本實用新型涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種像素電路及顯示裝置。

背景技術(shù)：

有機(jī)電致發(fā)光二極管(Organic Light Emitting Diode，簡稱OLED)具有自發(fā)光、對比度高、色域廣、制備工藝簡單、以及易形成柔性結(jié)構(gòu)等優(yōu)點，因此，利用有機(jī)發(fā)光二極管的顯示技術(shù)已成為一種重要的顯示技術(shù)。

尤其是主動式矩陣有機(jī)電致發(fā)光二極管(Active Matrix Organic Light Emitting Diode，簡稱AMOLED)，其具有無視角限制、制造成本低、應(yīng)答速度快、節(jié)省功耗，而具有極大的發(fā)展?jié)摿Α?/p>

但是，目前的OLED顯示面板，由于在設(shè)計以及工藝穩(wěn)定性等方面的問題，發(fā)生亮點的幾率非常的大，而亮點問題在許多領(lǐng)域的應(yīng)用中，容忍度幾乎為零。

目前解決亮點的方法主要為通過設(shè)備對面板中的亮點進(jìn)行掃描，在確定亮點位置后通過激光切割的方案關(guān)閉像素點。但該方案效率低下且對像素的損傷較高。而且，當(dāng)像素的尺寸降低到納米級時，激光修復(fù)將無法對像素點進(jìn)行修復(fù)。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的實施例提供一種像素電路及顯示裝置，可解決亮點不良的問題，且不會對像素造成損傷。

為達(dá)到上述目的，本實用新型的實施例采用如下技術(shù)方案：

第一方面，提供一種像素電路，包括驅(qū)動模塊、發(fā)光模塊、熔斷模塊和熔斷控制模塊。

具體的，所述驅(qū)動模塊，分別連接掃描信號線、數(shù)據(jù)信號線、第一電壓端和熔斷模塊，用于在所述掃描信號線和所述數(shù)據(jù)信號線的控制下，將所述第一電壓端輸入的電壓信號轉(zhuǎn)化為驅(qū)動電流信號，并輸出至所述熔斷模塊。

所述熔斷模塊，還連接所述熔斷控制模塊和所述發(fā)光模塊，用于在所述熔斷控制模塊的控制下，使所述發(fā)光模塊和所述驅(qū)動模塊的連接斷開。

所述熔斷控制模塊，還連接控制線和接地端，用于在所述控制線輸入信號的控制下，使所述驅(qū)動模塊輸出至所述熔斷模塊的驅(qū)動電流信號流向所述接地端，以使所述發(fā)光模塊和所述驅(qū)動模塊的連接斷開。

所述發(fā)光模塊，還連接第二電壓端，用于在所述第二電壓端的控制下，通過所述驅(qū)動模塊輸出的驅(qū)動電流信號進(jìn)行發(fā)光。

可選的，所述驅(qū)動模塊包括第一晶體管、第二晶體管和存儲電容；所述第一晶體管的柵極連接所述掃描信號線，第一極連接所述數(shù)據(jù)信號線，第二極連接所述第二晶體管的柵極；所述第二晶體管的第一極連接所述第一電壓端，第二極連接所述熔斷模塊；所述存儲電容的一端連接所述第二晶體管的柵極，另一端連接所述第二晶體管的第二極，或者，另一端連接所述第二晶體管的第一極。

可選的，所述熔斷模塊包括熔斷元件；所述熔斷元件的一端連接所述驅(qū)動模塊，另一端與所述發(fā)光模塊和所述熔斷控制模塊均連接。

可選的，所述熔斷控制模塊包括第三晶體管；所述第三晶體管的柵極連接所述控制線，第一極連接所述熔斷模塊，第二極連接所述接地端。

可選的，所述發(fā)光模塊包括發(fā)光器件；所述發(fā)光器件的陽極連接所述熔斷模塊，陰極連接所述第二電壓端。

基于上述，優(yōu)選的，所述像素電路還包括控制線信號輸入模塊，分別連接所述掃描信號線、所述數(shù)據(jù)信號線、所述控制線和第三電壓端，用于在所述掃描信號線輸入掃描信號，所述數(shù)據(jù)信號線輸入關(guān)閉信號時，向所述控制線輸入第一信號，以在所述驅(qū)動模塊有驅(qū)動電流信號輸出時，使所述發(fā)光模塊和所述驅(qū)動模塊的連接斷開。

