技術(shù)總結(jié)
微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，涉及AMOLED微型顯示器，尤其是一種用于檢測(cè)微型顯示器使用壽命的微型顯示器壽命測(cè)試裝置。本實(shí)用新型的微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試裝置測(cè)試通道、測(cè)試計(jì)算機(jī)、MCU微控制單元、傳感器模塊、數(shù)字恒壓電源以及電壓控制式可調(diào)恒流源，MCU微控制單元與傳感器模塊安裝在測(cè)試通道內(nèi)，MCU微控制單元內(nèi)集成A/D數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊，傳感器模塊包括溫度傳感器以及亮度傳感器，傳感器模塊與MCU微控制單元連接，MCU微控制單元與測(cè)試計(jì)算機(jī)連接，數(shù)字恒壓電源集成在待測(cè)試AMOLED微型顯示器內(nèi)，電壓控制式可調(diào)恒流源安裝在測(cè)試通道上且與MCU微控制單元連接。本實(shí)用新型的微型顯示器壽命測(cè)試裝置，設(shè)計(jì)科學(xué)，結(jié)構(gòu)合理，使用方便。

技術(shù)研發(fā)人員：朱勝迪;楊俊彥;于曉輝;吳斌;曹坤宇
受保護(hù)的技術(shù)使用者：云南北方奧雷德光電科技股份有限公司
文檔號(hào)碼：201620832136
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.03
技術(shù)公布日：2017.01.11