專利名稱：線路和分用器的缺陷檢測方法、缺陷檢測裝置和顯示面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例涉及一種用于檢測包括在顯示裝置中的線路和/或分用器的缺陷的方法和裝置、以及包括缺陷檢測裝置的顯示面板。
背景技術(shù)：
紅色、綠色和藍(lán)色(RGB)-DC電壓和柵極信號(hào)被用來檢查有源矩陣方法的顯示面板。在這樣的顯示面板中，與柵極信號(hào)同步地向多個(gè)紅色像素提供紅色(R)DC電壓，與柵極信號(hào)同步地向多個(gè)綠色像素提供綠色(G)DC電壓，與柵極信號(hào)同步地向多個(gè)藍(lán)色像素提供藍(lán)色(B)DC電壓。紅色像素、綠色像素和藍(lán)色像素因R DC電壓、G DC電壓和B DC電壓而發(fā)光，并在發(fā)光狀態(tài)下檢查mura斑,其中mura斑是黑/白點(diǎn)、線缺陷、等等。在這樣的檢查操作期間，位于顯示面板和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路之間的分用器處于截止?fàn)顟B(tài)。因此，可能沒有檢測形成分用器的薄膜晶體管(TFT)的缺陷以及分用器和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路之間的線路的缺陷。在本背景技術(shù)部分中公開的上述信息僅用于增加對(duì)本發(fā)明的背景的理解，因此，其可以包含不構(gòu)成作為本國的本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的例如可能沒有檢測形成分用器的薄膜晶體管(TFT)以及分用器和數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路之間的線路的缺陷等問題和/或其他問題，一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供一種檢測線路和分用器的缺陷的方法和裝置。一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供一種用于檢測線路和/或分用器中的缺陷的方法和裝置以及包括該裝置的顯示面板。一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供一種使用分用器的缺陷檢測裝置，分用器將多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括:第一 DC線路至第三DC線路，向第一 DC線路至第三DC線路提供第一 DC電壓至第三DC電壓；多個(gè)第一開關(guān)，所述多個(gè)第一開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號(hào)而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第一數(shù)據(jù)線；多個(gè)第二開關(guān)，所述多個(gè)第二開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號(hào)而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第二數(shù)據(jù)線。分用器可以包括:多個(gè)第一 TFT，所述多個(gè)第一 TFT連接所述多條線路中的多條第一線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線；多個(gè)第二 TFT，所述多個(gè)第二 TFT連接所述多條線路中的多條第二線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線，其中，當(dāng)所述缺陷檢測裝置檢測多條線路中的短路缺陷時(shí)，所述多個(gè)第一開關(guān)和所述多個(gè)第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)，且僅所述多個(gè)第一 TFT或所述多個(gè)第二 TFT中的一個(gè)TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)。
當(dāng)所述多個(gè)第一 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個(gè)第一 TFT連接，當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時(shí)，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個(gè)像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。當(dāng)所述多個(gè)第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個(gè)第二 TFT連接，當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時(shí)，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個(gè)像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。分用器可以包括:多個(gè)第一 TFT，所述多個(gè)第一 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線；多個(gè)第二 TFT，所述多個(gè)第二 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線；當(dāng)所述缺陷檢測裝置檢測所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT中的缺陷時(shí)，所述多個(gè)第一 TFT和所述第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)，且僅所述多個(gè)第一開關(guān)或所述多個(gè)第二開關(guān)之一處于導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)所述多個(gè)第一開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，對(duì)應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個(gè)第一開關(guān)的第一數(shù)據(jù)線通過所述多個(gè)第一 TFT和/或所述多個(gè)第二 TFT中的對(duì)應(yīng)的TFT而連接到所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線。當(dāng)所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT中的至少一個(gè)TFT有缺陷時(shí)，所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一 DC電壓至第三DC電壓中的對(duì)應(yīng)的DC電壓。當(dāng)所述多個(gè)第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，對(duì)應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個(gè)第二開關(guān)的第二數(shù)據(jù)線通過所述多個(gè)第一 TFT和/或所述多個(gè)第二 TFT中的對(duì)應(yīng)的TFT而連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線。