本實(shí)用新型涉及AMOLED微型顯示器，尤其是一種用于檢測(cè)微型顯示器使用壽命的微型顯示器壽命測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

OLED，中文名為有機(jī)發(fā)光二極管，是近年來(lái)發(fā)展迅速的一門(mén)技術(shù)。從驅(qū)動(dòng)方式上，OLED可分為主動(dòng)矩陣式AMOLED和被動(dòng)矩陣式PMOLED。一般來(lái)說(shuō)，屏幕對(duì)角線1英寸以下的，稱為OLED微型顯示器。

OLED為電流致發(fā)光，在恒定電流下，OLED器件會(huì)因?yàn)榉潜举|(zhì)和本質(zhì)劣化因素發(fā)生退化，前者包括基板的平整度、微小顆粒的污染、有機(jī)層與電極層的分離、金屬層的顆粒等，后者包括有機(jī)膜的穩(wěn)定性、激發(fā)態(tài)的穩(wěn)定性、可移動(dòng)的離子雜質(zhì)、正電荷的積累等。器件退化的外在表現(xiàn)是在恒定驅(qū)動(dòng)下，亮度會(huì)隨著時(shí)間衰減。亮度衰減到初始值一半時(shí)經(jīng)過(guò)的時(shí)間稱作半衰期t1/2。半衰期表征OLED顯示器的壽命。

壽命是評(píng)價(jià)AMOLED微型顯示器性能的關(guān)鍵指標(biāo)之一，因AMOLED微型顯示器可廣泛使用在各個(gè)領(lǐng)域，不同的使用環(huán)境、不同的使用亮度都將導(dǎo)致AMOLED微型顯示器的使用壽命有所不同。目前，針對(duì)AMOLED微型顯示器尚無(wú)專門(mén)的壽命測(cè)試分析設(shè)備，開(kāi)發(fā)AMOLED微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，將為更好的研究AMOLED微型顯示器的發(fā)光衰減特性提供測(cè)試分析平臺(tái)，為AMOLED微型顯示器特性研究積累更多的數(shù)據(jù)資料，對(duì)AMOLED微型顯示器產(chǎn)業(yè)化的推進(jìn)也極具重要意義。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型所要解決的就是現(xiàn)有AMOLED微型顯示器因用途各異，導(dǎo)致壽命不同，目前尚無(wú)專門(mén)的壽命測(cè)試分析設(shè)備的問(wèn)題，提供一種用于檢測(cè)微型顯示器使用壽命的微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)。

本實(shí)用新型的微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于該測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試裝置測(cè)試通道、測(cè)試計(jì)算機(jī)、MCU微控制單元、傳感器模塊、數(shù)字恒壓電源以及電壓控制式可調(diào)恒流源，MCU微控制單元與傳感器模塊安裝在測(cè)試通道內(nèi)，MCU微控制單元內(nèi)集成A/D數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊，傳感器模塊包括溫度傳感器以及亮度傳感器，傳感器模塊與MCU微控制單元連接，MCU微控制單元與測(cè)試計(jì)算機(jī)連接，數(shù)字恒壓電源集成在待測(cè)試AMOLED微型顯示器內(nèi)，電壓控制式可調(diào)恒流源安裝在測(cè)試通道上且與MCU微控制單元連接。

所述的亮度傳感器為兩個(gè)，兩個(gè)亮度傳感器上、下設(shè)置，提高亮度測(cè)量的準(zhǔn)確性。

所述的測(cè)試通道為256個(gè)，每16個(gè)測(cè)試通道安裝在一個(gè)機(jī)架上，構(gòu)成一組測(cè)試單元。

所述的測(cè)試通道上還設(shè)置有遮光罩，提高測(cè)試時(shí)亮度值檢測(cè)的準(zhǔn)確性，避免外部光亮影響測(cè)試。

所述的微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，其測(cè)試方式分別為恒流測(cè)試、恒壓測(cè)試以及固定起始亮度測(cè)試三種方式，其測(cè)試步驟如下：

（1）將待測(cè)試AMOLED微型顯示器插接在恒壓測(cè)試端口或恒流測(cè)試端口，并與傳感器模塊連接；

（2）在待測(cè)試AMOLED微型顯示器上方安裝遮光罩；

（3）分別設(shè)置驅(qū)動(dòng)電壓或驅(qū)動(dòng)電流，設(shè)置環(huán)境溫度警戒值及采集間隔時(shí)間，設(shè)置老化狀態(tài)為否，設(shè)置壽命測(cè)試占空比為1:0保證畫(huà)面不熄滅，設(shè)置自動(dòng)停止測(cè)試其停止條件為半衰期；

