本發(fā)明涉及顯示技術領域，特別涉及一種顯示面板、其檢測方法及顯示裝置。

背景技術：

隨著顯示技術的飛速發(fā)展，顯示面板越來越向著高集成度和低成本的方向發(fā)展。其中，陣列基板行驅動(Gate Driver on Array，GOA)技術將薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)柵極開關電路集成在顯示面板的陣列基板上以形成對顯示面板的掃描驅動。在上述顯示面板的工藝制備流程中，在將顯示面板母板切割后會形成多個顯示面板，為了防止顯示面板出貨不良以及防止貴重元件的損耗，在組裝驅動芯片IC等元件之前需要對顯示面板進行檢測。一般待檢測的顯示面板至少包括：柵極驅動電路、多條信號線以及與每條信號線分別連接的測試端子。其中，柵極驅動電路，如圖1所示，一般包括級聯(lián)的N個級聯(lián)的移位寄存器單元GOA(n)，其中，N為大于或等于1的整數(shù)，n為大于或等于1且小于或等于N的整數(shù)；第一級移位寄存器單元GOA(1)的輸入信號端Input用于接收幀觸發(fā)信號STV；除第一級移位寄存器單元GOA(1)之外，其余各級移位寄存器單元GOA(n)的輸入信號端Input分別與其連接的上一級移位寄存器單元GOA(n-1)的驅動信號輸出端Output_n-1相連，用于接收上一級移位寄存器單元GOA(n-1)的驅動信號輸出端Output_n-1輸出的掃描信號Gate_n-1；除最后一級移位寄存器單元GOA(N)之外，其余各級移位寄存器單元GOA(n)的復位信號端Reset分別與其連接的下一級移位寄存器單元GOA(n+1)的驅動信號輸出端Output_n+1相連，用于接收下一級移位寄存器單元GOA(n+1)的驅動信號輸出端Output_n+1輸出的掃描信號Gate_n+1；并且各級移位寄存器單元GOA(n)的時鐘信號端Clk用于接收時鐘信號CLK1、CLK2、CLK3、CLK4中對應的時鐘信號，高電位直流電壓信號端Vgh用于接收高電位直流電壓信號VGH，低電位直流電壓信號端Vgl用于接收低電位直流電壓信號VGL，從而使柵極驅動電路依次向顯示面板上的各行柵線輸入掃描信號。

目前，在上述顯示面板的檢測過程中，當對柵極驅動電路進行檢測時，一般采用治具探針與顯示面板上的各測試端子連接以向柵極驅動電路輸入所需的信號，使柵極驅動電路中的各級移位寄存器單元輸出掃描信號，已將顯示面板點亮，并通過分析顯示面板的畫面篩查出不良位置。一般為了不造成信號干擾，每條信號線分別對應一個測試端子。然而由于柵極驅動電路在工作時需要輸入的信號較多，因此導致需要設計多個測試端子，并且為了保證治具探針與測試端子能夠良好接觸，測試端子不能設置太小，一般設為0.8mm×0.8mm，從而造成測試端子占用顯示面板的空間較大，進而應用于智能穿戴等小尺寸產(chǎn)品時可能會受到限制，導致不適用于小尺寸產(chǎn)品。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供一種顯示面板、其檢測方法及顯示裝置，用以通過較少的測試端子即可實現(xiàn)對顯示面板中柵極驅動電路的檢測。

因此，本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板，包括：柵極驅動電路以及多條用于向所述柵極驅動電路輸入不同控制信號的信號線，還包括：至少一個測試端子，且各所述測試端子至少與兩條所述信號線電性連接；

所述測試端子用于僅在測試時與對應的外部治具探針連接，將接收到的測試信號輸入連接的信號線中。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，還包括：導通控制信號輸入端子以及與各所述信號線一一對應的控制模塊；其中，各所述控制模塊的輸入端與對應的信號線連接的測試端子相連，控制端與所述導通控制信號輸入端子相連，輸出端分別與對應的信號線相連；

