用于提取amoled顯示器的老化圖案的帶邊緣檢測的再插值的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種方法，該方法包括初始均勻像素測量、插值以及之后的邊緣檢測算法，邊緣檢測算法識別對由插值引起的大部分估計作出主要貢獻(xiàn)的區(qū)域。也檢測位于邊緣以及邊緣附近的像素，并且通過針對初始測量像素以及所檢測到的邊緣周圍的像素的整個測量的數(shù)據(jù)集的再插值來獲得整個顯示器的老化圖案。尤其在存在具有顯著邊緣的高空間相關(guān)的區(qū)域的老化圖案的情況下，降低了估計誤差。
【專利說明】用于提取AMOLED顯示器的老化圖案的帶邊緣檢測的再插 值

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明大體上涉及在顯示器中使用的電路以及用于估計或提取顯示器的老化圖 案的方法，尤其涉及用于估計或提取有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管顯示器的老化圖案的方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 可以通過均由單獨(dú)的電路（即，像素電路）控制的發(fā)光器件的陣列來制造顯示器， 上述像素電路具有用于選擇性地進(jìn)行控制以對這些電路進(jìn)行顯示信息的編程并使它們根 據(jù)顯示信息來發(fā)光的晶體管。可以將在基板上制造的薄膜晶體管（"TFT"）結(jié)合到這類顯 示器中。隨著顯示器的老化，TFT往往隨著時間在整個顯示器面板中表現(xiàn)出非均勻的特性。 可以將補(bǔ)償技術(shù)應(yīng)用到這種顯示器以實現(xiàn)顯示器的圖像均勻性并且消除顯示器隨著顯示 器老化的劣化。
[0003] 考慮具有Νκ行和N。列像素的有源矩陣有機(jī)發(fā)光器件（active matrix organic light-emitting device，AM0LED)顯示器。令大小為ΝκΧΝ。的矩陣X代表整個屏幕上的像 素的\偏移或遷移指數(shù)。問題在于以最小數(shù)量的像素測量來估計矩陣X。矩陣X被用于調(diào) 整每個單獨(dú)像素的輸入電壓（補(bǔ)償）以使屏幕的所有像素具有均勻的強(qiáng)度。
[0004] 需要使測量的數(shù)量最小化，以減小非均勻性補(bǔ)償所需要的時間間隔。這種時間上 的節(jié)約進(jìn)一步允許重復(fù)多次測量以通過平均來減小加性噪聲（additive noise)的方差。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在閱讀了本發(fā)明的各實施方式和/或各方面的 詳細(xì)說明之后，本發(fā)明的前述的和其它的方面及實施方式將變得更加清楚。上述詳細(xì)說明 是通過參照附圖進(jìn)行的，接下來將對這些附圖進(jìn)行簡單說明。
[0006] 根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提出了一種在顯示器上進(jìn)行識別的方法，所述顯示器具 有像素，所述像素由于每個所述像素中的電流驅(qū)動型部件的一個以上的老化特性的偏移而 老化，所述方法包括如下步驟：通過使用測量電路，利用下采樣率&乂!^按照下述方式測量 所述顯示器的至少第一區(qū)域中的至少一部分但非全部像素的老化特性以產(chǎn)生初始像素測 量的集合。在一個方面，除了位于顯示器底部的少數(shù)行和位于顯示器右側(cè)的少數(shù)列以外，第 一區(qū)域幾乎覆蓋顯示器上的全部像素。在另一個方面，第一區(qū)域覆蓋顯示器的所有的像素。 心和^是相同的或彼此不同的正整數(shù)。該方法還包括：對所述初始像素測量的集合插值，以 產(chǎn)生至少針對所述第一區(qū)域的初始老化圖案；將所述初始老化圖案存儲在存儲設(shè)備中；通 過使用邊緣檢測算法，在所述初始老化圖案中定位與像素強(qiáng)度的非連續(xù)性相對應(yīng)的邊緣； 通過使用所述測量電路，測量那些沿著所述初始老化圖案中的所定位的邊緣且未在所述初 始像素測量的集合中被測量的像素的老化特性，以產(chǎn)生邊緣測量的集合；通過使用所述初 始像素測量的集合以及所述邊緣測量的集合來應(yīng)用分散插值算法，以產(chǎn)生至少所述第一區(qū) 域的優(yōu)化老化圖案；以及將所優(yōu)化的老化圖案的指示存儲在所述存儲設(shè)備中。
