本發(fā)明屬于顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體地講，涉及一種顯示面板及其膜層檢測系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

現(xiàn)在的顯示面板，例如液晶顯示面板或者有機發(fā)光二極管顯示面板，在形成各個膜層時，無法檢測形成的膜層是否符合要求，需要在形成顯示面板后，通過復雜的手段才能檢測出各個膜層是否符合要求，浪費了人力和物力，提高了成本，而且此種檢測的準確性需待提升。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例所要解決的技術(shù)問題在于，提供一種顯示面板及其膜層檢測系統(tǒng)?？煽焖贆z測各個膜層是否符合要求、節(jié)省成本。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明第一方面實施例提供了一種顯示面板，包括：

基板；

第一膜層，其為透光膜層，所述第一膜層形成在所述基板上；

第二膜層，其為透光膜層，所述第二膜層形成在所述第一膜層上，所述第二膜層的第一側(cè)邊緣位于所述第一膜層的內(nèi)側(cè)且與所述第一膜層的同側(cè)邊緣形成間距；其中，

位于所述第二膜層所述第一側(cè)邊緣外的所述第一膜層處的第一實測透光率與所述第二膜層處的第二實測透光率相異。

在本發(fā)明第一方面一實施例中，所述第一膜層包含的膜層數(shù)量為多層，所述第二膜層包含的膜層數(shù)量為多層，所述第一膜層內(nèi)相鄰膜層之間在第一側(cè)邊緣形成間距，所述第二膜層內(nèi)相鄰膜層之間在第一側(cè)邊緣形成間距。

在本發(fā)明第一方面一實施例中，所述第一膜層為緩沖層、柵極絕緣層、層間絕緣層、第一平坦層、共通電極層或第二絕緣層，所述第二膜層為柵極絕緣層、層間絕緣層、第一平坦層、共通電極層、第二絕緣層或像素電極層。

在本發(fā)明第一方面一實施例中，所述基板為陣列基板，所述陣列基板上設(shè)有不透光基準層，所述顯示面板還包括濾光片基板，所述陣列基板與所述濾光片基板組立在一起，所述濾光片基板上設(shè)有黑色矩陣，所述不透光金屬層和所述黑色矩陣之間設(shè)有透光的間隙。

在本發(fā)明第一方面一實施例中，所述顯示面板還包括第三膜層，所述第三膜層為透光膜層，所述第三膜層形成在所述第二膜層上，所述第三膜層的第二側(cè)邊緣位于所述第二膜層的內(nèi)側(cè)且與所述第二膜層的同側(cè)邊緣形成間距，位于所述第三膜層第二側(cè)邊緣外的所述第二膜層處的透光率與所述第三膜層處的透光率相異，所述第一側(cè)和所述第二側(cè)位于基板的同一側(cè)。

本發(fā)明第二方面實施例提供了一種顯示面板的膜層檢測系統(tǒng)，包括：

顯示面板，其為上述的顯示面板；

光發(fā)射器，其位于所述顯示面板的一側(cè)，其用于發(fā)射檢測光，所述檢測光分別穿過位于所述第二膜層所述第一側(cè)邊緣外的所述第一膜層處和所述第二膜層處；

光接收器，其位于所述顯示面板的另一側(cè)，所述光接收器用于接收所述光發(fā)射器發(fā)射的所述檢測光；

處理單元，其與所述光接收器相連，根據(jù)所述光接收器接收的所述檢測光所述處理單元獲得位于所述第二膜層所述第一側(cè)邊緣外的所述第一膜層處的所述第一實測透光率和所述第二膜層處的所述第二實測透光率。

在本發(fā)明第二方面一實施例中，所述膜層檢測系統(tǒng)還包括判斷單元，所述判斷單元預(yù)存位于所述第二膜層所述第一側(cè)邊緣外的所述第一膜層處的第一標準透光率、所述第二膜層處的第二標準透光率，根據(jù)所述第一標準透光率、所述第一實測透光率、第二標準透光率、所述第二實測透光率所述判斷判斷所述第一膜層、所述第二膜層是否符合要求。

在本發(fā)明第二方面一實施例中，所述光發(fā)射器還分別向不透光基準層和黑色矩陣發(fā)射所述檢測光，根據(jù)所述光接收器接收的所述檢測光所述膜層檢測系統(tǒng)獲得光基準層與所述黑色矩陣之間間隙的間距。

