具有線路傳播延遲補償?shù)娘@示系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】一種表征顯示系統(tǒng)中的傳播延遲效應(yīng)的方法，其中該方法包括：在足以使電流安穩(wěn)在穩(wěn)定值并從而避免信號線或監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)的持續(xù)時間，測量通過驅(qū)動晶體管的第一電流；在針對顯示器的信號線或監(jiān)視線的時序預(yù)算而提供的持續(xù)時間，測量通過驅(qū)動晶體管的第二電流；以及比較第一電流和第二電流以提取對于信號線或監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)。
【專利說明】具有線路傳播延遲補償?shù)娘@示系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本公開一般涉及用于在顯示器中使用的電路和對顯示器(特別是諸如有源矩陣有機發(fā)光二極管顯示器的顯示器)進行驅(qū)動、校準和編程的方法。

【背景技術(shù)】
[0002]顯示器可以由發(fā)光器件的陣列創(chuàng)建，每個發(fā)光器件由單個電路(即，像素電路)控制，該電路具有用于選擇性地控制電路被利用顯示信息編程并且根據(jù)顯示信息發(fā)射光的晶體管。制造在基板上的薄膜晶體管(“TFT”)可以并入到這樣的顯示器中。隨著顯示器老化，TFT趨向于隨著時間并在顯示面板上表現(xiàn)出不均勻的行為。補償技術(shù)可以應(yīng)用于這樣的顯示器，以實現(xiàn)顯示器上的圖像均勻性并且考慮(account for)顯示器中隨著顯示器老化的劣化。
[0003]用于向顯示器提供補償以考慮隨著時間并在顯示面板上的變化的一些方案利用監(jiān)視系統(tǒng)來測量與像素電路的老化(即，劣化)相關(guān)聯(lián)的時間相關(guān)參數(shù)。然后可以使用所測量的信息來通知像素電路的后續(xù)編程，以便確保通過對該編程進行的調(diào)整來考慮任何測量到的劣化。這樣的被監(jiān)視的像素電路可能需要使用另外的晶體管和/或線路來選擇性地將像素電路耦合到監(jiān)視系統(tǒng)并且提供讀出信息。另外的晶體管和/或線路的并入可能不期望地減小像素間距(即，“像素密度”)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本公開的方面提供適合于在被配置對于像素老化提供補償?shù)谋槐O(jiān)視的顯示器中使用的像素電路。本文中所公開的像素電路配置允許監(jiān)視器經(jīng)由監(jiān)視開關(guān)晶體管訪問像素電路的節(jié)點，使得監(jiān)視器可以測量指示像素電路的劣化量的電流和/或電壓。本公開的方面還提供允許與開關(guān)晶體管的電阻無關(guān)地對像素進行編程的像素電路配置。本文中所公開的像素電路配置包括用于使像素電路內(nèi)的存儲電容器與驅(qū)動晶體管隔離以使得存儲電容器上的電荷不被編程操作期間通過驅(qū)動晶體管的電流影響的晶體管。
[0005]鑒于參照其簡要說明被接下來提供的附圖而進行的各實施例和/或方面的詳細描述，本公開的前面的和另外的方面和實施例對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將是清楚的。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0006]當閱讀以下詳細描述并且參照附圖時，本發(fā)明的前面的和其它的優(yōu)點將變得清
λ.Μ
/E.ο
[0007]圖1示出根據(jù)本公開的用于監(jiān)視像素中的劣化并且因此提供補償?shù)南到y(tǒng)的示例性配置。
[0008]圖2是顯示系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)線和監(jiān)視線的RC模型的電路圖。
[0009]圖3A是用于對像素進行編程的電壓對時間的說明性繪圖，該繪圖示出對于圖2中的第N行中的像素的安穩(wěn)效應(yīng)。
[0010]圖3B是用于對像素進行編程的電壓對時間的說明性繪圖，該繪圖示出對于圖2中的第i行中的像素的安穩(wěn)效應(yīng)。
[0011]圖3C是用于對像素進行編程的電壓對時間的說明性繪圖，該繪圖示出對于圖2中的第I行中的像素的安穩(wěn)效應(yīng)。
[0012]圖4A是用于從利用被安穩(wěn)效應(yīng)影響的操作編程持續(xù)時間進行編程的像素讀取電流的電流對時間的說明性繪圖。
[0013]圖4B是用于從利用不被安穩(wěn)效應(yīng)影響的延長的編程持續(xù)時間進行編程的像素讀取電流的電流對時間的說明性繪圖。
[0014]圖5示出由于編程和讀出期間的線路傳播并且還由于來自像素劣化的誤差而導(dǎo)致的誤差的累積。
[0015]圖6示出利用啟動校準數(shù)據(jù)來表征監(jiān)視線效應(yīng)的操作序列。
[0016]圖7示出利用實時測量來提供像素老化的校準的操作序列。
[0017]圖8示出顯示器的操作壽命的早期的編程路徑中的初始誤差的隔離。
[0018]圖9提供基本上避免對于顯示器中的每行的安穩(wěn)效應(yīng)所需的讀出時間持續(xù)時間的示例性曲線圖。
[0019]圖10是用于提取監(jiān)視線上的傳播延遲效應(yīng)的實施例的流程圖。
[0020]圖11是用于提取信號線上的傳播延遲效應(yīng)的實施例的流程圖。
[0021]雖然本公開容易有各種修改和替代形式，但是在附圖中以示例的方式示出了具體實施例，并且將在本文中對這些實施例進行詳細描述。然而，應(yīng)當理解，本公開并非意圖限于所公開的特定形式。相反，本公開是要覆蓋落在由所附權(quán)利要求書限定的本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)的所有修改、等同和替代。

【具體實施方式】