當(dāng)所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT中的至少一個(gè)TFT有缺陷時(shí)，所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一 DC電壓至第三DC電壓中的對(duì)應(yīng)的DC電壓。所述多個(gè)第一開關(guān)中的每個(gè)第一開關(guān)可以包括被構(gòu)造為接收第一柵極信號(hào)的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對(duì)應(yīng)的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第二電極。所述多個(gè)第二開關(guān)中的每個(gè)第二開關(guān)可以包括被構(gòu)造為接收第二柵極信號(hào)的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對(duì)應(yīng)的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第二電極。一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供一種用于通過第一 TFT和第二 TFT連接到與第一像素陣列對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線以及與第二像素陣列對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線的線路的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟:將第一 DC電壓提供到第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線；僅導(dǎo)通第一TFT和第二 TFT中的一個(gè)TFT ;根據(jù)連接到第一 TFT和第二 TFT中的導(dǎo)通的TFT的第一像素陣列或第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)來檢測缺陷。當(dāng)?shù)谝?TFT導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對(duì)于預(yù)定的亮度來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時(shí)，將該線路檢測為是有缺陷的。檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對(duì)于灰度級(jí)范圍中的中間灰度級(jí)來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時(shí)，將該線路檢測為是有缺陷的。當(dāng)?shù)诙?TFT導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)诙袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對(duì)于預(yù)定的亮度來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時(shí)，將該線路檢測為是有缺陷的。一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供一種用于包括連接到與第一開關(guān)和第一像素陣列連接的第一數(shù)據(jù)線的第一 TFT和連接到與第二開關(guān)和第二像素陣列連接的第二數(shù)據(jù)線的第二 TFT的分用器的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟:僅導(dǎo)通第一開關(guān)和第二開關(guān)之一；導(dǎo)通第一TFT和第二TFT ;根據(jù)第一像素陣列和第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)來檢測第一TFT和/或第二 TFT中的缺陷。檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵械陌l(fā)光狀態(tài)和第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)不同時(shí)，檢測第一 TFT和/或第二 TFT中的缺陷。當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵酗@示黑色且第二像素陣列以預(yù)定的亮度進(jìn)行顯示時(shí)，將第一 TFT和第二 TFT中的至少一個(gè)TFT檢測為是有缺陷的。當(dāng)?shù)诙_關(guān)導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)诙袼仃嚵酗@示黑色且第一像素陣列以預(yù)定的亮度進(jìn)行顯示時(shí)，將第一 TFT和第二 TFT中的至少一個(gè)TFT檢測為是有缺陷的。一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例提供一種顯示面板，所述顯示面板包括:多條數(shù)據(jù)線；多個(gè)像素，所述多個(gè)像素分別連接到所述多條數(shù)據(jù)線；分用器，分用器將多條數(shù)據(jù)線連接到對(duì)應(yīng)的多條線路；缺陷檢測裝置，缺陷檢測裝置被構(gòu)造為檢測多條線路和/或分用器中的缺陷，缺陷檢測裝置包括:多個(gè)第一開關(guān)，所述多個(gè)第一開關(guān)被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號(hào)將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的多條第一數(shù)據(jù)線，多個(gè)第二開關(guān)，所述多個(gè)第二開關(guān)被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號(hào)將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的多條第二數(shù)據(jù)線。


通過參照附圖對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述，多種特征對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員將變得清楚，在附圖中:圖1示出了根據(jù)示例性實(shí)施例的包括缺陷檢測裝置的顯示裝置的示意圖；圖2示出了圖1的顯示裝置的像素的示例性實(shí)施例的示意圖；圖3示出了在缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖4示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖5示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖6示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖7示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖8示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖9示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖；圖10示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的缺陷檢測裝置和分用器的示意圖。
具體實(shí)施例方式在下面的具體實(shí)施方式
