本發(fā)明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法。

背景技術：

平面顯示器件具有機身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點，得到了廣泛的應用?，F(xiàn)有的平面顯示器件主要包括液晶顯示器件(Liquid Crystal Display，LCD)及有機發(fā)光二極管顯示器件(Organic Light Emitting Display，OLED)。

有機發(fā)光二極管(Organic Light Emitting Display，OLED)顯示裝置具有自發(fā)光、驅(qū)動電壓低、發(fā)光效率高、響應時間短、清晰度與對比度高、近180°視角、使用溫度范圍寬，可實現(xiàn)柔性顯示與大面積全色顯示等諸多優(yōu)點，被業(yè)界公認為是最有發(fā)展?jié)摿Φ娘@示裝置。

OLED顯示裝置通常包括：基板、設于基板上的陽極、設于陽極上的空穴注入層、設于空穴注入層上的空穴傳輸層、設于空穴傳輸層上的發(fā)光層、設于發(fā)光層上的電子傳輸層、設于電子傳輸層上的電子注入層、及設于電子注入層上的陰極。OLED顯示器件的發(fā)光原理為半導體材料和有機發(fā)光材料在電場驅(qū)動下，通過載流子注入和復合導致發(fā)光。具體的，OLED顯示器件通常采用ITO像素電極和金屬電極分別作為器件的陽極和陰極，在一定電壓驅(qū)動下，電子和空穴分別從陰極和陽極注入到電子傳輸層和空穴傳輸層，電子和空穴分別經(jīng)過電子傳輸層和空穴傳輸層遷移到發(fā)光層，并在發(fā)光層中相遇，形成激子并使發(fā)光分子激發(fā)，后者經(jīng)過輻射弛豫而發(fā)出可見光。

OLED顯示裝置制作完成后，需要對各像素的制程進行檢測，及時發(fā)現(xiàn)像素驅(qū)動電路中的短路、及斷路故障，以保證出廠的產(chǎn)品質(zhì)量。目前OLED顯示裝置的檢測方法，主要為有兩種：一種是通過圖像傳感器(Charge-coupled Device，CCD)進行檢測，另一種則是通過人眼進行檢測。其中通過CCD進行檢測需要購買專門的CCD設備，花費的設備成本較高，并且其檢測算法與工藝都比較復雜，進行點對點拍照時需要的時間很長，導致檢測時間過長，檢測效率較低。而通過人眼進行檢測，雖然不需要設備成本，但其效率同樣不高，而且其準確性也難以保證，容易出現(xiàn)漏檢。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，能夠準確快速的檢測出OLED顯示裝置驅(qū)動電路中的短路與斷路缺陷，提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，包括如下步驟：

步驟1、提供一OLED顯示裝置驅(qū)動電路，所述子像素驅(qū)動電路包括：第一薄膜晶體管、第二薄膜晶體管、第三薄膜晶體管、第一電容、有機發(fā)光二極管、以及第一開關；

所述第一薄膜晶體管的柵極接入掃描信號，源極接入數(shù)據(jù)信號，漏極電性連接第一節(jié)點；所述第二薄膜晶體管的柵極電性連接第一節(jié)點，源極接入第一電源電壓，漏極電性連接第二節(jié)點；所述第三薄膜晶體管的柵極接入偵測信號，源極電性連接第三節(jié)點，漏極電性連接第二節(jié)點；所述第一電容的一端電性連接第一節(jié)點，另一端電性連接第二節(jié)點；所述有機發(fā)光二極管的陽極電性連接第二節(jié)點，陰極接入第二電源電壓；所述第一開關的一端接入公共電壓，另一端電性連接第三節(jié)點；

步驟2、所述掃描信號和偵測信號均提供高電位，第一和第三薄膜晶體管均打開，所述數(shù)據(jù)信號提供第一電壓至第一節(jié)點，所述開關閉合，所述第二節(jié)點的電壓等于公共電壓；

步驟3、所述掃描信號和偵測信號保持高電位，第一和第三薄膜晶體管保持打開，所述數(shù)據(jù)信號繼續(xù)提供第一電壓至第一節(jié)點，所述第一節(jié)點保持第一電壓，所述開關斷開，所述第二節(jié)點的電壓不斷變化后重新穩(wěn)定；