在本發(fā)明第二方面一實施例中，所述光發(fā)射器發(fā)射的所述檢測光用于獲得光基準層與所述黑色矩陣之間間隙的間距時所述光發(fā)射器移動的預(yù)設(shè)步長范圍是0.1μm-0.5μm。

在本發(fā)明第二方面一實施例中，所述光發(fā)射器發(fā)射的所述檢測光用于獲得所述第一實測透光率、所述第二實測透光率時所述光發(fā)射器移動的預(yù)設(shè)步長范圍是0.5μm-20μm。

實施本發(fā)明實施例，具有如下有益效果：

1、由于所述第二膜層形成在所述第一膜層上，所述第二膜層的第一側(cè)邊緣位于第一膜層的內(nèi)側(cè)且與第一膜層的同側(cè)邊緣形成間距，位于第二膜層第一側(cè)邊緣外的第一膜層處的第一實測透光率與第二膜層處的第二實測透光率相異。從而，通過所述第一實測透光率、所述第二實測透光率以及兩者的差異，有助于監(jiān)控顯示面板制造過程第一膜層和第二膜層制程的變化以及其特性的變化，可以實現(xiàn)快速檢測，降低了成本，而且對此種顯示面板進行膜層檢測比較準確。而且，可以在顯示面板完全制造前進行檢測，有利于節(jié)省不良分析時間和提升分析效率，方便對不符合要求的膜層進行修復，有利于提升產(chǎn)品的良率。

2、由于所述陣列基板上設(shè)有不透光基準層，所述顯示面板還包括濾光片基板，所述陣列基板與所述濾光片基板組立在一起，所述濾光片基板上設(shè)有黑色矩陣，所述不透光金屬層和所述黑色矩陣之間設(shè)有透光的間隙，從而可以比較準確的測量陣列基板與濾光片基板的偏移，精度比較高，也方便陣列基板和濾光片基板組立的校正。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發(fā)明第一實施例顯示面板的部分剖視圖；

圖2是本發(fā)明第一實施例顯示面板的透光率示意圖；

圖3是本發(fā)明第一實施例顯示面板的不透光基準層與黑色矩陣在水平面的投影圖；

圖4是本發(fā)明第一實施例顯示面板的不透光基準層與黑色矩陣的透光率示意圖；

圖5是本發(fā)明第一實施例顯示面板的膜層檢測系統(tǒng)的示意圖；

圖6是本發(fā)明第二實施例顯示面板的部分剖視圖；

圖7是本發(fā)明第三實施例顯示面板的部分剖視圖；

圖8是本發(fā)明第三實施例顯示面板的透光率示意圖；

附圖標號說明：

110-基板；121-第一膜層；122-第二膜層；141-第一臺階；150-不透光基準層；160-黑色矩陣；170-其它層/空白；210-光發(fā)射器；220-光接收器；342-第二臺階；323-第三膜層；424-第四膜層；425-第五膜層；426-第六膜層；427-第七膜層；443-第三臺階；444-第四臺階；445-第五臺階；446-第六臺階。

具體實施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

本申請說明書、權(quán)利要求書和附圖中出現(xiàn)的術(shù)語“包括”和“具有”以及它們?nèi)魏巫冃?，意圖在于覆蓋不排他的包含。例如包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備沒有限定于已列出的步驟或單元，而是可選地還包括沒有列出的步驟或單元，或可選地還包括對于這些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。此外，術(shù)語“第一”、“第二”和“第三”等是用于區(qū)別不同的對象，而并非用于描述特定的順序。

本發(fā)明實施例提供一種顯示面板，所述顯示面板為ltps顯示面板，當然，在本發(fā)明的其他實施例中，所述顯示面板還可以是其他普通的顯示面板。在本實施例中，所述ltps顯示面板例如為ltps型液晶顯示面板、ltps型有機發(fā)光二極管顯示面板或者其他ltps型顯示面板，在本實施例中所述顯示面板為ltps型液晶顯示面板，請參見圖1，所述顯示面板包括基板110、第一膜層121和第二膜層122。