進(jìn)一步可選的，所述控制線信號輸入模塊包括第四晶體管和第五晶體管；所述第四晶體管的柵極連接所述數(shù)據(jù)信號線，第一極連接所述控制線，第二極連接所述第三電壓端；所述第五晶體管的柵極和第一極連接所述掃描信號線，第二極連接所述第四晶體管的第一極；其中，所述第四晶體管的寬長比為所述第五晶體管的寬長比的10倍以上。

第二方面，提供一種顯示裝置，包括第一方面所述的像素電路。

本實用新型的實施例提供一種像素電路及顯示裝置，通過向掃描信號線輸入掃描信號，向數(shù)據(jù)信號線輸入關(guān)閉信號，向控制線輸入第一信號，若所述像素電路存在常亮不良，則驅(qū)動模塊輸出至熔斷模塊的驅(qū)動電流信號流向接地端，發(fā)光模塊和驅(qū)動模塊的連接斷開，從而可解決常亮不良的問題，否則由于驅(qū)動模塊沒有驅(qū)動電流信號輸出，發(fā)光模塊和驅(qū)動模塊仍然通過熔斷模塊連接，不影響像素電路的正常工作。其中，當(dāng)所述像素電路正常工作時，掃描信號線輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線輸入數(shù)據(jù)信號，控制線輸入第二信號，可保證驅(qū)動模塊輸出的驅(qū)動電流信號驅(qū)動發(fā)光模塊發(fā)光。基于此，可知，本實用新型實施例在解決常亮不良問題的基礎(chǔ)上，不會對像素造成損傷。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型實施例提供的一種像素電路的結(jié)構(gòu)示意圖一；

圖2為圖1所示像素電路的各個模塊的一種具體結(jié)構(gòu)示意圖一；

圖3為圖1所示像素電路的各個模塊的一種具體結(jié)構(gòu)示意圖二；

圖4為本實用新型實施例提供的一種像素電路的結(jié)構(gòu)示意圖二；

圖5為圖4所示像素電路的各個模塊的一種具體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖6a-圖6d為圖5所示的像素電路對應(yīng)不同情況時的等效電路圖；

圖7為像素電路正常工作時的時序圖；

圖8為本實用新型實施例提供的一種像素電路的驅(qū)動方法流程圖。

具體實施方式

下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├?，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。

本實用新型實施例提供一種像素電路，如圖1所示，可以包括驅(qū)動模塊10、發(fā)光模塊20、熔斷模塊30和熔斷控制模塊40。

具體的，驅(qū)動模塊10，分別連接掃描信號線SL、數(shù)據(jù)信號線DL、第一電壓端V1和熔斷模塊30，用于在掃描信號線SL和數(shù)據(jù)信號線DL的控制下，將第一電壓端V1輸入的電壓信號轉(zhuǎn)化為驅(qū)動電流信號，并輸出至熔斷模塊30。

熔斷模塊30，還連接熔斷控制模塊40和發(fā)光模塊20，用于在熔斷控制模塊40的控制下，使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開。

熔斷控制模塊40，還連接控制線CL和接地端GND，用于在控制線CL輸入信號的控制下，使驅(qū)動模塊10輸出至熔斷模塊30的驅(qū)動電流信號流向接地端GND，以使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開。

發(fā)光模塊20，還連接第二電壓端V2，用于在第二電壓端V2的控制下，通過驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號進(jìn)行發(fā)光。

本實用新型實施例像素電路的工作方式為：當(dāng)像素電路正常工作時，控制線CL輸入的第二信號，保證發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10通過熔斷模塊30連接，此時，在第二電壓端V2的控制下，驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號通過熔斷模塊30流向發(fā)光模塊20，以驅(qū)動發(fā)光模塊20發(fā)光。