[0022]圖1是示例性顯示系統(tǒng)50的示圖。顯示系統(tǒng)50包括地址驅(qū)動器8、數(shù)據(jù)驅(qū)動器4、控制器2、內(nèi)存儲存器6和顯示面板20。顯示面板20包括以行和列布置的像素10的陣列。每個像素10可單個地編程為發(fā)射具有可單個地編程的亮度值的光?？刂破?接收指示將顯示在顯示面板20上的信息的數(shù)字數(shù)據(jù)?？刂破?將信號32發(fā)送到數(shù)據(jù)驅(qū)動器4，并且將調(diào)度信號34發(fā)送到地址驅(qū)動器8，以驅(qū)動顯示面板20中的像素10顯示所指示的信息。與顯示面板20相關(guān)聯(lián)的多個像素10因此構(gòu)成適于根據(jù)控制器2接收的輸入數(shù)字數(shù)據(jù)動態(tài)地顯示信息的顯示陣列(“顯示屏幕”)。顯示屏幕可以顯示例如來自控制器2接收的視頻數(shù)據(jù)流的視頻信息。供給電壓14可以提供恒定的電源電壓，或者可以是通過來自控制器2的信號控制的可調(diào)整電壓供給。顯示系統(tǒng)50還可以并入來自電流源或電流宿(未示出)的特征以向顯示面板20中的像素10提供偏置電流，從而減小對于像素10的編程時間。
[0023]為了說明性的目的，圖1中的顯示系統(tǒng)50被示為在顯示面板20中僅具有四個像素10。理解的是，顯示系統(tǒng)50可以利用包括類似的像素(諸如像素10)的陣列的顯示屏幕來實現(xiàn)，并且顯示屏幕不限于特定行數(shù)和列數(shù)的像素。例如，顯示系統(tǒng)50可以利用在移動設(shè)備、基于監(jiān)視器的設(shè)備和/或投影設(shè)備的顯示器中通常可用的具有若干行和列的像素的顯示屏幕來實現(xiàn)。
[0024]像素10由驅(qū)動電路(“像素電路”)操作，該驅(qū)動電路一般包括驅(qū)動晶體管202(在圖2中示出)和發(fā)光器件204。以下，像素10可以指的是像素電路。發(fā)光器件204可以可選地是有機發(fā)光二極管，但是本公開的實現(xiàn)適用于具有其它電致發(fā)光器件(包括電流驅(qū)動的發(fā)光器件)的像素電路。像素10中的驅(qū)動晶體管202可以可選地是η型或P型非晶硅薄膜晶體管，但是本公開的實現(xiàn)不限于具有特定極性的晶體管的像素電路或者不僅限于具有薄膜晶體管的像素電路。像素電路10還可以包括存儲電容器200 (在圖2中示出)，其用于存儲編程信息，并且允許像素電路10在被尋址之后驅(qū)動發(fā)光器件204。因此，顯示面板20可以是有源矩陣顯示陣列。
[0025]如圖1中所示，被示為顯示面板20中的左上像素的像素10耦合到選擇線24j、供給線26j、數(shù)據(jù)線22i和監(jiān)視線28i。在實現(xiàn)中，供給電壓14還可以向像素10提供第二供給線。例如，每個像素可以耦合到利用Vdd充電的第一供給線和與Vss耦合的第二供給線，并且像素電路10可以位于第一供給線與第二供給線之間以便于在像素電路的發(fā)射階段期間驅(qū)動這兩個供給線之間的電流。顯示面板20中的左上像素10可以對應(yīng)于顯示面板中的顯示面板20的“第j”行和第“i”列中的像素。類似地，顯示面板20中的右上像素10代表“第j”行和“第m”列；左下像素10代表“第η”行和“第i”列；右下像素10代表“第η”行和“第i”列。每個像素10耦合到適合的選擇線(例如，選擇線24j和24η)、供給線(例如，供給線26 j和26η)、數(shù)據(jù)線(例如，數(shù)據(jù)線22i和22m)以及監(jiān)視線(例如，監(jiān)視線28i和28m)。注意，本公開的方面適用于具有額外的連接(諸如與額外的選擇線的連接)的像素以及適用于具有較少的連接的像素(諸如沒有與監(jiān)視線連接的像素)。
[0026]參照顯示面板20中所示的左上像素10，選擇線24j由地址驅(qū)動器8提供，并且可以用于使得例如能夠通過激活開關(guān)或晶體管以允許數(shù)據(jù)線22i對像素10進行編程來實現(xiàn)像素10的編程操作。數(shù)據(jù)線22i將編程信息從數(shù)據(jù)驅(qū)動器4傳送到像素10。例如，數(shù)據(jù)線22i可以用于將編程電壓或編程電流施加到像素10，以便對像素10進行編程以發(fā)射期望的量的亮度。數(shù)據(jù)(或源)驅(qū)動器4經(jīng)由數(shù)據(jù)線22i供給的編程電壓(或編程電流)是適合于使像素10根據(jù)控制器2接收的數(shù)字數(shù)據(jù)發(fā)射具有期望的量的亮度的光的電壓(或電流)。編程電壓(或編程電流)可以在像素10的編程操作期間被施加到像素10，以便對像素10內(nèi)的存儲器件200 (諸如存儲電容器(圖2))充電，從而使得像素10能夠在編程操作之后的發(fā)射操作期間發(fā)射具有期望的量的亮度的光。例如，像素10中的存儲器件200可以在編程操作期間被充電以在發(fā)射操作期間向驅(qū)動晶體管202的柵極或源極端子中的一個或多個施加電壓，從而使驅(qū)動晶體管202根據(jù)存儲在存儲器件200上的電壓傳送通過發(fā)光器件204的驅(qū)動電流。
[0027]一般地，在像素10中，在像素10的發(fā)射操作期間由驅(qū)動晶體管202傳送通過發(fā)光器件204的驅(qū)動電流是由第一供給線26j供給并且排放(drain)到第二供給線(未示出)的電流。第一供給線22j和第二供給線耦合到電壓供給14。第一供給線26j可以提供正的供給電壓(例如，在電路設(shè)計中通常被稱為“Vdd”的電壓)，而第二供給線可以提供負的供給電壓(例如，在電路設(shè)計中通常被稱為“Vss”的電壓)。在一些實施例中，供給線中的一個或另一個(例如，供給線26j)固定在接地電壓或另一參考電壓。
[0028]顯示系統(tǒng)50還包括讀出或監(jiān)視系統(tǒng)12。再次參照顯示面板20中的左上像素10，監(jiān)視線28i將像素10連接到監(jiān)視系統(tǒng)12。監(jiān)視系統(tǒng)12可以與數(shù)據(jù)驅(qū)動器4集成，或者可以是單獨的獨立系統(tǒng)。特別地，監(jiān)視系統(tǒng)12可以可選地通過在像素10的監(jiān)視操作期間監(jiān)視數(shù)據(jù)線22i的電流和/或電壓來實現(xiàn)，并且監(jiān)視線28i可以整個地略去。另外，顯示系統(tǒng)50可以在沒有監(jiān)視系統(tǒng)12或監(jiān)視線28i的情況下實現(xiàn)。監(jiān)視線28i允許監(jiān)視系統(tǒng)12測量與像素10相關(guān)聯(lián)的電流或電壓，并從而提取指示像素10的劣化的信息。例如，監(jiān)視系統(tǒng)12可以經(jīng)由監(jiān)視線28i提取流過像素10內(nèi)的驅(qū)動晶體管202的電流，并從而基于所測量的電流和基于在測量期間施加到驅(qū)動晶體管202的電壓來確定驅(qū)動晶體管202的閾值電壓或其漂移。一般地然后，測量通過驅(qū)動晶體管202的電流允許提取驅(qū)動晶體管202的電流-電壓特性。例如,通過測量通過驅(qū)動晶體管202的電流(Ids),可以根據(jù)關(guān)系Ids = β (Vgs - Vth)2來確定閾值電壓Vth和/或參數(shù)β，其中，Vgs是施加到驅(qū)動晶體管202的柵源極電壓。
