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一種顯示面板及其測試方法與流程

文檔序號:12608035閱讀:200來源:國知局
一種顯示面板及其測試方法與流程

本發(fā)明涉及液晶顯示領(lǐng)域,特別是涉及一種顯示面板及其測試方法。



背景技術(shù):

目前小尺寸液晶顯示器大多采用GOA設(shè)計(jì),其中,GOA設(shè)計(jì)是指利用現(xiàn)有的薄膜晶體管液晶顯示器中的Array制程將柵極驅(qū)動(Gate)信號制作在Array基板上,實(shí)現(xiàn)對液晶顯示器掃描的一項(xiàng)技術(shù)。但是,由于GOA電路內(nèi)置于顯示面板內(nèi),無法如外置電路那樣可以實(shí)際測量到GOA電路中掃描線輸出的柵極驅(qū)動信號。

為了解決上述問題,現(xiàn)有技術(shù)的做法是:在顯示面板的非顯示區(qū)域且靠近GOA電路輸出端引出至少一個(gè)測試焊盤,將靠近非顯示區(qū)域的掃描線橋接到測試焊盤進(jìn)行測試。舉例來說,如圖1所示,GOA電路設(shè)計(jì)在顯示面板的兩邊,雙向驅(qū)動控制顯示面板中的薄膜晶體管(TFT),在顯示面板的底邊的非顯示區(qū)域靠近GOA電路的輸出端引出第一測試焊盤PAD1和第二測試焊盤PAD2,第一行掃描線G(1)和第二行掃描線G(2)分別與第一測試焊盤PAD1和第二測試焊盤PAD2連接,通過第一測試焊盤PAD1和第二測試焊盤PAD1進(jìn)行測試。

其中,現(xiàn)有技術(shù)的做法有如下缺點(diǎn):只能測量有限行數(shù)的掃描線,例如第一行掃描線和第二行掃描線上的柵極驅(qū)動信號,無法測量所有水平掃描線上的柵極驅(qū)動信號,其中,當(dāng)中間級出現(xiàn)問題時(shí),容易出現(xiàn)不良分析時(shí)的判斷失誤。

進(jìn)一步,對于設(shè)置于顯示面板中的數(shù)據(jù)線以及其它信號線,也具有同樣的問題。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明提供一種顯示面板及其測試方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中無法完整地測試顯示面板內(nèi)的信號線(例如,掃描線、數(shù)據(jù)線等)的問題。

為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種顯示面板的測試方法,該顯示面板包括基板以及設(shè)置于基板上的待測線路、第一引線線路和第二引線線路,其中第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的一者電性連接,并與待測線路和第一引線線路中的另一者絕緣間隔設(shè)置,該測試方法包括:將第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者進(jìn)行電性連接,以使得第一引線線路與待測線路進(jìn)行電性連接;通過第一引線線路對待測線路或待測線路所連接的電路器件進(jìn)行測試;在測試完成后,斷開第二引線線路,進(jìn)而斷開待測線路與第一引線線路之間的電性連接。

其中,待測線路的數(shù)量為多條,并且每一待測線路分別對應(yīng)設(shè)置至少一個(gè)第二引線線路,以使得能夠通過同一條第一引線線路依次對多條待測線路或待測線路所連接的電路器件進(jìn)行測試。

其中,第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者部分重疊設(shè)置且絕緣層進(jìn)行間隔;將第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者進(jìn)行電性連接的步驟包括:利用輻射束照射第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者的重疊區(qū)域,進(jìn)而以熔接方式電性連接第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者;在測試完成后,斷開第二引線線路,進(jìn)而斷開待測線路與第一引線線路之間的電性連接的步驟包括:利用輻射束照射第二引線線路的位于第二引線線路與待測線路的連接位置以及第二引線線路與第一引線線路的連接位置之間的中間區(qū)域,進(jìn)而割斷第二引線線路。

其中,第一引線線路的數(shù)量為多條且以分段方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍或者第一引線線路以閉合環(huán)繞方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍,待測線路為數(shù)據(jù)線或掃描線,電路器件為數(shù)據(jù)線連接的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路或者與掃描線連接的掃描驅(qū)動電路。

其中,第二引線線路與第一引線線路電性連接,并與待測線路絕緣間隔設(shè)置。

為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種顯示面板,該顯示面板包括基板以及設(shè)置于基板上的待測線路、第一引線線路和第二引線線路,其中第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的一者電性連接,并與待測線路和第一引線線路中的另一者絕緣間隔設(shè)置,且設(shè)置成允許在測試過程中進(jìn)行電性連接,以使得第一引線線路與待測線路進(jìn)行電性連接,進(jìn)而通過第一引線線路對待測線路或待測線路所連接的電路器件進(jìn)行測試。

