專利名稱：信號處理設(shè)備、信號處理方法、顯示器件和電子裝置的制作方法
信號處理設(shè)備、信號處理方法、顯示器件和電子裝置技術(shù)領(lǐng)域
本公開涉及用于將驅(qū)動信號輸出至具有發(fā)光器件的像素電路的信號處理設(shè)備和方法、以及每一個均包括所述像素電路的顯示器件和電子裝置。
背景技術(shù)：
包括以矩陣形式布置多個像素的像素單元并且根據(jù)要顯示的圖像信息控制像素單元以由此顯圖像的顯示器件是已知的。近年來，像素單元中使用自發(fā)光器件(例如，有機 EL(電致發(fā)光)元件)的顯示器件已經(jīng)吸引了注意。在這種顯示器件中，包括有機EL元件的像素電路布置成矩陣形式以形成顯示屏幕。然而，由于有機EL元件通過根據(jù)要顯示的圖像數(shù)據(jù)改變發(fā)光量來表示灰度，因此有機EL元件的劣化程度在像素電路之間不同。由此， 隨著時間的經(jīng)過，劣化程度大的像素和劣化程度小的像素共同存在于顯示屏幕上。在此情況下，由于劣化程度大的像素比相鄰像素更暗，因此發(fā)生之前顯示的圖像看上去保留在顯示屏幕上的現(xiàn)象(公知為老化(burn-in))。
為了防止這種老化現(xiàn)象，提出了使得將劣化程度小的顯示器件的劣化在不使用時段期間進展、以便其劣化程度變得等于劣化程度大的顯示器件的劣化的顯示器件(例如， 參見 JP-A-2008-176274)。發(fā)明內(nèi)容
然而，在使得將劣化程度小的顯示器件的劣化在不使用時段期間進展、以便其劣化程度變得等于劣化程度大的顯示器件的劣化的顯示器件中，有可能使得整個發(fā)光器件的劣化進展。此外，由于在顯示器件的不使用時段期間進行老化的校正，因此存在的另一問題在于，不可以在顯示器件的使用期間校正老化。因此，可以考慮通過加以考慮發(fā)光器件在顯示器件使用期間的劣化來改變視頻信號的灰度值以校正老化的方法。
例如，可以考慮這樣的方法，其中根據(jù)顯示視頻信號的像素電路的劣化程度指定視頻信號的灰度值，并且使用改變后的視頻信號使得發(fā)光器件發(fā)光。例如，可以將其中一般像素電路的驅(qū)動時間與亮度的劣化程度相關(guān)聯(lián)的劣化信息提前存儲在器件中，并且可以響應(yīng)于驅(qū)動時間的經(jīng)過并且根據(jù)基于劣化信息估計出的各個像素的亮度的劣化量來改變視頻信號的灰度值。然而，像素的劣化程度在像素電路之間是不同的，并且供給像素電路的視頻信號在顯示目標之間也是不同的。由此，使用一般劣化信息高精度地進行老化校正并不容易。
因此期望提供一種能夠通過獲得高度精確的劣化信息來高精度地校正老化的信號處理設(shè)備和方法、以及每一個均包括該信號處理設(shè)備的顯示器件和電子裝置。
本公開的一實施例針對于將驅(qū)動信號輸出至具有發(fā)光器件的像素電路的信號處理設(shè)備。該信號處理設(shè)備包括測量單元、轉(zhuǎn)化效率計算單元和轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元。測量單元每隔指定更新時段輸出具有不同量值的多個電平的驅(qū)動信號，以通過與驅(qū)動信號的各個電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值來驅(qū)動規(guī)定像素電路。此外，測量單元測量規(guī)定像素電路在通過每個驅(qū)動電流值受到驅(qū)動時的亮度。轉(zhuǎn)化效率計算單元基于與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū) 動電流值和規(guī)定像素電路的亮度值之間的關(guān)系，計算所述規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值。轉(zhuǎn) 換效率劣化值計算單元將規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值與當規(guī)定像素電路處于校正基準狀 態(tài)時的轉(zhuǎn)換效率值進行比較，并且計算與自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的 經(jīng)過時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值。此外，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新 亮度劣化信息，所述亮度劣化信息表示自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng) 過時間與規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系。
〔0008〕 根據(jù)本公開實施例的信號處理設(shè)備，測量單元每隔規(guī)定的更新時段輸出具有不同 量值的多個電平的驅(qū)動信號，以便以對應(yīng)于驅(qū)動信號的各個電平的驅(qū)動電流值驅(qū)動規(guī)定的 像素電路。此外，測量單元測量在以每個驅(qū)動電流值驅(qū)動時規(guī)定的像素電路的亮度。以此 方式，可以獲得包括與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值和此時的亮度值的測量信息。轉(zhuǎn) 換效率值計算單元基于規(guī)定的像素電路的亮度值和與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值 之間的關(guān)系，計算規(guī)定的像素電路的轉(zhuǎn)換效率值。轉(zhuǎn)換效率值是表示驅(qū)動電流值轉(zhuǎn)換到的 亮度的值。轉(zhuǎn)換效率值隨著像素電路劣化進展而減小。在此情況下，可以從每隔更新時段 利用多個電平的驅(qū)動信號獲得的測量值中獲得規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值。以此方式，可 以提取轉(zhuǎn)換效率分量并且獲得精確的轉(zhuǎn)換效率值。轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元通過計算與從 規(guī)定的像素電路處于校正基準狀態(tài)時起經(jīng)過的時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值，計算規(guī)定的像 素電路的轉(zhuǎn)換效率值。此外，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信 息，該亮度劣化信息表示自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間與規(guī)定 像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系。以此方式，可以獲得考慮實際測量值的亮度劣化
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〔0009〕 本公開的另一實施例針對于進行與上述信號處理設(shè)備相同的信號處理的信號處 理方法、顯示器件和電子裝置。
〔0010〕 根據(jù)本公開實施例的信號處理設(shè)備、信號處理方法、顯示器件和電子裝置，基于使 用實際像素電路測量出的測量信息產(chǎn)生關(guān)于像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化的亮度劣化信息。在 此情況下，通過使用利用多個電平的驅(qū)動信號測量出的測量信息計算轉(zhuǎn)換效率劣化，可以 獲得精確的轉(zhuǎn)換效率劣化值。此外，通過基于精確的轉(zhuǎn)換效率劣化值進行老化校正，可以高 精度地進行老化校正。


〔0011〕圖1是示出根據(jù)本公開實施例的顯示器件的配置示例的構(gòu)思圖。
〔0012〕圖2是示意性地示出像素電路的配置示例的電路圖。
〔0013〕圖3是示出像素電路的亮度隨著時間經(jīng)過的變化的示例的坐標曲線圖。
〔0014〕圖4是示出視頻信號的灰度值和亮度值之間的關(guān)系的坐標曲線圖。
〔0015〕圖5是示出老化校正單元的硬件配置的示例的圖。
〔0016〕圖6是示出老化校正單元的功能配置的示例的圖。
〔0017〕圖7是示出亮度劣化信息產(chǎn)生單元產(chǎn)生亮度劣化信息的示例的圖。
〔0018〕圖8是示出基于測量信息的像素特性的示例的坐標曲線圖。
〔0019〕圖9是示出基于亮度劣化信息的亮度劣化曲線的示例的坐標曲線圖。
圖10
圖11
圖12
圖13
圖14
圖15
圖16是示出轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式的產(chǎn)生示例的圖。是示出亮度劣化信息產(chǎn)生處理的過程的示例的流程圖。是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的電視機的透視圖。是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的數(shù)碼相機的透視圖。是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的筆記本個人計算機的透視圖。 是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的便攜式終端的示意圖。是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的攝像機的透視圖。
具體實施方式
下文參照附圖描述本公開的實施例。
圖I是示出根據(jù)本公開實施例的顯示器件的配置示例的構(gòu)思圖。顯示器件100包括老化校正單元200、寫掃描器(WSCN ffrite SCaNner) 410、水平選擇器(HSEL horizontal SELector) 420、驅(qū)動掃描器(DSCN :Drive SCaNner) 430 和像素陣列單元 500。