[0029]監(jiān)視系統(tǒng)12可以另外地或可替代地提取發(fā)光器件204的操作電壓(例如，在發(fā)光器件進行操作以發(fā)射光時發(fā)光器件上的電壓降)。監(jiān)視系統(tǒng)12然后可以將信號32傳達到控制器2和/或存儲器6以允許顯示系統(tǒng)50將所提取的劣化信息存儲在存儲器6中。在像素10的后續(xù)編程和/或發(fā)射操作期間，劣化信息由控制器2經(jīng)由存儲器信號36從存儲器6檢索，并且控制器2然后通過將編程值增大或減小補償值來在像素10的后續(xù)編程和/或發(fā)射操作中補償所提取的劣化信息。例如，一旦劣化信息被提取，在像素10的隨后的編程操作期間，就可以適當?shù)卣{(diào)整經(jīng)由數(shù)據(jù)線22i傳送到像素10的編程信息，使得像素10發(fā)射具有與像素10的劣化無關(guān)的期望量的亮度的光。在示例中，可以通過適當?shù)卦龃笫┘拥较袼?0的編程電壓來補償像素10內(nèi)的驅(qū)動晶體管202的閾值電壓的增大。
[0030]此外，如本文中所討論的，監(jiān)視系統(tǒng)12可以另外地或可替代地提取指示由于數(shù)據(jù)線(例如，數(shù)據(jù)線221、22m)中的傳播延遲而導(dǎo)致的編程和/或監(jiān)視讀出中的電壓偏移的信息(諸如使用圖2中所示的讀出電路210或監(jiān)視系統(tǒng)12)，所述數(shù)據(jù)線中的傳播延遲源自編程和/或監(jiān)視間隔期間線電阻和線電容的寄生效應(yīng)。
[0031]根據(jù)本文中所公開的一些實施例，有源矩陣有機發(fā)光(AMOLED)顯示器的最佳性能被OLED和背板器件(非晶、多晶硅或金屬氧化物TFT)兩者的不均勻性、老化和遲滯不利地影響。這些不利影響將時不變因素和時變因素兩者引入了顯示器的操作，其可以通過表征各種因素并且在編程處理期間提供調(diào)整來考慮。在需要全高清(FHD)和超高清(UHD)規(guī)范連同高刷新率(例如，120Hz和240Hz)的大面積應(yīng)用中，操作AMOLED顯示器的挑戰(zhàn)甚至更大。例如，減小的編程持續(xù)時間增強了動態(tài)效應(yīng)對編程和顯示操作的影響。
[0032]另外，AMOLED像素通過其被訪問和編程的非常長的金屬(或以其它方式導(dǎo)電的)線(例如，圖1中的線221、281、22m、28m)的有限電導(dǎo)，連同耦合到該線的分布式寄生電容，引入了對于驅(qū)動信號的階躍函數(shù)可以多快地在面板上傳播并且安穩(wěn)(settle)到它們的穩(wěn)定狀態(tài)的基本限制。一般地，這樣的線上的電壓根據(jù)與1-exp(-t/RC)成比例的時間相關(guān)函數(shù)而改變，其中，R是電壓改變的源與感興趣點之間的總有效電阻，C是電壓改變的源與感興趣點之間的總有效電容。如果沒有提供適當?shù)难a償技術(shù)，則該基本限制阻止大面積面板以較高速率刷新。另一方面，雖然對于工廠校準可以使用較長的刷新時間來消除不完美安穩(wěn)的效應(yīng)，但是校準時間將顯著地增加，導(dǎo)致更長的Takt時間或周期時間(即，低效的生產(chǎn))。
[0033]本文中公開用于表征并且消除(或者至少抑制)AM0LED面板的數(shù)據(jù)線22和監(jiān)視線28上的傳播延遲效應(yīng)的方法?？梢岳妙愃频募夹g(shù)來取消控制一行像素的寫和讀切換的選擇線(例如，圖1中的線24j、24n)的不完全安穩(wěn)效應(yīng)。
[0034]圖2是顯示系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)線和監(jiān)視線的RC模型的電路圖。為了簡單，示出了顯示面板的單個列。數(shù)據(jù)線(被標記為“Data Line”)可以等同于圖1中的數(shù)據(jù)線221、22m中的任何一個。監(jiān)視線(被標記為“Monitor Line”)可以等同于圖1中的監(jiān)視線281、28m中的任何一個。這里，面板具有整數(shù)N行，其中，N在FHD面板中為1080，或者在UHD面板中為2160，或者為與圖1的顯示面板20中的行數(shù)對應(yīng)的另一個數(shù)。數(shù)據(jù)線和監(jiān)視線利用N個級聯(lián)的RC元件建模。如圖2中所示，RC網(wǎng)絡(luò)的每個節(jié)點連接到像素電路。在典型的設(shè)計中，Rp和Cp的集總總和(lumped sum)分別接近于1kQ和500pF。用于這樣的面板的10位精度(例如，諸如實現(xiàn)0.1 %誤差)所需的安穩(wěn)時間可以接近于15 μ S，而以120Hz運行的FHD和UHD面板中的行時間(例如,對于在連續(xù)幀之間對單個行編程可用的時間間隔)分別大致為8 μ S和4 μ S。
[0035]如圖2中所示，對于每行所需的安穩(wěn)時間與其離數(shù)據(jù)或源驅(qū)動器4的物理距離成比例。換句話講，像素10的物理位置離源驅(qū)動器4越遠，驅(qū)動信號在像素100的相應(yīng)行上傳播和安穩(wěn)所花費的時間越長。因此，行N具有最大的安穩(wěn)時間常數(shù)，而行I (其在物理上最靠近源驅(qū)動器4)具有最快的安穩(wěn)時間常數(shù)。該效應(yīng)在圖3A-3C中所繪制的示例中示出，接下來討論這些示例。在對特定行的編程期間，該行中的寫晶體管208(例如，圖2中的其柵極連接到“WR”線的晶體管208)導(dǎo)通，以便將像素電路10的相應(yīng)電容器200連接到數(shù)據(jù)線22。