在本實施例中，所述基板110為陣列基板，所述陣列基板為玻璃基板110，在本發(fā)明的其他實施例中，所述陣列基板還可以為其他柔性基板，例如所述柔性基板的材料為聚酰亞胺(pi)、聚碳酸酯(pc)、聚醚砜(pes)、聚對苯二甲酸乙二醇酯(pet)、聚萘二甲酸乙二醇酯(pen)、多芳基化合物(par)或玻璃纖維增強塑料(frp)等。

在本實施例中，所述第一膜層121直接形成在所述基板110上，也即所述第一膜層121與所述基板110之間沒有間隔其他透光膜層，當然，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第一膜層也可以間接形成在所述基板上，也即所述第一膜層與所述基板之間間隔其他透光膜層。在本實施例中，所述第一膜層121為透光膜層，所述第一膜層121只包含一層膜，所述第一膜層121可以為緩沖層、柵極絕緣層、層間絕緣層、第一平坦層、共通電極層或第二絕緣層，在此處，所述第一膜層121為緩沖層。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第一膜層包含的膜層數(shù)量還可以為多層，所述第一膜層內(nèi)相鄰膜層之間在第一側(cè)邊緣形成間距，也即第一膜層內(nèi)相鄰膜層之間在左側(cè)邊緣形成臺階，例如第一膜層包含的膜層數(shù)量為兩層、三層或者更多層，例如所述第一膜層包含緩沖層和柵極絕緣層，所述緩沖層在第一側(cè)邊緣與所述柵極絕緣層在第一側(cè)邊緣形成間距。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第一膜層內(nèi)相鄰膜層之間在第一側(cè)邊緣平齊。

在本實施例中，所述第二膜層122直接形成在所述第一膜層121上，也即所述第二膜層122與所述第一膜層121之間沒有間隔其他透光膜層，當然，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第二膜層也可以間接形成在所述第一膜層上，也即所述第二膜層與所述第一膜層之間間隔其他透光膜層。在本實施例中，所述第二膜層122只包含一層膜，所述第二膜層122可以為柵極絕緣層、層間絕緣層、第一平坦層、共通電極層、第二絕緣層或像素電極層，在此處，所述第一膜層121為柵極絕緣層。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第二膜層包含的膜層數(shù)量還可以為多層，所述第二膜層內(nèi)相鄰膜層之間在第一側(cè)邊緣形成間距，也即第二膜層內(nèi)相鄰膜層之間在左側(cè)邊緣形成臺階，例如第二膜層包含的膜層數(shù)量為兩層、三層或者更多層，例如所述第二膜層包含柵極絕緣層、層間絕緣層，所述柵極絕緣層在第一側(cè)邊緣與所述層間絕緣層在第一側(cè)邊緣形成間距。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第一膜層內(nèi)相鄰多層膜層之間在第一側(cè)邊緣平齊。

在本實施例中，請繼續(xù)參見圖1，所述第二膜層122的第一側(cè)邊緣位于第一膜層121的內(nèi)側(cè)，所述第一側(cè)在圖示中為左側(cè)，也即所述第二膜層122的左側(cè)邊緣位于第一膜層121的內(nèi)側(cè)，也即所述第二膜層122的左側(cè)邊緣位于第一膜層121的上方且位于所述第一膜層121的左側(cè)邊緣的右側(cè)；所述第二膜層122的第一側(cè)邊緣與第一膜層121的第一側(cè)邊緣形成間距，在本實施例中，所述間距與所述第二膜層122的左側(cè)部分形成第一臺階141，所述第一臺階141在縱向方向上由所述第二膜層122的厚度形成。

在本實施例中，位于所述第二膜層122第一側(cè)邊緣外的第一膜層121處的第一實測透光率與第二膜層122處的第二實測透光率相異。具體說來，在本實施例中，位于所述第二膜層122第一側(cè)邊緣外的第一膜層121處是指第二膜層122左側(cè)邊緣外的第一膜層121處，也即第一膜層121在左側(cè)超出第二膜層122的部分，第一實測透光率是指第一膜層121不與第二膜層122重疊處的透光率，所述第二膜層122處是指第一膜層121和第二膜層122重疊處。由于第二膜層122處具有第一膜層121和第二膜層122，從而第一實測透光率與第二實測透光率不同，具體為第一實測透光率大于第二實測透光率，請參見圖2，其中圖2左側(cè)的圖是符合要求的第一膜層121和第二膜層122的透光率，圖2右側(cè)的圖中第二膜層122的透光率不符合要求，也即第二膜層122的特性不符合要求。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，位于所述第二膜層第一側(cè)邊緣外的第一膜層處的特性和所述第二膜層處的特性是通過透光率來表征，但本發(fā)明不限于此，還可以與透光率相近的指標來表征，例如亮度等，也落入本發(fā)明的范圍。