步驟4、提供一模數(shù)轉(zhuǎn)換器以及與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器電性連接的一缺陷分析模塊，利用所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器偵測出所述第二節(jié)點的電壓并傳送給缺陷分析模塊；

步驟5、所述缺陷分析模塊將所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器傳送來的第二節(jié)點的電壓與預設的標準電壓范圍進行比較，當所述第二節(jié)點的電壓超出預設的標準電壓范圍時，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷，當所述第二節(jié)點的電壓在預設的標準電壓范圍內(nèi)時，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷。

所述步驟5中還提供運算放大器、以及相關雙采樣電路；

偵測時，所述運算放大器的反相輸入端電性連接其輸出端，同相輸入端電性連接第三節(jié)點，輸出端電性連接相關雙采樣電路的輸入端，所述相關雙采樣電路的輸出端電性連接模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述第二節(jié)點的電壓經(jīng)由運算放大器緩沖后輸出給相關雙采樣電路，所述相關雙采樣電路對所述第二節(jié)點的電壓進行鎖存與邏輯運算后輸出給模數(shù)轉(zhuǎn)換器，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器偵測所述第二節(jié)點的電壓并進行數(shù)字量化并傳送給缺陷分析模塊。

所述步驟2中第一電壓大于第二薄膜晶體管的閾值電壓且小于有機發(fā)光二極管的閾值電壓，所述公共電壓小于所述有機發(fā)光二極管的閾值電壓。

所述步驟5中當所述第二節(jié)點的電壓在預設的標準電壓范圍內(nèi)，所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷時，所述第二薄膜晶體管的閾值電壓等于第一電壓與所述第二節(jié)點的電壓的差值。

所述步驟2中第一電壓小于第二薄膜晶體管的閾值電壓，所述公共電壓大于所述有機發(fā)光二極管的閾值電壓；

所述步驟5中當所述第二節(jié)點的電壓在預設的標準電壓范圍內(nèi)，所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷時，所述有機發(fā)光二極管的閾值電壓等于所述第二節(jié)點的電壓。

當所述第二節(jié)點的電壓大于所述預設的標準電壓范圍的上限時，判定所述第二薄膜晶體管短路、或第一電容短路；

當所述第二節(jié)點的電壓小于所述預設的標準電壓范圍的下限時，則判定所述第二薄膜晶體管斷路。

當所述第二節(jié)點的電壓大于所述預設的標準電壓范圍的上限時，判定所述有機發(fā)光二極管斷路；

當所述第二節(jié)點的電壓等于第二電源電壓時，則判定所述有機發(fā)光二極管短路。

所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路中還形成有寄生電容，所述寄生電容并聯(lián)于所述有機發(fā)光二極管的兩端。

所述公共電壓等于0V。

所述第一電壓等于0V。

所述步驟5還包括：當所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷時發(fā)出警報提示。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，該方法通過偵測第二節(jié)點的電壓，并根據(jù)第二節(jié)點的電壓是否在預設的標準電壓范圍內(nèi)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路是否存在缺陷，能夠準確快速的檢測出OLED顯示裝置驅(qū)動電路中的短路與斷路缺陷，且該方法利用OLED顯示裝置的外部電壓補償架構實現(xiàn)，不需要額外購買檢測設備，沒有設備成本，能夠提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

附圖說明

為了能更進一步了解本發(fā)明的特征以及技術內(nèi)容，請參閱以下有關本發(fā)明的詳細說明與附圖，然而附圖僅提供參考與說明用，并非用來對本發(fā)明加以限制。

附圖中，

圖1為本發(fā)明的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法中的OLED顯示裝置驅(qū)動電路的電路圖；

圖2為本發(fā)明的OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法的流程圖。

具體實施方式

為更進一步闡述本發(fā)明所采取的技術手段及其效果，以下結合本發(fā)明的優(yōu)選實施例及其附圖進行詳細描述。

請參閱圖1，本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，包括如下步驟：

步驟1、提供一OLED顯示裝置驅(qū)動電路，包括：第一薄膜晶體管T1、第二薄膜晶體管T2、第三薄膜晶體管T3、第一電容C1、有機發(fā)光二極管D1、以及第一開關S1；

