技術(shù)編號(hào):2546800
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供了一種方法,該方法包括初始均勻像素測(cè)量、插值以及之后的邊緣檢測(cè)算法,邊緣檢測(cè)算法識(shí)別對(duì)由插值引起的大部分估計(jì)作出主要貢獻(xiàn)的區(qū)域。也檢測(cè)位于邊緣以及邊緣附近的像素,并且通過(guò)針對(duì)初始測(cè)量像素以及所檢測(cè)到的邊緣周?chē)南袼氐恼麄€(gè)測(cè)量的數(shù)據(jù)集的再插值來(lái)獲得整個(gè)顯示器的老化圖案。尤其在存在具有顯著邊緣的高空間相關(guān)的區(qū)域的老化圖案的情況下,降低了估計(jì)誤差。專(zhuān)利說(shuō)明用于提取AMOLED顯示器的老化圖案的帶邊緣檢測(cè)的再插 值 [0001] 本發(fā)明大體上涉及在...
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