其中,待測線路的數(shù)量為多條,并且每一待測線路分別對應(yīng)設(shè)置至少一條第二引線線路,以使得能夠通過同一條第一引線線路依次對多條待測線路或電路器件進(jìn)行測試。

其中,第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者部分重疊設(shè)置且絕緣層進(jìn)行間隔,其中第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者的重疊區(qū)域設(shè)置成允許利用輻射束進(jìn)行熔接方式,第二引線線路與待測線路的連接位置和第二引線線路與第一引線線路的連接位置之間的中間區(qū)域允許利用輻射束進(jìn)行切割。

其中,第一引線線路的數(shù)量為多條且以分段方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍,或者第一引線線路以閉合環(huán)繞方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍,待測線路為數(shù)據(jù)線或掃描線,電路器件為數(shù)據(jù)線連接的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路或者與掃描線連接的掃描驅(qū)動電路。

其中,第二引線線路與第一引線線路電性連接,并與待測線路絕緣間隔設(shè)置。

本發(fā)明的有益效果是:區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明的顯示面板及測試方法通過在基板上設(shè)置第一引線線路和第二引線線路,其中第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的一者電性連接,并與待測線路和第一引線線路中的另一者絕緣間隔設(shè)置,且設(shè)置成允許在測試過程中進(jìn)行電性連接,以使得第一引線線路與待測線路進(jìn)行電性連接,進(jìn)而通過第一引線線路對待測線路或待測線路所連接的電路器件進(jìn)行測試。通過上述方式,本發(fā)明能夠準(zhǔn)確地、完整地測試顯示面板內(nèi)的所有信號線(例如,掃描線、數(shù)據(jù)線等),為顯示面板的設(shè)計(jì)驗(yàn)證提供真實(shí)有效數(shù)據(jù)。

附圖說明

圖1是現(xiàn)有技術(shù)的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖2是本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖;

圖3是圖2所示顯示面板中SS區(qū)域的放大示意圖;

圖4是本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板的測試方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅是本發(fā)明的一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板的結(jié)構(gòu)示意圖,圖3是圖2所示顯示面板中SS區(qū)域的放大示意圖。如圖2和圖3所示,顯示面板包括基板11、設(shè)置在基板11上的待測線路12、第一引線線路13和第二引線線路14以及連接待測線路12的電路器件15。

其中,第二引線線路14與待測線路12和第一引線線路13中的一者電性連接,并與待測線路12和第一引線線路13中的另一者絕緣間隔設(shè)置,且設(shè)置成允許在測試過程中進(jìn)行電性連接,以使得第一引線線路13與待測線路進(jìn)行電性連接,進(jìn)而通過第一引線線路13對待測線路12或待測線路12所連接的電路器件15進(jìn)行測試。

在本實(shí)施例中,第二引線線路14與待測線路12電性連接,并與第一引線線路13絕緣間隔設(shè)置。

在本實(shí)施例中,第一引線線路13的數(shù)量為多條且以分段方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍。具體來說,第一引線線路13的數(shù)量為四條,分別為左右引線線段和上下引線線段。其中,左右引線線段用于測試掃描線,上下引線線段用于測試數(shù)據(jù)線。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解,圖1所示的第一引線線路13的數(shù)量和位置,其僅為舉例,本發(fā)明不以此為限。在其它實(shí)施例中,第一引線線路13也可以以閉合環(huán)繞方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍。

在本實(shí)施例中,待測線路12為多條掃描線,其具體包括第一行掃描線S(1)、第二行掃描線S(2)、第三行掃描線S(3)……、第N行掃描線S(n)。電路器件15設(shè)置在基板11的兩側(cè),電路器件15為掃描驅(qū)動電路也即GOA電路,其中,兩側(cè)GOA電路中的一側(cè)GOA電路控制奇數(shù)行的掃描線,兩側(cè)GOA電路中的另一側(cè)GOA電路控制偶數(shù)行的掃描線。在其它實(shí)施例中,GOA電路也可以設(shè)置在基板11的同一側(cè)。

優(yōu)選地,為了方便測試掃描線,在顯示面板的非顯示區(qū)域例如OLB端引出至少一個(gè)測試焊盤16并與第一引線線路13電連接。具體來說,如圖1所示,在顯示面板的OLB端引出兩個(gè)測試焊盤16,兩個(gè)測試焊盤16與兩側(cè)GOA電路對應(yīng)設(shè)置,第一引線線路13的左右兩段引線線路分別與兩個(gè)測試焊盤16對應(yīng)連接。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解,圖1所示的測試焊盤16的數(shù)量和位置,其僅為舉例,本發(fā)明不以此為限。