當(dāng)像素電路出現(xiàn)常亮不良時，控制線CL輸入的第一信號，使驅(qū)動模塊10輸出至熔斷模塊30的驅(qū)動電流信號流向接地端，以使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開。在此情況下，由于驅(qū)動模塊10輸出的電流信號不能流向發(fā)光模塊20，發(fā)光模塊20不再發(fā)光。

需要說明的是，第一，對于熔斷模塊30，一旦在熔斷控制模塊40的控制下，使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開，則發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10不能再恢復(fù)連接狀態(tài)。

第二，第一電壓端V1可以連接供電電壓端Vref或Vdd。第二電壓端V2可以連接低電壓端或接地端GND。

本實用新型實施例提供一種像素電路，通過向掃描信號線SL輸入掃描信號，向數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號，向控制線CL輸入第一信號，若所述像素電路存在常亮不良，則驅(qū)動模塊10輸出至熔斷模塊30的驅(qū)動電流信號流向接地端GND，發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開，從而可解決常亮不良的問題，否則由于驅(qū)動模塊10沒有驅(qū)動電流信號輸出，發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10仍然通過熔斷模塊30連接，不影響像素電路的正常工作。其中，當(dāng)所述像素電路正常工作時，掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號，控制線CL輸入第二信號，可保證驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號驅(qū)動發(fā)光模塊20發(fā)光。基于此，可知，本實用新型實施例在解決常亮不良問題的基礎(chǔ)上，不會對像素造成損傷。

如圖2和圖3所示，驅(qū)動模塊10可以包括第一晶體管T1、第二晶體管T2和存儲電容Cst。

其中，第一晶體管T1的柵極連接掃描信號線SL，第一極連接數(shù)據(jù)信號線DL，第二極連接第二晶體管T2的柵極。

第二晶體管T2的第一極連接第一電壓端V1，第二極連接熔斷模塊30。

存儲電容Cst的一端連接第二晶體管T2的柵極，另一端連接第二晶體管T2的第二極，或者，另一端連接第二晶體管T2的第一極。

此處，第二晶體管T2為驅(qū)動晶體管。

需要說明的是，所述驅(qū)動模塊10還可以包括與第一晶體管T1并聯(lián)的多個開關(guān)晶體管，和/或,還可以包括與第二晶體管T2并聯(lián)的多個驅(qū)動晶體管。上述僅僅是對驅(qū)動模塊10的舉例說明，其它與該驅(qū)動模塊10功能相同的結(jié)構(gòu)在此不再一一贅述，但都應(yīng)當(dāng)屬于本實用新型的保護(hù)范圍。

如圖2和圖3所示，熔斷模塊30可以包括熔斷元件FU。熔斷元件FU可以包括保險絲或保險管等，通過電壓變化實現(xiàn)熔斷功能的元件。

其中，熔斷元件FU的一端連接驅(qū)動模塊10，另一端與發(fā)光模塊20和熔斷控制模塊40均連接。當(dāng)驅(qū)動模塊10為上述結(jié)構(gòu)時，熔斷元件FU的一端連接第二晶體管T2的第二極。

需要說明的是，上述僅僅是對熔斷模塊30的舉例說明，其它與該熔斷模塊30功能相同的結(jié)構(gòu)在此不再一一贅述，但都應(yīng)當(dāng)屬于本實用新型的保護(hù)范圍。

如圖2和圖3所示，熔斷控制模塊40可以包括第三晶體管T3。

其中，第三晶體管T3的柵極連接控制線CL，第一極連接熔斷模塊30，第二極連接接地端GND。當(dāng)熔斷模塊30為上述結(jié)構(gòu)時，第三晶體管T3的第一極連接熔斷元件的另一端。