[0036]圖3Α是用于對像素10進行編程的電壓對時間的說明性繪圖300，該繪圖示出了對于圖2中的第N行中的像素的安穩(wěn)效應(yīng)。圖3Β是用于對像素10進行編程的電壓對時間的說明性繪圖302，該繪圖示出了對于圖2中的第i行中的像素的安穩(wěn)效應(yīng)。圖3C是用于對像素10進行編程的電壓對時間的說明性繪圖304，該繪圖示出了對于圖2中的第I行中的像素的安穩(wěn)效應(yīng)。在圖3A-3C中的每一個中，編程電壓Vp施加在數(shù)據(jù)線22上，同時相應(yīng)的像素電路10被選擇用于編程(例如，通過激活用于第N、第i和第I行電路的相應(yīng)的“WR”線)，并且根據(jù)時間相關(guān)參數(shù)1-exp(-t/RC)而被充電，其中，RC是每個像素電路10處的總有效電阻和電容的乘積。由于數(shù)據(jù)線22上的不同點處的總有效電阻和電容的差異，第I行充電最快，而第N行充電最慢。因此，在編程持續(xù)時間(“tpMg”)的結(jié)束，第N像素達到值Vp - Λ Vdata (N)，而第i行達到值Vp - Δ Vdata⑴，并且第I行達到值Vp - Δ Vdata(I)。如圖3A-3C中所示，AVdata(I) —般是比AVdata(N)小的值。圖3A-3C還示出了安穩(wěn)時間tsettle，其是實現(xiàn)處于或接近編程電壓的存儲電容器200上的電壓的時間。
[0037]然而，每行的相應(yīng)的時間常數(shù)(例如，RC值)不是行號的線性函數(shù)(行號是離源驅(qū)動器4的行距離的線性表示)?？紤]到這個現(xiàn)象，隨機地影響Rp和Cp的制造處理的變化，連同驅(qū)動TFT 202和OLED (例如，發(fā)光器件204)的不均勻性，使得實際上不可能預(yù)測數(shù)據(jù)線22和監(jiān)視線28的準確行為。
[0038]因此，數(shù)據(jù)線22上的傳播延遲對像素電路10中的存儲器件200被編程的期望電壓電平引入誤差。然而，在監(jiān)視線28上，對由讀出電路210(例如，諸如在圖1的監(jiān)視系統(tǒng)12中)檢測的OLED 204或TFT 202的電流電平引入誤差。注意，讀出電路210可以在面板50的源驅(qū)動器4側(cè)的相同端或相對端上。
[0039]圖4A是用于使用讀出電路210從利用被安穩(wěn)效應(yīng)影響的操作編程持續(xù)時間(時序預(yù)算(timing budget))(例如,持續(xù)時間tpMg)編程的像素10讀取電流的電流對時間的說明性繪圖400。Imqn的值是經(jīng)由監(jiān)視線28測量(諸如經(jīng)由電流比較器提取，所述電流比較器例如基于被監(jiān)視電流與參考電流之間的比較來提取被監(jiān)視電流)的電流。此外，在一些實施例中，監(jiān)視線28被利用以測量來自像素電路10的電壓，諸如OLED 204操作電壓，在這種情況下，測量值可以是Vm，但是圖4A和4B的功能形式擴展到電壓而不是電流被測量的情形。圖4A因此示出了，當像素電路10在具有持續(xù)時間tpMg的間隔期間被編程并且在具有持續(xù)時間t_s的間隔期間被測量時經(jīng)由監(jiān)視系統(tǒng)12提取的信息偏離理想的監(jiān)視值。理想的監(jiān)視值是在不存在線路寄生并且像素電路10不具有不均勻性、劣化效應(yīng)、遲滯等時預(yù)測的值。偏移量在圖4A中通過Λ Idata⑴、Λ Ipixel⑴和Λ Imqn⑴指示。由于結(jié)合圖3A-3C討論的數(shù)據(jù)線22的寄生效應(yīng)，AIDATJi)的值對應(yīng)于AVDATA(i)的值。ΛΙΜα)的值是由于有限的線路電容C和電阻R而導(dǎo)致的被監(jiān)視電流的相應(yīng)偏移，其使監(jiān)視線28上的電流電平在安穩(wěn)在穩(wěn)定值之前隨時間調(diào)整，諸如在持續(xù)時間tsMle之后發(fā)生。然而，由于增強清晰度顯示器的時序預(yù)算，t_s —般小于tsettle，并且因此寄生效應(yīng)可能影響監(jiān)視操作以及編程操作。另外，IM(i)的值被由AIpiMl(i)指示的第i行中的像素電路的劣化和/或不均勻性(例如，由于閾值電壓或移動性變化、溫度靈敏性、遲滯、制造效果等而導(dǎo)致)影響。因此，監(jiān)視線上的傳播延遲效應(yīng)可以通過將時間t_s之后的Imqn⑴的值與時間tsrttle之后的Imon(i)的值進行比較并從而確定AI?(i)的值來提取。
[0040]圖4Β是用于從利用足以避免安穩(wěn)效應(yīng)的延長編程持續(xù)時間(比t_s長)(諸如圖3B中所示的時間tsettle)編程的像素10讀取電流的電流對時間的說明性繪圖402。在圖4B中，在具有持續(xù)時間tsrttle的間隔期間對像素進行編程，使得基本上從影響被監(jiān)視電壓Imon(i)的因素消除AIDATA(i)因素。將在利用持續(xù)時間tpMg對像素進行編程(如圖4A中那樣)時Im?⑴的值與在利用持續(xù)時間tsrt&對像素進行編程時IM(i)的值進行比較因此允許確定值Λ IDATA(i)。因此，本公開的方面提供在考慮數(shù)據(jù)線22和/或監(jiān)視線28中的寄生效應(yīng)(該寄生效應(yīng)否則干擾像素性質(zhì)的測量)的同時提取顯示器50中的像素10的不均勻性和/或劣化，諸如通過延長編程時序預(yù)算以避免傳播延遲效應(yīng)。
[0041]圖5示出了由于編程和讀出期間的線路傳播并且還由于來自像素劣化的誤差而導(dǎo)致的誤差的累積。圖5示出了沿著通過數(shù)據(jù)線22的編程與通過監(jiān)視線28的像素10的讀出之間的信號路徑引入的誤差的序列500。源驅(qū)動器向數(shù)據(jù)線22提供期望的信號電平以對像素10進行編程(502)。由于在編程信號路徑512期間可用的行時間有限，所以來自數(shù)據(jù)線22的電壓信號在像素端不完全安穩(wěn)(504)。因此，在感興趣像素10的存儲器件200 (Cs)上采樣的信號電平背離其標稱值。由于像素器件202、204的老化和隨機處理變化，像素10本身對信號路徑514引入了誤差(506)。當像素被訪問以通過監(jiān)視線28讀出時，行時間內(nèi)的監(jiān)視線28的延遲也對所提取的數(shù)據(jù)引入了誤差(508)。因此，圖5中所示的誤差的累積對應(yīng)于圖4Α中所示的時間t_s處的讀出電平(510)。