同理,為了方便測試數(shù)據(jù)線,也可以在顯示面板的非顯示區(qū)域引出至少一個(gè)測試焊盤(未圖示),該測試焊盤與第一引線線路13的上下兩段引線線路對應(yīng)連接。

在本實(shí)施例中,每一待測線路12也即每一掃描線分別對應(yīng)設(shè)置至少一條第二引線線路14,以使得能夠通過同一條第一引線線路13依次對多條待測線路12也即多條掃描線或?qū)﹄娐菲骷?5進(jìn)行測試。優(yōu)選地,每一掃描線對應(yīng)設(shè)置兩條第二引線線路14,兩條第二引線線路14分別靠近每一條掃描線的線路頭端和尾端設(shè)置,從而可以測試掃描線的線路頭端的柵極驅(qū)動信號以及輸出至掃描線的線路尾端的柵極驅(qū)動信號的正確性,進(jìn)而可以判斷出掃描線中因RC延遲而出現(xiàn)的Mura現(xiàn)象。

在本實(shí)施例中,第二引線線路14與第一引線線路13部分重疊設(shè)置且絕緣層進(jìn)行間隔,其中第二引線線路14與第一引線線路13的重疊區(qū)域AA設(shè)置成允許利用輻射束進(jìn)行熔接方式,第二引線線路13與待測線路12的連接位置和第二引線線路14與第一引線線路13的連接位置之間的中間區(qū)域BB允許利用輻射束進(jìn)行切割。

以第一行掃描線S(1)為例來說,第一行掃描線S(1)對應(yīng)兩條第二引線線路14,兩條第二引線線路14分別設(shè)置在第一行掃描線S(1)的線路頭端和尾端,兩條第二引線線路14的一端與第一掃描線S(1)電連接,兩條第二引線線路14的另一端與第一引線線路13部分重疊設(shè)置且絕緣層進(jìn)行間隔。

具體來說,兩條第二引線線路14的另一端分別與第一引線線路13的左右引線線路部分重疊設(shè)置,當(dāng)需要測試第一行掃描線S(1)上的柵極驅(qū)動信號時(shí),利用輻射束熔接第二引線線路14和第一引線線路13的重疊區(qū)域AA以使第二引線線路14和第一引線線路13電連通,進(jìn)而可以通過兩個(gè)測試焊盤16測試得到在第一行掃描線S(1)的線路頭端和尾端處的柵極驅(qū)動信號,從而為顯示面板的設(shè)計(jì)驗(yàn)證提供真實(shí)有效數(shù)據(jù)。

當(dāng)?shù)谝恍袙呙杈€S(1)上的柵極驅(qū)動信號測試完畢后,利用輻射束切割第二引線線路13與待測線路12的連接位置和第二引線線路14與第一引線線路13的連接位置之間的中間區(qū)域BB,從而斷開與第一行掃描線S(1)電連接的第二引線線路13與第一引線線路13之間的連接。

其中,第二行掃描線S(2)、第三行掃描線S(3)、……、第N行掃描線S(n)的測試與第一行掃描線S(1)的測試相類似,為簡約起見,不再贅述。

通過上述方式,本實(shí)施例可實(shí)現(xiàn)對GOA電路不良產(chǎn)品的失效分析,提升分析效率,及時(shí)找到真因,推動改善,提升產(chǎn)品良率。

本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解,在其它實(shí)施例中,也可以是第二引線線路14與第一引線線路13電性連接,并與待測線路12絕緣間隔設(shè)置。此時(shí),第二引線線路14與待測線路12重疊設(shè)置且絕緣層進(jìn)行間隔,其中第二引線線路14與待測線路12的重疊區(qū)域設(shè)置成允許利用輻射束進(jìn)行熔接方式,第二引線線路14與待測線路12的連接位置和第二引線線路14與第一引線線路13的連接位置之間的中間區(qū)域允許利用輻射束進(jìn)行切割。

本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解,當(dāng)待測線路12為多條數(shù)據(jù)線,電路器件15為與多條數(shù)據(jù)線連接的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路時(shí),通過第一引線線路13和第二引線線路14依次對多條數(shù)據(jù)線或數(shù)據(jù)驅(qū)動電路進(jìn)行測試的過程與上述的通過第一引線線路13和第二引線線路14依次對多條掃描線或掃描驅(qū)動電路進(jìn)行測試類似,為簡約起見,在此不再詳述。