在本實施例中，由于所述第二膜層122形成在所述第一膜層121上，所述第二膜層122的第一側(cè)邊緣位于第一膜層121的內(nèi)側(cè)且與第一膜層121的同側(cè)邊緣形成間距，位于第二膜層122第一側(cè)邊緣外的第一膜層121處的第一實測透光率與第二膜層122處的第二實測透光率相異。從而，通過所述第一實測透光率、所述第二實測透光率以及兩者的差異，有助于監(jiān)控顯示面板制造過程第一膜層121和第二膜層122制程的變化以及其特性的變化，可以實現(xiàn)快速檢測，降低了成本，而且對此種顯示面板進行膜層檢測比較準確。而且，可以在顯示面板完全制造前進行檢測，有利于節(jié)省不良分析時間和提升分析效率，方便對不符合要求的膜層進行修復，有利于提升產(chǎn)品的良率。

在本實施例中，請繼續(xù)參見圖1，所述第一膜層121與所述第二膜層122相鄰，也即所述第二膜層122直接形成在所述第一膜層121的上表面上，但本發(fā)明不限于此，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第二膜層和所述第一膜層可以不相鄰，所述第二膜層和所述第一膜層還可以間隔其他透光膜層。

在本實施例中，所述顯示面板可以是切割后的小板，也即是我們平常看到的17寸的顯示面板、19寸的顯示面板、5寸的顯示面板等，也可以是未切割前的大板，所述大板經(jīng)過切割后可以形成多個小板。對膜層特性的檢測可以在小板上進行，也可以在大板上進行。

在本實施例中，請參見圖3，所述陣列基板上還設(shè)有不透光基準層150，所述不透光基準層150例如為柵極線、源極線、柵極、漏極、源極等金屬層或者其他新形成的不透光層，所述顯示面板還包括濾光片基板，所述濾光片基板與所述陣列基板相對設(shè)置并組立在一起，所述濾光片基板上設(shè)有黑色矩陣160，所述黑色矩陣160也不透光，所述不透光金屬層和所述黑色矩陣160之間設(shè)有透光的間隙，所述的透光的間隙處可以有其他各種各樣的透光膜層，在圖3中所述間隙處和黑色矩陣160外面的區(qū)域是其它層/空白170。從而，當從顯示面板一側(cè)發(fā)射光，另一側(cè)接收光，可以測的黑色矩陣160與不透光基準層150之間間隙的距離，通過該距離與標準距離進行對比，從而可以獲得陣列基板與濾光片基板在組立時是否有偏移，請參見圖4(膜層按圖3箭頭方向排列)，在圖4左側(cè)的圖中所述陣列基板與濾光片基板在組立時符合要求，在圖4右側(cè)的圖中所述黑色矩陣160相對所述不透光基準層150向右側(cè)進行了偏移，從而從圖4右側(cè)的圖中可以明顯的看出所述陣列基板與濾光片基板在組立時有了偏移。此種方式可以快速測量陣列基板與濾光片基板組立時的偏移，測量比較準確。而且，如果陣列基板與濾光片基板在組立時存在偏移，還可以計算出偏移值，方便陣列基板和濾光片基板組立的校正。在本實施例中，所述不透光基準層150和所述黑色矩陣160可以是被切割后的小板上本身具有的膜層，但本發(fā)明不限于此，所述不透光基準層150和所述黑色矩陣160也可以是新形成的膜層，當是新形成的膜層時，所述不透光基準層150和所述黑色矩陣160可以是形成在被切割后的小板的標示區(qū)，也可以是形成在未切割前的大板的標識區(qū)。

在本實施例中，所述黑色矩陣160與所述不透光基準層150在水平面的投影時所述黑色矩陣160圍繞所述不透光基準層150，也即在基準層的上下左右四個方向都有黑色矩陣160，從而可以計算得到兩個橫向偏移值和兩個縱向偏移值，通過對兩個橫向偏移值作平均可以得到陣列基板與濾光片基板橫向平均偏移值，通過對兩個縱向偏移值作平均可以得到陣列基板與濾光片基板縱向平均偏移值，通過此種方式計算偏移值，測量更加準確。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述黑色矩陣與所述不透光基準層在水平面的投影時所述黑色矩陣在橫向上還可以位于基準層的一側(cè)，在縱向上也可以位于基準層的一側(cè)。