部分中，僅通過舉例說明的方式對(duì)本發(fā)明的特定的示例性實(shí)施例進(jìn)行了示出和描述。如本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)認(rèn)識(shí)到的，描述的實(shí)施例可以以各種不同的方式進(jìn)行修改，所有這些均不脫離本發(fā)明的精神或范圍。因此，附圖和描述在本質(zhì)上應(yīng)被認(rèn)為是在進(jìn)行舉例說明而非限制性的。貫穿本說明書，相同的標(biāo)號(hào)指示相同的元件。貫穿本說明書和權(quán)利要求書，當(dāng)將元件描述為“結(jié)合”到另一元件時(shí)，該元件可以“直接結(jié)合”到另一元件，或者通過第三元件“電結(jié)合”到另一元件。另外，除非明確地進(jìn)行了相反地描述，否則詞語“包括”和其變型將被理解為暗示包括陳述的元件但不排除任何其他的元件。將參照附圖來描述缺陷檢測方法、缺陷檢測裝置、以及包括缺陷檢測裝置的顯示裝置的示例性實(shí)施例。圖1示出了包括缺陷檢測裝置100、分用器200、和/或顯示單元300的顯示裝置的示例性實(shí)施例的示意圖。顯示單元300可以包括多條掃描線Sl-Sn、多條數(shù)據(jù)線Dl_Dm、以及形成在多條掃描線Sl-Sn和多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm的交叉區(qū)域處的多個(gè)像素PX_R、PX_G、PX_B。缺陷檢測裝置100可以連接到多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm，并可以根據(jù)多個(gè)(例如，兩個(gè))測試柵極信號(hào)將紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍(lán)色DC電壓BDV發(fā)送到多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm0缺陷檢測裝置100可以包括多條(例如，兩條)柵極線TGl和TG2、紅色DC線路DC_R、綠色DC線路DC_G、藍(lán)色DC線路DC_B、多個(gè)第一控制開關(guān)Tll_Tla、以及多個(gè)第二控制開關(guān) T21-T2b。參照?qǐng)D1，第一柵極線TGl可以連接到多個(gè)第一控制開關(guān)Tll-Tla的柵電極，第二柵極線TG2可以連接到多個(gè)第二控制開關(guān)T21-T2b的柵電極。第一柵極信號(hào)可以通過第一柵極線TGl被發(fā)送到多個(gè)第一控制開關(guān)Tl 1-Tla的柵電極。第二柵極信號(hào)可以通過第二柵極線TG2被發(fā)送到多個(gè)第二控制開關(guān)T21-T2b的柵電極?？梢酝ㄟ^P溝道晶體管來實(shí)現(xiàn)多個(gè)第一控制開關(guān)Tll-Tla和多個(gè)第二控制開關(guān)T21-T2b。在這樣的實(shí)施例中，第一柵極信號(hào)和第二柵極信號(hào)的啟用電平是低電平，停用電平是高電平。多個(gè)第一控制開關(guān)Tll-Tla均可以包括連接到紅色DC線路DC_R、綠色DC線路DC_G和藍(lán)色DC線路DC_B中的對(duì)應(yīng)的一條DC線路的源電極，并可以包括連接到多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線的漏電極。多個(gè)第二控制開關(guān)T21_T2b均可以包括連接到紅色DC線路DC_R、綠色DC線路DC_G和藍(lán)色DC線路DC_B中的對(duì)應(yīng)的一條DC線路的源電極，并可以包括連接到多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線的漏電極。在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)通過缺陷檢測裝置100來確定線路Ll-Lk中的缺陷時(shí)，第一柵極信號(hào)和第二柵極信號(hào)均處于啟用電平。在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，當(dāng)通過缺陷檢測裝置100來確定分用器200中的缺陷時(shí)，僅第一柵極信號(hào)和第二柵極信號(hào)之一處于啟用電平。在顯示單元300中，多條掃描線Sl-Sn可以被布置為沿行方向延伸，一行的多個(gè)像素PX_R、PX_G和PX_B可以連接到相同的掃描線。多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm可以被布置為沿列方向延伸，一列的多個(gè)像素PX_R、PX_G和PX_B可以連接到相同的數(shù)據(jù)線。多個(gè)像素PX_R、PX_G和PX_B中的每個(gè)像素可以包括驅(qū)動(dòng)電路和發(fā)光元件。多個(gè)像素PX_R、PX_G和PX_B的每個(gè)驅(qū)動(dòng)電路可以因通過對(duì)應(yīng)的掃描線發(fā)送的掃描信號(hào)而寫入通過對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線發(fā)送的數(shù)據(jù)信號(hào)，可以產(chǎn)生根據(jù)寫入的數(shù)據(jù)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)電流，并可以將其提供到各發(fā)光元件中。圖2示出了圖1的顯示裝置的像素PXij的示例性實(shí)施例的示意圖。像素PXij可以對(duì)應(yīng)于顯示單元300的多個(gè)像素PX_B中的一個(gè)像素、一些像素或所有的像素。在圖2中示出的像素PXij是連接到第i掃描線Si和第j數(shù)據(jù)線Dj的像素。示例性實(shí)施例不限于此。如在圖2中所示出的，像素PXij可以包括開關(guān)晶體管TS、驅(qū)動(dòng)晶體管TD、電容器C、以及有機(jī)發(fā)光裝置(OLED)。開關(guān)晶體管TS可以包括連接到掃描線Si的柵電極、連接到數(shù)據(jù)線Dj的第一電極、以及連接到驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵電極的第二電極。驅(qū)動(dòng)晶體管TD可以包括連接到第一電壓源ELVDD的源電極、連接到有機(jī)發(fā)光裝置(OLED)的陽極的漏電極、以及連接到開關(guān)晶體掛TS的柵電極。電容器C可以連接在驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵電極和源電極之間，OLED的陰極連接到第二電壓源ELVSS。當(dāng)通過掃描線Si發(fā)送的掃描信號(hào)為低電平時(shí)，開關(guān)晶體管TS導(dǎo)通，電容器C被通過數(shù)據(jù)線Dj發(fā)送的數(shù)據(jù)信號(hào)充電。對(duì)于下一次的掃描，電容器C恒定地保持驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵極電壓，根據(jù)驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵極-源極電壓差來產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)晶體管TD的驅(qū)動(dòng)電流。有機(jī)發(fā)光裝置(OLED)可以根據(jù)驅(qū)動(dòng)電流而發(fā)光。分用器200可以連接在多條線路Ll-Lk和多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm之間。多條線路Ll-Lk連接到多個(gè)焊盤ro1-PDk，通過多條線路Ll-Lk將輸入到多個(gè)焊盤ro1-PDk的多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送到分用器200。分用器200可以通過多個(gè)TFT，將通過多條線路Ll-Lk發(fā)送的多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)發(fā)送