[0007] 該方法可進(jìn)一步包括：通過使用所述測量電路，對位于所述顯示器的最后一行的 每第KH個像素的老化特性和位于所述顯示器的最后一列的每第K v個像素的老化特性進(jìn)行 測量以將其包含到所述初始像素測量的集合中。
[0008] 所述方法可進(jìn)一步包括：如果位于所述顯示器的最后一行并且位于最后一列的像 素的老化特性未被測量以至于未出現(xiàn)在所述初始像素測量的集合中，則通過使用所述測量 電路，對位于所述顯示器的最后一行并位于最后一列的像素的老化特性進(jìn)行測量以將其包 含到所述初始像素測量的集合中。
[0009] 該方法還可包括：通過使用所述測量電路，進(jìn)一步測量在水平方向上從所定位的 邊緣開始的至少Κ Η個像素中的至少部分像素的老化特性并且測量在垂直方向上從所定位 的邊緣開始的κν個像素中的至少部分像素，以產(chǎn)生額外邊緣測量的集合：以及將所述額外 邊緣測量的集合添加到所述邊緣測量的集合。所述應(yīng)用所述分散差值算法的步驟還基于所 述額外邊緣測量的集合。
[0010] 所述進(jìn)一步測量的步驟可包括：從沿著所定位的邊緣的初始像素開始，測量由至 少具有大?。é?Η+1) X (Κν+1)的塊界定的至少每個未被測量的像素的老化特性；并將這些進(jìn) 一步測量的像素包含到所述額外邊緣測量的集合中。
[0011] 所述進(jìn)一步測量的步驟包括：測量位于沿著所定位的邊緣的初始像素之后的接下 來的同一行的至少κ Η個未被測量的像素中的每一者的老化特性，以及位于所述初始像素之 后的接下來的同一列的至少&個未被測量的像素中的每一者的老化特性；以及將這些進(jìn)一 步測量的像素包含到所述額外邊緣測量的集合中。
[0012] 該方法還可包括：當(dāng)沿著所述初始像素的行或列遇到所述初始像素測量的集合中 的已被測量的像素時，停止所述進(jìn)一步測量的步驟。
[0013] 所述優(yōu)化老化圖案的所述指示可以是與所述顯示器的像素分辨率相對應(yīng)的估計 矩陣，其中，所述像素分辨率對應(yīng)于用于形成所述顯示器的像素的行數(shù)Ν κ與列數(shù)Nc。
[0014] 所述估計矩陣中的每個值對應(yīng)于與該值出現(xiàn)在所述矩陣中的位置的行和列相對 應(yīng)的像素的老化量，以便應(yīng)用補(bǔ)償值來增加該像素的編程亮度從而補(bǔ)償所述老化量。
[0015] 所述老化特性可以與每個所述像素中的用于驅(qū)動發(fā)光器件的驅(qū)動晶體管的閾值 電壓的偏移有關(guān)，或者與每個所述像素中的所述發(fā)光器件兩端間的電壓的變化有關(guān)，或者 與所述驅(qū)動晶體管的用于使每個所述像素中的所述發(fā)光器件發(fā)出編程亮度所需的驅(qū)動電 流的變化有關(guān)，或者與所述發(fā)光器件發(fā)出編程亮度所需的電流的變化有關(guān)。
[0016] 每個所述像素可包括發(fā)光器件和驅(qū)動晶體管，所述驅(qū)動晶體管使用與所述發(fā)光器 件發(fā)出的編程亮度相對應(yīng)的電流來驅(qū)動所述發(fā)光器件。
[0017] 第一區(qū)域跨越整個顯示器或幾乎跨越整個顯示器。當(dāng)所述第一區(qū)域跨越大部分但 不是整個顯示器時，可以存在一個至三個與第一區(qū)域一起跨越整個所述顯示器的不相交的 區(qū)域。例如，第二區(qū)域可以包括細(xì)長垂直區(qū)域，且包括顯示器右側(cè)的前幾列。第三區(qū)域可 以包括顯示其底部的幾行。第四區(qū)域可以包括小的矩形區(qū)域，且包括顯示器的底部右手邊 的幾個像素。根據(jù)顯示器的大小N KXNC以及下采樣率KHXKV的不同，可以只存在一個區(qū)域 (第一區(qū)域）或一到三個額外的區(qū)域。