另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述基板還可以為濾光片基板，所述第一膜層、第二膜層形成在所述濾光片基板上。具體說來，所述第一膜層形成在所述濾光片基板上，所述第二膜層形成在所述第一膜層上。在此處，所述第一膜層可以為基色層或者保護層，所述基色層為r、g、b色阻層，所述第二膜層為第二平坦層。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第二膜層還可以為共通電極層。

另外，本發(fā)明實施例還提供一種顯示面板的膜層檢測系統(tǒng)，請參見圖5，包括顯示面板、光發(fā)射器210、光接收器220和處理單元，所述顯示面板為上述實施例的顯示面板，所述光發(fā)射器210位于顯示面板的一側(cè)，其用于發(fā)射檢測光。所述光接收器220位于所述顯示面板的另一側(cè)，其用于接收光發(fā)射器210發(fā)射的檢測光，從所述光發(fā)射器210發(fā)出的所述檢測光經(jīng)過所述顯示面板到達所述光接收器220。所述處理單元與所述光接收器220相連，根據(jù)所述光接收器220接收的檢測光所述處理單元獲得位于第二膜層122第一側(cè)邊緣外的第一膜層121處的第一實測透光率、第二膜層122處的第二實測透光率。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述顯示面板還可以是后面第二實施例、第三實施例的顯示面板。

具體說來，在本實施例中，所述光發(fā)射器210位于圖示中顯示面板的下側(cè)，所述光接收器220位于圖示中顯示面板的上側(cè)，所述光發(fā)射器210從圖示的左端向右移動，或者反過來，從光發(fā)射器210發(fā)出的所述檢測光在剛開始時經(jīng)由基板110、第一膜層121后被所述光接收器220接收，當然，所述檢測光還可以經(jīng)過其他透光膜層，當光發(fā)射器210移動一段時間后，從光發(fā)射器210發(fā)出的所述檢測光會經(jīng)由基板110、第一膜層121、第二膜層122后被所述光接收器220接收，當然，所述檢測光還可以經(jīng)過其他透光膜層，由于處理單元與光接收器220連接，所述處理單元可以根據(jù)所述光接收器220接收的檢測光獲得位于第二膜層122第一側(cè)邊緣外的第一膜層121處的第一實測透光率、第二膜層122處的第二實測透光率。在此處，所述第一實測透光率大于所述第二實測透光率。請參見圖2，從而根據(jù)第一實測透光率、第二實測透光率以及兩者的差異獲得第一膜層121、第二膜層122的特性是否符合要求。

另外，在本實施例中，所述檢測系統(tǒng)還包括判斷單元，所述判斷單元預(yù)存位于第二膜層122第一側(cè)邊緣外的第一膜層121處的第一標準透光率、第二膜層122處的第二標準透光率，根據(jù)所述第一標準透光率、第一實測透光率、第二標準透光率、第二實測透光率所述判斷判斷所述第一膜層121、第二膜層122是否符合要求，從而可以自動獲得第一膜層121、第二膜層122是否符合要求。另外，在本發(fā)明的其他實施例，還可以通過手動計算獲得第一膜層、第二膜層是否符合要求。

在本實施例中，所述光發(fā)射器210發(fā)射的檢測光用于獲得第一實測透光率、第二實測透光率時所述光發(fā)射器210移動的預(yù)設(shè)步長范圍是0.5μm-20μm，例如為0.5μm、1μm、5μm、10μm、15μm、20μm等。

在本實施例中，所述光發(fā)射器210還分別向不透光基準層150和黑色矩陣160發(fā)射檢測光，根據(jù)所述光接收器220接收的檢測光所述膜層檢測系統(tǒng)獲得光基準層與所述黑色矩陣160之間間隙的間距，從而，請參見圖4，根據(jù)該間距可以獲得所述濾光片基板和所述陣列基板對位是否符合要求。