到多條對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線。分用器200可以包括多個(gè)第一 TFT TAUTA3........TAm、多個(gè)第二
TFT TB2、TB4、.......TBm-1、第一控制線CLA、以及第二控制線CLB。第一控制線CLA連接到多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、......、TAm的柵電極。用于控制
多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、.......TAm的第一控制信號(hào)CONl通過第一控制線CLA被發(fā)送到
第一 TFT TA1、TA3、.......TAm 的柵電極。第二控制線CLB連接到多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1的柵電極。用于控
制多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1的第二控制信號(hào)C0N2通過第二控制線CLB被發(fā)
送到多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1的柵電極。在多個(gè)焊盤ro1-PDk連接到數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路(未示出)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，可以從數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路將多個(gè)數(shù)據(jù)信號(hào)輸入到多個(gè)焊盤ro1-PDk。
在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，如果多個(gè)第一 TFT TAl、TA3、.......TAm因第一控制信
號(hào)CONl而導(dǎo)通，則多條數(shù)據(jù)線D1、D3........Dm可以發(fā)送對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)，如果多個(gè)第二
TFT TB2、TB4、.......TBm-1因第二控制信號(hào)C0N2而導(dǎo)通，則多條數(shù)據(jù)線D2、D4、.......Dm-1可以發(fā)送對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)信號(hào)。在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，可以確定的是，如果多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、......、TAm、
多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1、以及多個(gè)焊盤PDl-PDk沒有連接到數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路，
則在線路Ll-Lk中的一條或多條線路中存在缺陷和/或在分用器200中存在缺陷。當(dāng)檢測多條線路Ll-Lk中的缺陷時(shí)，多個(gè)第一 TFT TAU TA3、.......TAm和多個(gè)
第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1中僅一組TFT可以處于導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)檢測多個(gè)第一 TFT
TA1、TA3、.......TAm和多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1中的缺陷時(shí)，兩組TFT均可
以處于導(dǎo)通狀態(tài)。接下來，將參照?qǐng)D3至圖6來描述檢測線缺陷的方法的示例性實(shí)施例。為了更好地進(jìn)行理解并簡化描述，在圖3-圖6中僅示出九(9)個(gè)像素以作為多個(gè)像素的示例。為了檢測線缺陷，多條掃描線Sl-Sn發(fā)送具有用于導(dǎo)通相應(yīng)的開關(guān)晶體管TS的電平的多個(gè)掃描信號(hào)。當(dāng)檢測線缺陷時(shí)，根據(jù)檢測條件來確定紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV。例如，如果線路短接到第二電壓源ELVSS，則連接到短接的線路的像素陣列以很高的亮度發(fā)光?？蛇x擇地，如果線路短接到第一電壓源ELVDD，則連接到短接的線路的像素陣列不發(fā)光。因此，可以使用紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV的電平等級(jí)來區(qū)分連接到普通的線路的像素陣列和連接于短接到第一電壓源ELVDD或第二電壓源ELVSS的線路的像素陣列。在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV可以被確定為電平與對(duì)應(yīng)于灰度級(jí)范圍中的中間灰度級(jí)的數(shù)據(jù)電壓的電平相同。圖3示出了在缺陷狀態(tài)(例如，線路LI短接到第一電壓源ELVDD)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。如圖3中所示，多個(gè)第一開關(guān)Tll-Tla和多個(gè)第二開關(guān)T21_T2b因第一柵極信號(hào)
和第二柵極信號(hào)而全部處于導(dǎo)通狀態(tài),多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信號(hào)
CONl而處于導(dǎo)通狀態(tài)。因此，多條線路Ll-Lk通過導(dǎo)通的多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、.......TAm而連接到多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm。在圖3的示例性實(shí)施例中，通過對(duì)應(yīng)的第一開關(guān)(或第二開關(guān))而向多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm提供紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV中的對(duì)應(yīng)的DC電壓，多個(gè)焊盤ro1-PDk沒有連接到數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)電路，因而處于浮置狀態(tài)。因此，通過多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm發(fā)送的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV被發(fā)送到多個(gè)像素PX_R、PX_G、PX_B，多個(gè)像素PX_R、PX_G、PX_B根據(jù)紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV而發(fā)光。此時(shí)，如果在多條線路Ll-Lk中產(chǎn)生短路的線路，則連接到短路的線路的數(shù)據(jù)線因短路的線路而短路，多個(gè)像素PX_R、PX_G、PX_B中的連接到短路的數(shù)據(jù)線的對(duì)應(yīng)的像素以與連接到未短路的線路的像素的亮度不同的亮度進(jìn)行發(fā)光。例如，如圖3中所示，假設(shè)線路I短接到第一電壓源ELVDD。在線路LI和第一電壓源ELVDD之間可以存在有一定的電阻。線路LI通過導(dǎo)通的第一 TFT TAl而連接到數(shù)據(jù)線Dl。因此，向數(shù)據(jù)線路Dl提供與第一電壓源ELVDD的電壓相似的高電平的電壓。