[0018] 在對所述初始像素測量的集合插值的步驟中，可以估計由于所述下采樣率的緣故 而未被測量的像素的老化值。
[0019] 所述邊緣檢測算法可以是Canny邊緣檢測算法。
[0020] Kv可以是2、4或任意其他正整數(shù)，并且KH可以是2、3、4或任意其他正整數(shù)。
[0021] 所述顯示器的所有像素至多50%被測量以產(chǎn)生所述初始老化圖案，或者所述顯示 器的所有像素的至多25%被測量以產(chǎn)生所述初始老化圖案。被初始測量的像素的數(shù)量取 決于下采樣率。例如，如果K V=KH=2,則顯示器的全部像素中的幾乎25%的像素被初始測量。 再舉另外一個例子，如果K V=KH=4,那么全部像素中的只有1/16的像素被初始測量。
[0022] 該方法還可包括：通過使用所述測量電路，測量所述顯示器的第二區(qū)域中的一些 但非所有的像素的老化特性，并將其包含到所述初始像素測量的集合中，所述第一區(qū)域以 及所述第二區(qū)域不相交，其中，所述插值的步驟產(chǎn)生所述第一區(qū)域和所述第二區(qū)域的所述 初始老化圖案。所述邊緣檢測算法在整個顯示器上運(yùn)行以定位邊緣。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0023] 在閱讀了下面的詳細(xì)描述及參照了附圖之后，本發(fā)明的上述優(yōu)點(diǎn)及其它優(yōu)點(diǎn)將變 得更加明顯。
[0024] 圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的一個方面的算法的框圖。
[0025] 圖2示出了 6X10大小的仿真的棋盤老化圖案的結(jié)果。
[0026] 圖3示出了 24X40大小的仿真的棋盤老化圖案的結(jié)果。
[0027] 圖4示出了 6X 10大小的塊的隨機(jī)強(qiáng)度棋盤圖案的算法的執(zhí)行。
[0028] 圖5示出了在考慮24X40大小的隨機(jī)強(qiáng)度棋盤圖案時的相同的仿真。
[0029] 圖6示出了對6 X 10大小的菱形老化圖案執(zhí)行算法。
[0030] 圖7示出了對6X10大小的隨機(jī)強(qiáng)度菱形圖案執(zhí)行算法。
[0031] 圖8示出了 512X648大小的AM0LED顯示器的紅色、綠色和藍(lán)色的初始非均勻性 VT〇
[0032] 圖9示出了對具有針對紅色的真實初始非均勻性的背景的隨機(jī)強(qiáng)度棋盤圖案執(zhí) 行算法。
[0033] 圖10示出了對具有針對綠色的真實初始非均勻性的背景的隨機(jī)強(qiáng)度棋盤圖案執(zhí) 行算法。
[0034] 圖11示出了對具有針對藍(lán)色的真實初始非均勻性的背景的隨機(jī)強(qiáng)度棋盤圖案執(zhí) 行算法。
[0035] 圖12示出了對具有針對紅色的真實初始非均勻性的背景的隨機(jī)強(qiáng)度菱形圖案執(zhí) 行算法。
[0036] 圖13示出了對具有針對綠色的真實初始非均勻性的背景的隨機(jī)強(qiáng)度菱形圖案執(zhí) 行算法。
[0037] 圖14示出了對具有針對藍(lán)色的真實初始非均勻性的背景的隨機(jī)強(qiáng)度菱形圖案執(zhí) 行算法。
[0038] 雖然本發(fā)明可以容易地做出各種變形和替代形式，但在附圖中以示例的方式示出 了【具體實施方式】和實施例并且在本文中將會對這些【具體實施方式】和實施例進(jìn)行詳細(xì)說明。 然而，應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明不限于所披露的特定形式。相反，本發(fā)明覆蓋了落入由所附權(quán)利要 求限定的本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)的所有變形、等同物和替代形式。

【具體實施方式】
[0039] 雖然已圖示和說明了本發(fā)明的【具體實施方式】和實施例，但應(yīng)該理解，本發(fā)明不限 于本文所披露的精確構(gòu)造和組成，且在不偏離由所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明范圍的情況下 可以根據(jù)前述說明容易地做出各種變形、變化和修改。