像素陣列單元500包括布置成2維矩陣形式的nXm個像素電路600 608 (其中n和m是2或更大的整數(shù))。為了方便起見，在圖I中示出了布置在第一、第二和第m行的第一、第二和第n列上的九個像素電路600 608。像素電路600 608分別通過掃描線(WSL:Write Scan Line)411連接至寫掃描器(WSCN)410。而且，像素電路600 608分別通過數(shù)據(jù)線(DTL:DaTa Line) 421連接至水平選擇器(HSEL) 420，并且分別通過驅(qū)動線 (DSL =Drive Scan Line)431連接至驅(qū)動掃描器(DSCN)430。在圖I中，為了方便起見，將連接的像素電路的列(1，...和n)和行(1，...和m)的編號分配給掃描線(WSL)411、數(shù)據(jù)線 (DTL)421和驅(qū)動線(DSL)431。例如，將掃描線WSL1、數(shù)據(jù)線DTLl和驅(qū)動線DSLl連接至第一行的第一列上布置的像素電路600。
老化校正單元200是信號處理處理，其接收視頻信號的灰度值，并且根據(jù)像素電路600 608中每一個的劣化程度，改變視頻信號的灰度值以校正老化。老化校正單元200 可以配置為信號處理設(shè)備。這里，灰度值是用于指示驅(qū)動像素電路600 608以便以規(guī)定亮度發(fā)光的驅(qū)動信號，并且其指定表示發(fā)光程度的電平(步階，step)。例如，可以以256個電平(灰度)表示發(fā)光亮度的量值。假設(shè)發(fā)光亮度隨著灰度值的信號電平增加而增加。這里，將發(fā)光亮度在像素電路600處于初始狀態(tài)時為200nit (尼特)的視頻信號的灰度值稱為“灰度值200”。假設(shè)在經(jīng)過規(guī)定時段后，由于像素電路600的劣化，即使在輸出“灰度值 200”時也可能獲得IOOnit的發(fā)光亮度。類似地，假設(shè)“灰度值300”的發(fā)光亮度已經(jīng)從初始狀態(tài)的300nit劣化到200nit。在此情況下，老化校正單元200將輸出視頻信號的灰度值例如改變?yōu)椤盎叶戎?00”，以便獲得“灰度值200”的初始狀態(tài)的亮度(200nit)。老化校正單元200通過信號線209將改變后的視頻信號供給水平選擇器(HSEL) 420。以此方式，使得像素電路600以200nit的亮度發(fā)光，從而能夠校正老化。
寫掃描器(WSCN)410進行以行為單位依次掃描像素電路600 608的線序掃描。根據(jù)寫掃描器(WSCN)410的線序掃描，水平選擇器(HSEL)420將用于設(shè)定像素電路 600 608中的發(fā)光亮度的量值的數(shù)據(jù)信號供給各個列的像素電路600 608。驅(qū)動掃描器 (DSCN)430產(chǎn)生用于根據(jù)寫掃描器(WSCN)410的線序掃描以行為單位驅(qū)動像素電路600 608的驅(qū)動信號。此外，像素電路600 608基于來自掃描線(WSL)411的工作信號保持來自數(shù)據(jù)線(DTL)421的視頻信號的電位，并且根據(jù)保持的電位在規(guī)定時段內(nèi)發(fā)光。
圖2是示意性地示出像素電路的配置示例的電路圖。盡管圖2示出像素電路600， 然而其它像素電路具有相同的配置。
像素電路600包括寫晶體管610、驅(qū)動晶體管620、保持電容器630和發(fā)光器件 640。在圖2的示例中，假設(shè)寫晶體管610和驅(qū)動晶體管620是n溝道晶體管。另外，寫晶體管610和驅(qū)動晶體管620不限于這種組合。例如，晶體管610和620可以是p溝道晶體管，并且可以是增強、耗盡或雙柵型晶體管。
在像素電路600中，寫晶體管610的柵極和漏極端子分別連接至掃描線(WSL)411 和數(shù)據(jù)線(DTL)421。此外，寫晶體管610的源極端子連接至驅(qū)動晶體管620的柵極端子(g) 和保持電容器630的一個電極(一端)。在圖2中，此連接節(jié)點稱為第一節(jié)點(ND1)650。 此外，驅(qū)動晶體管620的漏極端子(d)連接至驅(qū)動線(DSL)431。驅(qū)動晶體管620的源極端子(s)連接至保持電容器630的另一電極(另一端)和發(fā)光器件640的陽極端子。在圖2 中，此連接節(jié)點稱為第二節(jié)點(ND2)660。
寫晶體管610是根據(jù)來自掃描線(WSL) 411的掃描信號將來自數(shù)據(jù)線(DTL) 431的數(shù)據(jù)信號供給第一節(jié)點(ND1)650的晶體管。寫晶體管610將數(shù)據(jù)信號的基準電位供給保持電容器630的一端，以便消除像素電路600的驅(qū)動晶體管620的閾值的不均衡。此處提到的基準電位是用作基準的固定電位，其用于使得保持電容器630保持與驅(qū)動晶體管620 的閾值電壓對應(yīng)的電壓。此外，在保持電容器630中保持了與驅(qū)動晶體管620的閾值電壓對應(yīng)的電壓后，寫晶體管610將數(shù)據(jù)信號的信號電位依次寫入至保持電容器630的一端。
驅(qū)動晶體管620基于根據(jù)此信號電位在保持電容器630中保持的信號電壓，將驅(qū)動電流輸出至發(fā)光器件640，以便使得發(fā)光器件640發(fā)光。在從驅(qū)動線(DSL)431施加用于驅(qū)動所述驅(qū)動晶體管620的驅(qū)動電位的狀態(tài)下，驅(qū)動晶體管620將與保持電容器630中保持的信號電壓對應(yīng)的驅(qū)動電流輸出至發(fā)光器件640。
保持電容器630保持與寫晶體管610提供的數(shù)據(jù)信號對應(yīng)的電壓。即，保持電容器630履行保持與寫晶體管610寫入的信號電位對應(yīng)的信號電壓的任務(wù)。
發(fā)光器件640根據(jù)驅(qū)動晶體管620輸出的驅(qū)動電流的量值(magnitude)進行發(fā)光。此外，發(fā)光器件640具有連接至陰極線680的輸出端子。從陰極線680提供陰極電位 (Vcat)作為發(fā)光器件640的基準電位。發(fā)光器件640例如可以由有機EL兀件實現(xiàn)。
另外，像素電路600的配置不限于圖2所示的電路配置。即，可以將包括驅(qū)動晶體管620和發(fā)光器件640的任何電路配置應(yīng)用于像素電路600。例如，可以用三個或更多個晶體管控制發(fā)光。
如上所述，在顯示器件100的像素電路600中，將與通過數(shù)據(jù)線(DTL)421提供的信號電位對應(yīng)的驅(qū)動電流供給發(fā)光器件640,從而發(fā)光器件640以對應(yīng)于驅(qū)動電流的亮度發(fā)光。由此，當構(gòu)成像素電路600的驅(qū)動晶體管620、發(fā)光器件640等劣化時，驅(qū)動電流量或發(fā)光量改變。結(jié)果，對應(yīng)于信號電位的亮度的值將會從初始狀態(tài)的值偏移。如果在所有的像素電路中發(fā)生相同的偏移量，則不會引起所謂的老化現(xiàn)象。然而，由于有機EL元件通過根據(jù)要顯示的圖像數(shù)據(jù)改變發(fā)光量來表示灰度，因此有機EL元件的劣化程度在顯示屏幕上的像素電路之間不同。由此，由于劣化程度大的像素電路變得比相鄰像素電路更暗而發(fā)生老化現(xiàn)象。
圖3是示出像素電路的亮度隨著時間經(jīng)過的變化的示例的坐標曲線圖。圖3示出當在具有作為發(fā)光器件的有機EL元件的像素電路中響應(yīng)于用于以200nit的亮度進行發(fā)光的灰度值驅(qū)動發(fā)光器件640時，發(fā)光亮度的值(亮度值)隨著時間經(jīng)過的變化。圖3的水平軸表示從初始狀態(tài)累積的經(jīng)過時間。圖3的垂直軸表示隨著時間經(jīng)過、按時間變化的亮度與作為校正基準的基準亮度“200nit”的比值。這里，初始狀態(tài)是指目標像素電路處于校正基準狀態(tài)時的狀態(tài)，并且在目標像素電路處于初始狀態(tài)時將經(jīng)過時間設(shè)為“O”。在經(jīng)過時間為“0”的初始狀態(tài)下，按時間變化的亮度與基準亮度的比值為“I. O”。即，按時間變化的亮度在初始狀態(tài)下為200nit。從圖3中可以了解，亮度隨著像素電路的驅(qū)動時間的經(jīng)過而減小。例如，當經(jīng)過4000小時的時段時，在將與初始狀態(tài)相同的灰度值輸出至像素電路時獲得的亮度為初始狀態(tài)的亮度的“0. 8”，即，160nit。由此，為了在經(jīng)過4000小時后對于像素電路獲得200nit的亮度，可以進行將對應(yīng)于亮度劣化量的校正量添加至視頻信號的灰度值的校正處理。以此方式，像素電路能夠以200nit的外觀亮度發(fā)光。
圖4是示出視頻信號的灰度值和亮度值之間的關(guān)系的坐標曲線圖。圖4的水平軸表示輸入至老化校正單元200的視頻信號的灰度值，垂直軸表示像素電路600 608中獲得的亮度值。此外，像素特性曲線(初始)710表示初始狀態(tài)下像素電路中的輸入灰度值和亮度值之間的關(guān)系，像素特性曲線(劣化目標)720表示從初始狀態(tài)起經(jīng)過時間之后，像素電路中的輸入灰度值和亮度值之間的關(guān)系。
將描述像素特性曲線(初始)710。像素特性曲線(初始)710例如由下列二次函數(shù)表示。
L = AX S2…(I)
這里，“L”是亮度值。此外，“A”是基于發(fā)光器件640的轉(zhuǎn)換效率所確定出的系數(shù) (效率系數(shù))。再者，“S2”是使用驅(qū)動晶體管620的平方特性所計算出的值，并且其為與供給發(fā)光器件640的驅(qū)動電流對應(yīng)的值。如上，可以基于發(fā)光器件640的效率系數(shù)A和驅(qū)動電流S2計算亮度值L。
像素特性曲線(校正目標)720比像素特性曲線(初始)710具有更緩和的斜率， 這是由于發(fā)光器件640隨著時間的經(jīng)過而劣化，并且將驅(qū)動電流轉(zhuǎn)換至亮度的轉(zhuǎn)換效率劣化。此外，相比于像素特性曲線(初始)710，像素特性曲線(校正目標)720在水平軸方向上向右平移對應(yīng)于驅(qū)動電流量減小分量Dl的量。驅(qū)動電流量減小分量Dl是指示驅(qū)動電流的減小的量(驅(qū)動電流減小量)的分量，并且其由于驅(qū)動晶體管620和發(fā)光器件640的劣化而出現(xiàn)。即，在由等式(I)表示的像素特性曲線(初始)710中，驅(qū)動晶體管620和發(fā)光器件640劣化的狀態(tài)下的像素特性曲線(校正目標)720由下列二次函數(shù)表示。