在本實施例中，所述光發(fā)射器210發(fā)射的檢測光用于獲得光基準層與所述黑色矩陣160之間間隙的間距時所述光發(fā)射器210移動的預(yù)設(shè)步長范圍是0.1μm-0.5μm，例如為0.1μm、0.2μm、0.3μm、0.4μm、0.5μm等，從而可以比較精確的獲得所述濾光片基板與所述陣列基板之間偏移，從而進一步可以滿足測量超高像素密度(ppi)產(chǎn)品陣列基板與濾光片基板組立時的偏移，從而可以將濾光片基板與所述陣列基板之間的偏移量測精確到0.1μm、0.2μm、0.3μm、0.4μm等。

第二實施例

圖6為本發(fā)明第二實施例提供的一種顯示面板，圖6的結(jié)構(gòu)與圖1的結(jié)構(gòu)相似，因此相同的元件符號代表相同的元件，本實施例與第一實施例的主要不同點為基板上還設(shè)有第三膜層。

請參見圖6，在本實施例中，所述第三膜層323是透光膜層，所述第三膜層323直接形成在所述第二膜層122上，也即所述第三膜層323與所述第二膜層122之間沒有間隔其他透光膜層，也即所述第三膜層323與所述第二膜層122鄰接，當然，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第三膜層也可以間接形成在所述第二膜層上，也即所述第三膜層與所述第二膜層之間間隔其他透光膜層。在本實施例中，所述第三膜層323只包含一層膜，所述第三膜層323可以為層間絕緣層、第一平坦層、共通電極層、第二絕緣層或像素電極層，在此處，所述第三膜層323為層間絕緣層。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第三膜層包含的膜層數(shù)量還可以為多層，例如第三膜層包含的膜層數(shù)量為兩層、三層或者更多層，例如所述第三膜層包含層間絕緣層、第一平坦層，所述層間絕緣層在第二側(cè)邊緣與所述第一平坦層在第二側(cè)邊緣平齊。

在本實施例中，所述第三膜層323的第二側(cè)邊緣位于第二膜層122的內(nèi)側(cè)，請繼續(xù)參見圖6，所述第二側(cè)與所述第一側(cè)一樣，也為左側(cè)，當然，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第二側(cè)還可以與第一側(cè)不同，例如所述第二側(cè)可以為右側(cè)、上側(cè)或下側(cè)等。所述第三膜層323的第二側(cè)邊緣與第二膜層122的第二側(cè)邊緣形成間距，在本實施例中，所述間距與所述第三膜層323的左側(cè)部分形成第二臺階342，所述第二臺階342在縱向方向上由所述第三膜層323的厚度形成。

在本實施例中，位于所述第三膜層323第二側(cè)邊緣外的第二膜層122處的第三實測透光率與第二膜層122處的第二實測透光率相異。具體說來，在本實施例中，位于所述第三膜層323第二側(cè)邊緣外的第二膜層122處是指第三膜層323左側(cè)邊緣外的第二膜層122處，也即第二膜層122在左側(cè)超出第三膜層323的部分，第二實測透光率是指第一膜層121、第二膜層122重疊處的透光率，所述第三膜層323處是指第一膜層121、第二膜層122、第三膜層323重疊處，第三實測透光率是指第一膜層121、第二膜層122、第三膜層323重疊處的透光率。由于第三膜層323處具有第一膜層121、第二膜層122和第三膜層323，從而第二實測透光率與第三實測透光率不同，具體為第二實測透光率大于第三實測透光率。

第三實施例

圖7為本發(fā)明第三實施例提供的一種顯示面板，圖7的結(jié)構(gòu)與圖6的結(jié)構(gòu)相似，因此相同的元件符號代表相同的元件，本實施例與第二實施例的主要不同點為基板上還設(shè)有第四-第七膜層。

請參見圖7，所述顯示面板除了包括第一-第三膜層323外，還包括透光的第四膜層424、第五膜層425、第六膜層426、第七膜層427，所述第四膜層424直接位于所述第三膜層323上面，所述第五膜層425直接位于第四膜層424上面，所述第六膜層426直接位于第五膜層425上面，所述第七膜層427直接位于第六膜層426上面。在本實施例中，所述第一膜層121是緩沖層，所述第二膜層122是柵極絕緣層，所述第三膜層323是層間絕緣層，所述第四膜層424是第一平坦層，所述第五膜層425是共通電極層，所述第六膜層426是第二絕緣層，所述第七膜層427是像素電極層。