[0040] 屏幕或顯示器的老化圖案是高度空間相關(guān)的。對于具有低相關(guān)或不相關(guān)的老化圖 案的顯示器，需要測量大多數(shù)甚至所有的像素以確定它們的老化特性。然而，由于高的空間 相關(guān)性，所以可以通過測量顯示器中所有像素的真子集來估計顯示器的老化圖案。本發(fā)明 提出了一類基于像素測量的方法。提出了易于實施并基于測量像素的非均勻子集來估計顯 示器的老化圖案的算法。
[0041] 參照圖1，算法從初始均勻（均勻意味著測量像素的規(guī)則或均勻的圖案）測量開 始，初始均勻測量使用特定的下采樣率&乂!^對像素的特性（例如，老化）進(jìn)行測量，下采 樣率K VXKH例如是4X4,這意味著每第4行（即每隔3行）和每第4列（即每隔3列）的 像素的老化特性被測量，然而每個4X 4像素塊中的其他像素在算法100的初始均勻測量中 不被測量（102)。假設(shè)高的空間相關(guān)性，通過對測量的數(shù)據(jù)插值來獲得整個顯示器（包含未 測量的像素）的粗略的老化圖案（104)。由插值引起的大部分誤差可能出現(xiàn)在圖像亮度水 平突變的圖像邊緣或其附近處。相應(yīng)地，執(zhí)行邊緣檢測算法以檢測出現(xiàn)有突兀的亮度水平 的邊緣（106)。然后，通過在檢測到的邊緣或附近處進(jìn)行額外的像素測量，并接著對整個顯 示器中的所測量的老化數(shù)據(jù)進(jìn)行再插值（re-interpolating) (110)，來進(jìn)一步優(yōu)化老化圖 案（108)。
[0042] 使用下采樣率KVXKH來執(zhí)行初始像素測量。從顯示器的具有坐標(biāo)（0,0)的角開始 (例如，左上角），對位于下采樣率的垂直參數(shù)以及水平參數(shù)的整數(shù)倍（例如，4)處的像素進(jìn) 行測量。根據(jù)顯示器的大小以及選擇的下采樣率的不同，在使用所選擇的下采樣率進(jìn)行初 始像素測量期間，最后幾行（n/K v)和最后幾列（η'ΚΗ)的像素可能得不到測量。在對顯示 器的所有像素進(jìn)行插值前，使用相同的下采樣率&和&來分別測量位于顯示器的最后一行 以及最后一列的像素的老化特性。也可以對位于與顯示器的右下部相對應(yīng)的位置（Nr，Nc) 處的像素進(jìn)行測量作為初始測量的一部分。測量像素的老化特性被儲存在存儲設(shè)備中作為 初始像素測量的集合。下采樣率的參數(shù)^和心是相同（例如，2X2或4X4)的或彼此不 同的（例如，2X4)整數(shù)。
[0043] 根據(jù)顯示器的大小以及所選擇的下采樣率KVXKH的不同，顯示器可以（至多）被 劃分成四個不相交的（不同的）區(qū)域以對它們應(yīng)用初始均勻測量。這是由于像素的最后一 行和最后一列的坐標(biāo)可能不是所選擇的下采樣率的整數(shù)因子的緣故，且因此可以對它們單 獨(dú)測量。例如，如果測量從屏幕的左上角開始，那么這些區(qū)域分別位于顯示器的左上部、左 下部、右上部以及右下部。在每個區(qū)域中，運(yùn)行網(wǎng)格插值（grided interpolation)算法以 估計矩陣X的未知項，并且對未知項插值，其中矩陣X具有與顯示器的像素分辨率相對應(yīng)的 大小，且矩陣X中的已知項對應(yīng)于測量的特性。
[0044] 可以使用諸如"最近鄰插值法"、"線性插值法"、"三次插值法"或者"樣條插值法" 等多種常規(guī)插值方法。在使用三次插值法或樣條插值法的情況下，區(qū)域1中的插值數(shù)據(jù)可 被用來提供額外數(shù)據(jù)以用來完成區(qū)域2和區(qū)域3中的插值。同樣地，區(qū)域1、2和3中的插 值數(shù)據(jù)可被用來完成區(qū)域4中的插值?？蛇x地，可以直接測量區(qū)域2、3、4處的插值所需要 的像素。