Ld = AdX (S-AS)2. . . (2)
這里，“Ld”是用作校正目標的像素電路的亮度值。此外，“Ad”是基于用作校正目標的像素電路的發(fā)光器件640的轉(zhuǎn)換效率所確定出的系數(shù)(效率系數(shù))。再者，“AS”是驅(qū)動電流量減小分量D1。再者，“(S-AS)2”表示在考慮驅(qū)動電流量減小分量Dl時供給發(fā)光器件640的驅(qū)動電流。如上，可以通過考慮了劣化的效率系數(shù)Ad和驅(qū)動電流量減小分量Dl 的驅(qū)動電流(S- A S)2來計算劣化的亮度值Ld。
如上所述，當像素電路隨著顯示器件100的使用而劣化時，轉(zhuǎn)換效率的劣化和驅(qū)動電流的減小同時進展，并且與視頻信號的灰度值對應(yīng)的亮度值減小。另外，轉(zhuǎn)換效率劣化對應(yīng)于像素特性曲線斜率的減小，并且驅(qū)動電流的減小對應(yīng)于像素特性曲線的灰度的偏移。
顯示器件100的老化校正單元200使用校正基準狀態(tài)下的像素特性曲線(初始)710作為基準，并且校正輸入灰度值以使得劣化的像素電路的像素特性曲線(校正目標)720與該基準(像素特性曲線710) —致。盡管在稍后描述細節(jié)，老化校正單元200準備用于校正轉(zhuǎn)換效率劣化的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(pattern)和用于校正驅(qū)動電流量劣化(電流劣化)的電流量劣化校正模式，并且校正劣化的像素電路的視頻信號的灰度值。
這里將描述轉(zhuǎn)換效率劣化分量的校正。在轉(zhuǎn)換效率劣化分量的校正中，視頻信號的灰度基于下列表達式而改變。由下列等式基于等式(I)和(2)計算校正的灰度值Sout。
Sout= ( A A) _1/2X Sin. . . (3)
AA = Ad/A. . . (4)
這里，“Sin”是老化校正單元200校正前的視頻信號的灰度值。此外，“AA”是表示轉(zhuǎn)換效率比值(其中校正目標像素電路的轉(zhuǎn)換效率Ad為分子，初始狀態(tài)下的像素電路的轉(zhuǎn)換效率A為分母)的分數(shù)的值(轉(zhuǎn)換效率劣化值)。
然而，盡管可以通過器件的規(guī)范值或出貨期間的測量得知初始狀態(tài)下的效率系數(shù) A，然而實際上不能測量出工作期間像素電路的轉(zhuǎn)換效率Ad。由此，將以規(guī)定的灰度值連續(xù)工作的像素電路的初始狀態(tài)起的經(jīng)過時間與轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的相互關(guān)系作為亮度劣化信息提前保持在老化校正單元200中。然后，基于亮度劣化信息估計每個像素電路的效率系數(shù)Ad，并且計算校正量。然而，由于像素電路的劣化程度依據(jù)其工作環(huán)境而不同，因此難以以提前設(shè)定的典型亮度劣化信息高精度地進行校正。因此，根據(jù)此實施例的顯示器件 100的老化校正單元200實際上測量像素電路的劣化程度，并且根據(jù)測量結(jié)果更新亮度劣化信息，從而增大老化校正的精度。
[老化校正單元的配置示例]
首先描述老化校正單元200的硬件配置示例。圖5是示出老化校正單元的硬件配置的示例的圖。
老化校正單元200包括校正模式產(chǎn)生單元210、校正計算單元220、校正模式保持單兀230和DRAM (Dynamic Random Access Memory,動態(tài)隨機存取存儲器)240。老化校正單元200校正輸入視頻信號的灰度值，并且將校正后的視頻信號輸出至像素陣列單元500 作為老化校正視頻數(shù)據(jù)。
校正模式產(chǎn)生單兀210在CPU (Central Processing Unit,中央處理單兀)210a的幫助下，進行產(chǎn)生用于校正轉(zhuǎn)換效率劣化和電流量劣化的校正模式的處理。CPU 210a通過內(nèi)部總線連接至 ROM (Read Only Memory,只讀存儲器)201b、RAM (Random Access Memory, 隨機存取存儲器)210c和外圍設(shè)備(如，校正計算單元220和校正模式保持單元230)。
CPU 210a處理所需要的各種數(shù)據(jù)存儲在RAM 210c中。OS程序、應(yīng)用程序和各種數(shù)據(jù)存儲在ROM 210b中。
校正計算單元220獲取視頻信號的灰度值并且進行老化校正處理。校正計算單元 220 由 ASIC (Application Specific Integrated Circuit,專用集成電路)或 FPGA (Field Programmable Gate Array,現(xiàn)場可編程門陣列)配置，以便高速地進行處理。
校正模式保持單元230是保持校正模式產(chǎn)生單元210產(chǎn)生的校正模式的存儲單元。例如，校正模式保持單元230由諸如閃存之類的半導(dǎo)體存儲器件配置。
DRAM 240是保持由校正計算單元220參照的校正模式的存儲單元。例如， DRAM 240由能夠相對高速地進行處理的存儲器(如，DDR SDRAM (Double-Data-Rate Synchronous DRAM，雙數(shù)據(jù)速率同步DRAM))配置。
接下來描述老化校正單元200的功能配置示例。圖6是示出老化校正單元的功能配置的示例的圖。
老化校正單元200包括校正模式產(chǎn)生單元210、校正計算單元220、轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231和電流劣化校正模式保持單元232。校正模式產(chǎn)生單元210包括亮度劣化信息產(chǎn)生單元211、轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212和電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213。
亮度劣化信息產(chǎn)生單元211包括亮度測量單元2111、測量信息保持單元2112、轉(zhuǎn)換效率計算單元2113、基準轉(zhuǎn)換效率值提供單元2114、轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115和亮度劣化信息保持單元2116。亮度劣化信息產(chǎn)生單元211基于從像素電路609獲得的亮度值更新亮度劣化信息。
每隔與用于更新規(guī)定像素電路609的亮度劣化信息的更新周期對應(yīng)的指定更新時段，啟動亮度測量單元2111。當已經(jīng)抵達更新時段時，亮度測量單元2111將多個不同電平的驅(qū)動信號輸出至顯示器件100的規(guī)定像素電路609，并且測量像素電路609在驅(qū)動信號的每個電平上的亮度。例如，亮度測量單元2111將與多個電平的規(guī)定灰度值對應(yīng)的驅(qū)動信號輸出至像素電路609，并且測量此時的亮度。以此方式，獲得與多個電平的規(guī)定灰度值中的每一個對應(yīng)的一組驅(qū)動電流和亮度值作為測量數(shù)據(jù)。另外，此時的驅(qū)動電流值不包括由于像素電路609的劣化所引起的驅(qū)動電流的減小分量。該驅(qū)動電流值對應(yīng)于被認為在灰度值輸出至像素電路609時流經(jīng)校正基準狀態(tài)下的像素電路609的驅(qū)動電流。此外，代之驅(qū)動電流值，可以獲取灰度值和亮度值彼此相關(guān)聯(lián)的測量數(shù)據(jù)?？梢詫⒘炼攘踊畔⒌母轮芷谠O(shè)為隨意的時段。例如，由于像素電路609的劣化緩慢地進展，為了減輕施加給老化校正單元200的負載，可以將更新周期設(shè)為比轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生處理的處理周期更長的時段。盡管目標像素電路609是包括在像素陣列單元500中的像素電路，然而使用未包括在顯示屏幕中的啞(dummy)像素電路。通過使用啞像素電路，即使在顯示器件100處于工作的時候，也可以在不影響顯示屏幕的情況下進行測量處理。此外，當在出貨前進行檢查、調(diào)節(jié)等的時候，可以將構(gòu)成顯示屏幕的像素電路用作目標像素電路，并且可以獲取每個像素電路的特性。在亮度測量單元2111中，例如提前確定多個電平的驅(qū)動信號(例如，多個電平的灰度值)。當出現(xiàn)亮度劣化信息的更新時段時，亮度測量單元2111依次將指定的灰度值輸出至像素電路609，并且測量此時的亮度值。測量的亮度值提供給測量信息保持單元2112以便與驅(qū)動電流值或灰度值相關(guān)聯(lián)。另外，在測量時段以外的時段中，將規(guī)定的灰度值連續(xù)地輸出至像素電路609。例如，當計算200nit的亮度劣化信息時，除了測量時段之外，使得像素電路以對應(yīng)于200nit的灰度值發(fā)光。以此方式，可以使用像素電路609獲得 200nit的亮度劣化信息。
測量信息保持單元2112保持從亮度測量單元2111提供的輸出至像素電路609 的驅(qū)動電流值或灰度值、以及此灰度值處發(fā)光器件640的亮度的測量值(亮度值)或此時的驅(qū)動電流值作為測量信息。在以下描述中，將該組的多個電平的驅(qū)動電流值和亮度值稱為測量信息。測量信息保持單元2112將在其之中保持的測量信息供給轉(zhuǎn)換效率計算單元 2113。
