本發(fā)明涉及oled檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

有機(jī)發(fā)光二極管(organic-emittingdiode，簡(jiǎn)稱oled)顯示器由于具有低功耗、寬視角、主動(dòng)發(fā)光、易于實(shí)現(xiàn)柔性制造等優(yōu)點(diǎn)受到了人們?cè)絹碓蕉嗟年P(guān)注，并將成為繼tft-lcd后的下一代顯示器。由于oled面板的制備過程較為復(fù)雜，最終得到的面板難免會(huì)出現(xiàn)一些缺陷，因此對(duì)生產(chǎn)線上初步完成的oled面板進(jìn)行缺陷檢測(cè)是oled面板生產(chǎn)流程中非常重要的步驟，是產(chǎn)品良率和質(zhì)量的重要保證。

長(zhǎng)期以來，oled顯示器的顯示缺陷檢驗(yàn)都是采用人工的方式進(jìn)行，而對(duì)于oled微型顯示器來講，由于其具有尺寸小(小于1英寸)，分辨率高(不低于800×600)等特點(diǎn)，肉眼直接判斷產(chǎn)品是否合格不具有可操作性，通常檢驗(yàn)人員需使用亮度計(jì)，萬用表，測(cè)試板等多個(gè)工具，通過人工計(jì)算和比較的方法檢查判斷顯示器是否合格，假如客戶有特殊配對(duì)使用需求時(shí)，需要將大量顯示器重新檢驗(yàn)，這種方式花費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)，檢驗(yàn)效率低，且檢驗(yàn)結(jié)果受檢驗(yàn)員的視力、情緒、責(zé)任心、經(jīng)驗(yàn)、疲勞程度等影響較大，檢驗(yàn)一致性較差。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，提供一種oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)及方法。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：構(gòu)造一種oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，所述oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)包括：

測(cè)試治具，用于固定和驅(qū)動(dòng)所述oled微型顯示器；

數(shù)據(jù)獲取單元，與所述測(cè)試治具上相應(yīng)的接觸針連接，自動(dòng)獲取所述oled微型顯示器的性能參數(shù)；所述數(shù)據(jù)獲取單元包括電流參數(shù)獲取模塊和光學(xué)參數(shù)獲取模塊；所述光學(xué)參數(shù)獲取模塊針對(duì)所述測(cè)試治具上方具有檢測(cè)區(qū)域；

以及與所述數(shù)據(jù)獲取單元通信連接的上位機(jī)；

所述上位機(jī)包括：

數(shù)據(jù)處理單元，與所述數(shù)據(jù)獲取單元連接，處理并存儲(chǔ)所述數(shù)據(jù)獲取單元獲取的性能參數(shù)，以提供可用于管理或應(yīng)用的性能參數(shù)。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述電流參數(shù)獲取模塊包括：

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)中，優(yōu)選地，通過數(shù)據(jù)線纜與所述數(shù)據(jù)處理單元連接，用于根據(jù)所述上位機(jī)的控制指令采集所述oled微型顯示器的工作電流。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述光學(xué)參數(shù)獲取模塊包括：

亮度計(jì)，通過數(shù)據(jù)線纜與所述數(shù)據(jù)處理單元連接，用于根據(jù)所述上位機(jī)的控制指令采集位于所述檢測(cè)區(qū)域內(nèi)的所述oled微型顯示器的亮度及色坐標(biāo)。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述亮度計(jì)的光軸與所述測(cè)試治具的測(cè)試面相垂直，且所述亮度計(jì)與所述oled微型顯示器相離。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)還包括數(shù)據(jù)管理單元，與所述數(shù)據(jù)處理單元連接，對(duì)所述性能參數(shù)進(jìn)行存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)中，優(yōu)選地，所述上位機(jī)還包括與所述數(shù)據(jù)處理單元和數(shù)據(jù)管理單元連接的、用于將所述數(shù)據(jù)管理單元存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果進(jìn)行顯示的顯示單元。