[0045] 因為由于周圍像素的強(qiáng)度或亮度的急劇改變而出現(xiàn)邊緣，所以邊緣能夠引起圖像 的梯度幅值的局部極大值。這種現(xiàn)象允許通過發(fā)現(xiàn)圖像的梯度的局部極大值，來使用圖像 信號處理檢測邊緣。諸如"8 〇1^1"、、1'冊丨《"、"1呢"以及"1'〇1^竹8"之類的傳統(tǒng)邊緣檢測 算法根據(jù)上述原理運(yùn)作，并且適合用于檢測圖像梯度的局部極大值。
[0046] 更高級的基于"發(fā)現(xiàn)并跟蹤（finding and tracking) "梯度的局部極大值來運(yùn)作 的邊緣檢測算法是由John F. Canny在1986年提出的"canny"邊緣檢測器。由于canny邊 緣檢測器對連接的邊緣精確地檢測和定位并由此對顯示器不同老化區(qū)域更精確地識別，所 以其可以被用于本發(fā)明。
[0047] canny邊緣檢測器的輸出是與原始圖像具有相同的大小的二進(jìn)制矩陣（即，與矩 陣X大小相同），在該二進(jìn)制矩陣中，將邊緣項（即，局部極大值）標(biāo)記成二進(jìn)制值" 1"，并 將其余的項標(biāo)記成"〇"。
[0048] 假設(shè)canny邊緣檢測器精確地發(fā)現(xiàn)了邊緣的位置，每個邊緣的位置由于初始插值 的下采樣分辨率的緣故而仍然具有至多K vXKHf像素的誤差。
[0049] 對于粗略式或"蠻力式"的方式，其測量所檢測到的邊緣周圍的四個初始測量之間 的所有的（K V+1)X(KH+1)個像素。當(dāng)邊緣位于初始測量像素上時，對位于當(dāng)前像素的水平 右側(cè)以及垂直下方的（K V+1)X(KH+1)個像素（從邊緣像素自身開始）進(jìn)行測量。例如，如 果心冰^么那么，在邊緣像素周圍存在著25個需要被測量的像素。因為它們中的四個已經(jīng) 在初始測量期間被測量（并且已經(jīng)存在于初始像素測量結(jié)果中），所以對所檢測到的邊緣 像素周圍的總共至多21個像素進(jìn)行測量。然而，這種方式導(dǎo)致太多的新像素被測量，并沒 有大大地減少誤差。
[0050] 為了減少額外測量的數(shù)量，另一種方式對所檢測到的邊緣周圍的并位于相鄰的初 始測量像素的坐標(biāo)之間的水平方向上的總共（K H+1)個像素以及垂直方向上的（Kv+1)個像 素進(jìn)行測量。當(dāng)邊緣位于初始測量像素上時，對位于邊緣像素右側(cè)的（Κ Η+1)個水平像素以 及位于邊緣像素下方的（Κν+1)個垂直像素（包括邊緣像素本身）進(jìn)行測量。假設(shè)K h=Kv=4， 這種方式對邊緣像素周圍的總共最多10個像素進(jìn)行測量。
[0051] 為了進(jìn)一步減少額外測量的數(shù)量，另一種方式對位于邊緣像素右側(cè)的總共最多 (KH+1)個像素以及位于邊緣像素下方的總共最多（K v+1)個像素（包括邊緣像素）進(jìn)行測 量。可以在到達(dá)下一初始測量像素的坐標(biāo)時停止測量。在這種方式中，水平地測量了最多 (Κ Η+1)個像素，且垂直地測量了最多（Κν+1)個像素。
[0052] 注意，在所有以上方式中，被測量的新像素可能與由于初始測量或由于邊緣處的 其它像素的額外測量而被先前測量的像素重疊。這些新像素因為已經(jīng)被測量過而被跳過。 在初始插值之后被測量的額外像素產(chǎn)生了邊緣測量的集合。
[0053] 測量數(shù)據(jù)的新集合目前包括初始像素測量（初始像素測量的集合）加上邊緣及其 鄰近處的新測量（邊緣測量的集合）。這種新的數(shù)據(jù)集合不是數(shù)據(jù)的網(wǎng)格集合，這是因為邊 緣不一定符合網(wǎng)格圖案。因此，使用散亂數(shù)據(jù)插值技術(shù)（scattered data interpolation technique)對該新數(shù)據(jù)集合（其具有不規(guī)則或非網(wǎng)格圖案的測量數(shù)據(jù)）進(jìn)行插值。與單獨(dú) 的初始插值相比，使用散亂數(shù)據(jù)插值的再插值以較少誤差更精確地估計老化圖案。
[0054] 針對AM0LED顯示器的仿真數(shù)據(jù)與真實數(shù)據(jù)來評估算法的性能。將歸一化的均方 根（RMS)誤差百分比視為性能標(biāo)準(zhǔn)。如果X和囊分別為原始矩陣和估計矩陣，歸一化的誤 差可被定義為：