圖4是本發(fā)明實(shí)施例的顯示面板的測試方法的流程圖。其中,顯示面板包括基板以及設(shè)置于基板上的待測線路、第一引線線路和第二引線線路,其中第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的一者電性連接,并與待測線路和第一引線線路中的另一者絕緣間隔設(shè)置。如圖4所示,該測試方法包括步驟:

步驟S101:將第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者進(jìn)行電性連接,以使得第一引線線路與待測線路進(jìn)行電性連接。

在步驟S101中,具體來說,當(dāng)?shù)诙€與待測電路電性連接,并與第一引線間隔設(shè)置時(shí):將第二引線線路與第一引線電性連接,以使得第一引線線路與待測線路進(jìn)行電連接。當(dāng)?shù)诙€線路與第一引線線路電性連接,并與待測線路絕緣間隔設(shè)置時(shí):將第二引線與待測電路電性連接,以使得第一引線線路與待測線路進(jìn)行電連接。

在本實(shí)施例中,第一引線線路的數(shù)量為多條且以分段方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍,待測線路為數(shù)據(jù)線或掃描線,電路器件為數(shù)據(jù)線連接的數(shù)據(jù)驅(qū)動電路或者與掃描線連接的掃描驅(qū)動電路。在其它實(shí)施例中,第一引線線路也可以以閉合環(huán)繞方式設(shè)置于顯示面板的顯示區(qū)域的外圍。

在本實(shí)施例中,待測線路的數(shù)量為多條,并且每一待測線路分別對應(yīng)設(shè)置至少一個(gè)第二引線線路,以使得能夠通過同一條第一引線線路依次對多條待測線路或待測線路所連接的電路器件進(jìn)行測試。

其中,當(dāng)?shù)诙€線路與待測線路和第一引線線路中的另一者部分重疊設(shè)置且絕緣層進(jìn)行間隔時(shí),將第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者進(jìn)行電性連接的步驟包括:利用輻射束照射第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者的重疊區(qū)域,進(jìn)而以熔接方式電性連接第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的另一者。

步驟S102:通過第一引線線路對待測線路或待測線路所連接的電路器件進(jìn)行測試。

在步驟S102中,舉例來說,當(dāng)待測線路為多條掃描線例如第一行掃描線、第二行掃描線、第三行掃描線……、第N行掃描線時(shí),每一行掃描線對應(yīng)至少一條第二引線線路,通過至少一條第二引線線路將第一引線線路與多條掃描線中對應(yīng)該第二引線線路的一條掃描線進(jìn)行電連接,通過第一引線線路完成對該掃描線的測試。

步驟S103:在測試完成后,斷開第二引線線路,進(jìn)而斷開待測線路與第一引線線路之間的電性連接。

在步驟S103中,當(dāng)?shù)诙€線路與待測線路和第一引線線路中的另一者部分重疊設(shè)置且絕緣層進(jìn)行間隔時(shí),在測試完成后,斷開第二引線線路,進(jìn)而斷開待測線路與第一引線線路之間的電性連接的步驟包括:利用輻射束照射第二引線線路的位于第二引線線路與待測線路的連接位置以及第二引線線路與第一引線線路的連接位置之間的中間區(qū)域,進(jìn)而割斷第二引線線路。

本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解,舉例來說,當(dāng)待測線路為多條掃描線例如第一行掃描線、第二行掃描線、第三行掃描線……、第N行掃描線時(shí),當(dāng)需要完成所有掃描線的測試時(shí),需要循環(huán)執(zhí)行步驟S101~步驟S103,也就是說,每次僅有一條掃描線與第一引線線路連接。

本發(fā)明的有益效果是:區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明的顯示面板及測試方法通過在基板上設(shè)置第一引線線路和第二引線線路,其中第二引線線路與待測線路和第一引線線路中的一者電性連接,并與待測線路和第一引線線路中的另一者絕緣間隔設(shè)置,且設(shè)置成允許在測試過程中進(jìn)行電性連接,以使得第一引線線路與待測線路進(jìn)行電性連接,進(jìn)而通過第一引線線路對待測線路或待測線路所連接的電路器件進(jìn)行測試。通過上述方式,本發(fā)明能夠完整地測試顯示面板內(nèi)的所有信號線(例如,掃描線、數(shù)據(jù)線等),為顯示面板的設(shè)計(jì)驗(yàn)證提供真實(shí)有效數(shù)據(jù)。

以上所述僅為本發(fā)明的實(shí)施方式,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。

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