基于亮度測量單元2111利用多個電平的灰度值或驅(qū)動電流值測量出的亮度值， 轉(zhuǎn)換效率計算單元2113計算像素電路609的效率系數(shù)作為轉(zhuǎn)換效率值。如等式(2)中所示，可以通過考慮了像素電路的亮度值Ld和驅(qū)動電流量減小分量Dl的驅(qū)動電流(S-AS)2 來計算劣化的像素電路的效率系數(shù)Ad。然而，不能測量出驅(qū)動電流量減小分量Dl。由此， 與亮度測量單元2111測量出的亮度值對應(yīng)的驅(qū)動電流量減小分量Dl是與規(guī)定灰度值對應(yīng)的驅(qū)動電流值(即，未考慮驅(qū)動電流量減小分量的驅(qū)動電流值)。由此，即使通過其中測量的亮度值Ld是分子并且驅(qū)動電流值是分母的除法計算轉(zhuǎn)換效率時，也不可能獲得精確的效率系數(shù)Ad。由此使用在多個電平上測量出的驅(qū)動電流值和對應(yīng)于偏差校正部分的亮度值計算轉(zhuǎn)換效率值。例如，基于多個電平之間驅(qū)動電流值的變化和對應(yīng)亮度值的變化，計算亮度值變化相對于驅(qū)動電流值變化的斜率(即，“亮度值變化” / “驅(qū)動電流值變化”)。以此方式計算出的轉(zhuǎn)換效率值不包括驅(qū)動電流量減小分量Dl的影響，并且可以獲得高度精確的轉(zhuǎn)換效率值。將計算出的轉(zhuǎn)換效率值供給轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115。
基準轉(zhuǎn)換效率值提供單元2114將用作轉(zhuǎn)換效率劣化的校正基準的像素電路的轉(zhuǎn)換效率值供給轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115。例如，基準轉(zhuǎn)換效率值提供單元2114保持像素電路609在沒有發(fā)生劣化的初始狀態(tài)下的轉(zhuǎn)換效率值，并且提供在其之中保持的轉(zhuǎn)換效率值作為基準轉(zhuǎn)換效率值。
基于從轉(zhuǎn)換效率計算單元2113提供的測量期間的像素電路609的轉(zhuǎn)換效率值以及從基準轉(zhuǎn)換效率值提供單元2114提供的基準轉(zhuǎn)換效率值，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元 2115計算轉(zhuǎn)換效率劣化值。例如，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115基于等式(4)計算轉(zhuǎn)換效率劣化值(AA)。計算其中校正目標像素電路的轉(zhuǎn)換效率值是分子并且校正基準狀態(tài)下的像素電路的轉(zhuǎn)換效率值是分母的轉(zhuǎn)換效率的比值。此外，基于計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值和測量期間從校正基準狀態(tài)經(jīng)過的時間更新亮度劣化信息。亮度劣化信息表示規(guī)定亮度上從校正基準狀態(tài)起經(jīng)過的時間和轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系。例如，用當前計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值取代亮度劣化信息中的對應(yīng)經(jīng)過時間所對應(yīng)于的轉(zhuǎn)換效率劣化值。此外，根據(jù)所獲取的轉(zhuǎn)換效率劣化值更新表示經(jīng)過時間和轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的相關(guān)性的亮度劣化曲線，并且可以根據(jù)更新后的亮度劣化曲線更新亮度劣化信息。更新后的亮度劣化信息供給亮度劣化信息保持單元2116。
亮度劣化信息保持單元2116保持轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115所更新的亮度劣化信息。例如，將亮度劣化信息保持在亮度劣化信息保持單元2116中作為具有表格格式(其中，規(guī)定亮度上從校正基準狀態(tài)起經(jīng)過的時間與此經(jīng)過的時間上的轉(zhuǎn)換效率劣化值相關(guān)聯(lián))的亮度劣化信息。亮度劣化信息的格式可以是隨意的格式。此外，由于亮度的劣化程度依據(jù)像素電路發(fā)光的亮度而不同，因此可以準備關(guān)于多個電平的亮度的亮度劣化信息。可替換地，可以將關(guān)于一個亮度的亮度劣化信息保持為主信息，并且基于主信息計算其它亮度值的轉(zhuǎn)換效率劣化值。由于亮度劣化的比例對于不同亮度值是相同的，因此當準備了關(guān)于一個亮度的主信息時，可以計算其它亮度值的轉(zhuǎn)換效率劣化值。
如上，通過測量實際安裝在顯示器件100上的像素電路609的劣化并且產(chǎn)生亮度劣化信息，可以獲得考慮了顯示器件100的實際狀態(tài)的亮度劣化信息。此外，當使用基于亮度劣化信息的效率系數(shù)時，相比于使用預(yù)先保持的效率系數(shù)，可以高精度地校正轉(zhuǎn)換效率的劣化。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212產(chǎn)生用于校正轉(zhuǎn)換效率劣化的模式(轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式)。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式是包括像素電路600 608中每一個的轉(zhuǎn)換效率劣化的校正值(轉(zhuǎn)換效率劣化值)的校正模式，并且是用于校正轉(zhuǎn)換效率劣化的校正信息。例如，轉(zhuǎn)換效率劣化值是圖4中所示的像素特性曲線(校正目標)720到像素特性曲線 (初始)710的斜率的值。盡管稍后描述其細節(jié)，然而轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212 保持構(gòu)成像素陣列單元500的各個像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化信息，并且每隔規(guī)定時段計算各個像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值。在此情況下，轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212參照亮度劣化信息保持單元2116中保持的像素電路609的亮度劣化信息，以便計算各個像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值。像素電路609在與顯示像素電路600 608相同的工作環(huán)境下工作。由此，可以認為從像素電路609的驅(qū)動開始起經(jīng)過的時間和轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系、與經(jīng)過的時間和像素電路600 608的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系具有相關(guān)性。由此， 基于使用像素電路609測量出的、規(guī)定灰度值處的亮度劣化信息計算像素電路600 608 的轉(zhuǎn)換效率劣化值。計算出的各個像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值供給轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231。電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213產(chǎn)生用于校正驅(qū)動電流減小量的模式(電流劣化校正模式)。電流劣化校正模式是包括像素電路600 608中每一個的驅(qū)動電流減小量的校正值(電流量劣化值)的校正模式，并且是用于校正驅(qū)動電流減小量的校正信息。例如，對于將處于初始狀態(tài)下的像素電路視為校正校準狀態(tài)的老化校正單元200，電流量劣化值是圖4中所示的驅(qū)動電流量減小分量Dl。電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213保持構(gòu)成像素陣列單元500的各個像素電路的電流量劣化信息，并且計算和整合每隔規(guī)定時段各個像素電路的驅(qū)動電流的新減小量，從而更新電流量劣化信息。例如，電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213基于校正計算單元220提供的校正后的視頻信號，使用減小量系數(shù)計算關(guān)于像素電路600 608的新減小量的信息。這里，減小量系數(shù)例如是用于計算驅(qū)動電流隨著經(jīng)過時間的減小量的系數(shù)，并且被提前保存。此外，可以基于亮度測量單元2111測量出的測量信息適當?shù)馗聹p小量系數(shù)。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231和電流劣化校正模式保持單元232包括在校正模式保持單元230中。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231針對每個像素電路保持從轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212提供的轉(zhuǎn)換效率劣化值。在下列描述中，將包括各個像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值的轉(zhuǎn)換效率劣化值組稱作轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231將在其之中保持的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式供給校正計算單元220。 電流劣化校正模式保持單元232針對每個像素電路保持從電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213 提供的電流量劣化值。在下列描述中，將包括各個像素電路的電流量劣化值的電流量劣化值組稱作電流劣化校正模式。電流劣化校正模式保持單元232將在其之中保持的電流劣化校正模式供給校正計算單元220。校正計算單元220校正輸入的視頻信號，并且將校正后的視頻信號供給轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212和電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213，并且經(jīng)由信號線209供給水平選擇器(HSEL)420。