需要說明的是，所述熔斷控制模塊40還可以包括與第三晶體管T3并聯(lián)的多個開關(guān)晶體管。上述僅僅是對熔斷控制模塊40的舉例說明，其它與該熔斷控制模塊40功能相同的結(jié)構(gòu)在此不再一一贅述，但都應(yīng)當(dāng)屬于本實用新型的保護(hù)范圍。

發(fā)光模塊20包括發(fā)光器件。圖2和圖3中以發(fā)光模塊20為OLED(Organic Light Emitting Diode，有機(jī)發(fā)光二極管)進(jìn)行示意。

其中，發(fā)光器件的陽極連接熔斷模塊30，陰極連接第二電壓端V2。當(dāng)熔斷模塊30為上述結(jié)構(gòu)時，發(fā)光器件的陽極連接熔斷元件FU的另一端。

需要說明的是，發(fā)光器件并不限于OLED，還可以是包括LED(Light Emitting Diode，發(fā)光二極管)在內(nèi)的多種電流驅(qū)動發(fā)光器件。

基于上述，如圖4所示，所述像素電路還包括控制線信號輸入模塊50，分別連接掃描信號線SL、數(shù)據(jù)信號線DL、控制線CL和第三電壓端V3，用于在掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，向控制線CL輸入第一信號，以在驅(qū)動模塊10有驅(qū)動電流信號輸出時，使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開。

即：當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，若存在常亮不良，則驅(qū)動模塊10輸出驅(qū)動電流信號。在此情況下，在掃描信號線SL輸入掃描信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號、以及第三電壓端V3的控制下，控制線信號輸入模塊50向控制線CL輸入第一信號，以使驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號流向接地端GND，從而使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開，發(fā)光模塊20不再發(fā)光。當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，若不存在常亮不良，雖然控制線信號輸入模塊50向控制線CL輸入第一信號，但由于驅(qū)動模塊10沒有驅(qū)動輸出電流信號，對熔斷模塊30無影響，發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10仍然通過熔斷模塊30連接。

在掃描信號線SL輸入掃描信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號、以及第三電壓端V3的控制下，通過控制線信號輸入模塊50向控制線CL輸入第二信號，可保證驅(qū)動模塊10輸出的電流信號驅(qū)動發(fā)光模塊20發(fā)光。

本實用新型實施例通過在像素電路中設(shè)置控制線信號輸入模塊50，并使其與控制線CL、掃描信號線SL、數(shù)據(jù)信號線DL、第三電壓端V3連接，可實現(xiàn)在掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，向控制線CL輸入第一信號，在此情況下，若存在常亮不良，則驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號流向接地端GND，達(dá)到使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10自動斷開的目的，而若不存在常亮不良，則由于驅(qū)動模塊10沒有驅(qū)動電流信號輸出，對熔斷模塊30無影響；在掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號時，通過向控制線CL輸入第二信號，可保證像素電路的正常工作。其中，當(dāng)掃描信號線SL輸入關(guān)閉信號時，不管向控制線CL輸入第一信號或是第二信號，由于驅(qū)動模塊10沒有輸出電流，對熔斷模塊30無影響。

進(jìn)一步的，如圖5所示，控制線信號輸入模塊50包括第四晶體管T4和第五晶體管T5。

第四晶體管T4的柵極連接數(shù)據(jù)信號線DL，第一極連接控制線CL，第二極連接第三電壓端V3。

第五晶體管T5的柵極和第一極連接掃描信號線SL，第二極連接第四晶體管T4的第一極。

其中，第四晶體管T4的寬長比為第五晶體管T5的寬長比的10倍以上。

具體的，當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號時，第四晶體管T4和第五晶體管T5導(dǎo)通，此時由于第四晶體管T4的寬長比為第五晶體管T5的寬長比的10倍以上，因此，第五晶體管T5的電阻大于第四晶體管的電阻；在第三電壓端V3的控制下，可使控制線信號輸入模塊50向控制線CL輸入第二信號，以使得對熔斷模塊30無影響，驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號，通過熔斷模塊30流向發(fā)光模塊20。