本發(fā)明還提供一種oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法，該自動(dòng)檢測(cè)方法基于上述的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)，按以下步驟進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)：

s1、將所述oled微型顯示器置于檢測(cè)區(qū)域內(nèi)，驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮所述oled微型顯示器；

s2、獲取所述oled微型顯示器的性能參數(shù)，所述性能參數(shù)包括電流參數(shù)和光學(xué)參數(shù)；

s3、處理并存儲(chǔ)所述性能參數(shù)，以提供可用于管理或應(yīng)用的性能參數(shù)。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法中，優(yōu)選地，在所述步驟s2中，所述電流參數(shù)通過萬用表進(jìn)行數(shù)據(jù)采集；所述光學(xué)參數(shù)通過亮度計(jì)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，其中，所述光學(xué)參數(shù)包括亮度及色坐標(biāo)。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法中，優(yōu)選地，在所述步驟s3之后還包括：

s4、對(duì)所述性能參數(shù)進(jìn)行存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析。

在本發(fā)明所述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法中，優(yōu)選地，在所述步驟s4之后還包括：

s5、對(duì)所述性能數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果進(jìn)行顯示。

實(shí)施本發(fā)明的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)及方法，具有以下有益效果：通過上位機(jī)控制數(shù)據(jù)獲取單元對(duì)被測(cè)oled微型顯示器的性能參數(shù)進(jìn)行采集、并將所采集到的數(shù)據(jù)返回上位機(jī)并由上位機(jī)統(tǒng)一進(jìn)行數(shù)據(jù)處理、分析、存儲(chǔ)管理，實(shí)現(xiàn)了快速、高效的成品自動(dòng)檢測(cè)，且檢測(cè)一致性好、穩(wěn)定性高，可大大提高成品檢測(cè)效率。

另外，通過本發(fā)明的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)可將人從簡(jiǎn)單的重復(fù)勞動(dòng)中解放出來，不僅可降低人工成本，還可避免由于測(cè)試人員的主觀因素造成的人為誤差，檢測(cè)的準(zhǔn)確度更高。

附圖說明

下面將結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明，附圖中：

圖1是本發(fā)明oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)第一實(shí)施例的功能框圖；

圖2是本發(fā)明oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法第一實(shí)施例的流程示意圖；

圖3是本發(fā)明oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法第二實(shí)施例的流程示意圖；

圖4是本發(fā)明oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法第三實(shí)施例的流程示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

請(qǐng)參閱圖1，圖1是本發(fā)明oled微型顯示器100自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)第一實(shí)施例的功能框圖。本發(fā)明的oled微型顯示器可用于檢測(cè)小于1英寸的微型oled顯示器。如圖1所示，在該實(shí)施例中本發(fā)明oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)包括測(cè)試治具1、數(shù)據(jù)獲取單元、以及與數(shù)據(jù)獲取單元通信連接的上位機(jī)5。其中，

測(cè)試治具1，主要用于固定和驅(qū)動(dòng)oled微型顯示器100?？梢岳斫獾?，該測(cè)試治具1上設(shè)置在相應(yīng)的連接接觸針，可供測(cè)試治具1與外部設(shè)備連接。當(dāng)需要對(duì)被測(cè)oled微型顯示器100進(jìn)行性能參數(shù)測(cè)試時(shí)，先將被測(cè)oled微型顯示器100放置于測(cè)試治具1上，通過測(cè)試治具1可將被測(cè)oled微型顯示器100固定住，同時(shí)還通過測(cè)試治具1將被測(cè)oled微型顯示器100置于檢測(cè)區(qū)域內(nèi)。進(jìn)一步地,被測(cè)oled微型顯示器100的顯示面與測(cè)試治具1相背，即如圖1中所示，被測(cè)oled微型顯示器100的顯示面朝上。

數(shù)據(jù)獲取單元，與測(cè)試治具1上設(shè)置相應(yīng)的接觸針連接，可自動(dòng)獲取被測(cè)oled微型顯示器100的性能參數(shù)；其中，數(shù)據(jù)獲取單元包括電流參數(shù)獲取模塊3和光學(xué)參數(shù)獲取模塊2。