因此，通過在圖2中示出的開關(guān)晶體管TS向驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵電極提供高電平的電壓。因此，連接到數(shù)據(jù)線Dl的多個(gè)像素PX_RW非常低的亮度發(fā)光。即，與數(shù)據(jù)線Dl對(duì)應(yīng)地出現(xiàn)暗線。如上所述，可以將電連接到與該像素列連接的數(shù)據(jù)線Dl的線路檢測為短路的線路。在圖3的示例性實(shí)施例中，線路LI短接到第一電壓源ELVDD，在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，一條或多條線路可能短接到其他的組件，例如，線路Ll-Lk可能短接到第二電壓源ELVSS。圖4示出了在另一缺陷狀態(tài)(即，線路LI短接到第二電源電壓ELVSS)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。更具體地講，圖4示出了線路LI短接到電壓ELVSS的狀態(tài)。因此，向數(shù)據(jù)線Dl提供與第二電壓源ELVSS的電壓相似的低電平的電壓。因此，通過相應(yīng)的開關(guān)晶體管TS向驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵電極提供低電平的電壓。因此，連接到數(shù)據(jù)線Dl的多個(gè)像素PX_RW非常高的亮度發(fā)光。即，與數(shù)據(jù)線Dl對(duì)應(yīng)地出現(xiàn)亮線。如上所述，作為亮度水平的結(jié)果，例如，可以將電連接到與像素列連接的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線(例如，在當(dāng)前的實(shí)施例中為數(shù)據(jù)線Dl)的線路檢測為是短路的。如上所述，在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，可以將與多個(gè)像素列中的顯示相對(duì)暗的線或相對(duì)量的線的像素列對(duì)應(yīng)的線路確定為是短路的。此外，在圖4的條件和示例性實(shí)施例中，當(dāng)線路L2短路時(shí)，連接到數(shù)據(jù)線D5的像素列將顯示為暗線或亮線，當(dāng)線路L3短路時(shí)，連接到數(shù)據(jù)線D3的像素列將顯示為暗線或亮線，當(dāng)線路L4短路時(shí)，連接到數(shù)據(jù)線D7的像素列將顯示為暗線或亮線。在圖3和圖4的示例性實(shí)施例中，對(duì)多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、.......TAm處于導(dǎo)
通狀態(tài)的情況進(jìn)行了描述，然而，在一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例中，多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1而非多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、.......TAm可以處于導(dǎo)通狀態(tài)。圖5示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。總的來說，下面對(duì)不同的示例性缺陷狀態(tài)之間的區(qū)別進(jìn)行描述。如圖5中所示，當(dāng)多個(gè)第二
TFT TB2、TB4、.......TBm-1處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，僅與短路的線路(例如，短接到第一電壓源
ELVDD的線路LI)對(duì)應(yīng)的像素陣列的操作與上面描述的處于普通狀態(tài)(即，未短接狀態(tài))下的像素有所不同。在圖5中，假設(shè)線路LI短接到電壓ELVDD。在線路LI和電壓ELVDD之間可能存在著電阻。線路LI通過導(dǎo)通的第二 TFT TB4而連接到數(shù)據(jù)線D4。因此，向數(shù)據(jù)線D4提供與第一電壓源ELVDD的電壓相似的高電平的電壓。因此，通過在圖2中示出的相應(yīng)的開關(guān)晶體管TS向相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵電極提供高電平的電壓。因此，連接到數(shù)據(jù)線D4的多個(gè)像素PX_R以非常低的亮度發(fā)光。即，與數(shù)據(jù)線D4對(duì)應(yīng)地出現(xiàn)暗線。如上所述，可以將電連接到與顯示為暗線的像素列連接的數(shù)據(jù)線Dl的線路檢測為短路。圖6示出了在另一缺陷狀態(tài)(例如，產(chǎn)生了短路的線路)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。更具體地講，圖6示出了線路LI短接到電壓ELVSS的狀態(tài)。如圖6中所示，多個(gè)第一開關(guān)Tll-Tla和多個(gè)第二開關(guān)T21-T2b因第一柵極信號(hào)和第二柵
極信號(hào)而全部處于導(dǎo)通狀態(tài)，多個(gè)第二 TFT TB1、TB3、......、TBm因第二控制信號(hào)C0N2而
處于導(dǎo)通狀態(tài)。因此，向數(shù)據(jù)線D4提供與電壓ELVSS相似的低電平的電壓。因此，通過開關(guān)晶體管TS向驅(qū)動(dòng)晶體管TD的柵電極提供低電平的電壓。因此，連接到數(shù)據(jù)線D4的多個(gè)像素PX_R&非常高的亮度發(fā)光。即，與數(shù)據(jù)線D4對(duì)應(yīng)地出現(xiàn)亮線。如上所述，可以將電連接到與顯示為亮線的像素列連接的數(shù)據(jù)線的線路檢測為是短路的。通過這樣的方法，可以將與多個(gè)像素列中的顯示暗線或亮線的像素列對(duì)應(yīng)的像素列對(duì)應(yīng)的線路檢測為是短路的。當(dāng)線路L2短路，則連接到數(shù)據(jù)線D2的像素列顯示為亮線(即，相對(duì)亮的線)或暗線(即，相對(duì)暗的線)，當(dāng)線路L3短路時(shí)，連接到數(shù)據(jù)線D6的像素列顯示為亮線或暗線，當(dāng)線路L4短路時(shí)，連接到數(shù)據(jù)線DlO (未示出)的像素列顯示為亮線或暗線。接下來，將參照?qǐng)D7至圖10來描述分用器200的缺陷檢測方法的示例性實(shí)施例。與圖3-圖6相同，為了便于進(jìn)行描述和進(jìn)行理解，圖7-圖10示例性地示出了九
(9)個(gè)像素列。此外，為了檢測分用器的缺陷，向多條掃描線Sl-Sn發(fā)送具有用于導(dǎo)通開關(guān)晶體管TS的電平的多個(gè)掃描信號(hào)。當(dāng)檢測分用器的缺陷時(shí)，可以將紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍(lán)色DC電壓BDV的電平確定為能夠檢測在分用器中產(chǎn)生的有缺陷的TFT的適當(dāng)?shù)碾妷?。圖7示出了在另一缺陷狀態(tài)(例如，產(chǎn)生了短路的線路)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。如圖7中所示，僅多個(gè)第一開關(guān)Tll-Tla和多個(gè)第二開關(guān)T21_T2b中的一組的開關(guān)因第一柵極信號(hào)TGSl和第二柵極信號(hào)而處于導(dǎo)通狀態(tài)。在圖7的示例性實(shí)施例中，多個(gè)第二開關(guān)T21_T2b因第二柵極信號(hào)導(dǎo)通，多個(gè)第一開關(guān)Tll-Tla因第一柵極信號(hào)而處于截止?fàn)顟B(tài)。此外，多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信號(hào)CONl而處于導(dǎo)通狀態(tài)，