[0042]如果被分配用于讀出的時間延續(xù)或延長(例如，延續(xù)或延長到持續(xù)時間tsrttle)，則可以通過將讀出信號電平(例如，從讀出電路210提取)與在行時間的持續(xù)時間(例如，持續(xù)時間tpMg)內(nèi)檢測的信號電平進行比較來檢測誤差的幅度。通過數(shù)據(jù)線22傳播延遲引入的誤差可以間接地通過以下方式來檢測:延續(xù)或延長編程時序預(yù)算(例如，延續(xù)或延長到持續(xù)時間tsettle)并且使用讀出電路210來觀察讀出信號電平中的效應(yīng)(諸如，例如結(jié)合圖4B討論的方案)。
[0043]圖6示出了利用啟動校準數(shù)據(jù)來表征監(jiān)視線28效應(yīng)(602)的操作序列600。為了校準監(jiān)視線28延遲效應(yīng)，可以如下提取這樣的延遲。利用長得足以避免以上論及的安穩(wěn)問題的時間(例如，tsrttle)來測量列中的不同位置處的幾個(但不必是全部)像素10。然后，在所需的時序內(nèi)測量(校準)這些像素10所汲取的電流。對于每個像素10的這兩個值的比較為該行中的像素10提供與監(jiān)視線28相關(guān)聯(lián)的延遲要素(element)。通過使用所提取的延遲，對于列中的每個像素10計算延遲要素。顯示器50中的其它列也可以類似地測量。
[0044]所提取的延遲本身顯示為測量單元所檢測的像素電流的增益。為了校正該效應(yīng)，可以調(diào)節(jié)(scale)參考電流，或者可以相應(yīng)地調(diào)節(jié)用于像素的所提取的校準值，以考慮增益因素。
[0045]在圖6中，可以如下提取由監(jiān)視線28引起的延遲。針對數(shù)據(jù)線誤差和像素不均勻性，源驅(qū)動器4放置到數(shù)據(jù)線22上的編程數(shù)據(jù)被校準(602)。在像素10的編程期間，數(shù)據(jù)線22引入誤差，例如，圖4A中所示的Λ Idata(604)，并且以上所討論的隨機像素不均勻性也貢獻誤差，例如，圖4Α中所示的Λ Ipixel (606)。當編程完成并且監(jiān)視線28被激活以從像素電路10讀取電流時，監(jiān)視線28引入誤差(例如，圖4Α中所示的ΛΙ?) (608)，并且這三種類型的誤差(八1_、八1_61和ΛΙμ)的累積存在于來自讀出電路210監(jiān)視的像素電路10的信號中(610)。
[0046]圖7示出了利用實時測量來提供像素老化的校準的操作序列。來自圖6的監(jiān)視線28誤差被用作在對像素10進行編程之前調(diào)整老化和遲滯補償?shù)姆答?。在圖7中所示的系統(tǒng)700中，表征并且考慮由于數(shù)據(jù)線22和監(jiān)視線28兩者而導(dǎo)致的延遲。來自監(jiān)視系統(tǒng)12的輸出被補償并且被傳遞到控制器2 (或者控制器2在接收到該輸出之后執(zhí)行任何補償)，控制器2基于來自監(jiān)視系統(tǒng)12的輸出來動態(tài)地確定對用于視頻或靜態(tài)顯示數(shù)據(jù)的傳入源的編程電壓的任何調(diào)整，以考慮所確定的顯示器50的時間相關(guān)特性。顯示數(shù)據(jù)的遲滯和老化被補償(702)，并且用于像素10的編程數(shù)據(jù)被校準以考慮數(shù)據(jù)22線誤差和像素不均勻性兩者(704)。在編程期間，數(shù)據(jù)線22引入如上所述的誤差(例如，圖4Α中所示的Λ Idata)，并且像素老化、遲滯和不均勻性(例如，圖4Α中所示的Λ Ipixel)進一步劣化像素電路10的電流測量讀取(708)。監(jiān)視線28引入誤差(例如，圖4Α中所示的Λ Imqn) (710)，并且讀出電路210在圖4Α中所不的時間tmeas讀取具有誤差的累積(由Δ IDATA、Δ Ipixel和Δ Imon貢獻)的所得信號(712)。作為補償老化和遲滯的反饋，監(jiān)視系統(tǒng)12補償監(jiān)視線28中的延遲(714)。
[0047]圖8示出了用于隔離顯示器的操作壽命早期的編程路徑中的初始誤差的操作序列800。為了表征數(shù)據(jù)線22和監(jiān)視線28的傳播延遲，如圖8中所示那樣隔離編程誤差和讀出誤差。由數(shù)據(jù)線22的傳播延遲所貢獻的誤差(AIdata)和由面板的初始不均勻性所引入的誤差(AIpixel)可以集總在一起，并且被認為是一個誤差源。
[0048]集總的編程誤差通過在面板壽命的開始(即，在面板50老化之前)運行初始(工廠)校準來表征。在面板的壽命的這個階段，時間相關(guān)的像素劣化效應(yīng)是最小的，但像素不均勻性(由于制造處理、面板布局特性等而導(dǎo)致)仍可以被表征為初始的集總編程誤差的一部分。
[0049]在一些示例中，依賴于顯示器的行，分配用于避免安穩(wěn)效應(yīng)的時序預(yù)算可以被設(shè)置為不同值。例如，對于第一行，與第N行相比，參照圖3A-3C論及的作為提供基本上不被傳播延遲效應(yīng)影響的編程電壓所需的持續(xù)時間的tsrttle的值可以被設(shè)置為較小的持續(xù)時間，因為在從源驅(qū)動器起較高的行號處，安穩(wěn)時間常數(shù)(例如，有效電阻和有效電容的乘積)一般較大。在另一個示例中，對于第一行，與第N行相比，參照圖4A-4B論及的作為讀出或測量基本上不被傳播延遲效應(yīng)影響的監(jiān)視線28上的電流所需的持續(xù)時間的tsrttle的值可以被設(shè)置為較小的持續(xù)時間，因為在從最靠近電流監(jiān)視系統(tǒng)12的行起較高的行號處，安穩(wěn)時間常數(shù)(例如，有效電阻和有效電容的乘積)一般較大。