所述第一薄膜晶體管T1的柵極接入掃描信號Scan，源極接入數(shù)據(jù)信號Data，漏極電性連接第一節(jié)點P；所述第二薄膜晶體管T2的柵極電性連接第一節(jié)點P，源極接入第一電源電壓Ovdd，漏極電性連接第二節(jié)點Q；所述第三薄膜晶體管T3的柵極接入偵測信號Sen，源極電性連接第三節(jié)點K，漏極電性連接第二節(jié)點Q；所述第一電容C1的一端電性連接第一節(jié)點P，另一端電性連接第二節(jié)點Q；所述有機發(fā)光二極管D1的陽極電性連接第二節(jié)點Q，陰極接入第二電源電壓Ovss；所述第一開關S1的一端接入公共電壓Vcm，另一端電性連接第三節(jié)點K。

具體地，所述第一薄膜晶體管T1、第二薄膜晶體管T2、第三薄膜晶體管T3、第一電容C1、及有機發(fā)光二極管D1共同組成了OLED顯示裝置的一個子像素驅(qū)動電路，而第一開關S1則用于偵測該子像素驅(qū)動電路閾值電壓。所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路中還形成有寄生電容C2，所述寄生電容C2并聯(lián)于所述有機發(fā)光二極管D1的兩端。

步驟2、所述掃描信號Scan和偵測信號Sen均提供高電位，第一和第三薄膜晶體管T1、T3均打開，所述數(shù)據(jù)信號Data提供第一電壓至第一節(jié)點P，所述開關S1閉合，所述第二節(jié)點Q的電壓等于公共電壓Vcm。

具體地，所述步驟2分為兩種情況，一種為偵測第二薄膜晶體管T2即驅(qū)動薄膜晶體管的閾值電壓的情況，一種為偵測有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓的情況。

其中，當偵測第二薄膜晶體管T2即驅(qū)動薄膜晶體管的閾值電壓時，所述步驟2中第一電壓大于第二薄膜晶體管T2的閾值電壓且小于有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓，所述公共電壓Vcm小于所述有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓，從而所述第二薄膜晶體管T2導通，而有機發(fā)光二極管D1不發(fā)光。優(yōu)選地，此時公共電壓Vcm為0V。

而當偵測有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓時，所述步驟2中第一電壓小于第二薄膜晶體管T2的閾值電壓，所述公共電壓Vcm大于所述有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓，從而所述第二薄膜晶體管T2截止，而有機發(fā)光二極管D1發(fā)光。優(yōu)選地，此時第一電壓為0V。

步驟3、所述掃描信號Scan和偵測信號Sen保持高電位，第一和第三薄膜晶體管T1、T3保持打開，所述數(shù)據(jù)信號Data繼續(xù)提供第一電壓至第一節(jié)點P，所述第一節(jié)點P保持第一電壓，所述開關S1斷開，所述第二節(jié)點Q的電壓不斷變化后重新穩(wěn)定。

具體地，當偵測第二薄膜晶體管T2即驅(qū)動薄膜晶體管的閾值電壓時，如果所述OLED顯示裝置不存在缺陷，即子像素驅(qū)動電路不存在短路和斷路缺陷，此時所述第二節(jié)點Q的電壓應當?shù)扔诘谝浑妷号c所述第二薄膜晶體管T2的閾值電壓的差值，也就說，此時用第一電壓減去偵測第二節(jié)點Q的電壓應當?shù)贸龅诙∧ぞw管T2的閾值電壓，而根據(jù)第二薄膜晶體管T2的閾值電壓只能在一個合理的電壓范圍內(nèi)浮動，據(jù)此可以為第二節(jié)點Q的電壓預設一個標準電壓范圍，根據(jù)此標準電壓范圍求出的第二薄膜晶體管T2的閾值電壓需要落在第二薄膜晶體管T2的閾值電壓的合理浮動范圍內(nèi)。