多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1因第二控制信號(hào)C0N2而處于導(dǎo)通狀態(tài)。因此，紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV通過導(dǎo)通的多個(gè)第二
開關(guān) T21-T2b、多個(gè)第一 TFT TAU TA3、.......TAm,以及多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1而連接到多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm。S卩，向顯示單元300的所有的紅色像素PX_R、綠色像素PX_G和藍(lán)色像素PX_B提供對(duì)應(yīng)的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV。在示例性實(shí)施例中，用于檢測分用器300的缺陷的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍(lán)色DC電壓BDV可以被確定為與沒有光從對(duì)應(yīng)的像素發(fā)出時(shí)的電壓對(duì)應(yīng)的電壓。詳細(xì)地講，形成了包括第二開關(guān)T21、數(shù)據(jù)線D4、第二 TFT TB4、第一 TFT TAl和數(shù)據(jù)線Dl的路徑，將紅色DC電壓RDV提供到與數(shù)據(jù)線Dl和數(shù)據(jù)線D4連接的紅色像素PX_R0形成了包括第二開關(guān)T22、數(shù)據(jù)線D5、第一 TFT TA5、第二 TFT TB2和數(shù)據(jù)線D2的路徑，將綠色DC電壓⑶V提供到與數(shù)據(jù)線D2和數(shù)據(jù)線D5連接的多個(gè)綠色像素PX_G。形成了包括第二開關(guān)T23、數(shù)據(jù)線D6、第二 TFT TB6、第一 TFT TA3和數(shù)據(jù)線D3的路徑，將藍(lán)色DC電壓BDV提供到與數(shù)據(jù)線D3和數(shù)據(jù)線D6連接的多個(gè)藍(lán)色像素PX_B。通過這樣的方法，如果向所有的像素提供對(duì)應(yīng)的DC電壓，則整個(gè)顯示單元300顯
示黑色。然而，當(dāng)在形成分用器200的多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、......、TAm和多個(gè)第二 TFT
TB2、TB4、.......TBm-1中產(chǎn)生有缺陷的TFT時(shí)，沒有向包括有缺陷的TFT的路徑的數(shù)據(jù)線
提供對(duì)應(yīng)的DC電壓。圖8示出了在另一缺陷狀態(tài)(例如，產(chǎn)生了有缺陷的TFT)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。例如，假設(shè)在第二 TFT TB6和第一 TFT TA3中的至少一個(gè)TFT是有缺陷的。當(dāng)?shù)诙?TFT TB6是有缺陷的，則沒有向數(shù)據(jù)線D3提供藍(lán)色DC電壓BDV。因此，連接到數(shù)據(jù)線D3的多個(gè)像素PX_B沒有顯示黑色，并以預(yù)定的亮度發(fā)光。S卩，產(chǎn)生了亮線。當(dāng)有缺陷的TFT是第一 TFT TA3而非第二 TFT TB6時(shí)，連接到數(shù)據(jù)線D3的像素列顯示亮線。即，連接到該數(shù)據(jù)線的第一 TFT和第二 TFT中的至少一個(gè)TFT是有缺陷的。通過這樣的方法，可以根據(jù)亮線產(chǎn)生的位置來檢測第一 TFT或第二 TFT的缺陷。然而，實(shí)施例不限于此，導(dǎo)通的開關(guān)可以是多個(gè)第一開關(guān)Tll-Tla而非多個(gè)第二開關(guān) T21-T2b。圖9示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。如圖9中所示，假設(shè)多個(gè)第二開關(guān)T21_T2b因第二柵極信號(hào)而截止，多個(gè)第一開關(guān)Tll-Tla因第一柵極信號(hào)而導(dǎo)通。此外，多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、......、TAm因第一控制信號(hào)CONl而處于導(dǎo)通狀態(tài)，
多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1因第二控制信號(hào)C0N2而處于導(dǎo)通狀態(tài)。因此，紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV通過導(dǎo)通的多個(gè)第一
開關(guān) Tll-Tla、多個(gè)第一 TFT TAl、TA3、.......TAm、以及多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1連接到多條數(shù)據(jù)線Dl-Dm。S卩，可向顯示單元300的所有的紅色像素PX_R、綠色像素PX_G和藍(lán)色像素？乂_8提供對(duì)應(yīng)的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓⑶V和藍(lán)色DC電壓BDV，用于檢測分用器300的缺陷的紅色DC電壓RDV、綠色DC電壓GDV和藍(lán)色DC電壓BDV可以被確定為可以使像素發(fā)光的電壓。詳細(xì)地說，形成了包括第一開關(guān)T11、數(shù)據(jù)線D1、第一 TFT TA1、第二 TFT TB4和數(shù)據(jù)線D4的路徑，將紅色DC電壓RDV提供到與數(shù)據(jù)線Dl和數(shù)據(jù)線D4連接的多個(gè)紅色像素PX_R。形成了包括第一開關(guān)T12、數(shù)據(jù)線D2、第二 TFT TB2、第一 TFT TA5和數(shù)據(jù)線D5的路徑，將綠色DC電壓GDV提供到與數(shù)據(jù)線D2和數(shù)據(jù)線D5連接的多個(gè)綠色像素PX_G。形成了包括第一開關(guān)T13、數(shù)據(jù)線D3、第一 TFT TA3、第二 TFT TB6和數(shù)據(jù)線D6的路徑，將藍(lán)色DC電壓BDV提供到與數(shù)據(jù)線D3和數(shù)據(jù)線D6連接的多個(gè)藍(lán)色像素PX_G。如果向所有的像素提供對(duì)應(yīng)的DC電壓，則整個(gè)顯示單元300顯示黑色。然而，當(dāng)
在多個(gè)第一 TFT TA1、TA3、.......TAm 和多個(gè)第二 TFT TB2、TB4、.......TBm-1 中產(chǎn)生了
有缺陷的TFT時(shí)，沒有向包括有缺陷的TFT的數(shù)據(jù)線提供對(duì)應(yīng)的DC電壓。圖10示出了在另一缺陷狀態(tài)下的圖1的分用器200和缺陷檢測裝置100的示意圖。例如，與圖8中相同，假設(shè)第二 TFT TB6和第一 TFT TA3中的至少一個(gè)TFT有缺陷。