[0050]圖9提供了基本上避免對于具有1024個行的顯示器中的每行的安穩(wěn)效應(yīng)所需的讀出時間持續(xù)時間的示例性曲線圖。在圖9的示例性曲線圖中，圓圈指示對于顯示器中的行的子集的被測量和/或被模擬點(例如，行1，101，201，301，401，501，601，701，801，901和1001中的像素可以被采樣以提供整個顯示器50上的像素的代表性子集)。一旦避免對于代表性子集中的像素的安穩(wěn)的時序預(yù)算被提取，就可以從用于該子集的值計算(例如，插值)其余行的時序預(yù)算。如圖2中所示，監(jiān)視(數(shù)據(jù))線22、28的有效電阻(R)和有效電容(C)與從電流監(jiān)視系統(tǒng)12 (源驅(qū)動器4)起的行號大致線性相關(guān)，因為這些線路的電阻和電容可以大致被建模為一系列串聯(lián)電阻器和并聯(lián)電容器。因此，如果像素位于離電流監(jiān)視系統(tǒng)12較遠的行中，則與位于更靠近電流監(jiān)視系統(tǒng)12的像素相比，可以分配更多的時間以用于讀出測量(監(jiān)視時序預(yù)算)來避免安穩(wěn)效應(yīng)。
[0051]如圖9中所示，離電流監(jiān)視系統(tǒng)12最近的行(例如，行1-100)相對地不被安穩(wěn)效應(yīng)影響，并因此需要比較低的讀出或監(jiān)視時序預(yù)算來基本上避免安穩(wěn)效應(yīng)。在中間行(例如，行200-400)處，所需的監(jiān)視時序預(yù)算對于行號相對敏感，因為由于顯示器的行上的有效電阻和電容而導(dǎo)致的安穩(wěn)效應(yīng)變得顯著，并且相對變化(例如，從200到400)轉(zhuǎn)化為安穩(wěn)常數(shù)中的相對大的比較差異。相比之下，離電流監(jiān)視系統(tǒng)12最遠的行(例如，行900-1000)仍然需要更多的時間(即，較大的監(jiān)視時序預(yù)算)來避免安穩(wěn)效應(yīng)，但是對于行號比較不敏感，因為有效電阻(R)和電容(C)由累積的電阻和電容支配，并且增量變化(例如，從800到1000)不轉(zhuǎn)化為安穩(wěn)常數(shù)中的大的比較差異。
[0052]因此，一些實施例利用對于每行特定的不同的或變化的時序預(yù)算，而不是提供例如將足以避免所有行處的安穩(wěn)效應(yīng)的3或4微秒的恒定的或固定的時序預(yù)算。通過以逐行為基礎(chǔ)或以行的子集為基礎(chǔ)提供不同的或可調(diào)整的時序預(yù)算，用于校準的總處理時間，不論是在初始像素不均勻性和/或信號線的初始工廠校準期間，還是在監(jiān)視線效應(yīng)的校準期間，顯著地減小，從而提供更高的處理和或操作效率。
[0053]因此，一些實施例一般提供通過根據(jù)像素10在列中的位置(例如，根據(jù)它們的行號和/或離監(jiān)視器和/或源驅(qū)動器4、12的物理距離)將讀出或監(jiān)視時序和/或編程時序預(yù)算分配給像素10來減小安穩(wěn)時間效應(yīng)。上述方案可以被利用以通過將典型的編程預(yù)算期間的測量與每行足以實現(xiàn)安穩(wěn)的時序預(yù)算期間的測量進行比較來提取線路傳播延遲安穩(wěn)特性(并且可以根據(jù)像素位置來設(shè)置時序)。此外，根據(jù)線路安穩(wěn)特性，可以對于每個像素10提取讀出(或監(jiān)視)時間。
[0054]圖10是用于提取監(jiān)視線28上的傳播延遲效應(yīng)的示例性實施例的流程圖1000。對像素的代表性子集進行編程，并且經(jīng)由監(jiān)視線28監(jiān)視通過這些像素的電流。在具有足以避免監(jiān)視線28上的安穩(wěn)效應(yīng)的一個持續(xù)時間(或多個持續(xù)時間)(例如，tsrttle)的時間段(固定的或變化的監(jiān)視時序預(yù)算)期間進行測量(1002)。如結(jié)合圖9概括地描述的那樣，該時間段可以具有根據(jù)被測量的像素的行位置而設(shè)置的持續(xù)時間。像素的子集然后利用相同的值被編程，并且通過這些像素的電流經(jīng)由監(jiān)視線28監(jiān)視，但是是利用通常對于反饋測量而給予的持續(xù)時間(時序預(yù)算)，而不是足以避免安穩(wěn)效應(yīng)的持續(xù)時間(比如，tsrttle) (1004)。這兩個測量被比較以提取監(jiān)視線28(列)上的傳播延遲效應(yīng)的影響(1006)。在一些示例中，可以確定這兩個測量的比以提供用于在調(diào)節(jié)未來的電流測量中使用的增益因素。因為傳播效應(yīng)一般根據(jù)在每個像素讀出位置處監(jiān)視線28的有效電阻和電容(一般隨著與監(jiān)視器的行間隔增大而線性地累積)以可預(yù)測的方式在面板50上變化，所以從代表性子集計算(例如，插值)有效傳播延遲。
[0055]圖11是用于提取信號線(例如，包括數(shù)據(jù)線22、像素電路10和監(jiān)視線28的路徑或者信號線)上的傳播延遲效應(yīng)的實施例的流程圖1100。利用足以避免安穩(wěn)效應(yīng)的時序預(yù)算或編程間隔對像素的代表性子集進行編程(1102)，并且由讀出電路210經(jīng)由監(jiān)視線28監(jiān)視通過這些像素的子集的電流(1104)。編程間隔或時序預(yù)算可以分別根據(jù)編程像素的相應(yīng)的行位置來設(shè)置，使得編程間隔根據(jù)像素10離讀出電路210的物理距離而變化。在具有足以避免監(jiān)視線28上的安穩(wěn)效應(yīng)的一個持續(xù)時間(或多個持續(xù)時間)的時間段(固定的或變化的監(jiān)視時序預(yù)算)期間進行測量(1104)。如結(jié)合圖9概括地描述的那樣，該時間段或時序預(yù)算可以具有根據(jù)被測量的像素的行位置而設(shè)置的持續(xù)時間。與和所提供的編程值對應(yīng)的預(yù)測的理想電流值的偏移(如果有的話)不是由于信號線或監(jiān)視線中的傳播延遲效應(yīng)而導(dǎo)致的，并因此指示像素不均勻性效應(yīng)(例如，諸如由于溫度、機械應(yīng)力等而導(dǎo)致的驅(qū)動晶體管不均勻性、閾值電壓漂移、移動性變化等)。
[0056]像素的子集然后根據(jù)相同的編程值被編程，但是是在等于典型的編程時序預(yù)算的編程間隔期間(1106)。通過像素的子集的電流然后由讀出電路210經(jīng)由監(jiān)視線28測量，再次是在足以避免安穩(wěn)效應(yīng)的持續(xù)時間(固定的或變化的監(jiān)視時序預(yù)算)期間(1108)。這兩個測量被比較以提取信號線上的傳播延遲效應(yīng)(1110)。在一些示例中，所提取的像素的子集的傳播延遲效應(yīng)被用于基于每個像素子集的相應(yīng)的測量來計算每行處的像素的子集的傳播延遲效應(yīng)(1112)。在一些示例中，對于顯示器中的每個像素重復(fù)測量方案1100以檢測顯示器50上的不均勻性。在一些示例中，可以在初始工廠校準期間執(zhí)行信號線22、10、28上的傳播延遲效應(yīng)的提取，并且該信息可以被存儲(在存儲器6中，例如)以用于在顯示器50的未來操作中使用。