所述導通控制信號輸入端子僅在測試時與對應的外部治具探針連接，將接收到的信號輸入各所述控制模塊；

所述控制模塊用于僅在測試時在所述導通控制信號輸入端子的信號的控制下導通所述控制模塊對應的信號線與所述對應的信號線連接的測試端子。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，所述控制模塊包括：開關晶體管；其中，

所述開關晶體管的柵極為所述控制模塊的控制端，源極為所述控制模塊的輸入端，漏極為所述控制模塊的輸出端。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，所有所述開關晶體管為N型開關晶體管，所述導通控制信號輸入端子接收到的信號為具有高電位的直流電壓信號；或者，

所有所述開關晶體管為P型開關晶體管，所述導通控制信號輸入端子接收到的信號為具有低電位的直流電壓信號。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，所述導通控制信號輸入端子與所有所述測試端子中的一個測試端子為同一個端子。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，還包括：柵極驅動芯片，與連接于各所述信號線與所述柵極驅動芯片之間的第一連接線；其中，

所述柵極驅動芯片用于在各所述信號線與其連接的測試端子斷開后在顯示時分別向各所述信號線輸入對應的控制信號。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，在所述顯示面板還包括：導通控制信號輸入端子以及與各所述信號線一一對應的控制模塊時，所述顯示面板還包括：連接于所述柵極驅動芯片與各所述控制模塊的控制端之間的第二連接線；其中，

所述柵極驅動芯片還用于在顯示時向各所述控制模塊輸入截止控制信號；

各所述控制模塊還用于在顯示時在所述截止控制信號的控制下斷開對應的信號線以及與所述對應的信號線連接的測試端子。

相應地，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示裝置，包括本發(fā)明實施例提供的上述任一種顯示面板。

相應地，本發(fā)明實施例還提供了一種本發(fā)明實施例提供的上述任一種顯示面板的檢測方法，包括：將各外部治具探針與對應的測試端子導通，向所述對應的測試端子輸入測試信號。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實施例提供的上述檢測方法中，在向所述對應的測試端子輸入測試信號之后，還包括：

將各所述測試端子與各所述測試端子連接的信號線斷路；

分別通過各所述第一連接線向斷路后的信號線輸入對應的控制信號。

本發(fā)明有益效果如下：

本發(fā)明實施例提供的顯示面板、其檢測方法及顯示裝置，由于包括至少一個測試端子，且每個測試端子至少與兩條信號線電性連接，其中，測試端子僅在測試時與對應的外部治具探針連接，將接收到的測試信號輸入連接的信號線中，驅動柵極驅動電路工作，使顯示面板保持一直點亮狀態(tài)，再通過分析顯示面板的畫面以檢測篩查出不良位置。因此可以通過較少的測試端子實現(xiàn)顯示面板的檢測過程，從而可以減小測試端子占用顯示面板的空間，從而適用于小尺寸產(chǎn)品。當然由于大尺寸產(chǎn)品的顯示面板的空間較大，因此也適用于大尺寸的產(chǎn)品。

附圖說明

圖1為現(xiàn)有技術中的柵極驅動電路的結構示意圖；

圖2a為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之一；

圖2b為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之二；

圖3a為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之三；

圖3b為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之四；

圖3c為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之五；

圖3d為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之六；

圖3e為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之七；

圖3f為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的結構示意圖之八；

圖4a為圖3a所示的顯示面板的具體結構示意圖之一；

圖4b為圖3b所示的顯示面板的具體結構示意圖；

圖4c為圖3c所示的顯示面板的具體結構示意圖之一；

圖4d為圖3d所示的顯示面板的具體結構示意圖；

圖5a為圖3a所示的顯示面板的具體結構示意圖之二；

圖5b為圖3c所示的顯示面板的具體結構示意圖之二；

圖6為本發(fā)明實施例提供的顯示面板的檢測方法的流程圖；

圖7為圖4c所示顯示面板的在檢測過程中的工作示意圖。

具體實施方式

為了使本發(fā)明的目的，技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面結合附圖，對本發(fā)明實施例提供的顯示面板、其檢測方法及顯示裝置的具體實施方式進行詳細地說明。應當理解，下面所描述的優(yōu)選實施例僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。并且在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。

