一端直接與所述信號線連接，所述第二引出線的另一端直接與所述測試線連接。
[0038]相較于現(xiàn)有的測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置，本發(fā)明的測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置通過設(shè)置位于不同層面的第一引出線以及第二引出線，在進(jìn)行切割操作時，可以較好的避免不同測試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象；以解決現(xiàn)有的測試引出線結(jié)構(gòu)及測試裝置的在進(jìn)行切割操作時，不同測試引出線之間產(chǎn)生短路現(xiàn)象的技術(shù)問題。
[0039]為讓本發(fā)明的上述內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉優(yōu)選實施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下:
【附圖說明】
[0040]圖1A為現(xiàn)有技術(shù)的測試引出線結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0041 ] 圖1B為沿圖1A的A-A’截面線的截面圖；
[0042]圖2A為本發(fā)明的測試引出線結(jié)構(gòu)的優(yōu)選實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0043]圖2B為沿圖2A的B-B ’截面線的截面圖。
【具體實施方式】
[0044]以下各實施例的說明是參考附加的圖式，用以例示本發(fā)明可用以實施的特定實施例。本發(fā)明所提到的方向用語，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「內(nèi)」、「外」、「側(cè)面」等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語是用以說明及理解本發(fā)明，而非用以限制本發(fā)明。
[0045]在圖中，結(jié)構(gòu)相似的單元是以相同標(biāo)號表示。
[0046]請參照圖2A和圖2B，圖2A為本發(fā)明的測試引出線結(jié)構(gòu)的優(yōu)選實施例的結(jié)構(gòu)示意圖，圖2B為沿圖2A的B-B’截面線的截面圖。本優(yōu)選實施例的測試引出線結(jié)構(gòu)21用于連接顯示裝置內(nèi)部的信號線22以及外部的測試線23，該測試引出線結(jié)構(gòu)21包括第一絕緣層211、第二絕緣層212、第一引出線213 (測試引出線)以及第二引出線214 (測試引出線)。第二絕緣層212設(shè)置在第一絕緣層211上，第一引出線213設(shè)置在第一絕緣層211和第二絕緣層212之間，第二引出線214設(shè)置在第二絕緣層212上。第一引出線213在第二絕緣層212上的投影和第二引出線214在第二絕緣層212上的投影間隔設(shè)置。
[0047]測試引出線結(jié)構(gòu)21還包括第一通孔215以及第二通孔216，第一通孔215設(shè)置在第二絕緣層212上，用于將第一引出線213引出至第二絕緣層212上，以便第一引出線213與信號線22連接；第二通孔216設(shè)置在第二絕緣層212上，用于將第一引出線213引出至第二絕緣層212上，以便第一引出線213