所述第四膜層424的第三側(cè)邊緣位于第三膜層323的內(nèi)側(cè)且與第三膜層323的同側(cè)邊緣形成間距，在本實施例中，所述第三側(cè)為圖示中的左側(cè)，所述間距與所述第四膜層424的左側(cè)部分形成第三臺階443，所述第三臺階443在縱向方向上由所述第四膜層424的厚度形成。所述第五膜層425的第四側(cè)邊緣位于第四膜層424的內(nèi)側(cè)且與第四膜層424的同側(cè)邊緣形成間距，在本實施例中，所述第四側(cè)為圖示中的左側(cè)，所述間距與所述第五膜層425的左側(cè)部分形成第四臺階444，所述第四臺階444在縱向方向上由所述第五膜層425的厚度形成。所述第六膜層426的第五側(cè)邊緣位于第五膜層425的內(nèi)側(cè)且與第五膜層425的同側(cè)邊緣形成間距，在本實施例中，所述第五側(cè)為圖示中的左側(cè)，所述間距與所述第六膜層426的左側(cè)部分形成第五臺階445，所述第五臺階445在縱向方向上由所述第六膜層426的厚度形成。所述第七膜層427的第六側(cè)邊緣位于第六膜層426的內(nèi)側(cè)且與第六膜層426的同側(cè)邊緣形成間距，在本實施例中，所述第六側(cè)為圖示中的左側(cè)，所述間距與所述第七膜層427的左側(cè)部分形成第六臺階446，所述第六臺階446在縱向方向上由所述第七膜層427的厚度形成。另外，在本發(fā)明的其他實施例中，所述第三側(cè)、第四側(cè)、第五側(cè)、第六側(cè)不限為左側(cè)，還可以為右側(cè)、上側(cè)、下側(cè)或者其他側(cè)。

在本實施例中，位于所述第二膜層122第一側(cè)邊緣外的第一膜層121處的第一實測透光率與第二膜層122處的第二實測透光率不同，位于所述第三膜層323第二側(cè)邊緣外的第二膜層122處的第二實測透光率與第三膜層323處的第三實測透光率不同，位于所述第四膜層424第三側(cè)邊緣外的第三膜層323處的第三實測透光率與第四膜層424處的第四實測透光率不同，位于所述第五膜層425第四側(cè)邊緣外的第四膜層424處的第四實測透光率與第五膜層425處的第五實測透光率不同，位于所述第六膜層426第五側(cè)邊緣外的第五膜層425處的第五實測透光率與第六膜層426處的第六實測透光率不同，位于所述第七膜層427第六側(cè)邊緣外的第六膜層426處的第六實測透光率與第七膜層427處的第七實測透光率不同，具體為第一實測透光率、第二實測透光率、第三實測透光率、第四實測透光率、第五實測透光率、第六實測透光率、第七實測透光率逐步降低。請參見圖8，其中圖8左側(cè)的圖是符合要求的第一膜層121-第七膜層427的透光率，圖8右側(cè)的圖中第六膜層426的透光率不符合要求，也即第六膜層426的特性不符合要求。

需要說明的是，本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其它實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。對于裝置實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。

通過上述實施例的描述，本發(fā)明具有以下優(yōu)點：

由于所述第二膜層形成在所述第一膜層上，所述第二膜層的第一側(cè)邊緣位于第一膜層的內(nèi)側(cè)且與第一膜層的同側(cè)邊緣形成間距，位于第二膜層第一側(cè)邊緣外的第一膜層處的第一實測透光率與第二膜層處的第二實測透光率相異。從而，通過所述第一實測透光率、所述第二實測透光率以及兩者的差異，有助于監(jiān)控顯示面板制造過程第一膜層和第二膜層制程的變化以及其特性的變化，可以實現(xiàn)快速檢測，降低了成本，而且對此種顯示面板進行膜層檢測比較準確。而且，可以在顯示面板完全制造前進行檢測，有利于節(jié)省不良分析時間和提升分析效率，方便對不符合要求的膜層進行修復，有利于提升產(chǎn)品的良率。

以上所揭露的僅為本發(fā)明較佳實施例而已，當然不能以此來限定本發(fā)明之權(quán)利范圍，因此依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬本發(fā)明所涵蓋的范圍。