附圖中各元件的形狀、大小等均不反映顯示面板的真實比例，目的只是示意說明本發(fā)明內容。

本發(fā)明實施例提供了一種顯示面板，如圖2a和圖2b(圖2a以包括一個測試端子且測試端子與所有的信號線連接為例；圖2b以包括兩個測試端子且其中一個測試端子與三條信號線相連，另一個測試端子與四條信號線連接為例)所示，包括：柵極驅動電路100以及多條用于向柵極驅動電路100輸入不同控制信號的信號線200，還包括：至少一個測試端子300，且各測試端子300至少與兩條信號線200電性連接；

測試端子300用于僅在測試時與對應的外部治具探針連接，將接收到的測試信號輸入連接的信號線200中。

本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板，由于包括至少一個測試端子，且每個測試端子至少與兩條信號線電性連接，其中，測試端子僅在測試時與對應的外部治具探針連接，將接收到的測試信號輸入連接的信號線中，驅動柵極驅動電路工作，使顯示面板保持一直點亮狀態(tài)，再通過分析顯示面板的畫面以檢測篩查出不良位置。因此可以通過較少的測試端子實現(xiàn)顯示面板的檢測過程，從而可以減小測試端子占用顯示面板的空間，從而適用于小尺寸產(chǎn)品。當然由于大尺寸產(chǎn)品的顯示面板的空間較大，因此也適用于大尺寸的產(chǎn)品。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，在柵極驅動電路輸出的掃描信號的有效脈沖信號為高電位時，測試端子接收到的測試信號為具有高電位的直流電壓信號?；蛘?，在柵極驅動電路輸出的掃描信號的有效脈沖信號為低電位時，測試端子接收到的測試信號為具有低電位的直流電壓信號。

需要說明的是，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，柵極驅動電路與現(xiàn)有技術相同，因此當柵極驅動電路中的各移位寄存器的各信號端接收的信號均為高電位時，在顯示一幀的時間內，各移位寄存器輸出的掃描信號的電位為高電位?；蛘?，當當柵極驅動電路中的各移位寄存器的各信號端接收的信號均為低電位時，在顯示一幀的時間內，各移位寄存器輸出的掃描信號的電位為低電位。

在具體實施時，為了使測試端子可以重復被利用，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，如圖3a和圖3b所示，還包括：導通控制信號輸入端子400以及與各信號線200一一對應的控制模塊500；其中，各控制模塊500的輸入端與對應的信號線200連接的測試端子300相連，控制端與導通控制信號輸入端子400相連，輸出端分別與對應的信號線200相連；

導通控制信號輸入端子400僅在測試時與對應的外部治具探針連接，將接收到的信號輸入各控制模塊500；

控制模塊500用于僅在測試時在導通控制信號輸入端子400的信號的控制下導通控制模塊500對應的信號線200與對應的信號線200連接的測試端子300。

為了進一步減小測試端子占用顯示面板中的空間，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，導通控制信號輸入端子與所有測試端子中的一個測試端子為同一個端子。例如，如圖3c所示，所有的控制模塊500的控制端均與同一個對應所有信號線200的測試端子300相連?；蛘撸鐖D3d所示，所有的控制模塊500的控制端均與同一個對應3條信號線200的測試端子300相連。這樣將導通控制信號輸入端子與測試端子中的一個測試端子共用，可以不用額外的設置導通控制信號輸入端子，從而降低顯示面板的占用面積，并且還可以簡化制備工藝，降低生產(chǎn)成本。