[0057]在一些示例中，提取像素老化信息的讀出操作例如可以在非活動幀時間期間被利用。例如，可以在插入在活動幀之間以增加運動知覺(通過減小模糊)的黑幀(例如，重置幀、消隱幀等)期間、在顯示器不被驅(qū)動以顯示圖像時的顯示器待機時間期間、在顯示器的初始啟動和/或關(guān)斷序列期間等提供讀出。
[0058]雖然圖2中所示的驅(qū)動電路被示為具有η型晶體管(其可以是薄膜晶體管并且可以由非晶硅形成)，但是圖2中所示的驅(qū)動電路可以擴展到具有一個或多個P型晶體管并且具有除了薄膜晶體管之外的晶體管的互補電路。
[0059]本文中所公開的電路一般指的是彼此連接或耦合的電路組件。在許多情況下，經(jīng)由直接連接(即，在連接點之間除了導(dǎo)電線路之外沒有電路元件)來進行所論及的連接。盡管不總是明確地提及，但是可以通過顯示面板的基板上限定的導(dǎo)電通道來進行這樣的連接，諸如通過各個連接點之間沉積的導(dǎo)電透明氧化物。氧化銦錫是一種這樣的導(dǎo)電透明氧化物。在一些情況下，耦合和/或連接的組件可以經(jīng)由連接的點之間的電容耦合來耦合，使得這些連接的點通過電容元件串聯(lián)連接。雖然不是直接連接，但是這樣的電容耦合的連接仍然允許連接的點經(jīng)由電壓的變化來彼此影響，該電壓的變化是在沒有DC偏壓的情況下并經(jīng)由電容耦合效應(yīng)在連接的另一點處被反映出來的。
[0060]此外，在一些情況下，本文中所描述的各種連接和耦合可以利用兩個連接的點之間的另一個電路元件通過非直接連接來實現(xiàn)。一般地，設(shè)置在連接的點之間的一個或多個電路元件可以是二極管、電阻器、晶體管、開關(guān)等。在連接為非直接的情況下，兩個連接的點之間的電壓和/或電流經(jīng)由連接電路元件充分相關(guān)，要相關(guān)以使得這兩個連接的點可以彼此影響(經(jīng)由電壓變化、電流變化等)，同時仍然基本上實現(xiàn)與本文中描述的功能相同的功能。在一些示例中，如電路設(shè)計領(lǐng)域的技術(shù)人員可以意識到的，可以調(diào)整電壓和/或電流電平以考慮提供非直接連接的另外的電路元件。
[0061]兩個或更多個計算系統(tǒng)或設(shè)備可以替代本文中所描述的控制器中的任何一個(例如，圖1的控制器2)。因此，還可以根據(jù)需要實現(xiàn)分布式處理的原理和優(yōu)點，諸如冗余、重復(fù)等，以提高本文中所描述的控制器的魯棒性和性能。
[0062]本文中所描述的示例確定方法和處理的操作可以通過機器可讀指令來執(zhí)行。在這些示例中，機器可讀指令包括供以下裝置執(zhí)行的算法:(a)處理器；(b)控制器，諸如控制器2 ;和/或(C) 一個或多個其它合適的處理設(shè)備。該算法可以包含在存儲在有形介質(zhì)上的軟件中，所述有形介質(zhì)諸如例如閃存、⑶-ROM、軟盤、硬盤驅(qū)動、數(shù)字視頻(多功能)盤(DVD)或其它存儲器設(shè)備，但是本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員將容易意識到，整個算法和/或其部分可以可替代地由除了處理器之外的設(shè)備執(zhí)行和/或以眾所周知的方式包含在固件或?qū)Ｓ糜布?例如，它可以通過專用集成電路(ASIC)、可編程邏輯器件(PLD)、現(xiàn)場可編程邏輯器件(FPLD)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)、離散邏輯等實現(xiàn))。例如，基線數(shù)據(jù)確定方法的任一或全部組件可以通過軟件、硬件和/或固件來實現(xiàn)。此外，所表示的機器可讀指令的一些或全部可以手動實現(xiàn)。
[0063]雖然已經(jīng)示出和描述了本公開的特定實施例和應(yīng)用，但是要理解，本公開不限于本文中所公開的精確結(jié)構(gòu)和組成，并且在不脫離所附權(quán)利要求書中所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，各種修改、改變和變型可以從前面的描述顯而易見。
【權(quán)利要求】
1.一種顯不系統(tǒng)，包括: 像素電路，該像素電路包括發(fā)光器件和驅(qū)動晶體管，該驅(qū)動晶體管用于根據(jù)該驅(qū)動晶體管上的驅(qū)動電壓來驅(qū)動通過發(fā)光器件的電流，該像素電路還包括被布置為選擇性地將該像素電路連接到信號線和監(jiān)視線的一個或多個開關(guān)晶體管； 驅(qū)動器，該驅(qū)動器用于經(jīng)由信號線利用驅(qū)動電壓對像素電路進行編程； 監(jiān)視器，該監(jiān)視器用于經(jīng)由監(jiān)視線測量通過驅(qū)動晶體管的電流；以及 控制器，該控制器用于操作驅(qū)動器和監(jiān)視器，該控制器被配置為: 在足以使監(jiān)視線上的電流安穩(wěn)在穩(wěn)定值并從而避免監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)的持續(xù)時間，經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第一電流； 在對于顯示器的監(jiān)視時序預(yù)算而提供的持續(xù)時間，經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第二電流；以及 將所測量的第一電流和第二電流進行比較以提取對于像素的監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示系統(tǒng)，其中，該控制器還被配置為: 基于所測量的第一電流值和第二電流值的比來確定與從像素電路測量的電流相關(guān)聯(lián)的增益因素；和 