（4）通過(guò)MCU微控制單元調(diào)整待測(cè)試的AMOLED微型顯示器的工作電壓、電流或亮度，分別對(duì)應(yīng)恒壓測(cè)試模式、恒流測(cè)試模式或是固定起始亮度測(cè)試模式，恒壓測(cè)試模式以及恒流測(cè)試模式則進(jìn)入步驟（6），固定起始亮度測(cè)試模式進(jìn)入步驟（5）；

（5）利用MCU微控制單元調(diào)整待測(cè)試AMOLED微型顯示器顯示亮度至設(shè)定亮度值；

（6）亮度傳感器與溫度傳感器分別采集AMOLED微型顯示器工作時(shí)的亮度及溫度，并將數(shù)據(jù)通過(guò)MCU微控制單元傳輸至測(cè)試計(jì)算機(jī)內(nèi)，通過(guò)測(cè)試計(jì)算機(jī)分析處理；

（7）測(cè)試計(jì)算機(jī)判斷步驟（6）測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是否為首次采集的數(shù)據(jù)，若是則將此數(shù)據(jù)標(biāo)記為初始數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)，亮度值標(biāo)記為初始亮度L₀，返回步驟（6）；若非首次采集，則計(jì)算出當(dāng)前亮度L與初始亮度L₀的衰減比例，測(cè)試的持續(xù)時(shí)間后，在監(jiān)視界面進(jìn)行顯示并保存數(shù)據(jù)，然后根據(jù)步驟（3）中設(shè)置的停止條件判斷是否停止測(cè)試；步驟（3）中所設(shè)停止條件為半衰期，則將采集到的亮度L與初始亮度L₀做比較，若L≤（L₀/2），則說(shuō)明待測(cè)試AMOLED微型顯示器亮度已衰減到起始亮度的一半，系統(tǒng)將停止此通道的測(cè)試；若L>（L₀/2），則不滿足停止條件，將返回步驟（6）繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。

本實(shí)用新型的微型顯示器壽命測(cè)試裝置，設(shè)計(jì)科學(xué)，結(jié)構(gòu)合理，使用方便，具有以下優(yōu)點(diǎn)：

1、填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)尚沒(méi)有AMOLED微型顯示器壽命測(cè)試設(shè)備的空缺；

2、能容納256個(gè)通道同時(shí)運(yùn)行，極大的提高了測(cè)試效率；

3、每個(gè)測(cè)試通道可以進(jìn)行熱插拔，在不需要關(guān)閉測(cè)試系統(tǒng)或者電源的情況下能移除通道或加入通道并且不影響其他通道的工作；

4、每個(gè)通道都配有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊，在上位機(jī)發(fā)生故障時(shí)通道自身也能存儲(chǔ)采集到的數(shù)據(jù)；

5、擁有上位機(jī)軟件，以良好的人機(jī)交互界面能夠控制通道動(dòng)作、分析處理以及存儲(chǔ)通道上傳的數(shù)據(jù)等功能；

6、該系統(tǒng)能對(duì)AMOLED微型顯示器進(jìn)行恒壓、恒流、或者固定起始亮度條件下的壽命測(cè)試。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為本實(shí)用新型傳感器模塊結(jié)構(gòu)示意圖。

其中，機(jī)架1，測(cè)試通道2，測(cè)試計(jì)算機(jī)3，MCU微控制單元4，溫度傳感器5，亮度傳感器6。

具體實(shí)施方式

實(shí)施例1：一種微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試裝置測(cè)試通道、測(cè)試計(jì)算機(jī)、MCU微控制單元、傳感器模塊、數(shù)字恒壓電源以及電壓控制式可調(diào)恒流源，MCU微控制單元與傳感器模塊安裝在測(cè)試通道內(nèi)，MCU微控制單元內(nèi)集成A/D數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊，傳感器模塊包括溫度傳感器以及亮度傳感器，傳感器模塊與MCU微控制單元連接，MCU微控制單元與測(cè)試計(jì)算機(jī)連接，數(shù)字恒壓電源集成在待測(cè)試AMOLED微型顯示器內(nèi)，電壓控制式可調(diào)恒流源安裝在測(cè)試通道上且與MCU微控制單元連接。亮度傳感器為兩個(gè)，兩個(gè)亮度傳感器上、下設(shè)置，提高亮度測(cè)量的準(zhǔn)確性。測(cè)試通道為256個(gè)，每16個(gè)測(cè)試通道安裝在一個(gè)機(jī)架上，構(gòu)成一組測(cè)試單元。測(cè)試通道上還設(shè)置有遮光罩，提高測(cè)試時(shí)亮度值檢測(cè)的準(zhǔn)確性，避免外部光亮影響測(cè)試。微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，其測(cè)試方式分別為恒流測(cè)試、恒壓測(cè)試以及固定起始亮度測(cè)試三種方式，其測(cè)試步驟如下：