具體地，當偵測有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓時，如果所述OLED顯示裝置不存在缺陷，即子像素驅(qū)動電路不存在短路和斷路缺陷，則此時所述第二節(jié)點Q的電壓應當?shù)扔谟袡C發(fā)光二極管D1的閾值電壓，而有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓只能在一個合理的電壓范圍內(nèi)浮動，據(jù)此可以為第二節(jié)點Q的電壓預設一個標準電壓范圍，此標準電壓范圍即為有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓的合理浮動范圍。

步驟4、提供一模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC以及與所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC電性連接的一缺陷分析模塊，利用所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC偵測出所述第二節(jié)點Q的電壓并傳送給缺陷分析模塊。

具體地，所述步驟5中還提供運算放大器Y1、以及相關雙采樣電路CDS。

偵測時，所述運算放大器Y1的反相輸入端電性連接其輸出端，同相輸入端電性連接第三節(jié)點K，輸出端電性連接相關雙采樣電路CDS的輸入端，所述相關雙采樣電路CDS的輸出端電性連接模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC，所述第二節(jié)點Q的電壓經(jīng)由運算放大器Y1緩沖后輸出給相關雙采樣電路CDS，所述相關雙采樣電路CDS對所述第二節(jié)點Q的電壓進行鎖存與邏輯運算后輸出給模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC偵測所述第二節(jié)點Q的電壓并進行數(shù)字量化并傳送給缺陷分析模塊。

可以理解的是，所述步驟4中偵測第二節(jié)點Q的電壓的方法并不限于上述的通過運算放大器Y1、相關雙采樣電路CDS、以及模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC進行偵測的方法，其也可以通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC搭配其他元件或模塊進行偵測。

步驟5、所述缺陷分析模塊將所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC傳送來的第二節(jié)點Q的電壓與預設的標準電壓范圍進行比較，當所述第二節(jié)點Q的電壓超出預設的標準電壓范圍時，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷，當所述第二節(jié)點Q的電壓在預設的標準電壓范圍內(nèi)時，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路不存在缺陷。

具體地，當偵測第二薄膜晶體管T2的閾值電壓時，若所述第二節(jié)點Q的電壓大于所述預設的標準電壓范圍的上限時，則判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述第二薄膜晶體管T2短路、或第一電容C1短路的缺陷。若所述第二節(jié)點Q的電壓小于所述預設的標準電壓范圍的下限時，則判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述第二薄膜晶體管T2斷路的缺陷。

具體地，當偵測有機發(fā)光二極管D1的閾值電壓時，若當所述第二節(jié)點Q的電壓大于所述預設的標準電壓范圍的上限時，判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述有機發(fā)光二極管D1斷路的缺陷；若所述第二節(jié)點Q的電壓等于第二電源電壓Ovss時，則判定所述子像素驅(qū)動電路可能存在所述有機發(fā)光二極管D1短路的缺陷。

進一步地，上述過程可完全基于現(xiàn)有的OLED顯示裝置的外部電壓補償架構實現(xiàn)，不需要額外購買檢測設備，沒有設備成本，能夠提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

值得一提的是，所述步驟5還包括：當所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路存在缺陷時發(fā)出警報提示。警報提示的具體方式可以根據(jù)需要進行相應設計，如聲音警報等。

綜上所述，本發(fā)明提供了一種OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測方法，該方法通過偵測第二節(jié)點的電壓，并根據(jù)第二節(jié)點的電壓是否在預設的標準電壓范圍內(nèi)，判定所述OLED顯示裝置驅(qū)動電路是否存在缺陷，能夠準確快速的檢測出OLED顯示裝置驅(qū)動電路中的短路與斷路缺陷，且該方法利用OLED顯示裝置的外部電壓補償架構實現(xiàn)，不需要額外購買檢測設備，沒有設備成本，能夠提升OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測效率，降低OLED顯示裝置驅(qū)動電路缺陷檢測成本，保證產(chǎn)品質(zhì)量。

以上所述，對于本領域的普通技術人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術方案和技術構思作出其他各種相應的改變和變形，而所有這些改變和變形都應屬于本發(fā)明權利要求的保護范圍。