在該實(shí)施例中，電流參數(shù)獲取模塊3可為萬用表，通過萬用表可對(duì)被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流進(jìn)行檢測(cè)。萬用表通過測(cè)試治具1上的接觸針與測(cè)試治具1實(shí)現(xiàn)連接，測(cè)試治具1驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮被測(cè)oled微型顯示器100時(shí)，萬用表即可檢測(cè)出固定在其上被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流，即電流參數(shù)?？梢岳斫獾?，本實(shí)施例的萬用表受控于上位機(jī)5，即當(dāng)萬用表接收到上位機(jī)5的控制指令(即采集電流指令)后，即執(zhí)行采集電流的動(dòng)作，并將所采集到的被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流的數(shù)據(jù)上傳給上位機(jī)5。

在該實(shí)施例中，光學(xué)參數(shù)獲取模塊2可為亮度計(jì)，通過亮度計(jì)可對(duì)被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)進(jìn)行檢測(cè)。進(jìn)一步地，亮度計(jì)的光軸與測(cè)試治具1的測(cè)試面相垂直，即當(dāng)被測(cè)oled微型顯示器100置于測(cè)試治具1上時(shí)，被測(cè)oled微型顯示器100的顯示面與亮度計(jì)相對(duì)，且亮度計(jì)與被測(cè)oled微型顯示器100相離，測(cè)試過程中不會(huì)出現(xiàn)任何碰觸，這樣即可有效避免因亮度計(jì)與被測(cè)oled微型顯示器100接觸而損壞被測(cè)oled微型顯示器100。

具體實(shí)施時(shí)，測(cè)試治具1將被測(cè)oled微型顯示器100置于亮度計(jì)的檢測(cè)區(qū)域內(nèi)并驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮被測(cè)oled微型顯示器100，亮度計(jì)即可采集在其檢測(cè)區(qū)域內(nèi)的被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)，并將所測(cè)得的亮度及色坐標(biāo)數(shù)據(jù)上傳給上位機(jī)5。其中，亮度計(jì)的檢測(cè)操作由上位機(jī)5控制，當(dāng)亮度計(jì)接收到上位機(jī)5的控制指令(即檢測(cè)指令)時(shí)，亮度計(jì)即執(zhí)行檢測(cè)，并將檢測(cè)數(shù)據(jù)上傳給上位機(jī)5。

上位機(jī)5，與數(shù)據(jù)獲取單元通信連接，用于對(duì)數(shù)據(jù)獲取單元獲取的性能參數(shù)進(jìn)行分析處理、存儲(chǔ)、以及配對(duì)等。具體地，上位機(jī)5包括數(shù)據(jù)處理單元和顯示單元。

數(shù)據(jù)處理單元與數(shù)據(jù)獲取單元連接，用于處理并存儲(chǔ)數(shù)據(jù)獲取單元獲取的性能參數(shù)，以提供可用于管理或應(yīng)用的性能參數(shù)。可以理解地，數(shù)據(jù)處理單元分別與數(shù)據(jù)獲取單元中的電流參數(shù)獲取模塊3和光學(xué)參數(shù)獲取模塊2通過數(shù)據(jù)線纜連接。

具體實(shí)施時(shí)，上位機(jī)5上設(shè)置有分別與電流參數(shù)獲取模塊3和光學(xué)參數(shù)獲取模塊2對(duì)應(yīng)連接的數(shù)據(jù)接口，通過數(shù)據(jù)接口將電流參數(shù)獲取模塊3采集的電流參數(shù)的數(shù)據(jù)和光學(xué)參數(shù)獲取模塊2采集的光學(xué)參數(shù)的數(shù)據(jù)(包括亮度和色坐標(biāo))傳輸至數(shù)據(jù)處理單元，數(shù)據(jù)處理單元在接收到電流參數(shù)獲取模塊3采集的被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流后，即記錄被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流并計(jì)算被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的功耗。同理，當(dāng)數(shù)據(jù)處理單元接收到光學(xué)參數(shù)模塊采集的被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)后，即記錄被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)，并對(duì)被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)進(jìn)行分析處理。

顯示單元，分別與數(shù)據(jù)處理單元和數(shù)據(jù)管理單元連接，用于顯示所采集的電流參數(shù)數(shù)據(jù)、光學(xué)參數(shù)數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)處理單元的處理分析結(jié)果、以及數(shù)據(jù)管理單元存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果。