校正計算單元220進行用于校正轉(zhuǎn)換效率劣化的轉(zhuǎn)換效率劣化校正處理和用于校正電流劣化的電流劣化校正處理。在轉(zhuǎn)換效率劣化校正處理中，基于轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231提供的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式改變輸入視頻信號的灰度值以校正轉(zhuǎn)換效率劣化。然后使已經(jīng)經(jīng)歷了轉(zhuǎn)換效率劣化校正的視頻信號的灰度值經(jīng)歷電流劣化校正處理。在電流劣化校正處理中，基于電流劣化校正模式保持單元232提供的電流劣化校正模式改變已經(jīng)經(jīng)歷了轉(zhuǎn)換效率劣化校正的視頻信號的灰度值以校正電流劣化。校正后的視頻信號的灰度值供給轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212和電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213，并且經(jīng)由信號線209供給水平選擇器(HSEL) 420。如上，通過在老化校正單元200中提供亮度劣化信息產(chǎn)生單元211，可以高精度地校正像素電路600 608中亮度值的劣化。接下來參照附圖描述亮度劣化信息產(chǎn)生單元211產(chǎn)生亮度劣化信息的示例。在以下描述中，將校正基準狀態(tài)稱為初始狀態(tài)。[亮度劣化信息的產(chǎn)生示例]圖7是示出亮度劣化信息產(chǎn)生單元產(chǎn)生亮度劣化信息的示例的圖。圖7示意性地圖示了直至基于測量信息保持單元2112中保持的測量信息730將亮度劣化信息(用于灰度值200) 740保持在亮度劣化信息保持單元2116中的時候的流程。在此示例中，將描述產(chǎn)生當以能夠在初始狀態(tài)下獲得200nit的亮度的灰度值驅(qū)動像素電路609時的亮度劣化信息的情況。在下列描述中，將用“灰度值200”表示此灰度值。另外，將處理開始前用作校正基準的初始狀態(tài)下的轉(zhuǎn)換效率值供給基準轉(zhuǎn)換效率值提供單元2114。此外，將“灰度值 200”輸出至像素電路609。除了每隔規(guī)定周期出現(xiàn)的亮度測量時段之外，將“灰度值200” 輸出至像素電路609。以此方式，可以測量像素電路609在“灰度值200”的劣化程度。在測量信息保持單元2112中，以相關(guān)方式保持從初始狀態(tài)起經(jīng)過“t”時段(“t” 是隨意的正值)后亮度測量單元2111測量出的、當驅(qū)動電流輸出至像素電路609時的多個電平的偏差校正部分和亮度值。亮度測量單元2111在以II，12，...，h的方式按照η步改變驅(qū)動電流的同時測量亮度值，并且將測量出的亮度值供給測量信息保持單元2112作為測量信息(t) 730。例如，分別針對驅(qū)動電流II，12和h測量亮度值Li，L2和Ln。轉(zhuǎn)換效率計算單元2113從測量信息保持單元2112讀取測量信息(t) 730,并且計算當從初始狀態(tài)已經(jīng)經(jīng)過“t”時段時像素電路609的轉(zhuǎn)換效率值。例如，轉(zhuǎn)換效率計算單元2113計算各電平之間亮度值的變化相對于驅(qū)動電流的變化的斜率，從而計算轉(zhuǎn)換效率值。計算出的轉(zhuǎn)換效率值供給轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115。轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115根據(jù)轉(zhuǎn)換效率計算單元2113提供的從初始狀態(tài)起經(jīng)過“t”時段之后的轉(zhuǎn)換效率值、和基準轉(zhuǎn)換效率值提供單元2114提供的初始狀態(tài)下的轉(zhuǎn)換效率值，計算轉(zhuǎn)換效率劣化值。例如，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115使用等式(4)計算轉(zhuǎn)換效率劣化值。此外，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115使用計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值，更新亮度劣化信息保持單元2116所保持的亮度劣化信息(用于灰度值200)。根據(jù)最簡單的更新方法，當從初始狀態(tài)起經(jīng)過的“t”時段為“ 100”并且計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值為“0. 99” 時，在亮度劣化信息(用于灰度值200)740中，用對應(yīng)于經(jīng)過時間“100”的轉(zhuǎn)換效率劣化值 “0. 99”取代亮度劣化信息。以此方式，根據(jù)實際的測量值更新亮度劣化信息。這里將描述測量信息。圖8是示出基于測量信息的像素特性的示例的坐標曲線圖。圖8的水平軸表示與亮度測量單元2111輸出的灰度值對應(yīng)的驅(qū)動電流的量值，而垂直軸表示亮度測量單元2111測量的發(fā)光值(亮度值)。在圖8的示例中，繪制了與驅(qū)動電流II，12，...和h對應(yīng)的亮度值Li，L2，...和 Ln。像素特性731是連接所繪制的測量數(shù)據(jù)并且表示當從初始狀態(tài)已經(jīng)經(jīng)過“t”時段時像素電路609的亮度值和輸入灰度值(驅(qū)動電流)之間的關(guān)系的像素特性。如根據(jù)等式O) 清楚的，當以亮度值L1，L2，...和Ln發(fā)光時，驅(qū)動電流量減小分量Dl公共地包括在驅(qū)動電流II，12,...和h中。由此，通過計算繪制亮度值相對于驅(qū)動電流值的變化的像素特性 731的斜率，可以計算將驅(qū)動電流量減小分量Dl排除在外的精確轉(zhuǎn)換效率值。另外，驅(qū)動電流量減小分量Dl可以從像素特性731中計算出，并且可以用于電流劣化校正模式產(chǎn)生單元213計算減小量系數(shù)。接下來描述亮度劣化信息。圖9是示出基于亮度劣化信息的亮度劣化曲線的示例的坐標曲線圖。圖9的水平軸表示當驅(qū)動像素電路609時從初始狀態(tài)起經(jīng)過的時間，垂直軸表示轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化。亮度劣化曲線(用于灰度值100)751示出當用100的灰度值驅(qū)動像素電路609時經(jīng)過的時間和劣化信息之間的關(guān)系?；叶戎?00是用于使得初始狀態(tài)下的像素電路609以 IOOnit發(fā)光的灰度值。亮度劣化曲線(用于灰度值200) 752示出當用200的灰度值驅(qū)動像素電路609時經(jīng)過的時間和劣化信息之間的關(guān)系。灰度值200是用于使得初始狀態(tài)下的像素電路609以 200nit發(fā)光的灰度值。亮度劣化曲線(用于灰度值400) 753示出當用400的灰度值驅(qū)動像素電路609時經(jīng)過的時間和劣化信息之間的關(guān)系?；叶戎?00是用于使得初始狀態(tài)下的像素電路609以 400nit發(fā)光的灰度值。例如，如圖7中所示的亮度劣化信息產(chǎn)生處理中所述，當產(chǎn)生灰度值200的亮度劣化信息時，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115在經(jīng)過時間tl，t2，...等時計算轉(zhuǎn)換效率劣化值。轉(zhuǎn)換效率劣化值基于通過圖7中所示的產(chǎn)生處理針對像素電路609實際測量出的測量數(shù)據(jù)。由此，通過使用在經(jīng)過時間tl，t2，...等時計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值校正亮度劣化曲線(用于灰度值200) 752，對于顯示器件100，可以獲得與實際工作狀態(tài)匹配的實際亮度劣化曲線。另外，亮度劣化曲線(用于灰度值100)751、亮度劣化曲線(用于灰度值200) 752 和亮度劣化曲線(用于灰度值400) 753具有相關(guān)性。例如，“灰度值200”處的轉(zhuǎn)換效率劣化值劣化規(guī)定比例(例如，10% )所需要的時間，與“灰度值100”處的轉(zhuǎn)換效率劣化值類似地劣化該規(guī)定比例的10%所需要的時間具有比例關(guān)系。由此，通過在亮度劣化信息保持單元2116中保持亮度劣化曲線(用于灰度值200)752，可以計算其它亮度劣化曲線的轉(zhuǎn)換效率劣化值。接下來描述由轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212基于亮度劣化信息保持單元 2116中保持的亮度劣化信息所進行的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式的產(chǎn)生示例。[轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式的產(chǎn)生示例]圖10是示出轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式的產(chǎn)生的圖。圖10示意性地圖示了直至基于亮度劣化信息保持單元2116保持的亮度劣化信息740，使用亮度劣化曲線(用于灰度值200) 752產(chǎn)生轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231所保持的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η) 770 時的流程。另外，為了方便起見，用1 m標識提供在顯示器件100中的像素電路。這里， 可以以與校正計算單元220處理視頻信號的處理周期相同的周期或者比其更長的周期產(chǎn)生轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式。這是由于即使亮度在像素電路之間波動時，劣化也緩慢地進展。 