（1）將待測(cè)試AMOLED微型顯示器插接在恒壓測(cè)試端口，并與傳感器模塊連接；

（2）在待測(cè)試AMOLED微型顯示器上方安裝遮光罩；

（3）設(shè)置驅(qū)動(dòng)電壓，設(shè)置環(huán)境溫度警戒值及采集間隔時(shí)間，設(shè)置老化狀態(tài)為否，設(shè)置壽命測(cè)試占空比為1:0保證畫(huà)面不熄滅，設(shè)置自動(dòng)停止測(cè)試其停止條件為半衰期；

（4）通過(guò)MCU微控制單元調(diào)整待測(cè)試的AMOLED微型顯示器的工作電壓，使之處于恒壓工作狀態(tài)；

（5）亮度傳感器與溫度傳感器分別采集AMOLED微型顯示器工作時(shí)的亮度及溫度，并將數(shù)據(jù)通過(guò)MCU微控制單元傳輸至測(cè)試計(jì)算機(jī)內(nèi)，通過(guò)測(cè)試計(jì)算機(jī)分析處理；

（6）測(cè)試計(jì)算機(jī)判斷步驟（5）測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是否為首次采集的數(shù)據(jù)，若是則將此數(shù)據(jù)標(biāo)記為初始數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)，亮度值標(biāo)記為初始亮度L₀，返回步驟（5）；若非首次采集，則計(jì)算出當(dāng)前亮度L與初始亮度L₀的衰減比例，測(cè)試的持續(xù)時(shí)間后，在監(jiān)視界面進(jìn)行顯示并保存數(shù)據(jù)，然后根據(jù)步驟（3）中設(shè)置的停止條件判斷是否停止測(cè)試；步驟（3）中所設(shè)停止條件為半衰期，則將采集到的亮度L與初始亮度L₀做比較，若L≤（L₀/2），則說(shuō)明待測(cè)試AMOLED微型顯示器亮度已衰減到起始亮度的一半，系統(tǒng)將停止此通道的測(cè)試；若L>（L₀/2），則不滿足停止條件，將返回步驟（5）繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。

實(shí)施例2：一種微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，該測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試裝置測(cè)試通道、測(cè)試計(jì)算機(jī)、MCU微控制單元、傳感器模塊、數(shù)字恒壓電源以及電壓控制式可調(diào)恒流源，MCU微控制單元與傳感器模塊安裝在測(cè)試通道內(nèi)，MCU微控制單元內(nèi)集成A/D數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊，傳感器模塊包括溫度傳感器以及亮度傳感器，傳感器模塊與MCU微控制單元連接，MCU微控制單元與測(cè)試計(jì)算機(jī)連接，數(shù)字恒壓電源集成在待測(cè)試AMOLED微型顯示器內(nèi)，電壓控制式可調(diào)恒流源安裝在測(cè)試通道上且與MCU微控制單元連接。亮度傳感器為兩個(gè)，兩個(gè)亮度傳感器上、下設(shè)置，提高亮度測(cè)量的準(zhǔn)確性。測(cè)試通道為256個(gè)，每16個(gè)測(cè)試通道安裝在一個(gè)機(jī)架上，構(gòu)成一組測(cè)試單元。測(cè)試通道上還設(shè)置有遮光罩，提高測(cè)試時(shí)亮度值檢測(cè)的準(zhǔn)確性，避免外部光亮影響測(cè)試。微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，其測(cè)試方式為恒流測(cè)試，其測(cè)試步驟如下：

（1）將待測(cè)試AMOLED微型顯示器插接在恒流測(cè)試端口，并與傳感器模塊連接；

（2）在待測(cè)試AMOLED微型顯示器上方安裝遮光罩；

（3）分別設(shè)置驅(qū)動(dòng)電壓或驅(qū)動(dòng)電流，設(shè)置環(huán)境溫度警戒值及采集間隔時(shí)間，設(shè)置老化狀態(tài)為否，設(shè)置壽命測(cè)試占空比為1:0保證畫(huà)面不熄滅，設(shè)置自動(dòng)停止測(cè)試其停止條件為半衰期；

（4）通過(guò)MCU微控制單元調(diào)整待測(cè)試的AMOLED微型顯示器的工作電流，與之對(duì)應(yīng)恒流測(cè)試模式；

（5）亮度傳感器與溫度傳感器分別采集AMOLED微型顯示器工作時(shí)的亮度及溫度，并將數(shù)據(jù)通過(guò)MCU微控制單元傳輸至測(cè)試計(jì)算機(jī)內(nèi)，通過(guò)測(cè)試計(jì)算機(jī)分析處理；