當(dāng)?shù)诙?TFT TB6有缺陷時(shí)，則沒有向數(shù)據(jù)線D6提供藍(lán)色DC電壓BDV。因此，連接到數(shù)據(jù)線D6的多個(gè)像素PX_B沒有顯示黑色，而是以預(yù)定的亮度進(jìn)行發(fā)光。即，產(chǎn)生了亮線。當(dāng)有缺陷的TFT是第一 TFT TA3而非第二 TFTTB6時(shí)，則連接到數(shù)據(jù)線D6的像素列仍顯示亮線。即，連接到該數(shù)據(jù)線的第一 TFT和第二 TFT中的至少一個(gè)TFT是有缺陷的。通過這樣的方法，可以根據(jù)亮線產(chǎn)生的位置來檢測第一 TFT或第二 TFT中的缺陷。附圖標(biāo)記說明缺陷檢測裝置100數(shù)據(jù)線Dl-Dm紅色DC電壓RDV綠色DC電壓⑶V藍(lán)色DC電壓BDV柵極線TGl和TG2紅色DC線路DC_R綠色DC線路DC_G藍(lán)色DC線路DC_B第一控制開關(guān)Tll-Tla顯示單元300第二控制開關(guān)T21_T2b掃描線Sl-Sn像素PX_R、PX_G、PX_B開關(guān)晶體管TS驅(qū)動(dòng)晶體管TD電容器C有機(jī)發(fā)光元件OLED第一TFT TA1、TA3、.......TAm第二TFT TB2、TB4........TBm-1第一控制線CLA第二控制線CLB線路Ll-Lk焊盤F1Dl-PDk已經(jīng)在此對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行了描述，雖然采用了特定性的術(shù)語，但是它們僅被用作且僅意在被解釋為是一般性的和舉例說明性的術(shù)語而不是處于限制的目的的數(shù)據(jù)。因此，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解的是，在不脫離如在權(quán)利要求中闡述的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以在形式和細(xì)節(jié)方面進(jìn)行各種改變。
權(quán)利要求
1.一種使用分用器的缺陷檢測裝置，分用器將多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括: 第一 DC線路至第三DC線路，向第一 DC線路至第三DC線路提供第一 DC電壓至第三DC電壓； 多個(gè)第一開關(guān)，所述多個(gè)第一開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號(hào)而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第一數(shù)據(jù)線； 多個(gè)第二開關(guān)，所述多個(gè)第二開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號(hào)而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第二數(shù)據(jù)線。
2.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其中，分用器包括: 多個(gè)第一 TFT，所述多個(gè)第一 TFT連接所述多條線路中的多條第一線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線； 多個(gè)第二 TFT，所述多個(gè)第二 TFT連接所述多條線路中的多條第二線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線， 其中: 所述缺陷檢測裝置被構(gòu)造為在當(dāng)所述多個(gè)第一開關(guān)和所述多個(gè)第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且僅所述多個(gè)第一 TFT或所述多個(gè)第二 TFT中的一個(gè)TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)的狀態(tài)下，檢測所述多條線路中的短路缺陷。
3.如權(quán)利要求2所述的缺陷檢測裝置，其中: 當(dāng)所述多個(gè)第一 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個(gè)第一 TFT連接， 當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時(shí)，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個(gè)像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。
4.如權(quán)利要求2所述的缺陷檢測裝置，其中: 當(dāng)所述多個(gè)第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個(gè)第二 TFT連接， 當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時(shí)，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個(gè)像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。
5.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其中，分用器包括: 多個(gè)第一 TFT，所述多個(gè)第一 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線； 多個(gè)第二 TFT，所述多個(gè)第二 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線； 所述缺陷檢測裝置被構(gòu)造為在當(dāng)所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)、且僅所述多個(gè)第一開關(guān)或所述多個(gè)第二開關(guān)中的一個(gè)開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)的狀態(tài)下，檢測所述所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT中的短路缺陷。
6.如權(quán)利要求5所述的缺陷檢測裝置，其中: 當(dāng)所述多個(gè)第一開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，對(duì)應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個(gè)第一開關(guān)的第一數(shù)據(jù)線通過所述多個(gè)第一TFT和/或所述多個(gè)第二 TFT中的對(duì)應(yīng)的TFT而連接到所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線。
7.如權(quán)利要求6所述的缺陷檢測裝置，其中: 當(dāng)所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT中的至少一個(gè)TFT有缺陷時(shí)，所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一 DC電壓至第三DC電壓中的DC電壓中的對(duì)應(yīng)的DC電壓。
8.如權(quán)利要求5所述的缺陷檢測裝置，其中: 當(dāng)所述多個(gè)第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)，對(duì)應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個(gè)第二開關(guān)的第二數(shù)據(jù)線通過所述多個(gè)第一 TFT和/或所述多個(gè)第二 TFT中的對(duì)應(yīng)的TFT而連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線。
9.如權(quán)利要求8所述的缺陷檢測裝置，其中: 當(dāng)所述多個(gè)第一 TFT和所述多個(gè)第二 TFT中的至少一個(gè)TFT有缺陷時(shí)，所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一 DC電壓至第三DC電壓中的DC電壓中的對(duì)應(yīng)的DC電壓。