例如，可以通過每隔一個小時更新轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式來減小老化校正單元200的計算量。然而，在下列描述中，將描述每當將校正后的視頻信號的灰度值輸出至像素電路時更新轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式的情況。將表示亮度劣化曲線(用于灰度值200)752的亮度劣化信息(用于灰度值 200)740保持在亮度劣化信息保持單元2116中。轉(zhuǎn)換效率劣化值保持在亮度劣化信息(用于灰度值200) 740中，以便在用灰度值200驅(qū)動像素電路609時與從初始狀態(tài)起經(jīng)過的時間相關(guān)。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式產(chǎn)生單元212包括轉(zhuǎn)換效率劣化信息更新單元2121、轉(zhuǎn)換效率劣化信息保持單元2122和轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2123。在此示例中，假設(shè)每隔一分鐘獲取校正計算單元220校正的視頻信號以更新轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式。轉(zhuǎn)換效率劣化信息更新單元2121通過向轉(zhuǎn)換效率劣化信息保持單元2122中保持的轉(zhuǎn)換效率劣化信息添加像素電路1 m中每一個的轉(zhuǎn)換效率的新劣化量，以更新轉(zhuǎn)換效率劣化信息保持單元2122中保持的轉(zhuǎn)換效率劣化信息。這里，轉(zhuǎn)換效率劣化信息例如是通過將像素電路1 m中每一個的轉(zhuǎn)換效率劣化的量轉(zhuǎn)換至指定灰度值處的發(fā)光時段而獲得的值。轉(zhuǎn)換值對應(yīng)于當使得像素電路以規(guī)定灰度值發(fā)光時直至出現(xiàn)與轉(zhuǎn)換效率的劣化量等效的劣化所采用的發(fā)光時段。例如，轉(zhuǎn)換效率劣化信息更新單元2121基于從校正計算單元 220提供的校正的視頻信號，使用效率劣化轉(zhuǎn)換系數(shù)計算關(guān)于像素電路1 m中每一個的轉(zhuǎn)換效率的劣化的新信息。這里，效率劣化轉(zhuǎn)換系數(shù)是用于基于發(fā)光時段和發(fā)光期間的灰度， 計算發(fā)光器件640的轉(zhuǎn)換效率隨著時間經(jīng)過的劣化量的系數(shù)?？梢曰诹炼攘踊畔⒈３謫卧?116中保持的亮度劣化信息(用于灰度值200)計算效率劣化轉(zhuǎn)換系數(shù)。此外，可以基于校正的視頻信號的灰度值和通過將轉(zhuǎn)換效率劣化信息(n-l)760中設(shè)定的像素電路的劣化量轉(zhuǎn)換至對應(yīng)于特定灰度值(灰度值200)的發(fā)光時段所獲得的轉(zhuǎn)換效率的劣化量，使用效率劣化轉(zhuǎn)換系數(shù)以獲得像素電路1 m的轉(zhuǎn)換效率劣化值。例如，基于亮度劣化曲線 (用于灰度值200)752上從發(fā)光開始時間直至劣化量計算時間的經(jīng)過時間以及此經(jīng)過時間期間輸出的灰度值，計算電流量劣化特性信息(n-l)760中設(shè)定的發(fā)光時段所對應(yīng)的劣化量。通過將計算出的像素電路1 m的新劣化量添加至轉(zhuǎn)換效率劣化信息(n-l)760中對應(yīng)像素編號的劣化信息的值，轉(zhuǎn)換效率劣化信息更新單元2121更新轉(zhuǎn)換效率劣化信息保持單元2122中保持的電流量劣化特性信息(n-l)760。轉(zhuǎn)換效率劣化信息保持單元2122針對每個像素電路，保持由轉(zhuǎn)換效率劣化信息更新單元2121提供的關(guān)于像素電路1 m的亮度轉(zhuǎn)換效率的劣化的轉(zhuǎn)換效率劣化信息。在圖10的轉(zhuǎn)換效率劣化信息(n-l)760中，保持基于第(n-1)個更新時段的顯示的轉(zhuǎn)換效率劣化值。轉(zhuǎn)換效率劣化信息(n-1) 760用于產(chǎn)生用以校正當前第η個更新時段的顯示的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η) 770。作為像素電路的編號的像素編號保持在轉(zhuǎn)換效率劣化信息(η-1)760的左欄中，像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化信息(劣化信息)保持在右欄中。 例如，在此示例中，轉(zhuǎn)換效率劣化值是以灰度值200被轉(zhuǎn)換至發(fā)光時段(經(jīng)過時間)的值。例如，將時段“ 160”保持為與像素編號“ i，，對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化信息，并且將時段“ 100”保持為與像素編號“ 1 ”、“2”和“m”對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化信息。在將這種轉(zhuǎn)換效率劣化信息(n-1) 760保持在轉(zhuǎn)換效率劣化信息保持單元2122中的狀態(tài)下，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2123更新第η個轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式。首先，獲取用作校正目標的像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化信息，并且計算像素電路的轉(zhuǎn)換效率。計算出的效率系數(shù)供給轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2123作為目標轉(zhuǎn)換效率值。例如，將描述把像素編號“1”的目標轉(zhuǎn)換效率值供給轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2123的處理。首先，轉(zhuǎn)換效率劣化信息更新單元2121從轉(zhuǎn)換效率劣化信息(n-1) 760獲取像素編號“ 1 ”的劣化信息“ 100”，并且使用系數(shù)轉(zhuǎn)換信息計算轉(zhuǎn)換效率。假設(shè)提前保存系數(shù)轉(zhuǎn)換信息。此外，轉(zhuǎn)換效率劣化信息更新單元2121根據(jù)像素編號“1”的像素電路的計算出的轉(zhuǎn)換效率以及用作校正基準的基準效率劣化值，計算像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值，并且將計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值供給轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231。以此方式，將與轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η)的轉(zhuǎn)換效率劣化值“Cl”對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值保持在轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231中。接下來描述以此方式由校正模式產(chǎn)生單元210產(chǎn)生的、并且保持在轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式保持單元231中的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η) 770。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η) 770示意性地示出由轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2123產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式。圖10示意性地示出當將轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2123產(chǎn)生的每個像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值安置為對應(yīng)于構(gòu)成顯示屏幕的像素的布局時的轉(zhuǎn)換效率劣化模式的示例。確切地，轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η) 770是包括基于轉(zhuǎn)換效率劣化信息 (n-1) 760產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換效率劣化值的校正模式的示例，并且是用于校正第η個1分鐘時段期間顯示的每個幀的視頻信號的灰度值的校正模式。轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η)770中的轉(zhuǎn)換效率劣化值Cl是用于校正轉(zhuǎn)換效率劣化信息(η-1)760中所示的像素編號“1”所對應(yīng)的像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值。此外，類似于轉(zhuǎn)換效率劣化值cl，轉(zhuǎn)換效率劣化值c2、ci和cm是用于校正供給轉(zhuǎn)換效率劣化信息 (n-1) 760中所示像素編號“2”、“i”和“m”所對應(yīng)的像素電路的視頻信號的灰度值的轉(zhuǎn)換效率劣化值。在校正計算單元220中，基于轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式(η) 770校正視頻信號的灰度值。例如，假設(shè)與像素信號“i”對應(yīng)的像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值Ci大于與其它像素編號“2”、“i”和“H!”對應(yīng)的像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值Cl、C2和cm。在此情況下，校正計算單元220將與像素編號“i”對應(yīng)的像素電路的視頻信號的灰度值的校正量(變化量 (increment))，設(shè)置為大于與其它像素編號“ 1 ”、“2”和“m”對應(yīng)的像素電路的視頻信號的灰度值的校正量(變化量)。通過以此方式校正灰度值，可以校正老化。如上，由于基于實際測量出的像素電路的劣化狀態(tài)來計算轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式，因此可以高精度地校正老化。[亮度劣化信息產(chǎn)生單元的工作示例]接下來描述老化校正單元200的亮度劣化信息產(chǎn)生單元211的工作。圖11是示出亮度劣化信息產(chǎn)生處理的過程的示例的流程圖。亮度劣化信息產(chǎn)生處理每隔規(guī)定周期開始。由于像素電路的劣化緩慢地進展，因此可以以長周期(例如，每一天或十天)進行處理。