[0055]

【權(quán)利要求】
1. 一種在顯示器上進(jìn)行識別的方法，所述顯示器具有像素，所述像素由于每個所述像 素中的電流驅(qū)動型部件的一個以上的老化特性的偏移而老化，所述方法包括如下步驟： 通過使用測量電路，利用下采樣率&乂心按照下述方式測量所述顯示器的至少第一區(qū) 域中的至少一部分但非全部像素的老化特性以產(chǎn)生初始像素測量的集合：沿所述第一區(qū)域 的列測量至少每第κν個像素的老化特性，并且沿所述第一區(qū)域的行測量至少每第K H個像素 的老化特性，其中，κν和KH是相同的或彼此不同的正整數(shù)； 對所述初始像素測量的集合插值，以產(chǎn)生至少針對所述第一區(qū)域的初始老化圖案； 將所述初始老化圖案存儲在存儲設(shè)備中； 通過使用邊緣檢測算法，在所述初始老化圖案中定位與像素強(qiáng)度的非連續(xù)性相對應(yīng)的 邊緣； 通過使用所述測量電路，測量那些沿著在所述初始老化圖案中所定位的邊緣且未在所 述初始像素測量的集合中被測量的像素的老化特性，以產(chǎn)生邊緣測量的集合； 通過使用所述初始像素測量的集合以及所述邊緣測量的集合來應(yīng)用分散插值算法，以 產(chǎn)生至少所述第一區(qū)域的優(yōu)化老化圖案；以及 將所述優(yōu)化老化圖案的指示存儲在所述存儲設(shè)備中。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其還包括： 如果位于所述顯示器的最后一列中的像素的老化特性未被測量以致于未出現(xiàn)在所述 初始像素測量的集合中，則通過使用所述測量電路，對位于所述顯示器的被定義成第二區(qū) 域的至少最后一列中的每第Kv個像素的老化特性進(jìn)行額外測量，并將對所述第二區(qū)域的這 些額外測量包含到所述初始像素測量的集合中。
3. 如權(quán)利要求1所述的方法，其還包括： 如果位于所述顯示器的最后一行中的像素的老化特性未被測量以致于未出現(xiàn)在所述 初始像素測量的集合中，則通過使用所述測量電路，對位于所述顯示器的被定義成第三區(qū) 域的至少最后一行中的每第ΚΗ個像素的老化特性進(jìn)行額外測量，并將對所述第三區(qū)域的這 些額外測量包含到所述初始像素測量的集合中。
4. 如權(quán)利要求1所述的方法，其還包括： 如果位于所述顯示器的最后一行并且位于所述顯示器的最后一列的像素的老化特性 未被測量以致于未出現(xiàn)在所述初始像素測量的集合中，則通過使用所述測量電路，對位于 所述顯示器的被定義成第四區(qū)域的最后一行并位于最后一列的像素的老化特性進(jìn)行額外 測量，并將對所述第四區(qū)域的這些額外測量包含到所述初始像素測量的集合中。
5. 如權(quán)利要求1所述的方法，其還包括： 通過使用所述測量電路，進(jìn)一步測量在水平方向上從所定位的邊緣開始的&個像素中 的至少部分像素的老化特性以及在垂直方向上從所定位的邊緣開始的&個像素中的至少 部分像素的老化特性，以產(chǎn)生額外邊緣測量的集合：以及 將所述額外邊緣測量的集合添加到所述邊緣測量的集合，其中，應(yīng)用所述分散差值算 法的步驟還基于所述額外邊緣測量的集合。
6. 如權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述進(jìn)一步測量的步驟包括： 在所定位的邊緣周圍并在所述初始像素測量的集合中的相鄰像素的坐標(biāo)之間，測量由 具有至少（KH+1)X(KV+1)的大小的塊界定的每個未被測量的像素的老化特性，以及 將這些進(jìn)一步測量的像素包含到所述額外邊緣測量的集合中。
7. 如權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述進(jìn)一步測量的步驟包括： 在所定位的邊緣周圍并在所述初始像素測量的集合中的相鄰像素的坐標(biāo)之間，測量與 所定位的邊緣位于同一行的水平方向上的至少（KH+1)個未被測量的像素中的每一者的老 化特性以及與所定位的邊緣位于同一列的垂直方向上的至少（K v+1)個未被測量的像素中 的每一者的老化特性，以及 將這些進(jìn)一步測量的像素包含到所述額外邊緣測量的集合中。