數(shù)據(jù)管理單元，與數(shù)據(jù)處理單元連接，對(duì)經(jīng)數(shù)據(jù)處理單元處理的性能參數(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析。可以理解地，數(shù)據(jù)管理單元可包括數(shù)據(jù)庫，數(shù)據(jù)庫可供數(shù)據(jù)處理單元將處理的數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，并在其中進(jìn)行篩選比對(duì)，將被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100按預(yù)設(shè)規(guī)則進(jìn)行分類及配對(duì)，以供特殊客戶需求時(shí)做好充分的準(zhǔn)備。數(shù)據(jù)庫可設(shè)置在上位機(jī)5中，也可以設(shè)置在服務(wù)器中。當(dāng)將數(shù)據(jù)庫設(shè)置在服務(wù)器中時(shí)，還可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)數(shù)據(jù)的共享，方便查找及配對(duì)，此時(shí)，上位機(jī)5可通過有線或無線的方式與數(shù)據(jù)庫進(jìn)行通信。

請(qǐng)參閱圖2，圖2是本發(fā)明oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法第一實(shí)施例的流程示意圖。該實(shí)施例的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法可通過前述的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)。如圖2所示，該實(shí)施例oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法包括以下步驟：

s1、將被測(cè)oled微型顯示器100置于檢測(cè)區(qū)域內(nèi)，驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮被測(cè)oled微型顯示器100。

在該步驟中，具體實(shí)施時(shí)，先將需要檢測(cè)的被測(cè)oled微型顯示器100放置于測(cè)試治具1上方，并將被測(cè)oled微型顯示器100固定好，然后將被測(cè)oled微型顯示器100放置在檢測(cè)區(qū)域內(nèi)，并驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮被測(cè)oled微型顯示器100。

s2、獲取被測(cè)oled微型顯示器100的性能參數(shù)，該性能參數(shù)包括電流參數(shù)和光學(xué)參數(shù)。

在該步驟中，具體實(shí)施時(shí)，可通過萬用表和亮度計(jì)分別檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的電流參數(shù)和光學(xué)參數(shù)?？梢岳斫獾兀诓襟Es1中將被測(cè)oled微型顯示器100置于檢測(cè)區(qū)域內(nèi)后，可先將萬用表與測(cè)試治具1連接，且測(cè)試治具1上設(shè)置有與萬用表對(duì)應(yīng)連接的接觸針，在本實(shí)施例中，當(dāng)測(cè)試治具1置于檢測(cè)區(qū)域內(nèi)時(shí)，萬用表即可與設(shè)置在測(cè)試治具1上對(duì)應(yīng)的接觸針連接，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)萬用表與測(cè)試治具1的連通，且該種設(shè)計(jì)方式不需要額外增加測(cè)試人員去連接，萬用表可與測(cè)試治具1自動(dòng)接觸(只需要測(cè)試治具1放置在預(yù)先設(shè)定好的位置即可實(shí)現(xiàn))，進(jìn)而可大大提高檢測(cè)效率，并可有效避免因人為操作失誤而導(dǎo)致連接錯(cuò)誤的問題。

進(jìn)一步地，當(dāng)在步驟s1中測(cè)試治具1驅(qū)動(dòng)點(diǎn)亮被測(cè)oled微型顯示器100后，上位機(jī)5即分別向萬用表和亮度計(jì)發(fā)出檢測(cè)控制指令，萬用表根據(jù)上位機(jī)5的檢測(cè)控制指令分別采集被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流，并將所采集到的電流數(shù)據(jù)上傳給上位機(jī)5；同理，亮度計(jì)根據(jù)上位機(jī)5的檢測(cè)控制指令采集在其檢測(cè)區(qū)域內(nèi)的被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)，并將所采集到的亮度及色坐標(biāo)上傳給上位機(jī)5。