[步驟SOI]亮度測量單元2111開始測量測量目標啞像素電路的亮度。將初始值(=1)設(shè)為指示測量灰度值的指針k。[步驟SO2]亮度測量單元2111將指針指示的灰度值(k)輸出至啞像素電路。假設(shè)已知對應(yīng)于灰度值(k)的驅(qū)動電流。[步驟 SO3]亮度測量單元2111測量步驟S02中灰度值(k)所輸出到的啞像素電路的亮度。測量出的亮度值供給測量信息保持單元2112以便與灰度值(k)對應(yīng)的驅(qū)動電流相關(guān)聯(lián)。[步驟S04]亮度測量單元2111將“ 1”加至指針以輸出下一灰度值。[步驟 S05]亮度測量單元2111檢查指針以確定是否已經(jīng)對于所有的灰度值完成了亮度測量。當已經(jīng)完成了測量時，處理前進至步驟S06。當尚未完成測量時，處理前進至步驟S02， 并且以下一灰度值進行亮度測量。[步驟SO6]亮度測量單元2111輸出在亮度測量開始前設(shè)給啞像素電路的原始灰度值。[步驟SO7]轉(zhuǎn)換效率計算單元2113基于測量信息保持單元2112保持的測量信息，計算與驅(qū)動電流的變化對應(yīng)的亮度值的變化QSlope)。計算出的Δ Slope供給轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115作為轉(zhuǎn)換效率值。[步驟 SO8]轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115基于轉(zhuǎn)換效率計算單元2113計算出的啞像素電路的當前轉(zhuǎn)換效率值和 像素電路的初始狀態(tài)下的轉(zhuǎn)換效率值，計算表示 像素電路的轉(zhuǎn)換效率的劣化程度的轉(zhuǎn)換效率劣化值。[步驟 SO9]轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元2115使用計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信肩、ο通過執(zhí)行上述處理過程，可以基于針對實際像素電路測量出的劣化程度產(chǎn)生亮度劣化信息。由于亮度劣化信息基于啞像素電路的測量值，因此可以獲得要經(jīng)歷老化校正的像素電路的精確亮度劣化信息。此外，通過使用亮度劣化信息進行老化校正，可以高精度地進行老化校正。所描述的顯示器件100可以應(yīng)用于具有平板并且包括在任何的各種電子裝置(例如，數(shù)碼相機、筆記本個人計算機、蜂窩電話或攝像機)中的顯示器。確切地，該顯示器件可以應(yīng)用于能夠?qū)⑤斎胫岭娮友b置或者在電子裝置中產(chǎn)生的視頻信號顯示為圖像或視頻的任何領(lǐng)域中的電子裝置的顯示器。下面描述應(yīng)用這種顯示器件100的電子裝置的示例。[電子裝置的應(yīng)用示例]圖12是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的電視機的透視圖。圖12中所示的電視機包括包含前面板12、濾色玻璃13等的視頻顯示屏幕11，并且通過使用顯示器件100作為視頻顯示屏幕11而加以制造。圖13是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的數(shù)碼相機的透視圖。在圖13中， 在上面部分示出了數(shù)碼相機的前視圖，在下面部分示出了數(shù)碼相機的后視圖。圖13中所示的數(shù)碼相機包括成像透鏡、閃光發(fā)射器15、顯示單元16、控制開關(guān)、菜單開關(guān)、快門按鈕19 等，并且通過使用顯示器件100作為顯示單元16而加以制造。圖14是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的筆記本個人計算機的透視圖。 圖14中所示的筆記本個人計算機包括主機身20、包括在主機身20中并在輸入字符等時工作的鍵盤21、以及包括在主機身蓋中以顯示圖像的顯示單元22。該筆記本個人計算機通過使用顯示器件100作為顯示單元22而加以制造。圖15是示出包括根據(jù)示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的便攜式終端的示意圖。在圖15中，在左側(cè)示出便攜式終端的打開狀態(tài)，在后側(cè)示出便攜式終端的關(guān)閉狀態(tài)。 圖15中所示的便攜式終端包括上殼23、下殼M、連接部分(在此示例中，鉸鏈)25、顯示器 26、子顯示器27、畫面燈觀、攝像頭四等。該便攜式終端通過使用顯示器件100作為顯示器沈或子顯示器27而加以制造。圖16是示出包括根據(jù)本公開實施例的顯示器件的攝像機的透視圖。圖16中所示的攝像機包括主機身部分30、布置在面向前側(cè)的一側(cè)表面并用于拍攝被攝體的透鏡34、用于開始和停止成像的開關(guān)35、監(jiān)視器36等。該攝像機通過使用顯示器件100作為監(jiān)視器 36而加以制造。根據(jù)上述的電子裝置，由于可以高精度地獲得尤其是轉(zhuǎn)換效率的劣化分量，因此可以高精度地解決老化。所述處理功能可以由計算機實現(xiàn)。在此情況下，提供描述要在信號處理設(shè)備、顯示器件和電子裝置中包括的功能的處理內(nèi)容的程序。當由計算機執(zhí)行該程序時，在計算機上實現(xiàn)了處理功能?？梢詫⒚枋鎏幚韮?nèi)容的程序加載在計算機可讀記錄介質(zhì)上。計算機可讀記錄介質(zhì)的示例包括磁存儲器件、光盤、磁光記錄介質(zhì)和半導(dǎo)體存儲器。磁存儲器件的示例包括硬盤(HDD)、軟盤(FD)和磁帶。光盤的示例包括DVD、DVD-RAM、⑶-R0M/RW。磁光記錄介質(zhì)的示例包括MO (Magneto-Optical disc，磁光盤)。當分發(fā)程序時，例如，銷售記錄了該程序的DVD或CD-ROM之類的便攜式記錄介質(zhì)。 此外，可以將該程序存儲在服務(wù)器計算機的存儲器件中，以使得可以經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)將該程序從服務(wù)器計算機發(fā)送至另一計算機。運行程序的計算機例如將便攜式記錄介質(zhì)上記錄的程序或者從服務(wù)器計算機發(fā)送的程序存儲在目標存儲器件中。然后，存儲器從目標存儲器件中讀取程序，并且根據(jù)程序運行處理。另外，計算機可以直接從便攜式記錄介質(zhì)讀取程序，并且根據(jù)程序運行處理。此夕卜，每當從經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)連接的服務(wù)器計算機發(fā)送程序時，計算機可以根據(jù)接收到的程序依次運行處理。此外，至少一部分的上述處理功能可以由DSP(Digital Signal ftOcessor，數(shù)字信號處理器)、ASIC、PLD(Programmable Logic Device，可編程邏輯器件)之類的電子電路實現(xiàn)。本公開包含與2010年12月觀日向日本專利局提交的日本優(yōu)先權(quán)專利申請JP 2010-291841中公開的主題有關(guān)的主題，其全部內(nèi)容通過引用的方式合并在此。
本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當理解，依據(jù)設(shè)計要求和其它因素可出現(xiàn)各種修改、組合、部分組合和變更，只要其落在所附權(quán)利要求或其等同體的范圍內(nèi)即可。
權(quán)利要求
1.一種信號處理設(shè)備,包含測量單元，其每隔指定更新時段輸出具有不同量值的多個電平的驅(qū)動信號，以通過與驅(qū)動信號的各個電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值來驅(qū)動規(guī)定像素電路，并且測量規(guī)定像素電路在通過每個驅(qū)動電流值受到驅(qū)動時的亮度；轉(zhuǎn)換效率計算單元，其基于與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值和規(guī)定像素電路的亮度值之間的關(guān)系，計算所述規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值；以及轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元，其將規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值與當規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)時的轉(zhuǎn)換效率值進行比較，計算與自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值，并且用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信息，所述亮度劣化信息表示自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間與規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系。