當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，第四晶體管T4截止，第五晶體管T5導(dǎo)通，控制線信號輸入模塊50向控制線CL輸入第一信號。其中，若像素電路正常工作，則由于數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號，驅(qū)動模塊10不輸出驅(qū)動電流信號，因而對熔斷模塊30無影響；若像素電路存在常亮不良，則驅(qū)動模塊10會輸出驅(qū)動電流信號，驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號會流向接地端GND，以使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開，從而使得驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號則不能流向發(fā)光模塊20，發(fā)光模塊20不再發(fā)光。

當(dāng)掃描信號線SL輸入關(guān)閉信號時，數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號時，第四晶體管T4導(dǎo)通，第五晶體管T5截止，在第三電壓端V3的控制下，控制線信號輸入模塊50向控制線CL輸入第二信號，對熔斷模塊30無影響。

需要說明的是，第一，當(dāng)?shù)谒木w管T4和第五晶體管T5均為P型晶體管時，第三電壓端則為高電壓端，第一信號為低電壓信號，第二信號為高電壓信號。基于此，當(dāng)熔斷控制模塊40包括第三晶體管T3時，第三晶體管T3也為P型晶體管。

當(dāng)?shù)谒木w管T4和第五晶體管T5均為N型晶體管時，第三電壓端則為低電壓端，第一信號為高電壓信號，第二信號為低電壓信號?；诖?，當(dāng)熔斷控制模塊40包括第三晶體管T3時，第三晶體管T3也為N型晶體管。

其中，當(dāng)驅(qū)動模塊10包括第一晶體管T1和第二晶體管T2時，則第一晶體管T1和第二晶體管T2的類型與第四晶體管T4和第五晶體管T5的類型一致。

第二，所述控制線信號輸入模塊50還可以包括多個并聯(lián)的第四晶體管T4，包括多個并聯(lián)的第五晶體管T5。上述僅僅是對控制線信號輸入模塊50的舉例說明，其它與該控制線信號輸入模塊50功能相同的結(jié)構(gòu)在此不再一一贅述，但都應(yīng)當(dāng)屬于本實用新型的保護(hù)范圍。

基于上述對各模塊具體電路的描述，當(dāng)圖5中的所有晶體管均為P型晶體管，且第三電壓端V3為高電壓端時，對如圖5所示的像素電路的工作過程進(jìn)行詳細(xì)的描述。其中，本實用新型實施例提供的等效電路圖中，處于截止?fàn)顟B(tài)的晶體管以打“×”表示，處于熔斷狀態(tài)的熔斷元件FU以打“×”表示。

結(jié)合如圖7所示的時序，當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號時，如圖6a所示，第一晶體管T1、第二晶體管T2導(dǎo)通，第二晶體管T2輸出驅(qū)動電流信號；同時，第四晶體管T4、第五晶體管T5導(dǎo)通，向控制線CL輸入高電壓信號(即第二信號)，第三晶體管T3截止，第二晶體管T2輸出的驅(qū)動電流信號通過熔斷元件FU流向發(fā)光器件，發(fā)光器件發(fā)光。

當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，若第二晶體管T2正常，則如圖6b所示，第一晶體管T1導(dǎo)通、第二晶體管T2截止，第二晶體管T2無驅(qū)動電流信號輸出；同時，第五晶體管T5導(dǎo)通、第四晶體管T4截止，向控制線CL輸入低電壓信號(即第一信號)，第三晶體管T3導(dǎo)通，但由于第二晶體管T2無驅(qū)動電流信號輸出，熔斷元件FU兩端的電壓無變化，熔斷元件FU不熔斷。

當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，若第二晶體管T2由于設(shè)計以及工藝穩(wěn)定性等原因?qū)е陆瞥ｉ_，則如圖6c所示，第一晶體管T1導(dǎo)通，第二晶體管T2有驅(qū)動電流信號輸出；同時，第五晶體管T5導(dǎo)通、第四晶體管T4截止，向控制線CL輸入低電壓信號，第三晶體管T3導(dǎo)通，使第二晶體管T2輸出的驅(qū)動電流信號流向接地端GND，此時由于熔斷元件FU兩端的電壓發(fā)生變化，使得熔斷元件FU熔斷，從而使發(fā)光器件關(guān)閉。