根據(jù)所確定的增益因素來調(diào)節(jié)后續(xù)的電流測量，以便考慮監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示系統(tǒng)，其中，該顯示系統(tǒng)包括以行和列布置的像素電路的陣列，并且其中，該控制器還被配置為:對于顯示器中的像素的代表性子集重復(fù)所述測量和比較，以便表征在離監(jiān)視器的線路距離范圍的監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示系統(tǒng)，其中，該控制器還被配置為: 在足以使施加的電壓在信號線上安穩(wěn)在穩(wěn)定值并從而避免信號線的傳播延遲效應(yīng)的持續(xù)時間，經(jīng)由驅(qū)動器對像素電路進行編程； 經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第三電流； 在針對顯示器的編程時序預(yù)算而提供的持續(xù)時間，經(jīng)由驅(qū)動器對像素電路進行編程； 經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第四電流； 比較第三電流值和第四電流值以提取對于像素的信號線的傳播延遲效應(yīng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的顯示系統(tǒng)，其中，該顯示系統(tǒng)包括以行和列布置的像素電路的陣列，并且其中，該控制器還被配置為:對于顯示器中的像素的代表性子集重復(fù)所述編程操作、測量操作和比較，以便表征在離驅(qū)動器的線路距離范圍的信號線的傳播延遲效應(yīng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示系統(tǒng)，其中，該控制器還被配置為: 在考慮監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)的同時，通過測量通過驅(qū)動晶體管的電流來確定該驅(qū)動晶體管的時間相關(guān)參數(shù)；和 根據(jù)所確定的時間相關(guān)參數(shù)來調(diào)整后續(xù)的編程值。
7.—種表征顯示系統(tǒng)中的傳播延遲效應(yīng)的方法，該顯示系統(tǒng)包括具有由驅(qū)動晶體管驅(qū)動的發(fā)光器件的像素電路，該像素電路與信號線和監(jiān)視線連接，該信號線用于向像素電路提供編程電壓以影響通過驅(qū)動晶體管的電流，該監(jiān)視線用于測量通過驅(qū)動晶體管的電流電平，該方法包括: 在足以使所述電流安穩(wěn)在穩(wěn)定值并從而避免監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)的持續(xù)時間，經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第一電流； 在針對顯示器的監(jiān)視時序預(yù)算而提供的持續(xù)時間，經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第二電流；以及 比較第一電流和第二電流以提取對于像素電路的監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，還包括: 接收指示要從發(fā)光器件發(fā)射的亮度量的數(shù)據(jù)輸入；和 基于所確定的傳播延遲效應(yīng)來確定對于經(jīng)由驅(qū)動器對顯示器進行編程或所述測量中的至少一個的調(diào)整，使得顯示系統(tǒng)基本上與線路傳播延遲效應(yīng)無關(guān)地操作。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其中，該顯示系統(tǒng)還包括以行和列布置的多個像素電路，該方法還包括: 對于顯示系統(tǒng)中的像素電路的子集重復(fù)所述測量和比較，以便表征在離監(jiān)視器的線路距離范圍的監(jiān)視線的傳播延遲效應(yīng)。
10.一種表征顯示系統(tǒng)中的傳播延遲效應(yīng)的方法，該顯示系統(tǒng)包括具有由驅(qū)動晶體管驅(qū)動的發(fā)光器件的像素電路，該像素電路與信號線和監(jiān)視線連接，該信號線用于向像素電路提供編程電壓以影響通過驅(qū)動晶體管的電流，該監(jiān)視線用于測量通過驅(qū)動晶體管的電流電平，該方法包括: 在足以使施加的電壓在信號線上安穩(wěn)在穩(wěn)定值并從而避免信號線的傳播延遲效應(yīng)的持續(xù)時間，經(jīng)由驅(qū)動器對像素電路進行編程； 響應(yīng)于利用足以避免傳播延遲效應(yīng)的持續(xù)時間的編程，經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第一電流； 在針對顯示器的編程時序預(yù)算而提供的持續(xù)時間，經(jīng)由驅(qū)動器對像素電路進行編程； 響應(yīng)于利用編程時序預(yù)算的編程，經(jīng)由監(jiān)視器測量通過驅(qū)動晶體管的第二電流； 比較第一電流和第二電流以提取對于像素電路的信號線的傳播延遲效應(yīng)。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，還包括: 接收指示要從發(fā)光器件發(fā)射的亮度量的數(shù)據(jù)輸入；和 基于所確定的傳播延遲效應(yīng)來確定對于所述編程或測量中的至少一個的調(diào)整，使得顯示系統(tǒng)基本上與線路傳播延遲效應(yīng)無關(guān)地操作。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，該顯示系統(tǒng)還包括以行和列布置的多個像素電路，該方法還包括: 對于顯示系統(tǒng)中的像素電路的子集重復(fù)所述編程、測量和比較，以便表征在離驅(qū)動器的線路距離范圍的信號線的傳播延遲效應(yīng)。
【文檔編號】G09G3/32GK104335270SQ201380026539
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2013年5月22日 優(yōu)先權(quán)日:2012年5月23日
【發(fā)明者】G·查吉, Y·阿澤澤 申請人:伊格尼斯創(chuàng)新公司