2.如權(quán)利要求I所述的信號處理設(shè)備，其中，轉(zhuǎn)換效率計算單元基于通過測量單元從多個電平的驅(qū)動信號獲得的規(guī)定像素電路的亮度值和驅(qū)動電流值，根據(jù)驅(qū)動信號的不同電平之間的驅(qū)動電流值的變化和與驅(qū)動電流值的變化對應(yīng)的亮度值的變化之間的關(guān)系，計算轉(zhuǎn)換效率值。
3.如權(quán)利要求I所述的信號處理設(shè)備，進一步包含亮度劣化信息保持單元，其保持提前產(chǎn)生的關(guān)于規(guī)定像素電路的亮度劣化信息，其中，轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元基于計算出的轉(zhuǎn)換效率劣化值，校正亮度劣化信息保持單元中保持的亮度劣化信息，從而更新亮度劣化信息。
4.如權(quán)利要求I所述的信號處理設(shè)備，進一步包含啞像素電路，其能夠通過向其設(shè)定可選量值的驅(qū)動信號而受到驅(qū)動，其中，測量單元使用啞像素電路作為規(guī)定像素電路。
5.—種信號處理方法,包含每隔指定更新時段輸出具有不同量值的多個電平的驅(qū)動信號以通過與驅(qū)動信號的各個電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值來驅(qū)動規(guī)定像素電路，并且測量規(guī)定像素電路在通過每個驅(qū)動電流值受到驅(qū)動時的亮度；基于與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值和規(guī)定像素電路的亮度值之間的關(guān)系，計算所述規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值；以及將規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值與當規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)時的轉(zhuǎn)換效率值進行比較，以計算與自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值，并且用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信息，所述亮度劣化信息表示自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間與規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系。
6.—種信號處理方法,包含當通過多個不同電平的驅(qū)動電流值的驅(qū)動像素電路時，每隔指定更新時段測量規(guī)定像素電路的亮度；基于驅(qū)動電流值與規(guī)定像素電路的亮度值之間的關(guān)系，計算規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值；以及將所述轉(zhuǎn)換效率值與處于規(guī)定像素電路的基準狀態(tài)的轉(zhuǎn)換效率值進行比較，從而計算與自從規(guī)定像素電路的基準狀態(tài)起的經(jīng)過時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值，并且用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信息，所述亮度劣化信息表示所述經(jīng)過時間與規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系。
7.—種顯不器件,包含多個像素電路，其每一個均具有根據(jù)視頻信號的灰度值進行發(fā)光的發(fā)光器件；測量單元，其每隔指定更新時段輸出具有不同量值的多個電平的驅(qū)動信號，以通過與驅(qū)動信號的各個電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值來驅(qū)動規(guī)定像素電路，并且測量規(guī)定像素電路在通過每個驅(qū)動電流值受到驅(qū)動時的亮度；轉(zhuǎn)換效率計算單元，其基于與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值和規(guī)定像素電路的亮度值之間的關(guān)系，計算所述規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值；轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元，其將規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值與當規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)時的轉(zhuǎn)換效率值進行比較，計算與自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值，并且用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信息，所述亮度劣化信息表示自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間與規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系；以及校正計算單元，其基于亮度劣化信息計算所述多個像素電路中每一個的轉(zhuǎn)換效率劣化量，根據(jù)像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化量產(chǎn)生用于校正視頻信號的灰度值的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式，使用針對每個像素電路產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式來校正像素電路的視頻信號的灰度值，并且將校正后的灰度值輸出至像素電路。
8.一種電子裝置，包含多個像素電路，其每一個均具有根據(jù)視頻信號的灰度值進行發(fā)光的發(fā)光器件；測量單元，其每隔指定更新時段輸出具有不同量值的多個電平的驅(qū)動信號，以通過與驅(qū)動信號的各個電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值來驅(qū)動規(guī)定像素電路，并且測量規(guī)定像素電路在通過每個驅(qū)動電流值受到驅(qū)動時的亮度；轉(zhuǎn)換效率計算單元，其基于與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值和規(guī)定像素電路的亮度值之間的關(guān)系，計算所述規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值；轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元，其將規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率值與當規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)時的轉(zhuǎn)換效率值進行比較，計算與自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值，并且用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信息，所述亮度劣化信息表示自從規(guī)定像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間與規(guī)定像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系；以及校正計算單元，其基于亮度劣化信息計算所述多個像素電路中每一個的轉(zhuǎn)換效率劣化量，根據(jù)轉(zhuǎn)換效率劣化量產(chǎn)生用于校正視頻信號的灰度值的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式，使用針對每個像素電路產(chǎn)生的轉(zhuǎn)換效率劣化校正模式來校正像素電路的視頻信號的灰度值，并且將校正后的灰度值輸出至像素電路。
全文摘要
一種信號處理設(shè)備，包含測量單元，其每隔更新時段輸出具有不同量值的電平的驅(qū)動信號，以通過與驅(qū)動信號的各電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值來驅(qū)動像素電路，并測量像素電路在通過每個驅(qū)動電流值受到驅(qū)動時的亮度；轉(zhuǎn)換效率計算單元，其基于與驅(qū)動信號的電平對應(yīng)的驅(qū)動電流值和亮度值之間的關(guān)系，計算像素電路的轉(zhuǎn)換效率值；轉(zhuǎn)換效率劣化值計算單元，其將像素電路的轉(zhuǎn)換效率值與像素電路處于校正基準狀態(tài)時的轉(zhuǎn)換效率值進行比較，計算與自從像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間對應(yīng)的轉(zhuǎn)換效率劣化值，并用轉(zhuǎn)換效率劣化值更新亮度劣化信息，亮度劣化信息表示自從像素電路處于校正基準狀態(tài)的時間起的經(jīng)過時間與像素電路的轉(zhuǎn)換效率劣化值之間的關(guān)系。
文檔編號G09G3/32GK102542984SQ201110445960
公開日2012年7月4日 申請日期2011年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月28日
發(fā)明者內(nèi)野勝秀, 山下淳一 申請人:索尼公司