當(dāng)掃描信號線SL輸入關(guān)閉信號、數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號時，如圖6d所示，第一晶體管T1、第一晶體管T2、第三晶體管T3、第五晶體管T5均截止，對熔斷元件FU無影響。

需要說明的是，本實用新型對除了第二晶體管T2，即驅(qū)動晶體管以外的晶體管的第一極、第二極不做限定，第一極可以是漏極，第二極可以是源極；或者第一極可以是源極，第二極可以是漏極。當(dāng)驅(qū)動晶體管為P型晶體管時，由于P型晶體管的源極電壓高于漏極電壓，因此，驅(qū)動晶體管的第一極為源極，第二極為漏極。當(dāng)驅(qū)動晶體管為N型晶體管時，與P型晶體管正好相反。

本實用新型實施例還提供一種顯示裝置，包括上所述的任意一種像素電路。

考慮到硅基OLED顯示裝置，其分辨率較高，容易出現(xiàn)像素常亮不良，因此，優(yōu)選所述顯示裝置為OLED顯示裝置。

本實用新型實施例的顯示裝置具有與本實用新型前述實施例提供的像素電路相同的有益效果，由于像素電路在前述實施例中已經(jīng)進(jìn)行了詳細(xì)說明，此處不再贅述。

本實用新型實施例還通過一種像素電路的驅(qū)動方法，用于驅(qū)動如上所述的任意一種像素電路，如圖8所示，所述方法包括：

S10、在對所述像素電路進(jìn)行測試時，掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號，控制線CL輸入第一信號，以在驅(qū)動模塊10有驅(qū)動電流信號輸出時，使發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開。

此處，若所述像素電路存在常亮不良，則驅(qū)動模塊10輸出至熔斷模塊30的驅(qū)動電流信號流向接地端GND，發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開；否則，即使控制線CL輸入第一信號，也由于驅(qū)動模塊10沒有驅(qū)動電流信號輸出，發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10仍然通過熔斷模塊30連接。

S20、在所述像素電路正常工作時，掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號，控制線CL輸入第二信號，驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號驅(qū)動發(fā)光模塊20發(fā)光。

本實用新型實施例提供一種像素電路的驅(qū)動方法，通過向掃描信號線SL輸入掃描信號，向數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號，向控制線CL輸入第一信號，若所述像素電路存在常亮不良，則驅(qū)動模塊10輸出至熔斷模塊30的驅(qū)動電流信號流向接地端GND，發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10的連接斷開，從而可解決常亮不良的問題，否則由于驅(qū)動模塊10沒有驅(qū)動電流信號輸出，發(fā)光模塊20和驅(qū)動模塊10仍然通過熔斷模塊30連接，不影響像素電路的正常工作。其中，當(dāng)所述像素電路正常工作時，掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號，控制線CL輸入第二信號，可保證驅(qū)動模塊10輸出的驅(qū)動電流信號驅(qū)動發(fā)光模塊20發(fā)光?；诖耍芍?，本實用新型實施例在解決常亮不良問題的基礎(chǔ)上，不會對像素造成損傷。

優(yōu)選的，所述控制線CL輸入第一信號或第二信號，包括：在掃描信號線SL、數(shù)據(jù)信號線DL和第三電壓端V3的控制下，通過控制線信號輸入模塊50向所述控制線CL輸入第一信號或第二信號。

這樣，當(dāng)掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入關(guān)閉信號時，可在第三電壓端V3的控制下，自動輸出第一信號，而在掃描信號線SL輸入掃描信號，數(shù)據(jù)信號線DL輸入數(shù)據(jù)信號時，可自動輸出第二信號，因而可簡化所述像素電路。

以上所述，僅為本實用新型的具體實施方式，但本實用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實用新型的保護(hù)范圍應(yīng)以所述權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。