（6）測(cè)試計(jì)算機(jī)判斷步驟（5）測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是否為首次采集的數(shù)據(jù)，若是則將此數(shù)據(jù)標(biāo)記為初始數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)，亮度值標(biāo)記為初始亮度L₀，返回步驟（5）；若非首次采集，則計(jì)算出當(dāng)前亮度L與初始亮度L₀的衰減比例，測(cè)試的持續(xù)時(shí)間后，在監(jiān)視界面進(jìn)行顯示并保存數(shù)據(jù)，然后根據(jù)步驟（3）中設(shè)置的停止條件判斷是否停止測(cè)試；步驟（3）中所設(shè)停止條件為半衰期，則將采集到的亮度L與初始亮度L₀做比較，若L≤（L₀/2），則說(shuō)明待測(cè)試AMOLED微型顯示器亮度已衰減到起始亮度的一半，系統(tǒng)將停止此通道的測(cè)試；若L>（L₀/2），則不滿足停止條件，將返回步驟（5）繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。

實(shí)施例3：一種微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試裝置測(cè)試通道、測(cè)試計(jì)算機(jī)、MCU微控制單元、傳感器模塊、數(shù)字恒壓電源以及電壓控制式可調(diào)恒流源，MCU微控制單元與傳感器模塊安裝在測(cè)試通道內(nèi)，MCU微控制單元內(nèi)集成A/D數(shù)模轉(zhuǎn)換模塊，傳感器模塊包括溫度傳感器以及亮度傳感器，傳感器模塊與MCU微控制單元連接，MCU微控制單元與測(cè)試計(jì)算機(jī)連接，數(shù)字恒壓電源集成在待測(cè)試AMOLED微型顯示器內(nèi)，電壓控制式可調(diào)恒流源安裝在測(cè)試通道上且與MCU微控制單元連接。亮度傳感器為兩個(gè)，兩個(gè)亮度傳感器上、下設(shè)置，提高亮度測(cè)量的準(zhǔn)確性。測(cè)試通道為256個(gè)，每16個(gè)測(cè)試通道安裝在一個(gè)機(jī)架上，構(gòu)成一組測(cè)試單元。測(cè)試通道上還設(shè)置有遮光罩，提高測(cè)試時(shí)亮度值檢測(cè)的準(zhǔn)確性，避免外部光亮影響測(cè)試。微型顯示器壽命測(cè)試系統(tǒng)，其測(cè)試方式固定起始亮度測(cè)試，測(cè)試步驟如下：

（1）將待測(cè)試AMOLED微型顯示器插接在恒壓測(cè)試端口，并與傳感器模塊連接；

（2）在待測(cè)試AMOLED微型顯示器上方安裝遮光罩；

（3）分別設(shè)置驅(qū)動(dòng)電壓或驅(qū)動(dòng)電流，設(shè)置環(huán)境溫度警戒值及采集間隔時(shí)間，設(shè)置老化狀態(tài)為否，設(shè)置壽命測(cè)試占空比為1:0保證畫(huà)面不熄滅，設(shè)置自動(dòng)停止測(cè)試其停止條件為半衰期；

（4）通過(guò)MCU微控制單元調(diào)整待測(cè)試的AMOLED微型顯示器的工作亮度，對(duì)應(yīng)固定起始亮度測(cè)試模式；

（5）利用MCU微控制單元調(diào)整待測(cè)試AMOLED微型顯示器顯示亮度至設(shè)定亮度值；

（6）亮度傳感器與溫度傳感器分別采集AMOLED微型顯示器工作時(shí)的亮度及溫度，并將數(shù)據(jù)通過(guò)MCU微控制單元傳輸至測(cè)試計(jì)算機(jī)內(nèi)，通過(guò)測(cè)試計(jì)算機(jī)分析處理；

（7）測(cè)試計(jì)算機(jī)判斷步驟（6）測(cè)試得到的數(shù)據(jù)是否為首次采集的數(shù)據(jù)，若是則將此數(shù)據(jù)標(biāo)記為初始數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)，亮度值標(biāo)記為初始亮度L₀，返回步驟（6）；若非首次采集，則計(jì)算出當(dāng)前亮度L與初始亮度L₀的衰減比例，測(cè)試的持續(xù)時(shí)間后，在監(jiān)視界面進(jìn)行顯示并保存數(shù)據(jù)，然后根據(jù)步驟（3）中設(shè)置的停止條件判斷是否停止測(cè)試；步驟（3）中所設(shè)停止條件為半衰期，則將采集到的亮度L與初始亮度L₀做比較，若L≤（L₀/2），則說(shuō)明待測(cè)試AMOLED微型顯示器亮度已衰減到起始亮度的一半，系統(tǒng)將停止此通道的測(cè)試；若L>（L₀/2），則不滿足停止條件，將返回步驟（6）繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。