一般對顯示面板進行檢測時，通過治具探針與測試端子連接將測試信號輸入柵極驅動電路點亮顯示面板。在顯示面板檢測確認為良品時，需要進行柵極驅動芯片等元件的組裝，向柵極驅動電路提供所需的控制信號，以實現(xiàn)顯示面板的顯示功能。在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，如圖3a至圖5b所示，還包括：柵極驅動芯片IC，與連接于各信號線200與柵極驅動芯片IC之間的第一連接線600；其中，

柵極驅動芯片IC用于在各信號線200與其連接的測試端子300斷開后在顯示時分別向各信號線200輸入對應的控制信號。在實際應用中，柵極驅動芯片IC的具體結構以及向各信號線200輸入對應的控制信號的具體實施方式與現(xiàn)有技術相同，為本領域的普通技術人員應該理解具有的，在此不做詳述，也不應作為對本發(fā)明的限制。

具體地，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，如圖3a和圖3b所示，在顯示面板還包括：導通控制信號輸入端子400以及與各信號線200一一對應的控制模塊500時，顯示面板還包括：連接于柵極驅動芯片IC與各控制模塊500的控制端之間的第二連接線700；其中，

柵極驅動芯片IC還用于在顯示時向各控制模塊500輸入截止控制信號；

各控制模塊500還用于在顯示時在截止控制信號的控制下斷開對應的信號線200以及與對應的信號線200連接的測試端子300。這樣在顯示面板與柵極驅動芯片IC組裝完成之后，可以將IC功能停用以采用測試端子進一步檢測顯示面板與柵極驅動芯片IC組裝的過程中是否對柵極驅動電路造成不良影響，從而可以重復利用測試端子。

進一步地，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，在顯示面板還包括：導通控制信號輸入端子400以及與各信號線200一一對應的控制模塊500且導通控制信號輸入端子與所有測試端子300中的一個測試端子為同一個端子時，如圖3c和圖3d所示，顯示面板還包括：連接于柵極驅動芯片IC與各控制模塊500的控制端之間的第二連接線700；其中，

柵極驅動芯片IC還用于在顯示時向各控制模塊500輸入截止控制信號；

各控制模塊500還用于在顯示時在截止控制信號的控制下斷開對應的信號線200以及與對應的信號線200連接的測試端子300。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，如圖4a至圖5b所示，控制模塊500具體可以包括：開關晶體管M0；其中，

開關晶體管M0的柵極為控制模塊500的控制端，源極為控制模塊500的輸入端，漏極為控制模塊500的輸出端。在具體實施中，這些開關晶體管的源極和漏極根據(jù)開關晶體管類型以及各端的信號的不同，其功能可以互換，在此不做具體區(qū)分。

具體地，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，如圖4a和圖4b所示，所有開關晶體管M0可以為N型開關晶體管，導通控制信號輸入端子400接收到的信號為具有高電位的直流電壓信號，并且截止控制信號為具有低電位的電壓控制信號。

或者，如圖5a所示，所有開關晶體管M0可以為P型開關晶體管，導通控制信號輸入端子400接收到的信號為具有低電位的直流電壓信號，并且截止控制信號為具有高電位的電壓控制信號，在此不作限定。

進一步地，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，在導通控制信號輸入端子與所有測試端子300中的一個測試端子為同一個端子時，如圖4c和圖4d所示，所有開關晶體管M0可以為N型開關晶體管，測試端子300接收到的信號為具有高電位的直流電壓信號，并且截止控制信號為具有低電位的電壓控制信號。

或者，如圖5b所示，所有開關晶體管M0可以為P型開關晶體管，測試端子300接收到的信號為具有低電位的直流電壓信號，并且截止控制信號為具有高電位的電壓控制信號，在此不作限定。

具體地，在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述顯示面板中，在組裝柵極驅動芯片等元件之前，可以采用激光切割直接將信號線與其連接的測試端子斷路，如圖3e和圖3f所示，顯示面板還包括：在檢測完成之后，對各信號線200與其連接的測試端子300進行激光切割形成斷路的切割區(qū)域800。這樣可能導致不能重復利用測試端子，但是可以簡化制備工藝。