10.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其中: 所述多個(gè)第一開關(guān)中的每個(gè)第一開關(guān)包括被構(gòu)造為接收第一柵極信號(hào)的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對(duì)應(yīng)的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第二電極。
11.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其中: 所述多個(gè)第二開關(guān)中的每個(gè)第二開關(guān)包括被構(gòu)造為接收第二柵極信號(hào)的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對(duì)應(yīng)的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第二電極。
12.一種用于通過第一 TFT和第二 TFT連接到與第一像素陣列對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線以及與第二像素陣列對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線的線路的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟: 將第一 DC電壓提供到第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線； 僅導(dǎo)通第一TFT和第二TFT中的一個(gè)TFT ； 根據(jù)連接到第一 TFT和第二 TFT中的導(dǎo)通的TFT的第一像素陣列或第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)來檢測缺陷。
13.如權(quán)利要求12所述的缺陷檢測方法，其中，當(dāng)?shù)谝籘FT導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟包括: 當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對(duì)于預(yù)定的亮度來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時(shí)，將該線路檢測為是有缺陷的。
14.如權(quán)利要求13所述的缺陷檢測方法，其中，檢測缺陷的步驟包括: 當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對(duì)于灰度級(jí)范圍中的中間灰度級(jí)來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時(shí)，將該線路檢測為是有缺陷的。
15.如權(quán)利要求12所述的缺陷檢測方法，其中，當(dāng)?shù)诙FT導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟包括: 當(dāng)?shù)诙袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對(duì)于預(yù)定的亮度來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時(shí)，將該線路檢測為是有缺陷的。
16.一種用于包括連接到與第一開關(guān)和第一像素陣列連接的第一數(shù)據(jù)線的第一 TFT和連接到與第二開關(guān)和第二像素陣列連接的第二 TFT的分用器的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟: 僅導(dǎo)通第一開關(guān)和第二開關(guān)中的一個(gè)； 導(dǎo)通第一 TFT和第二 TFT ； 根據(jù)第一像素陣列和第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)來檢測第一 TFT和/或第二 TFT中的缺陷。
17.如權(quán)利要求16所述的缺陷檢測方法，其中，檢測缺陷的步驟包括: 當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵械陌l(fā)光狀態(tài)和第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)不同時(shí)，檢測第一 TFT和/或第二 TFT中的缺陷。
18.如權(quán)利要求17所述的缺陷檢測方法，其中，當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟包括: 當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵酗@示黑色且第二像素陣列以預(yù)定的亮度進(jìn)行顯示時(shí)，將第一 TFT和第二TFT中的至少 一個(gè)TFT檢測為是有缺陷的。
19.如權(quán)利要求17所述的缺陷檢測方法，其中，當(dāng)?shù)诙_關(guān)導(dǎo)通時(shí)，檢測缺陷的步驟包括: 當(dāng)?shù)诙袼仃嚵酗@示黑色且第一像素陣列以預(yù)定的亮度進(jìn)行顯示時(shí)，將第一 TFT和第二TFT中的至少一個(gè)TFT檢測為是有缺陷的。
20.—種顯示面板,所述顯示面板包括: 多條數(shù)據(jù)線； 多個(gè)像素，所述多個(gè)像素分別連接到所述多條數(shù)據(jù)線； 分用器，分用器將多條數(shù)據(jù)線連接到對(duì)應(yīng)的多條線路； 缺陷檢測裝置，缺陷檢測裝置被構(gòu)造為檢測多條線路和/或分用器中的缺陷，缺陷檢測裝置包括:多個(gè)第一開關(guān)，所述多個(gè)第一開關(guān)被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號(hào)將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的多條第一數(shù)據(jù)線；多個(gè)第二開關(guān)，所述多個(gè)第二開關(guān)被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號(hào)將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的多條第二數(shù)據(jù)線。
全文摘要
本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種線路和分用器的缺陷的檢測方法、缺陷檢測裝置和包括該缺陷檢測裝置的顯示面板。分用器可以將多條數(shù)據(jù)線連接到對(duì)應(yīng)的多條線路。缺陷檢測裝置包括提供有相應(yīng)的DC電壓的DC線路、連接到DC線路并被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號(hào)將相應(yīng)的DC電壓發(fā)送到多條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線的第一開關(guān)、以及連接到第一DC線路至第三DC線路并被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號(hào)將各DC電壓中的一個(gè)DC電壓發(fā)送到所條數(shù)據(jù)線中的對(duì)應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線的第二開關(guān)。因此，可以檢測線路和分用器的缺陷。
文檔編號(hào)G09G3/00GK103137050SQ20121042264
公開日2013年6月5日 申請(qǐng)日期2012年10月30日 優(yōu)先權(quán)日2011年12月1日
發(fā)明者賈智鉉, 鄭鎮(zhèn)泰 申請(qǐng)人:三星顯示有限公司