本發(fā)明屬于教學(xué)儀器領(lǐng)域,尤其涉及一種簡易高斯光速教學(xué)儀器。
背景技術(shù):
目前市場銷售的光束質(zhì)量分析儀能夠較為快捷地對高斯光束特性參量進(jìn)行測量,但這些儀器都是以科學(xué)研究為目的,當(dāng)把這些儀器應(yīng)用于激光物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)時(shí),儀器有以下不足:(1)價(jià)格昂貴,無法在實(shí)驗(yàn)教學(xué)中推廣;(2)儀器被屏蔽在儀器罩內(nèi),學(xué)生無法對測量過程及儀器結(jié)構(gòu)有直觀的感受;(3)上述儀器測量過程通常采用步進(jìn)電機(jī)自動(dòng)控制,不利于培養(yǎng)學(xué)生動(dòng)手能力。目前市場上未見專門用于測量高斯光束特性參數(shù)的實(shí)驗(yàn)教學(xué)儀器。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
為了克服上述存在的不足,本發(fā)明擬提供一種手動(dòng)控制、結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、成本低廉的簡易高斯光速教學(xué)儀器。
本發(fā)明一種簡易高斯光速教學(xué)儀器:包括激光器、凸透鏡、刀片、衰減片、激光功率計(jì)以及導(dǎo)軌,所述激光器、凸透鏡、刀片、衰減片、激光功率計(jì)位于導(dǎo)軌上方,并按照從左到右的順序依次排列。
進(jìn)一步地,所述導(dǎo)軌帶有刻度,長度為1000mm-1200mm,激光器、刀片及凸透鏡的位置可由導(dǎo)軌刻度讀出。
進(jìn)一步地,所述激光器與導(dǎo)軌相連,為氦氖激光器,諧振腔為平凹腔,其輸出端為平面反射鏡。
進(jìn)一步地,所述凸透鏡安裝在與導(dǎo)軌相連的一維光學(xué)平移臺(tái)上,以便于調(diào)節(jié)凸透鏡的光軸位置,該凸透鏡的主要作用是對激光器發(fā)射的高斯光束進(jìn)行變換,在凸透鏡后方形成束腰。
進(jìn)一步地,所述刀片寬大于15mm,厚度約為0.1-0.2mm,刀片被固定在與導(dǎo)軌相連的光學(xué)平移臺(tái)上,可沿與光束傳播垂直的方向切割光束,刀片切割光斑的位置可由光學(xué)平移臺(tái)上的螺旋測微器測量。
進(jìn)一步地,所述衰減片被固定在與導(dǎo)軌相連的滑塊上。
進(jìn)一步地,所述激光功率計(jì)與導(dǎo)軌相連,有0.1mw/1mw/10mw/50mw4個(gè)量程檔,功率計(jì)表盤被劃分為50個(gè)分格。
實(shí)驗(yàn)中,分別測量透過刀片邊緣的光功率占總功率百分比分別為90%和10%時(shí)的刀片位置坐標(biāo),就可以確定刀片處高斯光束光斑半徑;裝置中的衰減片被固定在滑塊上,在無刀片擋光時(shí),調(diào)節(jié)衰減片,使進(jìn)入激光功率計(jì)的激光功率達(dá)到滿量程,以提高光斑半徑的測量精度。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:所有元件都被安裝在導(dǎo)軌上,不需要在光學(xué)平臺(tái)上固定元件,儀器可以放置在普通實(shí)驗(yàn)桌上,儀器的使用非常方便,同時(shí)也大大降低了開設(shè)實(shí)驗(yàn)所需的購買光學(xué)平臺(tái)的費(fèi)用。
附圖說明
圖1為一種簡易高斯光速教學(xué)儀器示意圖。
其中:1是導(dǎo)軌、2是激光器、3是凸透鏡、4是刀片、5是衰減片、6是激光功率計(jì)。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合說明書附圖和具體優(yōu)選的實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步描述,但并不因此而限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。
如圖1所示,本發(fā)明一種簡易高斯光速教學(xué)儀器:包括激光器2、凸透鏡3、刀片4、衰減片5、激光功率計(jì)6以及導(dǎo)軌1,所述激光器2、凸透鏡3、刀片4、衰減片5、激光功率計(jì)6位于導(dǎo)軌1上方,并按照從左到右的順序依次排列。
進(jìn)一步地,所述導(dǎo)軌1帶有刻度,長度為1000mm-1200mm,激光器2、刀片4及凸透鏡3的位置可由導(dǎo)軌刻度讀出。
進(jìn)一步地,所述激光器2與導(dǎo)軌1相連,為氦氖激光器,諧振腔為平凹腔,其輸出端為平面反射鏡。
進(jìn)一步地,所述凸透鏡3安裝在與導(dǎo)軌1相連的一維光學(xué)平移臺(tái)上,以便于調(diào)節(jié)凸透鏡的光軸位置,該凸透鏡的主要作用是對激光器2發(fā)射的高斯光束進(jìn)行變換,在凸透鏡后方形成束腰。
進(jìn)一步地,所述刀片4寬大于15mm,厚度約為0.1-0.2mm,刀片4被固定在與導(dǎo)軌1相連的光學(xué)平移臺(tái)上,可沿與光束傳播垂直的方向切割光束,刀片4切割光斑的位置可由光學(xué)平移臺(tái)上的螺旋測微器測量。
進(jìn)一步地,所述衰減片5被固定在與導(dǎo)軌1相連的滑塊上。
進(jìn)一步地,所述激光功率計(jì)6與導(dǎo)軌1相連,有0.1mw/1mw/10mw/50mw4個(gè)量程檔,功率計(jì)表盤被劃分為50個(gè)分格。
實(shí)驗(yàn)中,分別測量透過刀片4邊緣的光功率占總功率百分比分別為90%和10%時(shí)的刀片4位置坐標(biāo),就可以確定刀片4處高斯光束光斑半徑;在無刀片4擋光時(shí),調(diào)節(jié)衰減片5,使進(jìn)入激光功率計(jì)6的激光功率達(dá)到滿量程,以提高光斑半徑的測量精度。實(shí)驗(yàn)中,使用功率計(jì)的1mw量程檔,并用衰減片5的最外側(cè)衰減光束。由于衰減片5的直徑遠(yuǎn)大于光斑直徑,因此衰減5片的不均勻性對測量帶來的影響可以忽略。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:所有元件都被安裝在導(dǎo)軌上,不需要在光學(xué)平臺(tái)上固定元件,儀器可以放置在普通實(shí)驗(yàn)桌上,儀器的使用非常方便,同時(shí)也大大降低了開設(shè)實(shí)驗(yàn)所需的購買光學(xué)平臺(tái)的費(fèi)用。
以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,本發(fā)明的保護(hù)范圍并不僅局限于上述實(shí)施例。凡屬于本發(fā)明思路下的技術(shù)方案均屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。應(yīng)該指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下的改進(jìn)和潤飾,這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。