基于同一發(fā)明構思，本發(fā)明實施例還提供了一種本發(fā)明實施例提供的上述任一種顯示面板的檢測方法，如圖6所示，包括：

S601、將各外部治具探針與對應的測試端子導通，向對應的測試端子輸入測試信號。

在具體實施時，在本發(fā)明實施例提供的上述檢測方法中，在向對應的測試端子輸入測試信號之后，還包括：

將各測試端子與各測試端子連接的信號線斷路；

分別通過各第一連接線向斷路后的信號線輸入對應的控制信號。

下面以圖4c所示的顯示面板為例對本發(fā)明提供的顯示面板的檢測方法進行說明。在圖4c所示的移位寄存器中所有開關晶體管M0均為N型開關晶體管，檢測方法包括如下步驟：

(1)將各外部治具探針與測試端子300導通，向測試端子300輸入測試信號。

具體地，如圖7所示，在顯示面板組裝柵極驅動芯片IC之前或者在顯示面板組裝柵極驅動芯片IC之后且柵極驅動芯片IC功能關閉。將外部治具探針Probe與測試端子300導通，向測試端子300輸入具有高電位的直流電壓信號的測試信號。由于測試端子300上的測試信號為具有高電位的直流電壓信號，因此所有開關晶體管M0均導通，從而使測試端子300以及與其連接的信號線200導通，以將測試端子300上的測試信號通過連接的信號線200輸入柵極驅動電路100中，使柵極驅動電路100輸出相同的驅動信號Gate_n，并且，各驅動信號Gate_n的有效脈沖信號的電位均為高電位，從而可以點亮顯示面板，并且使顯示面板一直處于點亮狀態(tài)，以通過分析顯示面板的畫面篩查出不良位置。

(2)將各測試端子與各測試端子連接的信號線斷路。

具體地，在顯示面板組裝柵極驅動芯片IC之后且柵極驅動芯片IC功能開啟。柵極驅動芯片IC向各開關晶體管M0輸入具有低電位的截止控制信號，使得各開關晶體管M0均截止，從而使得各信號線200以及與其連接的測試端子300斷路。這樣可以避免測試端子300對其連接的各信號線200的信號干擾。

(3)分別通過各第一連接線600向斷路后的信號線200輸入對應的控制信號。

具體地，在顯示面板組裝柵極驅動芯片IC之后且柵極驅動芯片IC功能開啟。柵極驅動芯片IC分別通過各第一連接線600向斷路后的信號線200輸入對應的控制信號。

基于同一發(fā)明構思，本發(fā)明實施例還提供了一種顯示裝置，包括本發(fā)明實施例提供的上述任一種顯示面板。該顯示裝置可以為：手機、平板電腦、電視機、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。對于該顯示裝置的其它必不可少的組成部分均為本領域的普通技術人員應該理解具有的，在此不做贅述，也不應作為對本發(fā)明的限制。該顯示裝置的實施可以參見上述顯示面板的實施例，重復之處不再贅述。

本發(fā)明實施例提供的顯示面板、其檢測方法及顯示裝置，由于包括至少一個測試端子，且每個測試端子至少與兩條信號線電性連接，其中，測試端子僅在測試時與對應的外部治具探針連接，將接收到的測試信號輸入連接的信號線中，驅動柵極驅動電路工作，使顯示面板保持一直點亮狀態(tài)，再通過分析顯示面板的畫面以檢測篩查出不良位置。因此可以通過較少的測試端子實現(xiàn)顯示面板的檢測過程，從而可以減小測試端子占用顯示面板的空間，從而適用于小尺寸產(chǎn)品。當然由于大尺寸產(chǎn)品的顯示面板的空間較大，因此也適用于大尺寸的產(chǎn)品。

顯然，本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其等同技術的范圍之內，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內。