s3、處理并存儲(chǔ)性能參數(shù)，以提供可用于管理或應(yīng)用的性能參數(shù)。

在該步驟中，具體實(shí)施例中，可通過上位機(jī)5中的數(shù)據(jù)處理單元對(duì)獲取單元輸出的性能參數(shù)進(jìn)行處理。具體地，數(shù)據(jù)處理單元分別與萬用表、亮度計(jì)通過設(shè)置在上位機(jī)5上對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)接口實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)通信，通過數(shù)據(jù)接口將電流參數(shù)獲取模塊3采集的電流參數(shù)的數(shù)據(jù)和光學(xué)參數(shù)獲取模塊2采集的光學(xué)參數(shù)的數(shù)據(jù)(包括亮度和色坐標(biāo))傳輸至數(shù)據(jù)處理單元，數(shù)據(jù)處理單元在接收到電流參數(shù)獲取模塊3采集的被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流后，即記錄被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的工作電流并計(jì)算被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的功耗。同理，當(dāng)數(shù)據(jù)處理單元接收到光學(xué)參數(shù)模塊采集的被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)后，即記錄被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)，并對(duì)被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的亮度及色坐標(biāo)進(jìn)行分析處理。

如圖3所示，圖3是本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例中oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法的流程示意圖。與圖2所示實(shí)施例的區(qū)別在于，在該實(shí)施例中，在步驟s3之后還包括步驟s4，即對(duì)經(jīng)過處理的性能參數(shù)進(jìn)行存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析。具體實(shí)施是，可通過具備存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析功能的數(shù)據(jù)管理單元來實(shí)現(xiàn)。其中，數(shù)據(jù)管理單元可包括數(shù)據(jù)庫，該數(shù)據(jù)庫可供數(shù)據(jù)處理單元將處理的數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，并在其中進(jìn)行篩選比對(duì)，將被檢測(cè)oled微型顯示器按預(yù)設(shè)規(guī)則進(jìn)行分類及配對(duì)，以供特殊客戶需求時(shí)做好充分的準(zhǔn)備。

可以理解地，數(shù)據(jù)庫可設(shè)置在上位機(jī)5中，也可以設(shè)置在服務(wù)器中。當(dāng)將數(shù)據(jù)庫設(shè)置在服務(wù)器中時(shí)，還可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)數(shù)據(jù)的共享，方便查找及配對(duì)，此時(shí)，上位機(jī)5可通過有線或無線的方式與數(shù)據(jù)庫進(jìn)行通信。

如圖4所示，圖4是本發(fā)明另一個(gè)實(shí)施例中oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)方法的流程示意圖。與圖2所示的實(shí)施例的區(qū)別在于，在該實(shí)施例中，還可對(duì)性能數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)、查詢或數(shù)據(jù)分析的結(jié)果進(jìn)行顯示。

綜上可見，本發(fā)明的oled微型顯示器自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)及方法可通過上位機(jī)5對(duì)萬用表、亮度計(jì)進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)控制，并對(duì)萬用表和亮度計(jì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)記錄、計(jì)算、分析并輸出分析結(jié)果，且在檢測(cè)時(shí)亮度計(jì)與被檢測(cè)的被測(cè)oled微型顯示器100不直接接觸，避免了在檢測(cè)過程中損壞被檢測(cè)被測(cè)oled微型顯示器100的問題。另外，上位機(jī)5響應(yīng)速度快、實(shí)時(shí)可靠，可以重復(fù)進(jìn)行相同的操作，可將人從簡(jiǎn)單的重復(fù)勞動(dòng)中解放出來，檢測(cè)一致性好、穩(wěn)定性好、檢測(cè)效率更高。

另外，通過對(duì)所采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)計(jì)算、比對(duì)以及篩選，將所檢測(cè)的數(shù)據(jù)與數(shù)據(jù)庫中的現(xiàn)有數(shù)據(jù)進(jìn)行配對(duì)，大大提高了針對(duì)有特殊使用需求的客戶的出貨效率，避免了由于測(cè)試人員主觀因素造成的人為誤差，不僅可以降低人工成本，還能有效提高準(zhǔn)確度。

以上實(shí)施例只為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)此實(shí)施，并不能限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。凡跟本發(fā)明權(quán)利要求范圍所做的均等變化與修飾，均應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的涵蓋范圍。

應(yīng)當(dāng)理解的是，對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)上述說明加以改進(jìn)或變換，而所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。