8. 如權(quán)利要求5所述的方法，其中，所述進(jìn)一步測量的步驟包括： 測量位于沿著所定位的邊緣的初始像素之后的接下來的同一行的至少ΚΗ個未被測量 的像素中的每一者的老化特性，以及位于所述初始像素之后的接下來的同一列的至少Κν個 未被測量的像素中的每一者的老化特性；以及 將這些進(jìn)一步測量的像素包含到所述額外邊緣測量的集合中。
9. 如權(quán)利要求8所述的方法，其還包括： 當(dāng)沿著所述初始像素的行或列遇到所述初始像素測量的集合中的已被測量的像素時， 停止所述進(jìn)一步測量的步驟。
10. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述優(yōu)化老化圖案的所述指示是與所述顯示器的 像素分辨率相對應(yīng)的估計矩陣，其中，所述像素分辨率對應(yīng)于用于形成所述顯示器的像素 的行數(shù)Ν κ與列數(shù)Ν。。
11. 如權(quán)利要求10所述的方法，其中，所述估計矩陣中的每個值對應(yīng)于與該值出現(xiàn)在 所述矩陣中的位置的行和列相對應(yīng)的像素的老化量，以便應(yīng)用補(bǔ)償值以增加該像素的編程 亮度從而補(bǔ)償所述老化量。
12. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述老化特性與每個像素中的用于驅(qū)動發(fā)光器件 的驅(qū)動晶體管的閾值電壓的偏移有關(guān)，或者與每個像素中的所述發(fā)光器件兩端間的電壓的 變化有關(guān)，或者與所述驅(qū)動晶體管的用于使每個像素中的所述發(fā)光器件發(fā)出編程亮度所需 的驅(qū)動電流的變化有關(guān)，或者與所述發(fā)光器件發(fā)出編程亮度所需的電流的變化有關(guān)。
13. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，每個所述像素包括發(fā)光器件和驅(qū)動晶體管，所述 驅(qū)動晶體管使用與所述發(fā)光器件發(fā)出的編程亮度相對應(yīng)的電流來驅(qū)動所述發(fā)光器件。
14. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述第一區(qū)域跨越整個所述顯示器。
15. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述第一區(qū)域是四個不相交的區(qū)域中的一者，所 述四個不相交的區(qū)域一起跨越整個所述顯示器。
16. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在對所述初始像素測量的集合插值的步驟中，估 計由于所述下采樣率的緣故而未被測量的像素的老化值。
17. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述邊緣檢測算法是Canny邊緣檢測算法。
18. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，Kv是2、4或任意其它正整數(shù)值。
19. 如權(quán)利要求18所述的方法，其中，心是2、3、4或任意其它正整數(shù)值。
20. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述顯示器的所有像素至多50%被測量以產(chǎn)生 所述初始老化圖案，或者所述顯示器的所有像素的至多25%被測量以產(chǎn)生所述初始老化圖 案。
【文檔編號】G09G3/00GK104050913SQ201410093802
【公開日】2014年9月17日 申請日期:2014年3月13日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月14日
【發(fā)明者】戈爾拉瑪瑞扎·恰吉, 邁赫迪·托巴蒂安 申請人:伊格尼斯創(chuàng)新公司